本發(fā)明涉及光通信技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及室外光纜交接箱門(mén)禁監(jiān)控系統(tǒng)。

背景技術(shù)：

光交箱門(mén)未正常關(guān)閉一直是光纖質(zhì)量的潛在隱患，存在大量破壞現(xiàn)象、施工人員不按規(guī)范操作、暴力施工及不鎖門(mén)現(xiàn)象嚴(yán)重。目前的電子門(mén)禁等在供電困難的無(wú)源場(chǎng)景很難使用，整體改造成本非常高，較難適用于ODN場(chǎng)景。而利用光纖的無(wú)源傳感器的方案中均采用衰減型的光纖傳感器，該傳感器利用箱門(mén)開(kāi)閉時(shí)對(duì)傳感光纖造成不同彎曲半徑從而形式不同插損值，一方面插損定位精確難以保證，鏈路中的故障也會(huì)導(dǎo)致插損變化，另一方面對(duì)業(yè)務(wù)也造成影響，同時(shí)容易受動(dòng)態(tài)范圍限制，該方法在實(shí)際使用中存在較大局限性。

綜合來(lái)看，目前尚缺乏一種有效可遠(yuǎn)程監(jiān)控各箱門(mén)狀態(tài)，且不影響鏈路業(yè)務(wù)質(zhì)量的系統(tǒng)。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明所要解決的技術(shù)問(wèn)題在于提供一種能夠有效可遠(yuǎn)程監(jiān)控各箱門(mén)狀態(tài)，且不影響鏈路業(yè)務(wù)質(zhì)量的門(mén)禁監(jiān)控系統(tǒng)。

為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明實(shí)施方式提供如下技術(shù)方案：

本發(fā)明提供一種門(mén)禁監(jiān)控系統(tǒng)，用于對(duì)多個(gè)箱的箱門(mén)開(kāi)閉狀態(tài)進(jìn)行監(jiān)控，所述門(mén)禁監(jiān)控系統(tǒng)包括多個(gè)光纖傳感器和光鏈路檢測(cè)系統(tǒng)，所述多個(gè)光纖傳感器分別設(shè)置在所述多個(gè)箱的箱體的靠近所述箱門(mén)邊緣位置處，每個(gè)所述光纖傳感器均包括光纖、反射模塊和傳動(dòng)結(jié)構(gòu)，所述反射模塊通過(guò)所述光纖串聯(lián)在所述光鏈路檢測(cè)系統(tǒng)中，所述傳動(dòng)結(jié)構(gòu)和所述反射模塊彈性連接，所述箱門(mén)關(guān)閉使得所述傳動(dòng)結(jié)構(gòu)受力移動(dòng)并推頂所述反射模塊，以改變所述反射模塊的反射率，所述箱門(mén)打開(kāi)使得所述傳動(dòng)結(jié)構(gòu)回位，并使得所述反射模塊的反射率還原，所述光鏈路檢測(cè)系統(tǒng)對(duì)所述反射模塊的反射率進(jìn)行感測(cè)，以監(jiān)控所述箱門(mén)的開(kāi)閉。

在第一種可能的實(shí)施方式中，所述反射模塊包括固定架、第一固定套、第一插芯、第二固定套、第二插芯、非剛性介質(zhì)及一對(duì)彈性件，所述第一插芯的一端插入且固定于所述第一固定套內(nèi)并與所述光纖對(duì)接，所述第一插芯的另一端的端面為第一鍍膜面，所述第二插芯的一端插入且固定于所述第二固定套內(nèi)并與所述光纖對(duì)接，所述第二插芯的另一端的端面亦為第二鍍膜面，所述第一鍍膜面與所述第二鍍膜面相對(duì)接，所述第一固定套和所述第二固定套分別通過(guò)所述彈性件與所述固定架連接，所述固定架固定于所述箱體，所述非剛性介質(zhì)連接于所述第一固定套和所述第二固定套之間且包覆所述第一插芯和所述第二插芯，所述傳動(dòng)結(jié)構(gòu)受力時(shí)推頂所述非剛性介質(zhì)，使得所述非剛性介質(zhì)推動(dòng)所述第一固定套和所述第二固定套移動(dòng)，并使得所述第一鍍膜面和所述第二鍍膜面之間產(chǎn)生空氣間隙。

