薄片制造裝置、薄片制造方法
【技術領域】
[0001]本發(fā)明涉及一種薄片制造裝置以及薄片制造方法。
【背景技術】
[0002]一直以來，已知一種紙再生裝置，其具有將紙粉碎而解纖的干式解纖部、對由干式解纖部解纖后的解纖物進行輸送的第一輸送部、對由第一輸送部輸送的解纖物進行氣流分級而使其脫墨的分級部、對由分級部脫墨后的解纖物進行輸送的第二輸送部、和通過由第二輸送部輸送的解纖物而使紙成形的紙成形部(例如，參照專利文獻I)。
[0003]在上述的裝置中，為了制造厚度均勻的薄片，需要將被輸送的解纖物的量設為固定。但是，由于上述裝置中的解纖物為纖維狀，非常輕，因此對解纖物的輸送重量進行測定是較為困難的。因此，無法對所投入的解纖物的輸送重量進行管理，從而存在例如，不能制造厚度均勻的薄片的課題。
[0004]專利文獻1:日本特開2012-144819號公報

【發(fā)明內容】

[0005]本發(fā)明是為了解決上述的課題的至少一部分而完成的，能夠作為以下的方式或者應用例而實現(xiàn)。
[0006]本發(fā)明所涉及的薄片制造裝置的特征在于，具備:輸送通道，其使薄片的材料的至少一部分在空氣中流過；成形部，其使用所述材料使所述薄片成形，在所述薄片制造裝置中，所述輸送通道具有由所述輸送通道彎曲而成的彎曲部，在所述彎曲部上、或所述材料的輸送方向上的與所述彎曲部相比靠下游側的輸送通道上，具備對所述材料進行檢測的光學式檢測器。。
[0007]根據(jù)該結構，在輸送通道上具有彎曲部，在彎曲部上、或材料的輸送方向上的與彎曲部相比靠下游側的輸送通道上，設置有對所述材料進行檢測的光學式檢測器。該輸送通道通過例如氣流或者重力從而在空氣中輸送材料。所輸送的材料在彎曲部或材料的輸送方向上的、與彎曲部相比靠下游側的輸送通道中，以通過離心力而偏向于輸送通道一方側的方式被輸送。因此，通過光學檢測器能夠容易地對材料的有無的狀態(tài)進行檢測。而且，例如，根據(jù)該檢測能夠容易地對材料的輸送重量進行管理。
[0008]上述發(fā)明所涉及的薄片制造裝置的特征在于，所述輸送通道的至少一部分供從所述光學式檢測器發(fā)出的光透過。
[0009]根據(jù)該結構，由于光學式檢測器所發(fā)出的光透過輸送通道，因此能夠準確地對材料的有無的狀態(tài)進行檢測。
[0010]上述發(fā)明所涉及的薄片制造裝置的特征在于，具備:解纖部，其對所述材料的至少一部分進行解纖；堆積部，其使所述材料堆積，所述輸送通道位于與所述解纖部相比靠所述輸送方向的下游、且與所述堆積部相比靠所述輸送方向的上游的位置處。
[0011]根據(jù)該結構，由于包括穿過解纖部的纖維狀的材料和在堆積部之前被插入的添加物在內的材料較輕且容易受到離心力的影響，因此能夠更有效地對這些材料的有無的狀態(tài)進行檢測。
[0012]上述發(fā)明所涉及的薄片制造裝置的特征在于，所述輸送通道在所述彎曲部的兩側具有直線部，所述直線部的打開角度為45度以上150度以下。
[0013]根據(jù)該結構，能夠使材料通過離心力而容易地偏向于輸送通道一側。
[0014]本發(fā)明所涉及的薄片制造方法的特征在于，在具有彎曲部的輸送通道中，使薄片的材料的至少一部分流過，通過被配置于所述彎曲部上、或所述材料的輸送方向上的與所述彎曲部相比靠下游側的輸送通道上的光學式檢測器來對所述材料進行檢測。
[0015]根據(jù)該結構，在輸送通道上具有彎曲部，在彎曲部或者材料的輸送方向上的、與彎曲部相比靠下游側的輸送通道上，設置有光學式檢測器。在該輸送通道中被輸送的材料，在彎曲部中或材料的輸送方向上的與彎曲部相比靠下游側的輸送通道中，以通過離心力而偏向于輸送通道一方側的方式被輸送。因此，能夠通過光學檢測器而容易地對材料的有無的狀態(tài)進行檢測。而且，例如，通過根據(jù)該檢測而對流過輸送通道的材料的重量等進行運算，從而能夠容易地對材料的輸送量進行管理。
[0016]但是，在使用光學式檢測器進行測定的情況下，有時會產生如下的課題，S卩，由于裝置的使用或者輸送通道內解纖物等的附著等，從而導致光學式檢測器的檢測精度降低，并產生解纖物的輸送重量的誤差的課題。為了解決這種課題的至少一部分，可以作為以下的方式或者應用例來實現(xiàn)。
