完整成像無畸變精密測量x光機系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種完整成像無畸變精密測量X光機系統(tǒng)，包括探測器、載有電池測試樣品的載物臺、X光源，所述探測器設于載物臺上方，所述X光源設于載物臺下方，所述載物臺的兩邊設有光電感應器，所述載物臺為傳輸式載物結構，所述探測器為線掃描圖像探測器，且與X光源在同一個垂直方向上，避免了面板探測器造成的圖像錯切畸變問題，通過水平傳輸式的載物臺控制電池測試樣品移動進行被測物的完整成形，能夠得到與被測物接近的原始圖像，大大提高了X光機的檢測效果與測量的準確性。
【專利說明】完整成像無畸變精密測量X光機系統(tǒng)
[0001]
【技術領域】
[0002]本發(fā)明涉及一種X光機，特別涉及一種完整成像無畸變精密測量X光機系統(tǒng)。
【背景技術】
[0003]X光機作為診斷和檢測手段，是一門應用十分廣泛的實用技術，在今天，X光機檢測結構的獲取和處理技術已經(jīng)成為X光機發(fā)展的核心和關鍵，也是區(qū)分X光機類別的重要技術特征，傳統(tǒng)的X光機采用的是面板探測器，面板探測器具有一定的局限性，探測器成像后只能看到樣品的局部圖像，無法將被檢測的物品完整地呈現(xiàn)出來，這樣嚴重影響了 X光機檢測的效率和測量精度，同時對有較高厚度和多層結構的物體成像會導致不同高度的圖像錯切畸變，離X光中心越遠，畸變越嚴重，測量誤差越大，導致誤判，這是因為通常采用的X光源大都是錐束形的X光源，探測面板是矩陣面板，這使得在矩陣面板內(nèi)，被測物離錐束中心越遠，圖像錯切畸變就會越嚴重，測量誤差越大。
[0004]
【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]為了克服上述缺陷，本發(fā)明提供了一種改善圖像錯切畸變和完整成像的完整成像無畸變精密測量X光機系統(tǒng)。
[0006]本發(fā)明為了解決其技術問題所采用的技術方案是:一種完整成像無畸變精密測量X光機系統(tǒng)，包括探測器、載有電池測試樣品的載物臺、X光源，所述探測器設于載物臺上方，所述X光源設于載物臺下方，所述載物臺的兩邊設有光電感應器，所述載物臺為傳輸式載物結構，所述探測器為線掃描圖像探測器，且與X光源在同一個垂直方向上，載物臺將測試樣品傳送到光電感應器處，啟動探測器開始截取電池測試樣品當前截面圖像。
[0007]作為本發(fā)明的進一步改進，所述載物臺為水平傳輸?shù)妮斔蛶А?br> [0008]本發(fā)明的有益效果是:本發(fā)明的X光機將圖像面板探測器改為線掃描探測器，當X光源發(fā)出的射線穿透電池測試樣品后，由線掃描探測器接收高低、多層測試樣品的一個截面的圖像，避免了面板探測器造成的圖像錯切畸變問題，通過水平傳輸式的載物臺控制測試樣品移動進行被測物的完整成形，能夠得到與被測物接近的原始圖像，提高X光機的檢測效果與測量的準確性。
[0009]
【專利附圖】

【附圖說明】
[0010]圖1為本發(fā)明結構示意圖；
圖中標示:1_探測器；2_載物臺；3-X光源，4-測試樣品，5-光電感應器。
[0011]【具體實施方式】
[0012]為了加深對本發(fā)明的理解，下面將結合實施例和附圖對本發(fā)明作進一步詳述，該實施例僅用于解釋本發(fā)明，并不構成對本發(fā)明保護范圍的限定。
[0013]圖1出示了本發(fā)明一種完整成像無畸變精密測量X光機系統(tǒng)的一種實施方式，包括探測器1、載有電池測試樣品4的載物臺2、X光源3，所述探測器I設于載物臺2上方，所述X光源3設于載物臺2下方，所述載物臺2的兩邊設有光電感應器5，所述載物臺2為水平傳輸?shù)妮斔蛶?，所述探測器I為線掃描圖像探測器，且與X光源3在同一個垂直方向上，載物臺2將電池測試樣品4傳送到光電感應器5處，啟動探測器I開始截取電池測試樣品4當前截面圖像，，因X光源與線掃描探測器在同一垂直方向，電池測試樣品4通過時與X光源3和探測器I也在同一垂直方向，所以當前的截面圖像沒有任何的錯切與畸變，當電池測試樣品4完全通過光電感應器5后，探測器I停止取像，生成一個電池測試樣品4的無任何錯切與畸變的完整圖像，大大改善了 X光機照射的檢測質(zhì)量與測量的準確度。
【權利要求】
1.一種完整成像無畸變精密測量X光機系統(tǒng)，包括探測器(I)、載有電池測試樣品(4)的載物臺(2)、X光源(3)，所述探測器(I)設于載物臺(2)上方，所述X光源(3)設于載物臺(2)下方，其特征在于:所述載物臺(2)的兩邊設有光電感應器(5)，所述載物臺(2)為傳輸式載物結構，所述探測器(I)為線掃描圖像探測器，且與X光源(3)在同一個垂直方向上，載物臺(2)將電池測試樣品(4)傳送到光電感應器(5)處，啟動探測器(I)開始截取電池測試樣品(4)當前截面圖像。
2.根據(jù)權利要求1所述的完整成像無畸變精密測量X光機系統(tǒng)，其特征在于:所述載物臺(2)為水平傳輸?shù)妮斔蛶А?br> 【文檔編號】A61B6/00GK103472079SQ201310465792
【公開日】2013年12月25日 申請日期:2013年10月9日 優(yōu)先權日:2013年10月9日
【發(fā)明者】林毅寧 申請人:昆山善思光電科技有限公司