結(jié)合第一種可能的實(shí)施方式，在第二種可能的實(shí)施方式中，所述第一插芯和所述第二插芯為玻璃或陶瓷介質(zhì)，所述第一鍍膜面和所述第二鍍膜面對(duì)玻璃或陶瓷介質(zhì)呈低反射狀態(tài)，對(duì)空氣介質(zhì)形成高反射狀態(tài)。

結(jié)合第一種可能的實(shí)施方式，在第三種可能的實(shí)施方式中，所述光鏈路檢測(cè)系統(tǒng)包括頭端檢測(cè)設(shè)備和主機(jī)，所述頭端檢測(cè)設(shè)備用于對(duì)所述多個(gè)箱所在的鏈路進(jìn)行光學(xué)掃描，以獲取各個(gè)所述箱的插損和/或回?fù)p值，所述頭端檢測(cè)設(shè)備將所述插損和/或回?fù)p值傳輸給所述主機(jī)，通過(guò)所述主機(jī)進(jìn)行數(shù)據(jù)分析，以監(jiān)控所述箱之箱門(mén)的開(kāi)閉狀態(tài)。

結(jié)合第三種可能的實(shí)施方式，在第四種可能的實(shí)施方式中，所述光鏈路檢測(cè)系統(tǒng)還包括遠(yuǎn)程工具，所述遠(yuǎn)程工具與所述主機(jī)通信連接，用于提供操作人員啟動(dòng)所述光鏈路檢測(cè)系統(tǒng)及選擇待檢測(cè)的所述箱所在的鏈路。

結(jié)合第四種可能的實(shí)施方式，在第五種可能的實(shí)施方式中，所述遠(yuǎn)程工具為手持設(shè)備或便攜機(jī)。

結(jié)合第四種可能的實(shí)施方式，在第六種可能的實(shí)施方式中，所述頭端檢測(cè)設(shè)備為外置式光時(shí)域反射儀、或嵌入式光時(shí)域反射儀、或便攜式光時(shí)域反射儀。

結(jié)合第六種可能的實(shí)施方式，在第七種可能的實(shí)施方式中，所述頭端檢測(cè)設(shè)備通過(guò)光開(kāi)關(guān)單元和波分復(fù)用器與所述箱中的鏈路連通。

結(jié)合第四種可能的實(shí)施方式，在第八種可能的實(shí)施方式中，所述頭端檢測(cè)設(shè)備對(duì)所述多個(gè)箱進(jìn)行光學(xué)掃描后，針對(duì)每個(gè)所述箱均產(chǎn)生一個(gè)鏈路掃描曲線， 所述主機(jī)根據(jù)所述鏈路掃描曲線分析出所述多個(gè)箱所對(duì)應(yīng)的反射峰，通過(guò)所述反射峰實(shí)現(xiàn)對(duì)所述多個(gè)箱的標(biāo)識(shí)。

結(jié)合第八種可能的實(shí)施方式，在第九種可能的實(shí)施方式中，所述頭端檢測(cè)設(shè)備對(duì)所述多個(gè)箱進(jìn)行光學(xué)掃描后，所述主機(jī)對(duì)所述掃描曲線進(jìn)行分析，以實(shí)現(xiàn)對(duì)所述多個(gè)箱所在的鏈路的故障診斷，當(dāng)所述掃描曲線下降時(shí)，判斷對(duì)應(yīng)的位置發(fā)生的損耗故障。

