技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開了一種時(shí)間交織型ADC系統(tǒng)的數(shù)字校驗(yàn)電路及實(shí)時(shí)校驗(yàn)方法，所述數(shù)字校驗(yàn)電路包括多個(gè)子通道時(shí)間交織ADC系統(tǒng)，ADC1，……，ADCL，其中，所述L為正整數(shù)；在第一時(shí)刻t1，輸入信號(hào)x(t)、輸出y(n)分別與所述ADC1連接；在一預(yù)設(shè)時(shí)刻tk，輸入信號(hào)x(t)、輸出y(n)分別與所述ADCk連接，其中，tk為第k時(shí)刻，ADC1保持t1時(shí)刻的輸入，ADC2保持t2時(shí)刻的輸入，……，ADCk?1保持tk?1時(shí)刻的輸入；在所述多個(gè)子通道時(shí)間交織ADC系統(tǒng)前還連接有第一轉(zhuǎn)換開關(guān)，在所述多個(gè)子通道時(shí)間交織ADC系統(tǒng)后還連接有第二轉(zhuǎn)換開關(guān)。

技術(shù)研發(fā)人員：彭習(xí)武;張濤;朱席鼎;張?jiān)聘?br/>受保護(hù)的技術(shù)使用者：武漢科技大學(xué)
文檔號(hào)碼：201710064217
技術(shù)研發(fā)日：2017.02.04
技術(shù)公布日：2017.06.30