帶有v刻防呆測(cè)試點(diǎn)的pcb板的制作方法
【專利摘要】本實(shí)用新型公開了一種帶有V刻防呆測(cè)試點(diǎn)的PCB板,屬于PCB板制造【技術(shù)領(lǐng)域】。它包括PCB主板及蝕刻于所述PCB主板上帶有電子線路的導(dǎo)電層,所述PCB主板上設(shè)有至少一個(gè)開槽,所述開槽將所述PCB主板分隔出至少一個(gè)子板,所述子板與所述PCB主板之間通過(guò)連接部相連接,所述連接部上設(shè)有防呆檢測(cè)部;所述防呆檢測(cè)部包括檢測(cè)孔及連接所述檢測(cè)孔的連接銅線。本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)合理、制作成本低、檢測(cè)效率高,直接通過(guò)電流探針即可檢測(cè)出PCB板V刻工藝情況,操作簡(jiǎn)單、數(shù)據(jù)可靠。
【專利說(shuō)明】帶有V刻防呆測(cè)試點(diǎn)的PCB板
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型屬于PCB板制造【技術(shù)領(lǐng)域】,更具體地說(shuō),涉及帶有V刻防呆測(cè)試點(diǎn)的PCB 板。
【背景技術(shù)】
[0002]隨著電子產(chǎn)品的廣泛普及,對(duì)印刷電路板的需求也在不斷增加。為了應(yīng)對(duì)不斷增加的市場(chǎng)需求,同時(shí)降低制造成本,通常在一個(gè)大面積的基板上采用陣列方式制作出多個(gè)具有獨(dú)立功能的電路單元,使用時(shí)再將各個(gè)電路單元分離;為了便于分離電路單元,目前所采用的方式是:在大面積的基板由分裝廠完成封裝后,利用V刻切割機(jī)沿預(yù)定的切割路徑在電路板上切割出V刻槽,使用時(shí),沿著已切割好的V刻槽將電路單元分離,從而形成具有獨(dú)立功能的電路單元。
[0003]在利用V刻(S卩V刻)切割機(jī)對(duì)PCB板進(jìn)行切割V刻槽時(shí),必須保持上下刀口之間具有適當(dāng)?shù)拈g距且進(jìn)行精確對(duì)準(zhǔn),使中心余厚即可支持組裝作業(yè)還要方便折斷,目前并沒(méi)有一個(gè)可以對(duì)V刻后的電路板進(jìn)行效果檢測(cè)的方法,工作人員就很難判斷PCB板是否有漏掉V刻工藝流程,增加了產(chǎn)品的不良率,影響產(chǎn)品的信譽(yù)。
[0004]因此,有必要設(shè)計(jì)一種帶有防呆測(cè)試點(diǎn)的PCB板,來(lái)檢驗(yàn)PCB板是否有進(jìn)行V刻流程。
實(shí)用新型內(nèi)容
[0005]針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)中存在的上述問(wèn)題,本實(shí)用新型的目的在于提供一種帶有V刻防呆測(cè)試點(diǎn)的PCB板,其方便了 PCB板進(jìn)行V刻流程的檢測(cè)。
[0006]為了實(shí)現(xiàn)上述目的,本實(shí)用新型所采用的技術(shù)方案如下:
[0007]一種帶有V刻防呆測(cè)試點(diǎn)的PCB板,包括PCB主板及蝕刻于所述PCB主板上帶有電子線路的導(dǎo)電層,所述PCB主板上設(shè)有至少一個(gè)開槽,所述開槽將所述PCB主板分隔出至少一個(gè)子板,所述子板與所述PCB主板之間通過(guò)連接部相連接,所述連接部上設(shè)有防呆檢測(cè)部;所述防呆檢測(cè)部包括檢測(cè)孔及連接所述檢測(cè)孔的連接銅線。
[0008]進(jìn)一步的,所述連接部有2個(gè),均為矩形結(jié)構(gòu)。
[0009]進(jìn)一步的,所述連接部為絕緣層。
[0010]進(jìn)一步的,所述檢測(cè)孔包括第一檢測(cè)孔、第二檢測(cè)孔,所述第一檢測(cè)孔、第二檢測(cè)孔平行設(shè)置。
[0011]進(jìn)一步的,所述連接銅線呈一端開口的倒梯形結(jié)構(gòu),其包括第一斜線、直線和第二斜線,所述第一斜線與所述第一檢測(cè)孔相連接,所述第二斜線與所述第二檢測(cè)孔相連接。
[0012]進(jìn)一步的,所述直線埋設(shè)于PCB主板內(nèi)。
[0013]進(jìn)一步的,所述直線分別與所述第一斜線、所述第二斜線相連接。
[0014]相比于現(xiàn)有技術(shù),本實(shí)用新型帶有V刻防呆測(cè)試點(diǎn)的PCB板的有益效果為:
[0015]通過(guò)在PCB板的V刻區(qū)域設(shè)置防呆檢測(cè)小孔,小孔之間通過(guò)線路連通,當(dāng)PCB板有進(jìn)行過(guò)V刻工藝并V刻到位時(shí),小孔之間的線路被刻斷,檢測(cè)時(shí)兩孔斷路;當(dāng)PCB板沒(méi)有進(jìn)行V刻或V刻不到位時(shí),小孔之間為通路;其結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)合理、制作成本低、檢測(cè)效率高,直接通過(guò)電流探針即可檢測(cè)出PCB板V刻工藝情況,操作簡(jiǎn)單、數(shù)據(jù)可靠。
【專利附圖】
【附圖說(shuō)明】