本發(fā)明提供的門(mén)禁監(jiān)控系統(tǒng)，通過(guò)在箱門(mén)處設(shè)置光纖傳感器，通過(guò)所述箱門(mén)關(guān)閉使得所述傳動(dòng)結(jié)構(gòu)受力移動(dòng)并推頂所述反射模塊，以改變所述反射模塊的反射率，所述箱門(mén)打開(kāi)使得所述傳動(dòng)結(jié)構(gòu)回位，并使得所述反射模塊的反射率還原，所述光鏈路檢測(cè)系統(tǒng)對(duì)所述反射模塊的反射率進(jìn)行感測(cè)，以監(jiān)控所述箱門(mén)的開(kāi)閉。本發(fā)明使用反射型傳感器，對(duì)系統(tǒng)而言有兩個(gè)好處，一方面系統(tǒng)監(jiān)控時(shí)是對(duì)反射率來(lái)進(jìn)行監(jiān)控，一般而言，檢測(cè)設(shè)備(例如OTDR)對(duì)反射事件監(jiān)控的精度要遠(yuǎn)高于對(duì)衰減事件的監(jiān)控精度，因此不會(huì)存在因鏈路中其他事件干擾導(dǎo)致的誤判，具有更準(zhǔn)確識(shí)別門(mén)禁功能，舉例而言：一般OTDR衰減事件的距離精度只能達(dá)到10m，脈寬增加的情況可能要100m，如果100m以?xún)?nèi)發(fā)生衰減故障可能導(dǎo)致誤判為門(mén)開(kāi)了，而一般反射事件距離精度可以在1m以?xún)?nèi)，基本不會(huì)出現(xiàn)誤判。另一方面反射模塊在工作的過(guò)程中，系統(tǒng)插損無(wú)變化，除了不影響鏈路正常業(yè)務(wù)外，也能節(jié)省監(jiān)控設(shè)備的動(dòng)態(tài)范圍，使系統(tǒng)能同時(shí)檢測(cè)更多的箱門(mén)，舉例而言：一般OTDR動(dòng)態(tài)范圍20dB，衰減型的一般2-3dB，鏈路損耗按10dB計(jì)算，當(dāng)鏈路中超過(guò)3個(gè)箱時(shí)，就超出系統(tǒng)監(jiān)控范圍了，而采用本發(fā)明提供的反射型傳感器，則無(wú)此限制。

附圖說(shuō)明

為了更清楚地說(shuō)明本發(fā)明的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施方式中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹，顯而易見(jiàn)地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施方式，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來(lái)講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以如這些附圖獲得其他的附圖。

圖1是本發(fā)明一種實(shí)施方式提供的門(mén)禁監(jiān)控系統(tǒng)的總架構(gòu)圖。

圖2是本發(fā)明一種實(shí)施方式提供的門(mén)禁監(jiān)控系統(tǒng)之光纖傳感器的連接示意圖。

圖3是本發(fā)明一種實(shí)施方式提供的門(mén)禁監(jiān)控系統(tǒng)之光纖傳感器的結(jié)構(gòu)示意圖。

圖4是本發(fā)明一種實(shí)施方式提供的門(mén)禁監(jiān)控系統(tǒng)之光纖傳感器之反射模塊的結(jié)構(gòu)示意圖。

圖5是本發(fā)明一種實(shí)施方式中，施工工具錄入曲線與基準(zhǔn)曲線信息對(duì)比示意圖。

圖6是本發(fā)明一種實(shí)施方式中鏈路診斷所應(yīng)用的曲線示意圖。

具體實(shí)施方式

下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施方式中的附圖，對(duì)本發(fā)明實(shí)施方式中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述。

請(qǐng)參閱圖1，本發(fā)明提供一種門(mén)禁監(jiān)控系統(tǒng)，用于對(duì)多個(gè)箱10的箱10門(mén)開(kāi)閉狀態(tài)進(jìn)行監(jiān)控。本發(fā)明一種實(shí)施方式中，所述的箱10是光交箱10。多個(gè)箱10組成鏈路，圖1所示的實(shí)施方式中，包括六個(gè)光交箱10，每三個(gè)光交箱10串聯(lián)形成一個(gè)鏈路。所述門(mén)禁監(jiān)控系統(tǒng)包括多個(gè)光纖傳感器(圖1中未圖示)和光鏈路檢測(cè)系統(tǒng)20，如圖1所示，光鏈路檢測(cè)系統(tǒng)20設(shè)置在兩個(gè)鏈路之間，光鏈路檢測(cè)系統(tǒng)20與所有的箱10連接，本實(shí)施方式中，通過(guò)光纖連接。

