專利名稱：：相位檢測(cè)裝置及其方法
技術(shù)領(lǐng)域：
：本發(fā)明是有關(guān)于一種相位檢測(cè)裝置及其方法，特別是用以在模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換后檢測(cè)零交越點(diǎn)(zerocrossingpoint)的相位。
背景技術(shù)：
：一般電子裝置總是需要將模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)，以繼續(xù)后續(xù)的信號(hào)處理。在模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換的過程中，模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器在每一取樣時(shí)鐘的上升緣對(duì)模擬信號(hào)取樣一次。在理想的情況下，模擬信號(hào)的多個(gè)零交越點(diǎn)(zerocrossingpoint)與取樣時(shí)鐘的多個(gè)上升緣相符合。然而，由于不完美的波形或是任何發(fā)生在電子裝置內(nèi)的問題，使得在零交越點(diǎn)與對(duì)應(yīng)的取樣時(shí)鐘的上升緣間出現(xiàn)相位差。此相位差稱為抖動(dòng)量(jitter)，它影響了數(shù)字信號(hào)的品質(zhì)。因此，需要相位檢測(cè)器來檢測(cè)抖動(dòng)量或模擬信號(hào)的零交越點(diǎn)，藉此可調(diào)整數(shù)字信號(hào)。
發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明提供一種相位檢測(cè)裝置，其包括模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器、內(nèi)插器、以及判斷單元。模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器接收模擬信號(hào)，且根據(jù)多個(gè)數(shù)字取樣點(diǎn)來將模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)。內(nèi)插器在兩數(shù)字取樣點(diǎn)間內(nèi)插多個(gè)內(nèi)插點(diǎn)。判斷單元根據(jù)多個(gè)內(nèi)插點(diǎn)及多個(gè)數(shù)字取樣點(diǎn)而獲得零交越點(diǎn)的相位。內(nèi)插器根據(jù)多個(gè)內(nèi)插點(diǎn)的值的符號(hào)數(shù)字取樣點(diǎn)的值的符號(hào)，以輸出多個(gè)選擇信號(hào)，且判斷單元根據(jù)多個(gè)選擇信號(hào)而獲得零交越點(diǎn)的相位。在一些實(shí)施例中，判斷單元以異或(XOR)運(yùn)算來計(jì)算多個(gè)選擇信號(hào)，以獲得零交越點(diǎn)的相位。在一些實(shí)施例中，判斷單元以一檢索表來實(shí)施，且此檢索表收集多個(gè)相位，并根據(jù)選擇信號(hào)來選出零交越點(diǎn)的對(duì)應(yīng)相位。在另一些實(shí)施例中，判斷單元包括一計(jì)算器，接收選擇信號(hào)以及相鄰于零交越點(diǎn)的兩數(shù)字取樣點(diǎn)的相位，且計(jì)算器根據(jù)選擇信號(hào)來計(jì)算零交越點(diǎn)的相位。相位檢測(cè)裝置更包括一鎖相回路電路，用以接收位信號(hào)，并產(chǎn)生與數(shù)字信號(hào)同步之一時(shí)鐘，以作為模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器的取樣時(shí)鐘。當(dāng)鎖相回路電路實(shí)施于相位檢測(cè)裝置時(shí)，判斷裝置所獲得的零交越點(diǎn)的相位等于零交越點(diǎn)的抖動(dòng)量(jitter)。在一些實(shí)施例中，相位檢測(cè)裝置應(yīng)用于光驅(qū)。抖動(dòng)量可用來調(diào)整光驅(qū)的寫入策略。抖動(dòng)量也可用來校準(zhǔn)光驅(qū)的伺服參數(shù)。