本發(fā)明涉及電路技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種時(shí)間交織型ADC系統(tǒng)的數(shù)字校驗(yàn)電路及實(shí)時(shí)校驗(yàn)方法。

背景技術(shù)：

隨著現(xiàn)代數(shù)字計(jì)算、信號(hào)處理及測(cè)試技術(shù)的發(fā)展，混合信號(hào)系統(tǒng)的應(yīng)用已經(jīng)越來(lái)越普遍。作為數(shù)字域和模擬域接口的ADC系統(tǒng)，其應(yīng)用領(lǐng)域也越來(lái)越廣，系統(tǒng)對(duì)ADC的要求也越來(lái)越高。實(shí)現(xiàn)高量化精度、高轉(zhuǎn)換速率的ADC系統(tǒng)一直以來(lái)都具有很大的應(yīng)用價(jià)值和研究意義。在實(shí)際的ADC系統(tǒng)設(shè)計(jì)中，受硬件成本、芯片面積、功耗、工藝等因素影響，分辨率和轉(zhuǎn)換速率往往是相互對(duì)立的。高量化精度的ADC系統(tǒng)結(jié)構(gòu)很難做到高轉(zhuǎn)換速率；高轉(zhuǎn)換速率的ADC系統(tǒng)結(jié)構(gòu)更是難于做到高量化精度。

傳統(tǒng)的時(shí)間交織型ADC系統(tǒng)通過(guò)精確地調(diào)節(jié)模擬電路設(shè)計(jì)，精心地布局布線來(lái)減少通道間失配，但是受制造工藝和環(huán)境條件改變等因素影響，系統(tǒng)參數(shù)失配具有很大隨機(jī)性，這種方式并不能提前預(yù)知可能出現(xiàn)的失配并進(jìn)行相應(yīng)的調(diào)整。為避免這種情況，校驗(yàn)電路被廣泛使用于時(shí)間交織型ADC系統(tǒng)。目前，常用到的時(shí)間交織型ADC系統(tǒng)校驗(yàn)方法包括：方法一是采用補(bǔ)償電路對(duì)偏置電壓和運(yùn)放增益進(jìn)行補(bǔ)償來(lái)消除增益誤差和電容失配；方法二是對(duì)時(shí)間交織型ADC系統(tǒng)輸出的數(shù)據(jù)進(jìn)行運(yùn)算得到校驗(yàn)系數(shù)再回饋到模擬電路中對(duì)比較器和運(yùn)放電路進(jìn)行校驗(yàn)；方法三主要數(shù)字電路對(duì)時(shí)間交織型ADC系統(tǒng)輸出的數(shù)據(jù)進(jìn)行運(yùn)算得到權(quán)值系數(shù)去校驗(yàn)?zāi)M電路子通道ADC系統(tǒng)的數(shù)據(jù)。方法一需要設(shè)計(jì)復(fù)雜的模擬補(bǔ)償電路，增加了系統(tǒng)了復(fù)雜度；方法二模擬電路和數(shù)字電路之間存在回饋信號(hào)增加了混合電路設(shè)計(jì)難度，對(duì)數(shù)模混合電路的設(shè)計(jì)以及版圖設(shè)計(jì)提出更高的要求；方法三不僅包括方法二存在的問(wèn)題而且回饋的權(quán)值系數(shù)的選擇也是難點(diǎn)。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明提供一種時(shí)間交織型ADC系統(tǒng)的數(shù)字校驗(yàn)電路及實(shí)時(shí)校驗(yàn)方法，解決了上述技術(shù)問(wèn)題，達(dá)到了結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，能有效的對(duì)時(shí)間交織型ADC系統(tǒng)的增益誤差和電容失配進(jìn)行校正的技術(shù)效果。