請(qǐng)參閱圖2，所述多個(gè)光纖傳感器30分別設(shè)置在所述多個(gè)箱10的箱10體的靠近所述箱10門(mén)邊緣位置處，每個(gè)箱10體均配置一個(gè)光纖傳感器30，光纖傳感器30通過(guò)光纖與光鏈路檢測(cè)系統(tǒng)20中的檢測(cè)光纖22連通。

請(qǐng)參閱圖3，每個(gè)所述光纖傳感器30均包括光纖32、反射模塊34和傳動(dòng)結(jié)構(gòu)36，所述反射模塊34通過(guò)所述光纖32串聯(lián)在所述光鏈路檢測(cè)系統(tǒng)20中，具體而言，光纖32設(shè)置在反射模塊34相對(duì)的兩端，作為輸入端和輸出端，所述光纖32可以為成端也可以是尾纖，通過(guò)熔接或成端跑接的方式接續(xù)至對(duì)應(yīng)的檢測(cè)光纖22(或業(yè)務(wù)光纖)間。

所述傳動(dòng)結(jié)構(gòu)36和所述反射模塊34彈性連接，一種實(shí)施方式中，二者之間通過(guò)彈簧38進(jìn)行彈性連接。所述箱10門(mén)關(guān)閉使得所述傳動(dòng)結(jié)構(gòu)36受力移動(dòng)并推頂所述反射模塊34，以改變所述反射模塊34的反射率，所述箱10門(mén)打開(kāi)使得所述傳動(dòng)結(jié)構(gòu)36回位，并使得所述反射模塊34的反射率還原，所述光鏈路檢測(cè)系統(tǒng)20對(duì)所述反射模塊34的反射率進(jìn)行感測(cè)，以監(jiān)控所述箱10門(mén)的開(kāi) 閉。

請(qǐng)參閱圖4，所述反射模塊34包括固定架(未圖示)、第一固定套341、第一插芯342、第二固定套343、第二插芯344、非剛性介質(zhì)345及一對(duì)彈性件346。圖4中未示出固定架結(jié)構(gòu)，固定架用于與箱10體固定連接，可以是中空的殼體的結(jié)構(gòu)或者支架的結(jié)構(gòu)。所述第一插芯342的一端插入且固定于所述第一固定套341內(nèi)并與所述光纖347對(duì)接，所述第一插芯342的另一端的端面為第一鍍膜面3421。所述第二插芯344的一端插入且固定于所述第二固定套343內(nèi)并與所述光纖347對(duì)接，所述第二插芯344的另一端的端面亦為第二鍍膜面3441。所述第一固定套341和所述第二固定套343分別通過(guò)所述彈性件346與所述固定架連接，在彈性件346的彈力作用下，所述第一鍍膜面3421與所述第二鍍膜面3441相對(duì)接，所述固定架固定于所述箱10體。所述非剛性介質(zhì)345連接于所述第一固定套341和所述第二固定套343之間且包覆所述第一插芯342和所述第二插芯344，所述非剛性介質(zhì)345為可伸展的彈性物件，當(dāng)所述非剛性介質(zhì)345的中間位置受力時(shí)，非剛性介質(zhì)345會(huì)朝向其兩側(cè)延展，且外力取消時(shí)，非剛性介質(zhì)345會(huì)復(fù)位。本實(shí)施方式中，箱10門(mén)關(guān)閉時(shí)，所述傳動(dòng)結(jié)構(gòu)36受力時(shí)推頂所述非剛性介質(zhì)345，非剛性介質(zhì)345的兩端向外伸展，從而，使得所述非剛性介質(zhì)345推動(dòng)所述第一固定套341和所述第二固定套343移動(dòng)，并使得所述第一鍍膜面3421和所述第二鍍膜面3441之間產(chǎn)生空氣間隙。箱10門(mén)呈打開(kāi)狀態(tài)時(shí)，傳動(dòng)結(jié)構(gòu)36回位，非剛性介質(zhì)345亦恢復(fù)原形，這樣第一固定套341和第二固定套343回位，從而使得第一鍍膜面3421和所述第二鍍膜面3441彼此接觸。

