專利名稱：一種射頻自動測試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及通訊領(lǐng)域，具體涉及一種射頻自動測試裝置。
背景技術(shù)：
在射頻設(shè)備生產(chǎn)過程中，一般采用各種射頻儀表對產(chǎn)品進(jìn)行測試，如射頻發(fā)射部分采用頻譜儀、功率計進(jìn)行測試，射頻接收部分采用信號源進(jìn)行測試。
射頻儀表能夠精確地測量出功率、頻率、相位等各項指標(biāo)，并能夠給被測單元提供良好的調(diào)制信號，是產(chǎn)品和產(chǎn)品模塊生產(chǎn)測試所必須的。但高頻儀表價格昂貴、維護(hù)費用也很高，在一些并不要求很高精度的測試中，使用這樣的測試設(shè)備是不合算的。
移動通訊系統(tǒng)的射頻單板一般包括了發(fā)射和接收兩部分功能，發(fā)射功率和接收靈敏度是其重要性能指標(biāo)。其印制板生產(chǎn)線制版、貼片后先進(jìn)行飛針測試，再進(jìn)行簡單的功能測試即可確定其制板和貼片工藝的完好性。其功能測試若采用射頻儀表，至少需要功率計(或頻譜儀)和信號源，費用昂貴。
現(xiàn)有技術(shù)中的測試裝置都是單獨測試發(fā)射信號或單獨測試接收機(jī)的，基本上側(cè)重功能測試。
實用新型內(nèi)容本實用新型的目的是提供一種射頻自動測試裝置，在通訊產(chǎn)品測試中取代昂貴的射頻儀表，對通訊產(chǎn)品射頻的發(fā)射和接收部分進(jìn)行功能測試。
本實用新型的技術(shù)方案如下一種射頻自動測試裝置，其包括功分器單元、下變頻電路單元、一組衰減電路單元和一組功率檢測電路單元，所述功分器單元通過信號線分別與所述下變頻電路單元和第一衰減電路單元相連，所述下變頻電路單元通過信號線與第二衰減電路單元相連，所述第一衰減電路單元通過信號線與第一功率檢測電路單元相連。
所述的裝置，其中，所述功分器單元將接收到的測試信號分為二路，一路信號輸出到所述下變頻電路單元，另一路信號輸出到所述第一衰減電路單元。
所述的裝置，其中，所述下變頻電路單元將接收到的信號下變頻到被測產(chǎn)品的接收裝置的接收頻段，輸出至所述第二衰減電路單元，所述第二衰減電路單元將接收到的信號衰減到所述被測產(chǎn)品的接收裝置要求的接收靈敏度功率電平，然后將信號環(huán)回給所述被測產(chǎn)品的接收裝置。
所述的裝置，其中，所述第一衰減電路單元將接收到的信號功率衰減到所述第一功率檢測電路單元的輸入功率動態(tài)范圍內(nèi)，并將信號輸出到所述第一功率檢測電路單元進(jìn)行檢測。
所述的裝置，其中，所述被測產(chǎn)品的其它射頻信號輸入到所述一組衰減電路單元中除所述第一衰減電路單元和所述第二衰減電路單元以外的其它衰減電路單元，并再將經(jīng)衰減的信號輸出至所述一組功率檢測電路單元中除所述第一功率檢測電路單元以外的其它的功率檢測電路單元進(jìn)行檢測。
所述的裝置，其中，所述一組衰減電路單元分別由電阻π型電路構(gòu)成。
所述的裝置，其中，所述一組功率檢測電路單元分別由功率-電壓芯片、運算放大器和外圍電路組成。
所述的裝置，其中，所述下變頻電路單元的下變頻本振由鎖相環(huán)芯片的置數(shù)獲得。
所述的裝置，其中，所述下變頻電路單元的下變頻本振設(shè)置為45MHz或95MHz。
采用本實用新型所述裝置，與用射頻儀表進(jìn)行測量相比，在測試精度要求不是很高的情況下，成本非常低，而且可以很全面準(zhǔn)確地的測試通訊產(chǎn)品的發(fā)射和接收單元的主要功能。


圖1是本實用新型的射頻自動測試裝置和被測產(chǎn)品示意圖。
具體實施方式
以下結(jié)合附圖對本實用新型的技術(shù)方案的實施作進(jìn)一步的詳細(xì)描述。