本發(fā)明提供一種時(shí)間交織型ADC系統(tǒng)的數(shù)字校驗(yàn)電路，所述的數(shù)字校驗(yàn)電路包括多個(gè)子通道時(shí)間交織ADC系統(tǒng)，ADC1，……，ADCL，其中，所述L為正整數(shù)；在第一時(shí)刻t₁，輸入信號(hào)x(t)、輸出y(n)分別與所述ADC1連接；在一預(yù)設(shè)時(shí)刻t_k，輸入信號(hào)x(t)、輸出y(n)分別與所述ADCk連接，其中，t_k為第k時(shí)刻，ADC1保持t₁時(shí)刻的輸入，ADC2保持t₂時(shí)刻的輸入，……，ADCk-1保持t_k-1時(shí)刻的輸入；在所述多個(gè)子通道時(shí)間交織ADC系統(tǒng)前還連接有第一轉(zhuǎn)換開(kāi)關(guān)，在所述多個(gè)子通道時(shí)間交織ADC系統(tǒng)后還連接有第二轉(zhuǎn)換開(kāi)關(guān)。

優(yōu)選的，所述第一轉(zhuǎn)換開(kāi)關(guān)為多個(gè)采樣保持器。

優(yōu)選的，所述第二轉(zhuǎn)換開(kāi)關(guān)為多個(gè)數(shù)據(jù)對(duì)齊電路。

基于同樣的發(fā)明構(gòu)思，本申請(qǐng)還提供上述時(shí)間交織型ADC系統(tǒng)的數(shù)字校驗(yàn)電路的實(shí)時(shí)校驗(yàn)方法，所述實(shí)時(shí)校驗(yàn)方法包括：

步驟一，在數(shù)字校驗(yàn)電路上電后，初始化直流增益和數(shù)據(jù)線性相對(duì)斜率的值；

步驟二，數(shù)字校驗(yàn)電路接收時(shí)間交織型ADC系統(tǒng)的數(shù)據(jù)；

步驟三，按照時(shí)間交替將步驟二中接收的時(shí)間交織型ADC系統(tǒng)的數(shù)據(jù)分成L個(gè)子通道數(shù)據(jù)；

步驟四，分別對(duì)L個(gè)子通道數(shù)據(jù)求平均值；

步驟五，將L個(gè)子通道數(shù)據(jù)的L個(gè)平均值再求平均值，作為時(shí)間交織型ADC系統(tǒng)的直流增益，同時(shí)更新初始的直流增益值；

步驟六，將步驟四中得到的平均值減去步驟五中得到的時(shí)間交織型ADC系統(tǒng)的直流增益，得到L路偏差數(shù)據(jù)；

步驟七，對(duì)步驟六得到的L路偏差數(shù)據(jù)求方差；其中，所述方差的長(zhǎng)度可以根據(jù)校驗(yàn)精度進(jìn)行調(diào)整；

步驟八，以步驟七得到的第1路偏差數(shù)據(jù)的方差作為參考值，分別除以剩余的L-1路偏差數(shù)據(jù)的方差，得到L-1個(gè)數(shù)據(jù)線性相對(duì)斜率；

步驟九，將步驟六中得到的第1路偏差數(shù)據(jù)加上步驟五中得到的直流增益，得到第1路數(shù)據(jù)；將步驟六中得到的第2至L路偏差數(shù)據(jù)分別加上步驟五中得到的直流增益再分別乘以L-1個(gè)數(shù)據(jù)線性相對(duì)斜率，得到L-1路數(shù)據(jù)；將第1路數(shù)據(jù)與L-1路數(shù)據(jù)交織輸出。

優(yōu)選的，所述步驟一中所述初始化直流增益和數(shù)據(jù)線性相對(duì)斜率的值，具體為：

直流增益和數(shù)據(jù)線性相對(duì)斜率的取值：

k(j)＝1 (2)

式(1)和(2)中：

N表示時(shí)間交織型ADC系統(tǒng)的精度，G表示時(shí)間交織型ADC系統(tǒng)的直流增益，k表示數(shù)據(jù)線性相對(duì)斜率，j取值1到L-1。

優(yōu)選的，所述步驟三中按照時(shí)間交替將步驟二中接收的時(shí)間交織型ADC系統(tǒng)的數(shù)據(jù)分成L個(gè)子通道數(shù)據(jù)，具體為：

其中，式(3)中d(j,i)表示第j子通道的第i個(gè)子通道數(shù)據(jù)，j的取值為1到L，i的取值為正整數(shù)，L表示子通道的個(gè)數(shù)，D表示時(shí)間交織型ADC系統(tǒng)輸出的數(shù)據(jù)。