為使本發(fā)明的上述目的、特征和優(yōu)點(diǎn)能更明顯易懂，下文特舉一較佳實(shí)施例，并配合所附圖式，作詳細(xì)說明如下。圖1表示本發(fā)明的相位檢測(cè)裝置的一實(shí)施例。圖2表示以時(shí)鐘信號(hào)CLK對(duì)模擬信號(hào)的取樣示意圖。圖3表示多點(diǎn)內(nèi)插演算的例子。圖4表示本發(fā)明的內(nèi)插器的實(shí)施例。圖5表示檢測(cè)單元的實(shí)施例的方塊圖。圖6表示介于相鄰于零交越點(diǎn)的數(shù)字取樣點(diǎn)的間的內(nèi)插點(diǎn)。圖7a及圖7b表示本發(fā)明的判斷單元的實(shí)施例。圖8表示本發(fā)明的判斷單元的另一實(shí)施例。圖9表示本發(fā)明的判斷單元的又一實(shí)施例。圖10表示本發(fā)明的相位檢測(cè)器的另一實(shí)施例。圖11表示根據(jù)本發(fā)明，具有寫入指針產(chǎn)生器的相位檢測(cè)器的實(shí)施例。圖12表示根據(jù)本發(fā)明，具有伺服校準(zhǔn)單元的相位檢測(cè)器的實(shí)施例。圖13表示根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的方法流程圖。圖14表示圖13中步驟S12的流程圖。附圖標(biāo)號(hào)1、9～相位檢測(cè)裝置；10～ADC；11～內(nèi)插器；12～判斷單元；60～譯碼器；61～運(yùn)算單元；70～計(jì)算器；90～PLL電路100～相位檢測(cè)裝置；101～寫入指針產(chǎn)生器；110...114～檢測(cè)單元；110a、111a～內(nèi)插單元；110b、111b～零交越選擇單元；110c、111c～多任務(wù)器；120～相位檢測(cè)裝置；121～伺服校準(zhǔn)單元；600至603～XOR邏輯閘；700、701～計(jì)算單元；700a、701a～內(nèi)插單元；700b、701b～多任務(wù)器。具體實(shí)施例方式圖1是表示本發(fā)明實(shí)施例的相位檢測(cè)裝置。如圖1所示，相位檢測(cè)裝置1包括模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器(analog-to-digitalconverter，ADC)10、內(nèi)插器11、以及判斷單元12。ADC10接收模擬信號(hào)SA，并以多個(gè)數(shù)字取樣點(diǎn)來將模擬信號(hào)SA轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)SD。參閱圖2，為了將模擬信號(hào)SA轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)SD，ADC10根據(jù)取樣時(shí)鐘CLK，而在數(shù)字取樣點(diǎn)P1至P15上對(duì)模擬信號(hào)SA取樣。ADC10在每一取樣時(shí)鐘CLK的上升緣對(duì)模擬信號(hào)SA取樣一次，此以一個(gè)數(shù)字取樣點(diǎn)來表示。參閱圖2，然而，模擬信號(hào)SA的一個(gè)零交越點(diǎn)PZC并未處于任一個(gè)數(shù)字取樣點(diǎn)上，因此，在零交越點(diǎn)PZC與數(shù)字取樣點(diǎn)P6間具有一相位差。這表示抖動(dòng)量(jitter)發(fā)生在零交越點(diǎn)PZC與數(shù)字取樣點(diǎn)P6之間。由于零交越點(diǎn)PZC位于數(shù)字取樣點(diǎn)P6與P7之間，內(nèi)插器11在數(shù)字取樣點(diǎn)P6與P7之間計(jì)算多個(gè)內(nèi)插點(diǎn)。圖3為表示多點(diǎn)內(nèi)插演算的例子。通過重復(fù)執(zhí)行內(nèi)插運(yùn)算，內(nèi)插器11可以找到最接近零交越點(diǎn)PZC的內(nèi)插點(diǎn)。內(nèi)插器11可利用任何種類內(nèi)插演算，例如多點(diǎn)內(nèi)插。多點(diǎn)內(nèi)插是指內(nèi)插器11獲得多個(gè)邊界點(diǎn)，以在兩目標(biāo)邊界點(diǎn)之間產(chǎn)生一內(nèi)插點(diǎn)。