技術(shù)特征：

1.一種基于多模態(tài)對比學(xué)習(xí)的p-糖蛋白抑制劑和底物預(yù)測方法，其特征在于，包括以下步驟：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于多模態(tài)對比學(xué)習(xí)的p-糖蛋白抑制劑和底物預(yù)測方法，其特征在于，步驟1)中，構(gòu)建p-糖蛋白抑制劑和底物的數(shù)據(jù)集，具體包括：

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于多模態(tài)對比學(xué)習(xí)的p-糖蛋白抑制劑和底物預(yù)測方法，其特征在于，步驟2)中，所述的p-糖蛋白抑制劑和底物預(yù)測模型，具體包括：

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的基于多模態(tài)對比學(xué)習(xí)的p-糖蛋白抑制劑和底物預(yù)測方法，其特征在于，步驟2)中，提取分子smiles序列特征，具體步驟包括：

5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的基于多模態(tài)對比學(xué)習(xí)的p-糖蛋白抑制劑和底物預(yù)測方法，其特征在于，步驟2)中，生成分子指紋特征，具體包括：

6.根據(jù)權(quán)利要求3所述的基于多模態(tài)對比學(xué)習(xí)的p-糖蛋白抑制劑和底物預(yù)測方法，其特征在于，步驟2)中，生成分子圖特征，具體包括：

7.根據(jù)權(quán)利要求3所述的基于多模態(tài)對比學(xué)習(xí)的p-糖蛋白抑制劑和底物預(yù)測方法，其特征在于，步驟3)中，總損失函數(shù)，具體包括：

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開了一種基于多模態(tài)對比學(xué)習(xí)的P?糖蛋白抑制劑和底物預(yù)測方法，包括：構(gòu)建P?糖蛋白抑制劑和底物的數(shù)據(jù)集；利用深度學(xué)習(xí)方法構(gòu)建P?糖蛋白抑制劑和底物預(yù)測模型；輸入到構(gòu)建的P?糖蛋白抑制劑和底物預(yù)測模型中，將對比損失和分類損失聯(lián)合得到總損失函數(shù)，通過總損失函數(shù)訓(xùn)練并優(yōu)化P?糖蛋白抑制劑和底物預(yù)測模型的參數(shù)；將待預(yù)測的化合物數(shù)據(jù)輸入到優(yōu)化后的P?糖蛋白抑制劑和底物預(yù)測模型，輸出最終的分類結(jié)果，判斷化合物是否為P?糖蛋白抑制劑和底物。本發(fā)明提升了模型預(yù)測精度和泛化性能，并實現(xiàn)了模型的可解釋性，為藥物開發(fā)中的分子設(shè)計提供可靠的科學(xué)依據(jù)。

技術(shù)研發(fā)人員：康玉,張憶雪,侯廷軍,吳佳璐,吳振興,方美靜
受保護的技術(shù)使用者：浙江大學(xué)
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2025/1/6