本發(fā)明涉及半導(dǎo)體成品測(cè)試，具體涉及一種音頻控制器的測(cè)試系統(tǒng)、方法、設(shè)備、介質(zhì)及程序產(chǎn)品。

背景技術(shù)：

1、半導(dǎo)體成品測(cè)試(final?test，ft)是在芯片封裝完成后進(jìn)行的最終測(cè)試，旨在確保芯片功能的正確性。對(duì)于帶有i2s(inter-ic?sound)音頻控制器的集成芯片(system?onchip，soc)，ft階段的測(cè)試方法包括內(nèi)部自回環(huán)和外部自回環(huán)模式。

2、然而，在內(nèi)部自回環(huán)模式中，控制時(shí)鐘由芯片內(nèi)部產(chǎn)生，數(shù)據(jù)不經(jīng)過(guò)引腳，因此無(wú)法驗(yàn)證引腳功能。外部自回環(huán)模式允許內(nèi)部或外部提供控制時(shí)鐘，數(shù)據(jù)通過(guò)引腳輸出再返回接收端，但無(wú)法全面覆蓋模塊功能。此外，外部時(shí)鐘方式還需soc芯片控制外部芯片，增加了測(cè)試復(fù)雜性。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、有鑒于此，本發(fā)明提供了一種音頻控制器的測(cè)試系統(tǒng)、方法、設(shè)備、介質(zhì)及程序產(chǎn)品，以解決目前芯片生產(chǎn)測(cè)試中i2s音頻控制器功能測(cè)試不充分和測(cè)試效率低的問(wèn)題。

2、第一方面，本發(fā)明提供了一種音頻控制器的測(cè)試系統(tǒng)，包括：第一待測(cè)芯片，第一待測(cè)芯片包括第一音頻控制接口；第二待測(cè)芯片，第二待測(cè)芯片包括第二音頻控制接口，第一音頻控制接口與第二音頻控制接口連接，以使第一待測(cè)芯片和第二待測(cè)芯片進(jìn)行相互測(cè)試，生成相互測(cè)試結(jié)果，相互測(cè)試結(jié)果包括第一測(cè)試結(jié)果和第二測(cè)試結(jié)果；調(diào)試設(shè)備，包括第一接口和第二接口，第一接口與第一待測(cè)芯片連接、第二接口與第二待測(cè)芯片連接；調(diào)試設(shè)備用于通過(guò)第一接口接收第一待測(cè)芯片發(fā)送的第一測(cè)試結(jié)果，通過(guò)第二接口接收第二待測(cè)芯片發(fā)送的第二測(cè)試結(jié)果，并基于第一測(cè)試結(jié)果和第二測(cè)試結(jié)果，確定第一待測(cè)芯片和第二待測(cè)芯片的音頻測(cè)試結(jié)果。

3、本發(fā)明實(shí)施例提供的音頻控制器的測(cè)試系統(tǒng)，通過(guò)將第一待測(cè)芯片和第二待測(cè)芯片的音頻控制接口連接，可以實(shí)現(xiàn)相互測(cè)試，提高了測(cè)試的全面性和準(zhǔn)確性。系統(tǒng)能夠自動(dòng)生成相互測(cè)試結(jié)果，包括第一測(cè)試結(jié)果和第二測(cè)試結(jié)果，減少了人工干預(yù)和潛在的人為錯(cuò)誤。調(diào)試設(shè)備通過(guò)第一接口和第二接口分別接收兩個(gè)待測(cè)芯片的測(cè)試結(jié)果，使得數(shù)據(jù)采集更為迅速和高效?；趦善酒臏y(cè)試結(jié)果，系統(tǒng)能夠綜合評(píng)估其音頻控制器的功能狀態(tài)，確保覆蓋所有可能的功能點(diǎn)，避免遺漏。通過(guò)同時(shí)測(cè)試兩片芯片，該系統(tǒng)顯著提高了測(cè)試效率，減少了整體測(cè)試時(shí)間。

4、在一種可選的實(shí)施方式中，調(diào)試設(shè)備通過(guò)第一接口向第一待測(cè)芯片下發(fā)第一控制模式，并通過(guò)第二接口向第二待測(cè)芯片下發(fā)第二控制模式；第一控制模式和第二控制模式為主從控制模式。