如圖3所示，在一些實(shí)施例中，內(nèi)插器11可把數(shù)字取樣點(diǎn)P5至P8作為邊界點(diǎn)，以產(chǎn)生多個(gè)內(nèi)插點(diǎn)。在另一些實(shí)施例中，內(nèi)插器11可使用更多或較少的數(shù)字取樣點(diǎn)來產(chǎn)生內(nèi)插點(diǎn)。當(dāng)內(nèi)插器11選擇較多邊界點(diǎn)時(shí)，所產(chǎn)生的內(nèi)插點(diǎn)叫接近于模擬信號(hào)SA。當(dāng)內(nèi)插器11每次執(zhí)行內(nèi)插時(shí)，它也可改變邊界點(diǎn)。舉例來說，如圖3所示，首先，內(nèi)插器11可使用四個(gè)數(shù)字取樣點(diǎn)P5至P8來作為起始邊界點(diǎn)，以在兩中間數(shù)字取樣點(diǎn)P6及P7產(chǎn)生一內(nèi)插點(diǎn)Pin0，且在數(shù)字取樣點(diǎn)P5及P6之間產(chǎn)生另一內(nèi)插點(diǎn)Pout1。其次，內(nèi)插器11使用另外四個(gè)點(diǎn)，例如Pout1、P6、Pin0、及P7作為新的邊界點(diǎn)，以在Pin0與P6之間產(chǎn)生內(nèi)插點(diǎn)Pin1。重復(fù)上述步驟，內(nèi)插器11可獲得接近零交越點(diǎn)PZC的內(nèi)插點(diǎn)。當(dāng)在執(zhí)行內(nèi)插的期間內(nèi)邊界改變時(shí)，此方法稱為遞歸(recursive)。在一些實(shí)施例中，內(nèi)插器11可對(duì)模擬信號(hào)SA的第一部分使用多點(diǎn)內(nèi)插演算，且對(duì)模擬信號(hào)SA的第二部分使用兩點(diǎn)內(nèi)插。這是因?yàn)榈谝粋€(gè)內(nèi)插點(diǎn)會(huì)大大影響內(nèi)插結(jié)果。當(dāng)獲得精確的第一個(gè)內(nèi)插點(diǎn)時(shí)，在第一個(gè)內(nèi)插點(diǎn)與對(duì)應(yīng)的邊界點(diǎn)間的曲線經(jīng)常是接近于線性曲線。接著，可以使用兩點(diǎn)內(nèi)插來獲得后續(xù)的內(nèi)插點(diǎn)。內(nèi)插器11也可在一目標(biāo)位置產(chǎn)生內(nèi)插點(diǎn)。舉例來說，內(nèi)插器11可在兩目標(biāo)邊界點(diǎn)間一半的位置產(chǎn)生內(nèi)插點(diǎn)，它也可在1/4的位置產(chǎn)生內(nèi)插點(diǎn)。當(dāng)內(nèi)插器11每次執(zhí)行內(nèi)插時(shí)，在每?jī)赡繕?biāo)邊界點(diǎn)間一半的位置產(chǎn)生內(nèi)插點(diǎn)，此稱為二分(biscation)內(nèi)插法。為了更清楚地說明本發(fā)明，在接下來的實(shí)施例中，內(nèi)插器11使用二分內(nèi)插的兩點(diǎn)內(nèi)插演算來產(chǎn)生內(nèi)插點(diǎn)。內(nèi)插器11也判斷內(nèi)插點(diǎn)的值的符號(hào)，且根據(jù)判斷結(jié)果來產(chǎn)生多個(gè)選擇信號(hào)Sel。判斷單元12根據(jù)選擇信號(hào)Sel可獲得零交越點(diǎn)PZC的相位。圖4為表示圖1的內(nèi)插器11的一實(shí)施例。內(nèi)插器11包括多個(gè)串接的檢測(cè)單元。內(nèi)插器11所產(chǎn)生的內(nèi)插點(diǎn)的數(shù)量相等于檢測(cè)單元的數(shù)量。在圖4中，以5個(gè)檢測(cè)單元110至114為例，換句話說，內(nèi)插器11將產(chǎn)生5個(gè)內(nèi)插點(diǎn)，且每一檢測(cè)單元產(chǎn)生一個(gè)內(nèi)插點(diǎn)。每一檢測(cè)單元包括第一及第二輸入端以及第一及第二輸出端。每一檢測(cè)單元的第一及第二輸出端分別耦接下一檢測(cè)單元的第一及第二輸入端。舉例來說，檢測(cè)單元110的第一輸出端OUT01耦接檢測(cè)單元111的第一輸入端IN11，且檢測(cè)單元110的第二輸出端OUT02耦接檢測(cè)單元111的第二輸入端IN12。