專利名稱：一種FlexRay總線數(shù)據(jù)鏈路層測(cè)試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種用于FlexRay總線數(shù)據(jù)鏈路層測(cè)試的方法，該方法用來檢驗(yàn)被測(cè)FlexRay總線數(shù)據(jù)鏈路層是否滿足FlexRay總線協(xié)議的一致性要求。
背景技術(shù)：
FlexRay是一種用于汽車的高速可確定性的,具備故障容錯(cuò)的總線系統(tǒng)，F(xiàn)lexRay通過在確定的時(shí)間槽中傳遞信息，以及在兩個(gè)通道上的故障容錯(cuò)和冗余信息的傳送，滿足了新的x-byiire系統(tǒng)設(shè)計(jì)思想的對(duì)信息傳送速度尤其是故障容錯(cuò)與時(shí)間確定性的不斷增加的需求。由于對(duì)于由自然語言所描述的FlexRay總線協(xié)議的理解存在著主觀的因素，因此，對(duì)于FlexRay總線數(shù)據(jù)鏈路層的協(xié)議一致性測(cè)試驗(yàn)證工作尤為重要。為了檢驗(yàn)FlexRay總線數(shù)據(jù)鏈路層是否滿足FlexRay總線協(xié)議的一致性要求，需要提出一種FlexRay 總線數(shù)據(jù)鏈路層測(cè)試方法。

發(fā)明內(nèi)容
為了檢驗(yàn)FlexRay總線數(shù)據(jù)鏈路層是否滿足FlexRay總線協(xié)議一致性要求，本發(fā)明提出了一種FlexRay總線數(shù)據(jù)鏈路層測(cè)試方法的協(xié)同測(cè)試方法，對(duì)于被測(cè)FlexRay總線數(shù)據(jù)鏈路層的測(cè)試在具體實(shí)施上通過直接對(duì)被測(cè)FlexRay總線的FlexRay控制器的測(cè)試實(shí)現(xiàn)。該方法直接利用邏輯分析儀與被測(cè)FlexRay總線中的被測(cè)FlexRay控制器RX、TX引腳電連接，波形發(fā)生器與被測(cè)FlexRay控制器TX引腳電連接，邏輯分析儀、波形發(fā)生器以及對(duì)其進(jìn)行控制、分析的上位機(jī)構(gòu)成下測(cè)試器，包含被測(cè)FlexRay控制器的測(cè)試模塊中除了被測(cè)FlexRay控制器的部分構(gòu)成上測(cè)試器，通過上測(cè)試器和下測(cè)試器的協(xié)同工作，檢驗(yàn)被測(cè)FlexRay總線數(shù)據(jù)鏈路層是否滿足FlexRay總線協(xié)議的一致性要求。


附圖為一種FlexRay總線數(shù)據(jù)鏈路層測(cè)試系統(tǒng)原理圖，其中①為上位機(jī)PC ;虛線框中為測(cè)試模塊，主要由②上測(cè)試器和③被測(cè)FlexRay控制器組成為邏輯分析儀；⑤為波形發(fā)生器。
具體實(shí)施例方式本發(fā)明-一種FlexRay總線數(shù)據(jù)鏈路層測(cè)試方法，對(duì)于被測(cè)FlexRay線數(shù)據(jù)鏈路層的測(cè)試在具體實(shí)施上通過直接對(duì)被測(cè)FlexRay總線的FlexRay控制器的測(cè)試實(shí)現(xiàn)。本測(cè)試方法直接利用邏輯分析儀與被測(cè)FlexRay總線中的被測(cè)FlexRay控制器RX、TX引腳電連接，波形發(fā)生器與被測(cè)FlexRay控制器TX引腳電連接，邏輯分析儀、波形發(fā)生器以及對(duì)其進(jìn)行控制、分析的上位機(jī)構(gòu)成下測(cè)試器，包含被測(cè)FlexRay控制器的測(cè)試模塊中除了被測(cè)FlexRay控制器的部分構(gòu)成上測(cè)試器，通過上測(cè)試器和下測(cè)試器的協(xié)同工作，檢驗(yàn)被測(cè)FlexRay總線數(shù)據(jù)鏈路層是否滿足FlexRay協(xié)議的一致性要求。按照該方法構(gòu)建如附圖所示一種FlexRay總線數(shù)據(jù)鏈路層測(cè)試系統(tǒng)。附圖中，測(cè)試模塊中的被測(cè)FlexRay控制器直接與上測(cè)試器交互信息，其RX及TX兩引腳接至邏輯分析儀探頭，Rx引腳與波形發(fā)生器的輸出端電連接。上位機(jī)、邏輯分析儀與波形發(fā)生之間可以進(jìn)行相關(guān)信息的交互。上位機(jī)同時(shí)與上測(cè)試器進(jìn)行信息交互。邏輯分析儀的觸發(fā)信號(hào)輸出電連接至波形發(fā)生器的觸發(fā)信號(hào)輸入。