本發(fā)明一種可能的實(shí)施方式中，所述第一插芯342和所述第二插芯344為玻璃或陶瓷介質(zhì)，所述第一鍍膜面3421和所述第二鍍膜面3441對(duì)玻璃或陶瓷介質(zhì)呈低反射狀態(tài)，對(duì)空氣介質(zhì)形成高反射狀態(tài)。箱10門(mén)關(guān)閉時(shí)，第一插芯342和第二插芯344呈對(duì)接的狀態(tài)，反射模塊34呈低反射狀態(tài)，不影響傳輸業(yè)務(wù)。箱10門(mén)打開(kāi)時(shí)，第一鍍膜面3421和第二鍍膜面3441之間有空氣，反射模塊34的反射率增加，呈高反射狀態(tài)。

反射模塊34和傳動(dòng)結(jié)構(gòu)36可以采用分離式結(jié)構(gòu)也可以采用一體式結(jié)構(gòu)。傳動(dòng)結(jié)構(gòu)36移動(dòng)的過(guò)程中，光纖傳感器30在業(yè)務(wù)波段(1300nm-1610nm)的插損不受影響。反射模塊34產(chǎn)生不同反射率的過(guò)程會(huì)改變光纖傳感器30的回?fù)p。 具體描述如下：本發(fā)明提供的門(mén)禁監(jiān)控系統(tǒng)在測(cè)試波段(如1610nm～1675nm，也可以是其他波段)，整個(gè)光纖傳感器30具有特定的回?fù)p，例如：在1610nm～1650nm，傳動(dòng)結(jié)構(gòu)36遠(yuǎn)離反射模塊34狀態(tài)下器件回?fù)p值為-40dB，當(dāng)傳動(dòng)結(jié)構(gòu)36接觸且推頂反射模塊34時(shí)，光纖傳感器30回?fù)p值接近-26dB)。光纖傳感器30安裝后，箱10門(mén)打開(kāi)和關(guān)閉時(shí)能使傳動(dòng)結(jié)構(gòu)36產(chǎn)生不同的行程，傳動(dòng)結(jié)構(gòu)36對(duì)反射模塊34產(chǎn)生對(duì)應(yīng)的壓力，從而使光纖傳感器30呈現(xiàn)不同的回?fù)p變化，光鏈路檢測(cè)系統(tǒng)20對(duì)光纖傳感器30進(jìn)行掃描，形成掃描曲線，且能夠根據(jù)掃描曲線分析出光纖傳感器30反射光強(qiáng)度變化，并以此推算出光纖傳感器30回?fù)p變化量，完成對(duì)光纖傳感器30狀態(tài)監(jiān)控。

具體而言，所述光鏈路檢測(cè)系統(tǒng)20包括頭端檢測(cè)設(shè)備和主機(jī)。頭端檢測(cè)設(shè)備通常旋轉(zhuǎn)于中心機(jī)房?jī)?nèi)，所述頭端檢測(cè)設(shè)備與光纖傳感器30通信連接，所述頭端檢測(cè)設(shè)備用于對(duì)所述多個(gè)箱10所在的鏈路進(jìn)行光學(xué)掃描，以獲取各個(gè)所述箱10內(nèi)的光纖傳感器30的插損和/或回?fù)p值，所述頭端檢測(cè)設(shè)備將所述插損和/或回?fù)p值傳輸給所述主機(jī)。通過(guò)所述主機(jī)進(jìn)行數(shù)據(jù)分析，以監(jiān)控所述箱10之箱10門(mén)的開(kāi)閉狀態(tài)。主機(jī)內(nèi)安裝有對(duì)應(yīng)的鏈路檢測(cè)系統(tǒng)軟件，該軟件一方面用于驅(qū)動(dòng)對(duì)應(yīng)頭端設(shè)備對(duì)傳感器所在鏈路進(jìn)行掃描，另一方面用于分析掃描曲線并提供鏈路診斷功能，同時(shí)提供遠(yuǎn)程工具訪問(wèn)接口。