每一檢測(cè)單元更包括一第三輸出端。參閱圖4，第三輸出端OUT03、OUT13、OUT23、OUT33、及OUT43耦接至判斷單元12。在每一檢測(cè)單元中，第一及第二輸入端分別接收第一及第二邊界點(diǎn)的值。每一檢測(cè)單元在第一及第二邊界點(diǎn)之間產(chǎn)生一內(nèi)插點(diǎn)，且將內(nèi)插點(diǎn)由第一輸出端輸出，以作為下一檢測(cè)單元的第一邊界點(diǎn)。每一檢測(cè)單元更判斷內(nèi)插點(diǎn)的值的符號(hào)，且根據(jù)判斷節(jié)點(diǎn)產(chǎn)生選擇信號(hào)。內(nèi)插點(diǎn)的值可為正或負(fù)。當(dāng)內(nèi)插點(diǎn)的值為正時(shí)，符號(hào)則為“+”；當(dāng)內(nèi)插點(diǎn)的值為負(fù)時(shí)，符號(hào)則為“-”。由于內(nèi)插器11在數(shù)字取樣點(diǎn)P6及P7間產(chǎn)生內(nèi)插點(diǎn)，因此，第一檢測(cè)單元110接收數(shù)字取樣點(diǎn)P7及P6的值，以分別作為其第一及第二邊界點(diǎn)的值。圖5為表示檢測(cè)單元的實(shí)施例的方塊圖。為了方便說明，圖5僅顯示檢測(cè)單元110及111，且檢測(cè)單元110做為例子來說明。檢測(cè)單元110包括內(nèi)插單元110a、零交越選擇單元110b、以及多任務(wù)器110c。檢測(cè)單元的操作將通過圖5及圖6來說明。假設(shè)ADC10的取樣時(shí)間為1T(T＝32)，數(shù)字取樣點(diǎn)P6的值等于-1、且數(shù)字取樣點(diǎn)P7的值等于2。檢測(cè)單元110的內(nèi)插單元110a分別由輸入端IN01及IN02來接收數(shù)字取樣點(diǎn)P7及P6的值，且產(chǎn)生一內(nèi)插點(diǎn)Pin0，其中，內(nèi)插點(diǎn)Pin0為數(shù)字取樣點(diǎn)P6及P7的中間點(diǎn)，如圖6所示。內(nèi)插點(diǎn)Pin0的相位為(32+0)/2＝16(t)。內(nèi)插點(diǎn)Pin0的值如下所示hPin0＝(hP7+hP6)/2其中，hPin0表示內(nèi)插點(diǎn)Pin0的值，hP6表示邊界點(diǎn)P6的值，且hP7表示邊界點(diǎn)P7的值。根據(jù)，根據(jù)上述假設(shè)hPin0＝(2-1)/2＝0.5內(nèi)插單元110a接著輸出hPin0的值。零交越選擇單元110b接收hPin0的值以及hP7的值，且判斷hPin0與hP7的符號(hào)是否相同。hPin0與hP7的符號(hào)皆為“+”，此表示在內(nèi)插點(diǎn)Pin0與邊界點(diǎn)P7之間無(wú)零交越點(diǎn)。換句話說，零交越點(diǎn)位于內(nèi)插點(diǎn)Pin0與邊界點(diǎn)P6之間。零交越選擇單元110b根據(jù)判斷結(jié)果而輸出選擇信號(hào)Sel4至多任務(wù)器110c。在此實(shí)施例中，當(dāng)符號(hào)相同時(shí)，選擇信號(hào)為邏輯“0”；而當(dāng)符號(hào)相異時(shí)，選擇信號(hào)則為邏輯“1”。因此在假設(shè)中，選擇信號(hào)Sel4為邏輯“0”。多任務(wù)器110c接收hP6的值及hP7的值，且根據(jù)選擇信號(hào)Sel4來輸出hP6的值，以作為下一檢測(cè)單元111的第二邊界點(diǎn)的值。此外，內(nèi)插單元110a也輸出hPin0的值，以作為檢測(cè)單元111的第一邊界點(diǎn)的值。同樣地，檢測(cè)單元111的內(nèi)插單元111a分別由輸入端IN11及IN12來接收hPin0的值及hP6的值，且產(chǎn)生一內(nèi)插點(diǎn)Pin1，其中，內(nèi)插點(diǎn)Pin1為內(nèi)插點(diǎn)Pin0與數(shù)字取樣點(diǎn)P6的中間點(diǎn)，如圖6所示。由于內(nèi)插點(diǎn)Pin1位于內(nèi)插點(diǎn)Pin0左側(cè)，因此內(nèi)插點(diǎn)Pin1的相位為(16+0/2)＝8(t)。