優(yōu)選的，所述步驟四中分別對(duì)L個(gè)子通道數(shù)據(jù)求平均值，具體為：

其中，式(4)中A(j)表示第j子通道的平均值，d(j,i)表示第j子通道的第i個(gè)數(shù)據(jù)，j的取值為1到L，C的取值為2的冪次方。

優(yōu)選的，所述步驟五中將L個(gè)子通道數(shù)據(jù)的L個(gè)平均值再求平均值，作為時(shí)間交織型ADC系統(tǒng)的直流增益，具體為：

其中，式(5)中A表示時(shí)間交織型ADC系統(tǒng)的直流增益，A(j)表示第j子通道的平均值，j的取值為1到L，L表示子通道的個(gè)數(shù)。

優(yōu)選的，所述步驟六中將步驟四中得到的平均值減去步驟五中得到的時(shí)間交織型ADC系統(tǒng)的直流增益，得到L路偏差數(shù)據(jù)，具體為：

e(j,i)＝d(j,i)-A (6)

式(6)中e(j,i)表示第j子通道的第i個(gè)偏差數(shù)據(jù)，d(j,i)表示第j子通道的第i個(gè)數(shù)據(jù)，j的取值為1到L，L表示子通道的個(gè)數(shù)，i的取值為正整數(shù)，A表示時(shí)間交織型ADC系統(tǒng)的直流增益。

優(yōu)選的，所述步驟七中對(duì)步驟六得到的L路偏差數(shù)據(jù)求方差，具體為：

式(7)中E(j)表示第j子通道的方差，e(j,i)表示第j子通道的第i個(gè)偏差數(shù)據(jù)，j的取值為1到L，L表示子通道的個(gè)數(shù)，i的取值為正整數(shù)，C的取值為2的冪次方。

本申請(qǐng)至少具有如下有益效果：

(1)本發(fā)明不涉及到模擬電路去校驗(yàn)ADC系統(tǒng)的失調(diào)誤差，且本方法具有結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，不涉及復(fù)雜的微分、積分運(yùn)算。

(2)本發(fā)明是實(shí)時(shí)校驗(yàn)時(shí)間交織型ADC系統(tǒng)輸出的數(shù)據(jù)，能夠有效的對(duì)時(shí)間交織型ADC系統(tǒng)的增益誤差和電容失配進(jìn)行校正。

(3)本發(fā)明提出數(shù)字電路校驗(yàn)方法，其數(shù)據(jù)傳輸方向是單向性的，及模擬電路傳輸?shù)綌?shù)字電路，不存在數(shù)字電路回饋數(shù)據(jù)和信號(hào)到模擬電路，不需要反復(fù)迭代。

附圖說(shuō)明

為了更清楚地說(shuō)明本發(fā)明實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例描述中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹，顯而易見(jiàn)地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例。

圖1為本申請(qǐng)較佳實(shí)施方式時(shí)間交織型ADC系統(tǒng)的數(shù)字校驗(yàn)電路的示意圖；

圖2為本申請(qǐng)圖1中時(shí)間交織型ADC系統(tǒng)的數(shù)字校驗(yàn)電路的實(shí)時(shí)校驗(yàn)方法的流程圖；

圖3是本申請(qǐng)圖1中一實(shí)施例時(shí)間交織型ADC系統(tǒng)產(chǎn)生增益誤差和電容失配圖；

圖4是本申請(qǐng)圖1中一實(shí)施例時(shí)間交織型ADC系統(tǒng)的數(shù)字校驗(yàn)；

圖5是圖3中Matlab產(chǎn)生時(shí)間交織型ADC系統(tǒng)帶有增益誤差和電容失配的頻譜分析圖；

圖6是數(shù)字校驗(yàn)電路只消除增益誤差后的頻譜分析圖；

圖7是數(shù)字校驗(yàn)電路消除增益誤差和電容失配后的頻譜分析圖；

圖8是時(shí)間交織型ADC系統(tǒng)帶有增益誤差和電容失配的性能分析圖；

圖9是時(shí)間交織型ADC系統(tǒng)帶有增益誤差和電容失配校驗(yàn)后的性能分析圖。

具體實(shí)施方式

為了更好的理解上述技術(shù)方案，下面將結(jié)合說(shuō)明書(shū)附圖以及具體的實(shí)施方式對(duì)上述技術(shù)方案進(jìn)行詳細(xì)的說(shuō)明。