所述光鏈路檢測(cè)系統(tǒng)20還包括遠(yuǎn)程工具，所述遠(yuǎn)程工具與所述主機(jī)通信連接，用于提供操作人員啟動(dòng)所述光鏈路檢測(cè)系統(tǒng)20及選擇待檢測(cè)的所述箱10所在的鏈路。遠(yuǎn)程工具用于相關(guān)人員在遠(yuǎn)端進(jìn)行操作，遠(yuǎn)程工具可通過(guò)2G、3G等網(wǎng)絡(luò)或者wifi與光鏈路檢測(cè)系統(tǒng)20進(jìn)行通信，用于相關(guān)人員在遠(yuǎn)端進(jìn)行操作，能利用遠(yuǎn)程工具指導(dǎo)光鏈路檢測(cè)系統(tǒng)20軟件對(duì)布放的光纖傳感器30進(jìn)行標(biāo)識(shí)，同時(shí)也用于操作人員遠(yuǎn)程控制光鏈路檢測(cè)系統(tǒng)20，對(duì)成功布放光纖傳感器30的鏈路進(jìn)行診斷，系統(tǒng)將未正常關(guān)閉的箱10門(mén)信息以及鏈路存在的故障信息發(fā)送至遠(yuǎn)程工具界面。

一種實(shí)施方式中，所述遠(yuǎn)程工具為手持設(shè)備或便攜機(jī)。

所述頭端檢測(cè)設(shè)備為外置式光時(shí)域反射儀(OTDR)、或嵌入式光時(shí)域反射儀、或便攜式光時(shí)域反射儀。一種實(shí)施方式中，所述頭端檢測(cè)設(shè)備通過(guò)光開(kāi)關(guān)單元(OSU)和波分復(fù)用器(WDM)與所述箱10中的鏈路連通。

所述頭端檢測(cè)設(shè)備對(duì)所述多個(gè)箱10進(jìn)行光學(xué)掃描后，針對(duì)每個(gè)所述箱10 均產(chǎn)生一個(gè)鏈路掃描曲線，所述主機(jī)根據(jù)所述鏈路掃描曲線分析出所述多個(gè)箱10所對(duì)應(yīng)的反射峰，通過(guò)所述反射峰實(shí)現(xiàn)對(duì)所述多個(gè)箱10的標(biāo)識(shí)。具體標(biāo)識(shí)的過(guò)程為：操作人員可通過(guò)遠(yuǎn)程工具選擇對(duì)應(yīng)鏈路啟動(dòng)施工，光鏈路檢測(cè)系統(tǒng)20響應(yīng)對(duì)應(yīng)指令并啟動(dòng)頭端檢測(cè)設(shè)備，進(jìn)行掃描，光鏈路檢測(cè)系統(tǒng)20根據(jù)鏈路掃描曲線分析出對(duì)應(yīng)的反射峰，完成反射峰和對(duì)應(yīng)箱10門(mén)信息的標(biāo)定。對(duì)應(yīng)標(biāo)定流程可根據(jù)施工需求來(lái)進(jìn)行，可支持逐個(gè)箱10門(mén)標(biāo)識(shí)，也可進(jìn)行待傳感器布放完成后進(jìn)行批量標(biāo)識(shí)。其中逐個(gè)標(biāo)識(shí)可在施工過(guò)程中進(jìn)行，也可在施工完成后再進(jìn)行標(biāo)識(shí)，前者可通過(guò)對(duì)比施工前后鏈路掃描曲線，后者可通過(guò)比對(duì)箱10門(mén)開(kāi)閉鏈路掃描曲線以此分析出傳感器對(duì)應(yīng)反射峰，從而完成箱10門(mén)的標(biāo)定。請(qǐng)參閱圖5，圖5中的兩條曲線分別為施工曲線和基準(zhǔn)曲線，通過(guò)對(duì)這兩條曲線的對(duì)比，進(jìn)行箱10門(mén)的標(biāo)定。標(biāo)定時(shí)可在傳感器施工過(guò)程中通過(guò)，也可在傳感器施工完畢后進(jìn)行。而批量標(biāo)識(shí)方式則需要系統(tǒng)先進(jìn)行鏈路掃描曲線分析，將鏈路中反射峰信息反饋至操作人員，由施工人員根據(jù)網(wǎng)絡(luò)參數(shù)進(jìn)行確認(rèn)，使曲線中反射峰與光交箱10建立對(duì)應(yīng)關(guān)系，完成標(biāo)識(shí)。