測(cè)試中，上位機(jī)將測(cè)試用例及相關(guān)命令發(fā)送至邏輯分析儀、波形發(fā)生器以及測(cè)試模塊，邏輯分析儀監(jiān)測(cè)TX及RX兩信號(hào)線上的信號(hào)序列，并根據(jù)TX信號(hào)線上的信號(hào)判定是否滿足觸發(fā)條件從而觸發(fā)波形發(fā)生器輸出所要求的測(cè)試序列至RX信號(hào)線。TX及RX的全部 信號(hào)都將由邏輯分析儀予以記錄，并傳送回上位機(jī)，上位機(jī)通過對(duì)下測(cè)試器傳回的信息與上測(cè)試器傳回的被測(cè)FlexRay控制器信息進(jìn)行對(duì)比、分析，得出被測(cè)FlexRay總線數(shù)據(jù)鏈路層是否滿足FlexRay協(xié)議一致性測(cè)試的結(jié)果。
權(quán)利要求
1.一種FlexRay總線數(shù)據(jù)鏈路層測(cè)試方法，其特征是該方法為一種協(xié)同測(cè)試方法，對(duì)被測(cè)FlexRay總線數(shù)據(jù)鏈路層的測(cè)試通過對(duì)被測(cè)FlexRay總線中FlexRay控制器的測(cè)試實(shí)施，該方法直接利用邏輯分析儀與被測(cè)FlexRay總線中的被測(cè)FlexRay控制器RX、TX引腳電連接，波形發(fā)生器與被測(cè)FlexRay控制器TX引腳電連接，邏輯分析儀、波形發(fā)生器以及對(duì)其進(jìn)行控制、分析的上位機(jī)構(gòu)成下測(cè)試器，包含被測(cè)FlexRay控制器的測(cè)試模塊中除了被測(cè)FlexRay控制器的部分構(gòu)成上測(cè)試器，上測(cè)試器和下測(cè)試器協(xié)同工作。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所描述的下測(cè)試器，其特征是上位機(jī)將測(cè)試用例及相關(guān)命令發(fā)送至邏輯分析儀、波形發(fā)生器以及測(cè)試模塊，邏輯分析儀監(jiān)測(cè)TX及RX兩信號(hào)線上的信號(hào)序列，并根據(jù)TX信號(hào)線上的信號(hào)判定是否滿足觸發(fā)條件從而觸發(fā)波形發(fā)生器輸出所要求的測(cè)試序列至RX信號(hào)線。TX及RX的全部信號(hào)都將由邏輯分析儀予以記錄，并傳送回上位機(jī)，上位機(jī)通過對(duì)下測(cè)試器傳回的信息與上測(cè)試器傳回的被測(cè)FlexRay控制器信息進(jìn)行對(duì)比、分析，得出被測(cè)FlexRay總線數(shù)據(jù)鏈路層是否滿足FlexRay總線協(xié)議一致性測(cè)試的結(jié)果。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種用于FlexRay總線數(shù)據(jù)鏈路層測(cè)試的方法，該方法用來檢驗(yàn)被測(cè)FlexRay總線數(shù)據(jù)鏈路層是否滿足FlexRay協(xié)議的一致性要求。為了檢驗(yàn)FlexRay總線數(shù)據(jù)鏈路層是否滿足FlexRay協(xié)議一致性要求，本發(fā)明提出了一種FlexRay總線數(shù)據(jù)鏈路層測(cè)試方法的協(xié)同測(cè)試方法，對(duì)于被測(cè)FlexRay總線數(shù)據(jù)鏈路層的測(cè)試在具體實(shí)施上通過直接對(duì)被測(cè)FlexRay總線的FlexRay控制器的測(cè)試實(shí)現(xiàn)。該方法直接利用邏輯分析儀和波型發(fā)生器分別與被測(cè)FlexRay總線中的被測(cè)FlexRay控制器RX、TX引腳分別相連，邏輯分析儀、波形發(fā)生器以及對(duì)其進(jìn)行控制、分析的上位機(jī)構(gòu)成下測(cè)試器，包含被測(cè)FlexRay控制器的測(cè)試模塊中除了被測(cè)FlexRay控制器的部分構(gòu)成上測(cè)試器，通過上測(cè)試器和下測(cè)試器的協(xié)同工作，檢驗(yàn)被測(cè)FlexRay總線數(shù)據(jù)鏈路層是否滿足FlexRay總線協(xié)議的一致性要求。
文檔編號(hào)H04L12/26GK102801570SQ201110138958
公開日2012年11月28日 申請(qǐng)日期2011年5月26日 優(yōu)先權(quán)日2011年5月26日
發(fā)明者莫莽, 劉矗, 吳寶紅 申請(qǐng)人:上海固泰科技有限公司