實(shí)施例一

圖1為本申請(qǐng)較佳實(shí)施方式時(shí)間交織型ADC系統(tǒng)的數(shù)字校驗(yàn)電路的示意圖。請(qǐng)參閱圖1，所述數(shù)字校驗(yàn)電路包括多個(gè)子通道時(shí)間交織ADC系統(tǒng)，ADC1，……，ADCL，其中，所述L為正整數(shù)；在第一時(shí)刻t₁，輸入信號(hào)x(t)、輸出y(n)分別與所述ADC1連接；在一預(yù)設(shè)時(shí)刻t_k，輸入信號(hào)x(t)、輸出y(n)分別與所述ADCk連接，其中，t_k為第k時(shí)刻，ADC1保持t₁時(shí)刻的輸入，ADC2保持t₂時(shí)刻的輸入，……，ADCk-1保持t_k-1時(shí)刻的輸入；在所述多個(gè)子通道時(shí)間交織ADC系統(tǒng)前還連接有第一轉(zhuǎn)換開(kāi)關(guān)，在所述多個(gè)子通道時(shí)間交織ADC系統(tǒng)后還連接有第二轉(zhuǎn)換開(kāi)關(guān)。

所述第一轉(zhuǎn)換開(kāi)關(guān)為多個(gè)采樣保持器。第一轉(zhuǎn)換開(kāi)關(guān)是由L個(gè)采樣保持器實(shí)現(xiàn)的，采樣保持器對(duì)輸入數(shù)據(jù)交替采樣，其交替的時(shí)間長(zhǎng)度為T(mén)/L其中，T表示采樣保持器的切換時(shí)間，L表示子ADC的個(gè)數(shù)。

所述第二轉(zhuǎn)換開(kāi)關(guān)是多個(gè)數(shù)據(jù)對(duì)齊電路，所述第二轉(zhuǎn)換開(kāi)關(guān)來(lái)實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)依次輸出。

實(shí)施例二

基于同樣的發(fā)明構(gòu)思，本申請(qǐng)還提供一種實(shí)施例一中時(shí)間交織型ADC系統(tǒng)的數(shù)字校驗(yàn)電路的實(shí)時(shí)校驗(yàn)方法，請(qǐng)參閱圖2，所述實(shí)時(shí)校驗(yàn)方法包括：

步驟一S210，在數(shù)字校驗(yàn)電路上電后，初始化直流增益和數(shù)據(jù)線性相對(duì)斜率的值。

其中，所述步驟一中所述初始化直流增益和數(shù)據(jù)線性相對(duì)斜率的值，具體為：

直流增益和數(shù)據(jù)線性相對(duì)斜率的取值：

k(j)＝1 (2)

式(1)和(2)中：

N表示時(shí)間交織型ADC系統(tǒng)的精度，G表示時(shí)間交織型ADC系統(tǒng)的直流增益，k表示數(shù)據(jù)線性相對(duì)斜率，j取值1到L-1。

步驟二S220，數(shù)字校驗(yàn)電路接收時(shí)間交織型ADC系統(tǒng)的數(shù)據(jù)。

步驟三S230，按照時(shí)間交替將步驟二中接收的時(shí)間交織型ADC系統(tǒng)的數(shù)據(jù)分成L個(gè)子通道數(shù)據(jù)；

其中，所述步驟三中按照時(shí)間交替將步驟二中接收的時(shí)間交織型ADC系統(tǒng)的數(shù)據(jù)分成L個(gè)子通道數(shù)據(jù)，具體為：

其中，式(3)中d(j,i)表示第j子通道的第i個(gè)子通道數(shù)據(jù)，j的取值為1到L，i的取值為正整數(shù)，L表示子通道的個(gè)數(shù)，D表示時(shí)間交織型ADC系統(tǒng)輸出的數(shù)據(jù)。

步驟四S240，分別對(duì)L個(gè)子通道數(shù)據(jù)求平均值。

其中，所述步驟四中分別對(duì)L個(gè)子通道數(shù)據(jù)求平均值，具體為：

其中，式(4)中A(j)表示第j子通道的平均值，d(j,i)表示第j子通道的第i個(gè)數(shù)據(jù)，j的取值為1到L，C的取值為2的冪次方。

步驟五S250，將L個(gè)子通道數(shù)據(jù)的L個(gè)平均值再求平均值，作為時(shí)間交織型ADC系統(tǒng)的直流增益，同時(shí)更新初始的直流增益值。