所述頭端檢測(cè)設(shè)備對(duì)所述多個(gè)箱10進(jìn)行光學(xué)掃描后，所述主機(jī)對(duì)所述掃描曲線進(jìn)行分析，以實(shí)現(xiàn)對(duì)所述多個(gè)箱10所在的鏈路的故障診斷，當(dāng)所述掃描曲線下降時(shí)，判斷對(duì)應(yīng)的位置發(fā)生的損耗故障。例如，請(qǐng)參閱圖6，當(dāng)光纖傳感器30對(duì)應(yīng)反射峰下降，損耗不發(fā)生變化時(shí)，可以判斷對(duì)應(yīng)光交箱10箱10門(mén)未正常關(guān)閉，如圖6中光交箱10A所示，當(dāng)圖中曲線下降時(shí)可判斷對(duì)應(yīng)位置發(fā)生損耗故障，如圖中光交箱10B處可以判斷傳感器后續(xù)鏈路發(fā)生了損耗故障，光鏈路檢測(cè)系統(tǒng)20軟件診斷完成后將診斷結(jié)果顯示于界面并反饋至運(yùn)維人員遠(yuǎn)程工具上。整個(gè)診斷方式可支持定時(shí)巡檢，也可按需求指定某個(gè)鏈路或者某個(gè)器件進(jìn)行監(jiān)控。

本發(fā)明提供的門(mén)禁監(jiān)控系統(tǒng)，通過(guò)在箱10門(mén)處設(shè)置光纖傳感器30，通過(guò)所述箱10門(mén)關(guān)閉使得所述傳動(dòng)結(jié)構(gòu)36受力移動(dòng)并推頂所述反射模塊34，以改變所述反射模塊34的反射率，所述箱10門(mén)打開(kāi)使得所述傳動(dòng)結(jié)構(gòu)36回位，并使得所述反射模塊34的反射率還原，所述光鏈路檢測(cè)系統(tǒng)20對(duì)所述反射模塊34的反射率進(jìn)行感測(cè)，以監(jiān)控所述箱10門(mén)的開(kāi)閉。本發(fā)明使用反射型傳感器，對(duì)系統(tǒng)而言有兩個(gè)好處，一方面系統(tǒng)監(jiān)控時(shí)是對(duì)反射率來(lái)進(jìn)行監(jiān)控，一般而言，檢測(cè)設(shè)備(例如OTDR)對(duì)反射事件監(jiān)控的精度要遠(yuǎn)高于對(duì)衰減事件的監(jiān)控精 度，因此不會(huì)存在因鏈路中其他事件干擾導(dǎo)致的誤判，具有更準(zhǔn)確識(shí)別門(mén)禁功能，舉例而言：一般OTDR衰減事件的距離精度只能達(dá)到10m，脈寬增加的情況可能要100m，如果100m以?xún)?nèi)發(fā)生衰減故障可能導(dǎo)致誤判為門(mén)開(kāi)了，而一般反射事件距離精度可以在1m以?xún)?nèi)，基本不會(huì)出現(xiàn)誤判。另一方面反射模塊34在工作的過(guò)程中，系統(tǒng)插損無(wú)變化，除了不影響鏈路正常業(yè)務(wù)外，也能節(jié)省監(jiān)控設(shè)備的動(dòng)態(tài)范圍，使系統(tǒng)能同時(shí)檢測(cè)更多的箱10門(mén)，舉例而言：一般OTDR動(dòng)態(tài)范圍20dB，衰減型的一般2-3dB，鏈路損耗按10dB計(jì)算，當(dāng)鏈路中超過(guò)3個(gè)箱10時(shí)，就超出系統(tǒng)監(jiān)控范圍了，而采用本發(fā)明提供的反射型傳感器，則無(wú)此限制。

以上所述是本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式，應(yīng)當(dāng)指出，對(duì)于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來(lái)說(shuō)，在不脫離本發(fā)明原理的前提下，還可以做出若干改進(jìn)和潤(rùn)飾，這些改進(jìn)和潤(rùn)飾也視為本發(fā)明的保護(hù)范圍。