[0017]本發(fā)明所涉及的薄片制造裝置的特征在于，具備:使薄片的材料的至少一部分在空氣中流過并具備使光透過的透過部的輸送通道和使用所述材料使所述薄片成形的成形部，所述薄片制造裝置具備:光學式檢測器其具有對著所述透過部發(fā)光的發(fā)光部；受光部，其接受穿過所述透過部的光，所述薄片制造裝置具有控制部，所述控制部在所述受光部所接受的光大于預先確定的閾值時，判斷為所述材料未流過，當所述薄片制造裝置的累計使用時間更長時，所述閾值更小。
[0018]通過薄片制造裝置的使用而在輸送通道上輸送薄片的材料。此時，被輸送的材料的一部分附著于輸送通道的透過部。此時，薄片制造裝置的使用時間越長，材料的一部分附著于輸送通道的透過部的量將變得越多。如此，在光學式檢測器中接受發(fā)光部所發(fā)出的光的受光部的受光量將變少。另一方面，用于對輸送通道上的材料的有無進行判斷的閾值根據(jù)受光部的受光量而被規(guī)定。即，由于閾值不與受光量的變動對應，因此在由于材料的附著等而導致受光部的受光量減少的情況下，即使在材料未流過輸送通道時，也會判斷為材料流過輸送通道。因此，根據(jù)上述結構，被設定為，當薄片制造裝置的累計使用時間更長時，閾值變得更小。即，能夠通過薄片裝置的累計使用時間來適當?shù)卣{整閾值。由此，能夠適當?shù)乇３止鈱W式檢測器的檢測精度，并減小解纖物的輸送重量的檢測誤差。
[0019]上述發(fā)明所涉及的薄片制造裝置的特征在于，所述控制部在所述薄片制造裝置于所述材料未流過的狀態(tài)下發(fā)光時的所述受光部的受光量更小時，與該受光量更大時相比，減小所述閾值。
[0020]根據(jù)該結構，通過當薄片制造裝置在所述材料未流過的狀態(tài)下發(fā)光時的受光量更小時，與該受光量更大時相比，減小閾值，從而對材料未流過輸送通道但認識為受光量低于閾值且存在材料的情況進行抑制。
[0021]上述發(fā)明所涉及的薄片制造裝置的特征在于，所述控制部在如下的情況下減小所述閾值，即，所述薄片制造裝置在所述材料未流過的狀態(tài)下發(fā)光時的所述受光部的受光量，小于所述薄片制造裝置的開始使用時的受光量的情況。
[0022]根據(jù)該結構，由于在薄片制造裝置的開始使用時，材料未附著于輸送通道內，因此受光量較大。當使用薄片制造裝置時，材料就會附著于輸送通道的透過部從而使受光量減少。因此，通過在小于開始使用時的受光量的受光量的情況下減小閾值，從而能夠對材料未流過但認識為受光量低于閾值且存在材料的情況進行抑制。
[0023]本發(fā)明所涉及的薄片制造方法的特征在于，通過如下的薄片制造裝置來制造薄片，所述薄片制造裝置具備:輸送通道，其使所述薄片的材料的至少一部分在空氣中流過，并具有使光透過的透過部；成形部，其使用所述材料使所述薄片成形，光學式檢測器，其具有對著所述透過部發(fā)光的發(fā)光部和接受穿過所述透過部的光的受光部，在所述薄片制造方法中，在所述受光部所接受的光大于預先確定的閾值時，判斷為所述材料未流過的情況下，使所述薄片制造裝置的累計使用時間更長時，所述閾值變得更小累計累計。
[0024]通過薄片制造裝置的使用而在輸送通道上輸送薄片的材料。此時，被輸送的材料的一部分附著于輸送通道的透過部。此時，薄片制造裝置的使用時間越長，材料附著于輸送通道的透過部的量將變得越多。如此，在光學式檢測器中接受發(fā)光部所發(fā)出的光的受光部的受光量將減少。另一方面，用于對輸送通道上的材料的有無狀態(tài)進行判斷的閾值根據(jù)受光部的受光量而被規(guī)定。即，由于不與閾值與受光量的變動對應，因此在由于材料的附著等而導致受光部的受光量減少的情況下，即使在材料未流過輸送通道時，也會判斷為材料流過輸送通道。因此，根據(jù)上述結構，被設定為，當薄片制造裝置的累計使用時間更長時，閾值變得更小。即，能夠通過薄片裝置的累計使用時間來適當?shù)卣{整閾值。由此，能夠適當?shù)乇３止鈱W式檢測器的檢測精度，并減小解纖物的輸送重量的誤差檢測。
【附圖說明】
[0025]圖1為表示薄片制造裝置的結構的概要圖。
[0026]圖2表示光學式檢測器及其周圍部的結構的結構圖。
[0027]圖3為表示薄片制造裝置的工作方法的說明圖。
[0028]圖4為表示光學式檢測器中的閾值的設定方法的說明圖。
[0029]圖5為表示改變例所涉及的光學式檢測器及其周圍部的結構的結構圖。
【具體實施方式】
[0030]以下，參照附圖對本發(fā)明的實施方式進行說明。此外，由于在以下各圖中將各部件設為能夠識別的程度的大小，因此以使各部件等尺寸與實際不同的方式來進行表示。
[0031]首先，對薄片制造裝置的結構進行說明。薄片制造