其中，所述步驟五中將L個(gè)子通道數(shù)據(jù)的L個(gè)平均值再求平均值，作為時(shí)間交織型ADC系統(tǒng)的直流增益，具體為：

其中，式(5)中A表示時(shí)間交織型ADC系統(tǒng)的直流增益，A(j)表示第j子通道的平均值，j的取值為1到L，L表示子通道的個(gè)數(shù)。

步驟六S260，將步驟四中得到的平均值減去步驟五中得到的時(shí)間交織型ADC系統(tǒng)的直流增益，得到L路偏差數(shù)據(jù)。

其中，所述步驟六中將步驟四中得到的平均值減去步驟五中得到的時(shí)間交織型ADC系統(tǒng)的直流增益，得到L路偏差數(shù)據(jù)，具體為：

e(j,i)＝d(j,i)-A (6)

式(6)中e(j,i)表示第j子通道的第i個(gè)偏差數(shù)據(jù)，d(j,i)表示第j子通道的第i個(gè)數(shù)據(jù)，j的取值為1到L，L表示子通道的個(gè)數(shù)，i的取值為正整數(shù)，A表示時(shí)間交織型ADC系統(tǒng)的直流增益。

步驟七S270，對(duì)步驟六得到的L路偏差數(shù)據(jù)求方差；其中，所述方差的長(zhǎng)度可以根據(jù)校驗(yàn)精度進(jìn)行調(diào)整；

其中，所述步驟七中對(duì)步驟六得到的L路偏差數(shù)據(jù)求方差，具體為：

式(7)中E(j)表示第j子通道的方差，e(j,i)表示第j子通道的第i個(gè)偏差數(shù)據(jù)，j的取值為1到L，L表示子通道的個(gè)數(shù)，i的取值為正整數(shù)，C的取值為2的冪次方。

步驟八S280，以步驟七得到的第1路偏差數(shù)據(jù)的方差作為參考值，分別除以剩余的L-1路偏差數(shù)據(jù)的方差，得到L-1個(gè)數(shù)據(jù)線性相對(duì)斜率。

其中所述步驟八中具體過(guò)程是求解L個(gè)子通道的數(shù)據(jù)線性相對(duì)斜率，同時(shí)跟新初始的數(shù)據(jù)線性相對(duì)斜率，其表示式：

其中，式(8)中k(j)表示第1個(gè)子通道與第j+1個(gè)子通道的數(shù)據(jù)線性相對(duì)斜率，E(j)表示第j子通道的方差，j的取值為1到L-1，L表示子通道的個(gè)數(shù)。

步驟九S290，將步驟六中得到的第1路偏差數(shù)據(jù)加上步驟五中得到的直流增益，得到第1路數(shù)據(jù)；將步驟六中得到的第2至L路偏差數(shù)據(jù)分別加上步驟五中得到的直流增益再分別乘以L-1個(gè)數(shù)據(jù)線性相對(duì)斜率，得到L-1路數(shù)據(jù)；將第1路數(shù)據(jù)與L-1路數(shù)據(jù)交織輸出。

具體的，所述步驟九具體包括：

步驟9-1：建立時(shí)間交織型ADC系統(tǒng)數(shù)字校驗(yàn)電路子通道的參考通道，通常以第1路子通道為參考通道，其為：

d(1,i)_c＝e(1,i)+A (9)

式(9)中e(1,i)表示第1子通道的第i個(gè)偏差數(shù)據(jù)，A表示時(shí)間交織型ADC系統(tǒng)的直流增益，d(1,i)_c表示參考子通道校驗(yàn)后的第i個(gè)數(shù)據(jù)，i的取值為正整數(shù)；

步驟9-2：建立剩余L-1子通道的校驗(yàn)數(shù)據(jù)，其為：

式(10)中e(j,i)表示第j子通道的第i個(gè)偏差數(shù)據(jù)，j的取值為2到L-1，i的取值為正整數(shù)，k(j)表示第1子通道與第j+1子通道的數(shù)據(jù)線性相對(duì)斜率，A表示時(shí)間交織型ADC系統(tǒng)的直流增益，d(j,i)_c表示參考第j子通道校驗(yàn)后的第i個(gè)數(shù)據(jù)；