[0016]圖1為本實(shí)用新型帶有V刻防呆測(cè)試點(diǎn)的PCB板的結(jié)構(gòu)示意圖;
[0017]圖2為本實(shí)用新型帶有V刻防呆測(cè)試點(diǎn)的PCB板的防呆檢測(cè)部的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0018]下面結(jié)合具體實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)一步進(jìn)行描述。
[0019]如圖1、圖2所示,一種帶有V刻防呆測(cè)試點(diǎn)的PCB板,包括PCB主板I及蝕刻于所述PCB主板I上帶有電子線路的導(dǎo)電層2,PCB主板I上設(shè)有一個(gè)開槽,開槽將PCB主板I分隔出I個(gè)子板3,子板3與PCB主板I之間通過(guò)連接部5相連接,連接部5上設(shè)有防呆檢測(cè)部5 ;連接部5有2個(gè),均為矩形結(jié)構(gòu);連接部5為絕緣層,這樣第一檢測(cè)孔501和第二檢測(cè)孔502之間就不會(huì)自己導(dǎo)通;防呆檢測(cè)部5包括第一檢測(cè)孔501、第二檢測(cè)孔502和連接銅線,連接銅線呈一端開口的倒梯形結(jié)構(gòu);連接銅線包括第一斜線503、直線504和第二斜線505,第一斜線503與第一檢測(cè)孔501相連接,第二斜線505與第二檢測(cè)孔502相連接;直線504埋設(shè)于PCB主板I內(nèi);直線504分別與第一斜線503、第二斜線505相連接;第一檢測(cè)孔501與第二檢測(cè)孔502的中心距為lOOmil,兩者的半徑都為40mil,連接銅線的線寬為6mil,直線504距離PCB主板I的V刻邊4mil ;第一斜線503與水平線的逆時(shí)針夾角為65。。
[0020]本實(shí)用新型通過(guò)在PCB板的V刻區(qū)域設(shè)置防呆檢測(cè)小孔,小孔之間通過(guò)線路連通,當(dāng)PCB板有進(jìn)行過(guò)V刻工藝并V刻到位時(shí),小孔之間的線路被刻斷,檢測(cè)時(shí)兩孔斷路;當(dāng)PCB板沒(méi)有進(jìn)行V刻或V刻不到位時(shí),小孔之間為通路;其結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)合理、制作成本低、檢測(cè)效率高,直接通過(guò)電流探針即可檢測(cè)出PCB板V刻工藝情況,操作簡(jiǎn)單、數(shù)據(jù)可靠。
[0021]以上示意性的對(duì)本實(shí)用新型及其實(shí)施方式進(jìn)行了描述,該描述沒(méi)有限制性,附圖中所示的也只是本實(shí)用新型的實(shí)施方式之一,實(shí)際的結(jié)構(gòu)并不局限于此。所以,如果本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員受其啟示,在不脫離本實(shí)用新型創(chuàng)造宗旨的情況下,不經(jīng)創(chuàng)造性的設(shè)計(jì)出與該技術(shù)方案相似的結(jié)構(gòu)方式及實(shí)施例,均應(yīng)屬于本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。
【權(quán)利要求】
1.一種帶有V刻防呆測(cè)試點(diǎn)的PCB板,包括PCB主板及蝕刻于所述PCB主板上帶有電子線路的導(dǎo)電層,其特征在于:所述PCB主板上設(shè)有至少一個(gè)開槽,所述開槽將所述PCB主板分隔出至少一個(gè)子板,所述子板與所述PCB主板之間通過(guò)連接部相連接,所述連接部上設(shè)有防呆檢測(cè)部;所述防呆檢測(cè)部包括檢測(cè)孔及連接所述檢測(cè)孔的連接銅線。
2.如權(quán)利要求1所述的帶有V刻防呆測(cè)試點(diǎn)的PCB板,其特征在于:所述連接部有2個(gè),均為矩形結(jié)構(gòu)。
3.如權(quán)利要求2所述的帶有V刻防呆測(cè)試點(diǎn)的PCB板,其特征在于:所述連接部為絕緣層。
4.如權(quán)利要求1所述的帶有V刻防呆測(cè)試點(diǎn)的PCB板,其特征在于:所述檢測(cè)孔包括第一檢測(cè)孔、第二檢測(cè)孔,所述第一檢測(cè)孔、第二檢測(cè)孔平行設(shè)置。
5.如權(quán)利要求4所述的帶有V刻防呆測(cè)試點(diǎn)的PCB板,其特征在于:所述連接銅線呈一端開口的倒梯形結(jié)構(gòu),其包括第一斜線、直線和第二斜線,所述第一斜線與所述第一檢測(cè)孔相連接,所述第二斜線與所述第二檢測(cè)孔相連接。
6.如權(quán)利要求5所述的帶有V刻防呆測(cè)試點(diǎn)的PCB板,其特征在于:所述直線埋設(shè)于PCB主板內(nèi)。
7.如權(quán)利要求6所述的帶有V刻防呆測(cè)試點(diǎn)的PCB板,其特征在于:所述直線分別與所述第一斜線、所述第二斜線相連接。
【文檔編號(hào)】H05K1/02GK204014258SQ201420378476
【公開日】2014年12月10日 申請(qǐng)日期:2014年7月9日 優(yōu)先權(quán)日:2014年7月9日
【發(fā)明者】段增芳 申請(qǐng)人:定穎電子(昆山)有限公司