5、本發(fā)明實(shí)施例提供的音頻控制器的測(cè)試系統(tǒng)，主從控制模式使得系統(tǒng)能夠靈活配置和管理多個(gè)待測(cè)芯片，提高了測(cè)試過(guò)程的可控性和協(xié)調(diào)性。通過(guò)各自的控制模式，能夠在測(cè)試過(guò)程中實(shí)時(shí)調(diào)整芯片的工作狀態(tài)，快速響應(yīng)測(cè)試需求和變化。

6、在一種可選的實(shí)施方式中，第一待測(cè)芯片和第二待測(cè)芯片進(jìn)行相互測(cè)試，生成相互測(cè)試結(jié)果，包括：第一待測(cè)芯片按照第一控制模式生成第一偽隨機(jī)數(shù)列，并將第一偽隨機(jī)數(shù)列發(fā)送至第二待測(cè)芯片；第二待測(cè)芯片按照第二控制模式生成第二偽隨機(jī)數(shù)列，并將第二偽隨機(jī)數(shù)列發(fā)送至第一待測(cè)芯片；第一待測(cè)芯片對(duì)第一偽隨機(jī)數(shù)列和第二偽隨機(jī)數(shù)列進(jìn)行對(duì)比，生成第一測(cè)試結(jié)果，并將第一測(cè)試結(jié)果發(fā)送給調(diào)試設(shè)備；第二待測(cè)芯片對(duì)第二偽隨機(jī)數(shù)列和第一偽隨機(jī)數(shù)列進(jìn)行對(duì)比，生成第二測(cè)試結(jié)果，并將第二測(cè)試結(jié)果發(fā)送給調(diào)試設(shè)備。

7、本發(fā)明實(shí)施例提供的音頻控制器的測(cè)試系統(tǒng)，通過(guò)相互生成和對(duì)比偽隨機(jī)數(shù)列，能夠全面評(píng)估兩個(gè)芯片的性能，確保它們?cè)诓煌刂颇Ｊ较碌姆€(wěn)定性和兼容性。偽隨機(jī)數(shù)列的生成和對(duì)比能夠提供更可靠的測(cè)試數(shù)據(jù)，減少了測(cè)試過(guò)程中的人為干擾和偏差，從而提高結(jié)果的準(zhǔn)確性。相互測(cè)試的設(shè)計(jì)使得兩個(gè)待測(cè)芯片能夠即時(shí)反饋彼此的性能，及時(shí)發(fā)現(xiàn)問(wèn)題并進(jìn)行調(diào)整，提高了整體測(cè)試效率。第一和第二待測(cè)芯片之間的互相對(duì)比能夠有效驗(yàn)證各自的功能和性能，確保每個(gè)芯片在不同工作狀態(tài)下都能正常運(yùn)行。

8、在一種可選的實(shí)施方式中，第一待測(cè)芯片按照第一控制模式生成第一偽隨機(jī)數(shù)列，包括：基于第一音頻控制接口與第二音頻控制接口連接，對(duì)第一待測(cè)芯片與第二待測(cè)芯片進(jìn)行握手；若第一待測(cè)芯片與第二待測(cè)芯片握手成功，則第一待測(cè)芯片按照預(yù)設(shè)的偽隨機(jī)數(shù)生成參數(shù)以及第一控制模式生成第一偽隨機(jī)數(shù)列。

9、本發(fā)明實(shí)施例提供的音頻控制器的測(cè)試系統(tǒng)，握手過(guò)程確保第一待測(cè)芯片和第二待測(cè)芯片之間的通信是可靠的，只有在成功建立連接后才進(jìn)行后續(xù)操作，減少了潛在的錯(cuò)誤。通過(guò)握手確認(rèn)，可以確保兩個(gè)芯片在相同的工作狀態(tài)下進(jìn)行測(cè)試，避免因不一致的狀態(tài)導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果不準(zhǔn)確。

10、在一種可選的實(shí)施方式中，第二待測(cè)芯片按照第二控制模式生成第二偽隨機(jī)數(shù)列，包括：基于第一音頻控制接口與第二音頻控制接口連接，對(duì)第一待測(cè)芯片與第二待測(cè)芯片進(jìn)行握手；若第一待測(cè)芯片與第二待測(cè)芯片握手成功，則第二待測(cè)芯片按照預(yù)設(shè)的偽隨機(jī)數(shù)生成參數(shù)以及第二控制模式生成第二偽隨機(jī)數(shù)列。