步驟9-3：將步驟9-1和9-2得到的L通道檢驗(yàn)后的數(shù)據(jù)交織成1路數(shù)據(jù)輸出，校驗(yàn)后的數(shù)據(jù)頻率為L(zhǎng)*M，ADC的精度依舊為N，其數(shù)據(jù)交織的公式：

式(11)中d(j,i)_c表示參考第j子通道校驗(yàn)后的第i個(gè)數(shù)據(jù)，j的取值為1到L，i的取值為正整數(shù)，L表示子通道的個(gè)數(shù)，D_c表示時(shí)間交織型ADC系統(tǒng)校驗(yàn)后輸出的數(shù)據(jù)。

實(shí)施例

本實(shí)施例以分辨率為12位和轉(zhuǎn)換速率為200MSPS的時(shí)間交織型ADC系統(tǒng)為例，其中時(shí)間交織型ADC系統(tǒng)包含2個(gè)Pipelined子通道(分辨率為12位和轉(zhuǎn)換速率為100MSPS)；搭建產(chǎn)生帶有增益誤差和電容失配的數(shù)據(jù)時(shí)間交織型ADC系統(tǒng)，其見(jiàn)圖3，其中當(dāng)G1和G2不同時(shí)會(huì)帶來(lái)增益誤差，Ref1(t)和Ref2(t)不同時(shí)會(huì)帶來(lái)電容失配。以2通道時(shí)間交織型ADC系統(tǒng)的數(shù)字校驗(yàn)詳細(xì)說(shuō)明本發(fā)明，其見(jiàn)圖4。為了進(jìn)一步說(shuō)明本發(fā)明的技術(shù)方案，下面對(duì)本發(fā)明進(jìn)行詳細(xì)的說(shuō)明。

S1，對(duì)數(shù)字校驗(yàn)電路的直流增益和數(shù)據(jù)線性相對(duì)斜率的值進(jìn)行初始化，其中直流增益和數(shù)據(jù)線性相對(duì)斜率的取值：

k＝1 (2)

式(1)和(2)中：

N表示時(shí)間交織型ADC系統(tǒng)的分辨率12，G表示交織型ADC系統(tǒng)的2個(gè)子通道的平均直流增益2048，k表示數(shù)據(jù)線性相對(duì)斜率。

S2，在步驟1結(jié)束之后，數(shù)字校驗(yàn)電路接收模擬ADC電路輸出的數(shù)據(jù)。

S3，數(shù)字校驗(yàn)電路將時(shí)間交織型ADC系統(tǒng)輸出的數(shù)據(jù)分成2子通道的數(shù)據(jù)，其表示式：

式(3)中：d(1,i)表示第1子通道的第i個(gè)數(shù)據(jù)，d(2,i)表示第2子通道的第i個(gè)數(shù)據(jù)，D表示時(shí)間交織型ADC系統(tǒng)輸出的數(shù)據(jù)。

S4，數(shù)字校驗(yàn)電路求各個(gè)子通道的平均值，其表達(dá)式：

式(4)中A(1)表示第1子通道的平均值，A(2)表示第2子通道的平均值，d(1,i)表示第1子通道的第i個(gè)數(shù)據(jù)，d(2,i)表示第2子通道的第i個(gè)數(shù)據(jù)，i取正整數(shù)。

S5，對(duì)步驟4求出的各個(gè)子通道再求平均值得到時(shí)間交織型ADC系統(tǒng)的直流增益，同時(shí)跟新初始的直流增益值，其表示式：

式(5)中A表示時(shí)間交織型ADC系統(tǒng)的直流增益，A(1)表示第1子通道的平均值，A(2)表示第2子通道的平均值。

S6，求解各個(gè)子通道的偏差數(shù)據(jù)，其表示式：

式(6)中e(1,i)表示第1子通道的第i個(gè)偏差數(shù)據(jù)，e(2,i)表示第2子通道的第i個(gè)偏差數(shù)據(jù)，d(1,i)表示第1子通道的第i個(gè)數(shù)據(jù)，d(2,i)表示第2子通道的第i個(gè)數(shù)據(jù)，i的取值為正整數(shù)，A表示時(shí)間交織型ADC系統(tǒng)的直流增益。