如圖1所示，本實用新型的所述射頻自動測試裝置由一個接收、下變頻、衰減電路和一組功率檢測電路組成。前者用于接收射頻印制板發(fā)射的信號，下變頻到接收頻段，并且衰減為小信號后環(huán)回給印制板的接收部分；后者檢測印制板上發(fā)射機(jī)和本振(要有測試點)的功率。
在GSM移動通訊系統(tǒng)中，下行頻段比上行頻段高45MHz(GSM900M)或95MHz(GSM1800M)。因此測試裝置上的下變頻本振設(shè)為45MHz或95MHz，可以通過對鎖相環(huán)芯片的置數(shù)來獲得。鎖相環(huán)相噪不可以太大，以免大幅惡化信號質(zhì)量。
發(fā)射機(jī)功率測量可以使用帶有功率檢測功能的芯片來完成。考慮到GSM系統(tǒng)的工作頻帶，要求這種芯片在800M-2GHz的頻段內(nèi)有很好的一致性；考慮到GSM系統(tǒng)的功率控制等級，要求這種芯片有42dB以上的功率動態(tài)范圍。一些芯片，例如analog devices公司的AD8313可以滿足這些要求，它在頻帶0.1G-2.5GHz內(nèi)保持了高度的一致性，能夠在輸入功率動態(tài)范圍-65dBm-0dBm，精確地把射頻信號功率轉(zhuǎn)變?yōu)橹绷麟妷褐?，且有很好的線性。
本發(fā)明所述測試裝置的工作如下1、把被測試印制板發(fā)射機(jī)發(fā)出的GSMK調(diào)制信號通過功分器分為①、②兩路。
2、①路信號下變頻到接收頻段，衰減到要求的接收靈敏度功率電平，環(huán)回給被測試印制板的接收機(jī)。在被測板上解調(diào)、解碼，比較結(jié)果與其發(fā)射的是否一致。
3、②路信號進(jìn)入一個功率檢測電路，功率衰減到檢測芯片的輸入功率動態(tài)范圍內(nèi)，檢測其功率值是否符合要求。
4、若印制板上還有其他射頻信號需要測量，如發(fā)射本振、接收本振等，同樣引入其它功率檢測電路測量指標(biāo)。
功分單元是把發(fā)射機(jī)信號分為①、②兩路。①路信號用于環(huán)回測試；②路信號用于功率檢測。由功分器芯片完成。衰減網(wǎng)絡(luò)功率檢測電路中的衰減網(wǎng)絡(luò)用于衰減發(fā)射機(jī)信號到使功率值落在檢測芯片的功率-電壓線性區(qū)域內(nèi)；環(huán)回測試電路中的衰減網(wǎng)絡(luò)用于把下變頻后的信號衰減為小信號，測試接收機(jī)的靈敏度性能。衰減網(wǎng)絡(luò)由簡單的電阻π型電路可以實現(xiàn)。虛線引入的一條功率檢測電路是對發(fā)射中頻、射頻本振信號，接收本振信號等檢測功率。功率檢測電路由功率-電壓芯片、運算放大器和外圍電路組成。
射頻單板發(fā)射接收機(jī)環(huán)回測試用PC機(jī)或基帶單元控制被測試射頻單板發(fā)出GMSK調(diào)制的信號，例如發(fā)1101碼型。信號接入測試裝置后下變頻45MHz(GSM900M)或95MHz(GSM1800M)；再衰減，例如經(jīng)過π型網(wǎng)絡(luò)衰減為性能測試要求的小信號后，環(huán)回給被測試單板的接收機(jī)。射頻單板把接收到的信號處理后上傳給PC機(jī)或基帶單元解碼，比較與發(fā)射出去的碼型是否相同。這項測試基本覆蓋了被測單板的整個發(fā)射、接收通路，并且對發(fā)射、接收質(zhì)量也進(jìn)行了一定精度的測量。
功率檢測把發(fā)射機(jī)發(fā)射信號和單板上需要測試功率的其它信號，例如發(fā)射中頻、射頻本振信號，接收本振信號等直接用射頻線纜或用射頻探針引入測試裝置。經(jīng)過適當(dāng)?shù)乃p使功率值落在檢測芯片的功率-電壓線性區(qū)域內(nèi)。把檢測芯片輸出的電壓送給10位以上的AD芯片，轉(zhuǎn)變?yōu)閿?shù)字量由PC機(jī)讀取，并計算出對應(yīng)的功率值。