11、本發(fā)明實(shí)施例提供的音頻控制器的測(cè)試系統(tǒng)，握手機(jī)制確保第二待測(cè)芯片與第一待測(cè)芯片之間的連接穩(wěn)定，只有在確認(rèn)連接成功后才進(jìn)行偽隨機(jī)數(shù)列的生成，從而減少通信錯(cuò)誤。成功的握手和有效的參數(shù)設(shè)置有助于提升生成的偽隨機(jī)數(shù)列的質(zhì)量，從而增強(qiáng)測(cè)試結(jié)果的可靠性和準(zhǔn)確性。

12、在一種可選的實(shí)施方式中，對(duì)第一待測(cè)芯片與第二待測(cè)芯片進(jìn)行握手，包括；第一待測(cè)芯片按照預(yù)設(shè)次數(shù)向第二待測(cè)芯片發(fā)送第一預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)；第二待測(cè)芯片按照預(yù)設(shè)次數(shù)向第一待測(cè)芯片發(fā)送第一預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)；當(dāng)確定第一待測(cè)芯片與第二待測(cè)芯片均收到第一預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)后，第一待測(cè)芯片按照預(yù)設(shè)次數(shù)向第二待測(cè)芯片發(fā)送第二預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)；第二待測(cè)芯片按照預(yù)設(shè)次數(shù)向第一待測(cè)芯片發(fā)送第二預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)。

13、本發(fā)明實(shí)施例提供的音頻控制器的測(cè)試系統(tǒng)，通過(guò)雙向的數(shù)據(jù)交換和確認(rèn)機(jī)制，確保第一待測(cè)芯片和第二待測(cè)芯片之間的連接穩(wěn)定，降低了通信錯(cuò)誤的可能性。預(yù)設(shè)次數(shù)的發(fā)送和接收機(jī)制提供了多次確認(rèn)的機(jī)會(huì)，進(jìn)一步確保兩個(gè)芯片在相同的狀態(tài)下進(jìn)行測(cè)試，提高了握手的可靠性。在確認(rèn)雙方都收到預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)后再進(jìn)行后續(xù)的數(shù)據(jù)交換，確保了雙方的數(shù)據(jù)一致性，減少了因不同步造成的誤差。

14、在一種可選的實(shí)施方式中，調(diào)試設(shè)備通過(guò)第一接口向第一待測(cè)芯片下發(fā)第一控制模式，并通過(guò)第二接口向第二待測(cè)芯片下發(fā)第二控制模式，包括：調(diào)試設(shè)備將第一接口設(shè)置為第一電平，并將第二接口設(shè)置為第二電平，以使第一待測(cè)芯片根據(jù)第一電平配置第一控制模式，第二待測(cè)芯片根據(jù)第二電平配置第二控制模式。

15、本發(fā)明實(shí)施例提供的音頻控制器的測(cè)試系統(tǒng)，通過(guò)設(shè)置不同的電平，調(diào)試設(shè)備可以明確區(qū)分并控制每個(gè)待測(cè)芯片的行為，確保信號(hào)傳輸?shù)臏?zhǔn)確性。兩個(gè)待測(cè)芯片可以同時(shí)接收控制指令，提高了配置效率，縮短了測(cè)試準(zhǔn)備時(shí)間。

16、在一種可選的實(shí)施方式中，基于第一測(cè)試結(jié)果和第二測(cè)試結(jié)果，確定第一待測(cè)芯片和第二待測(cè)芯片的音頻測(cè)試結(jié)果，包括：將第一待測(cè)芯片按照第一控制模式，第二待測(cè)芯片按照第二控制模式進(jìn)行第一階段測(cè)試，得到第一階段測(cè)試結(jié)果；若第一階段測(cè)試結(jié)果表征第一待測(cè)芯片和第二待測(cè)芯片通過(guò)測(cè)試，則將第一待測(cè)芯片配置為第二控制模式，將第二待測(cè)芯片配置為第一控制模式；第二控制模式的第一待測(cè)芯片以及第一控制模式的第二待測(cè)芯片進(jìn)行握手；若握手成功，則第一待測(cè)芯片根據(jù)預(yù)設(shè)偽隨機(jī)數(shù)生成參數(shù)生成第三偽隨機(jī)數(shù)列，并將第三偽隨機(jī)數(shù)列發(fā)送至第二待測(cè)芯片，第二待測(cè)芯片根據(jù)預(yù)設(shè)偽隨機(jī)數(shù)生成參數(shù)生成第四偽隨機(jī)數(shù)列，并將第四偽隨機(jī)數(shù)列發(fā)送至第一待測(cè)芯片；第一待測(cè)芯片根據(jù)第三偽隨機(jī)數(shù)列與第四偽隨機(jī)數(shù)列進(jìn)行比較，得到第三測(cè)試結(jié)果，第二待測(cè)芯片根據(jù)第四偽隨機(jī)數(shù)列與第三偽隨機(jī)數(shù)列進(jìn)行比較，得到第四測(cè)試結(jié)果；根據(jù)第三測(cè)試結(jié)果以及第四測(cè)試結(jié)果，確定第一待測(cè)芯片和第二待測(cè)芯片的第二階段測(cè)試是否通過(guò)；若第二階段測(cè)試通過(guò)，則確定第一待測(cè)芯片和第二待測(cè)芯片為正常狀態(tài)。