S7，各個(gè)子通道的偏差數(shù)據(jù)分別求解方差，其表示式：

式(7)中：

E(1)表示第1子通道的方差，E(2)表示第2子通道的方差，e(1,i)表示第1子通道的第i個(gè)偏差數(shù)據(jù)，e(2,i)表示第2子通道的第i個(gè)偏差數(shù)據(jù)。

S8，求解第2子通道相對(duì)于第1子通道的數(shù)據(jù)線性相對(duì)斜率，同時(shí)跟新初始的數(shù)據(jù)線性相對(duì)斜率，其表示式：

式(8)中k(1)表示第1子通道與第2子通道的數(shù)據(jù)線性相對(duì)斜率，E(1)表示第1子通道的方差，E(2)表示第2子通道的方差。請(qǐng)參閱圖5至圖9。

S9-1，建立時(shí)間交織型ADC系統(tǒng)數(shù)字校驗(yàn)電路子通道的參考通道，通常以第1路子通道為參考通道，其為：

d(1,i)_c＝e(1,i)+A (9)

式(9)中e(1,i)表示第1子通道的第i個(gè)偏差數(shù)據(jù)，A表示時(shí)間交織型ADC系統(tǒng)的直流增益，d(1,i)_c表示參考子通道校驗(yàn)后的第i個(gè)數(shù)據(jù)，i的取值為正整數(shù)；

S9-2，建立第2子通道的校驗(yàn)數(shù)據(jù)，其為：

d(2,i)_c＝k(1)*e(2,i)+A (10)

式(10)中e(2,i)表示第2子通道的第i個(gè)偏差數(shù)據(jù)，i的取值為正整數(shù)，k(1)表示第1子通道與第2子通道的數(shù)據(jù)線性相對(duì)斜率，A表示時(shí)間交織型ADC系統(tǒng)的直流增益，d(2,i)_c表示參考第2子通道校驗(yàn)后的第i個(gè)數(shù)據(jù)，i取正整數(shù)；

S9-3，將步驟9-1和9-2得到的2子通道檢驗(yàn)后的數(shù)據(jù)交織成1路數(shù)據(jù)輸出，校驗(yàn)后的數(shù)據(jù)頻率為2*100MSPS，ADC的精度依舊為N，其數(shù)據(jù)交織的公式：

式(11)中d(1,i)_c表示參考第1子通道校驗(yàn)后的第i個(gè)數(shù)據(jù)，d(2,i)_c表示參考第2子通道校驗(yàn)后的第i個(gè)數(shù)據(jù)j的取值為1到L，i的取值為正整數(shù)，D_c表示時(shí)間交織型ADC系統(tǒng)校驗(yàn)后輸出的數(shù)據(jù)。

本申請(qǐng)至少具有如下有益效果：

(1)本發(fā)明不涉及到模擬電路去校驗(yàn)ADC系統(tǒng)的失調(diào)誤差，且本方法具有結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，不涉及復(fù)雜的微分、積分運(yùn)算。

(2)本發(fā)明是實(shí)時(shí)校驗(yàn)時(shí)間交織型ADC系統(tǒng)輸出的數(shù)據(jù)，能夠有效的對(duì)時(shí)間交織型ADC系統(tǒng)的增益誤差和電容失配進(jìn)行校正,解決時(shí)間交織型ADC系統(tǒng)的電容失配與增益失配。

(3)本發(fā)明提出數(shù)字電路校驗(yàn)方法，其數(shù)據(jù)傳輸方向是單向性的，及模擬電路傳輸?shù)綌?shù)字電路，不存在數(shù)字電路回饋數(shù)據(jù)和信號(hào)到模擬電路，不需要反復(fù)迭代。

最后所應(yīng)說(shuō)明的是，以上具體實(shí)施方式僅用以說(shuō)明本發(fā)明的技術(shù)方案而非限制，盡管參照實(shí)例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行了詳細(xì)說(shuō)明，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解，可以對(duì)本發(fā)明的技術(shù)方案進(jìn)行修改或者等同替換，而不脫離本發(fā)明技術(shù)方案的精神和范圍，其均應(yīng)涵蓋在本發(fā)明的權(quán)利要求范圍當(dāng)中。