權(quán)利要求1.一種射頻自動測試裝置，其特征是，其包括功分器單元、下變頻電路單元、一組衰減電路單元和一組功率檢測電路單元，所述功分器單元通過信號線分別與所述下變頻電路單元和第一衰減電路單元相連，所述下變頻電路單元通過信號線與第二衰減電路單元相連，所述第一衰減電路單元通過信號線與第一功率檢測電路單元相連。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其特征是，所述功分器單元將接收到的測試信號分為二路，一路信號輸出到所述下變頻電路單元，另一路信號輸出到所述第一衰減電路單元。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的裝置，其特征是，所述下變頻電路單元將接收到的信號下變頻到被測產(chǎn)品的接收裝置的接收頻段，輸出至所述第二衰減電路單元，所述第二衰減電路單元將接收到的信號衰減到所述被測產(chǎn)品的接收裝置要求的接收靈敏度功率電平，然后將信號環(huán)回給所述被測產(chǎn)品的接收裝置。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的裝置，其特征是，所述第一衰減電路單元將接收到的信號功率衰減到所述第一功率檢測電路單元的輸入功率動態(tài)范圍內(nèi)，并將信號輸出到所述第一功率檢測電路單元進(jìn)行檢測。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的裝置，其特征是，所述被測產(chǎn)品的其它射頻信號輸入到所述一組衰減電路單元中除所述第一衰減電路單元和所述第二衰減電路單元以外的其它衰減電路單元，并再將經(jīng)衰減的信號輸出至所述一組功率檢測電路單元中除所述第一功率檢測電路單元以外的其它的功率檢測電路單元進(jìn)行檢測。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其特征是，所述一組衰減電路單元分別由電阻π型電路構(gòu)成。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其特征是，所述一組功率檢測電路單元分別由功率-電壓芯片、運算放大器和外圍電路組成。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其特征是，所述下變頻電路單元的下變頻本振由鎖相環(huán)芯片的置數(shù)獲得。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的裝置，其特征是，所述下變頻電路單元的下變頻本振設(shè)置為45MHz或95MHz。
專利摘要本實用新型公開了一種射頻自動測試裝置，包括功分器單元、下變頻電路單元、一組衰減電路單元和一組功率檢測電路單元。功分器單元將接收到的測試信號分為二路，一路信號輸出到下變頻電路單元，另一路信號輸出到第一衰減電路單元。下變頻電路單元將接收到的信號下變頻到被測產(chǎn)品的接收頻段，第二衰減電路單元將接收到的信號衰減后環(huán)回給所述被測產(chǎn)品的接收裝置。第一衰減電路單元將接收到的信號功率衰減到第一功率檢測電路單元的輸入功率動態(tài)范圍內(nèi)，并將信號輸出到第一功率檢測電路單元進(jìn)行檢測。被測產(chǎn)品的其它射頻信號輸入到所述一組衰減電路單元其它衰減電路單元，并再將經(jīng)衰減的信號輸出至其它的功率檢測電路單元進(jìn)行檢測。
文檔編號H04B17/00GK2724306SQ20042008319
公開日2005年9月7日 申請日期2004年8月18日 優(yōu)先權(quán)日2004年8月18日
發(fā)明者劉眾仆, 江溯 申請人:中興通訊股份有限公司