17、本發(fā)明實(shí)施例提供的音頻控制器的測(cè)試系統(tǒng)，通過(guò)將測(cè)試分為第一階段和第二階段，能夠有效地識(shí)別和排除潛在的問(wèn)題，提高測(cè)試的系統(tǒng)性和精確性。根據(jù)第一階段測(cè)試結(jié)果動(dòng)態(tài)調(diào)整待測(cè)芯片的控制模式，增強(qiáng)了系統(tǒng)的適應(yīng)性和靈活性，使得測(cè)試過(guò)程能夠針對(duì)不同情況進(jìn)行優(yōu)化。通過(guò)比較不同階段的測(cè)試結(jié)果，能夠更清晰地識(shí)別出可能存在的問(wèn)題，并進(jìn)行針對(duì)性的故障排查。通過(guò)多輪數(shù)據(jù)交互和比較，可以全面評(píng)估芯片的性能，確保芯片在不同場(chǎng)景下的功能完整性。

18、第二方面，本發(fā)明提供了一種音頻控制器的測(cè)試方法，應(yīng)用于上述第一方面或其對(duì)應(yīng)的任一實(shí)施方式的音頻控制器的測(cè)試系統(tǒng)，包括：控制第一待測(cè)芯片的第一音頻控制接口與第二待測(cè)芯片的第二音頻控制接口連接，以使第一待測(cè)芯片和第二待測(cè)芯片進(jìn)行相互測(cè)試，生成相互測(cè)試結(jié)果；獲取第一待測(cè)芯片和第二待測(cè)芯片之間的相互測(cè)試結(jié)果，相互測(cè)試結(jié)果包括第一測(cè)試結(jié)果和第二測(cè)試結(jié)果；基于第一測(cè)試結(jié)果和第二測(cè)試結(jié)果，確定第一待測(cè)芯片和第二待測(cè)芯片的音頻測(cè)試結(jié)果。

19、本發(fā)明實(shí)施例提供的音頻控制器的測(cè)試方法，通過(guò)相互測(cè)試，能夠全面評(píng)估兩個(gè)芯片的相互兼容性和協(xié)同工作能力，確保系統(tǒng)整體性能的可靠性。獲取相互測(cè)試結(jié)果的過(guò)程可以實(shí)時(shí)進(jìn)行，有助于及時(shí)識(shí)別問(wèn)題并進(jìn)行調(diào)整，提高測(cè)試的響應(yīng)速度。包含第一測(cè)試結(jié)果和第二測(cè)試結(jié)果，提供了雙向驗(yàn)證的基礎(chǔ)，增強(qiáng)了測(cè)試結(jié)果的可靠性。通過(guò)集成相互測(cè)試，可以避免重復(fù)測(cè)試和不必要的步驟，提高整體測(cè)試流程的效率。

20、第三方面，本發(fā)明提供了一種計(jì)算機(jī)設(shè)備，包括：存儲(chǔ)器和處理器，存儲(chǔ)器和處理器之間互相通信連接，存儲(chǔ)器中存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)指令，處理器通過(guò)執(zhí)行計(jì)算機(jī)指令，從而執(zhí)行上述第二方面的音頻控制器的測(cè)試方法。

21、第四方面，本發(fā)明提供了一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，該計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)指令，計(jì)算機(jī)指令用于使計(jì)算機(jī)執(zhí)行上述第二方面的音頻控制器的測(cè)試方法。

22、第五方面，本發(fā)明提供了一種計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品，包括計(jì)算機(jī)指令，計(jì)算機(jī)指令用于使計(jì)算機(jī)執(zhí)行上述第二方面的音頻控制器的測(cè)試方法。