內(nèi)插點(diǎn)Pin1的值如下所示hPin1＝(hPin0+hP6)/2其中，hPin1表示內(nèi)插點(diǎn)Pin1的值。因此，hPin1＝(0.5-1)/2＝-0.25內(nèi)插單元111a接著輸出hPin1的值。零交越選擇單元111b接收hPin0的值以及hPin1的值，且判斷hPin0與hPin1的符號(hào)是否相同。hPin0為“+”，而hPin1的符號(hào)為“-”，此表示零交越點(diǎn)位于內(nèi)插點(diǎn)Pin0與內(nèi)插點(diǎn)Pin1之間。零交越選擇單元111b根據(jù)判斷結(jié)果而輸出選擇信號(hào)Sel3至多任務(wù)器111c。多任務(wù)器111c接收hPin0的值及hP6的值，且根據(jù)選擇信號(hào)Sel3來輸出hPin0的值，以作為下一檢測(cè)單元112的第二邊界點(diǎn)的值。此外，內(nèi)插單元111a也輸出hPin1的值，以作為檢測(cè)單元112的第一邊界點(diǎn)的值。同樣地，檢測(cè)單元112至114以二分法來執(zhí)行上述內(nèi)插操作，以產(chǎn)生內(nèi)插點(diǎn)Pin2至Pin4。在內(nèi)插點(diǎn)Pin0至Pin4中，內(nèi)插點(diǎn)Pin4是為最接近零交越點(diǎn)PZC的一點(diǎn)。檢測(cè)單元112至114也判斷內(nèi)插點(diǎn)Pin2至Pin4的符號(hào)，以輸出選擇信號(hào)Sel2至Sel0。判斷單元12接收選擇信號(hào)Sel4至Sel0，且根據(jù)選擇信號(hào)Sel4至Sel0而獲得零交越點(diǎn)PZC的相位。在一些實(shí)施例中，如圖7a所示，判斷單元12可以一譯碼器來實(shí)施。譯碼器60接收選擇信號(hào)Sel4至Sel0，且對(duì)選擇信號(hào)Sel4至Sel0譯碼以獲得5個(gè)位信號(hào)b0至b4。運(yùn)算單元61以二進(jìn)制來計(jì)算位信號(hào)b0至b4以獲得零交越點(diǎn)PZC的相位，如下τZC＝24×b4+23×b3+22×b2+21×b1+20×b0其中，τZC表示零交越點(diǎn)PZC的相位。舉例來說，當(dāng)Sel4＝0、Sel3＝1、Sel2＝0、Sel1＝1、且Sel0＝0時(shí)，譯碼器60獲得b4＝0、b3＝1、b2＝1、bl＝0、且b0＝0，因此零交越點(diǎn)PZC的相位(τZC)等于12(t)。譯碼器60可以XOR邏輯閘600至603來實(shí)施，如圖7b所示。譯碼器60以XOR運(yùn)算來計(jì)算選擇信號(hào)，以獲得位信號(hào)b0至b4。在一些實(shí)施例中，參閱圖8，判斷單元12包括計(jì)算器70。計(jì)算器70接收選擇信號(hào)Sel4至Sel0以及數(shù)字取樣點(diǎn)P6及P7的相位(τP6及τP7)。計(jì)算器70計(jì)算內(nèi)插點(diǎn)Pin0至Pin4的相位，且根據(jù)選擇信號(hào)Sel4至Sel0指示出零交越點(diǎn)PZC的位置。參閱圖8，計(jì)算器70包括多個(gè)計(jì)算單元，在此實(shí)施例中，計(jì)算單元的數(shù)量與判斷單元的數(shù)量相符合。為了方便說明，圖8僅表示兩個(gè)計(jì)算單元700及701。以計(jì)算單元700作為一個(gè)例子來說明。計(jì)算單元700包括內(nèi)插單元700a及多任務(wù)器700b。內(nèi)插單元700a接收數(shù)字取樣點(diǎn)P6及P7的相位(τP6及τP7)，且通過二分法來計(jì)算內(nèi)插點(diǎn)Pin0的相位(τpin0)。內(nèi)插單元700a接著將內(nèi)插點(diǎn)Pin0的相位(τpin0)輸出至計(jì)算單元701的內(nèi)插單元7101a的一輸入端。多任務(wù)器700b接收來自檢測(cè)單元110的選擇信號(hào)Sel4以及數(shù)字取樣點(diǎn)P6及P7的相位(τP6及τP7)。多任務(wù)器700b根據(jù)選擇信號(hào)Sel4而選擇數(shù)字取樣點(diǎn)P6的相位(τP6)，并輸出至計(jì)算單元701的內(nèi)插單元7101a的另一輸入端。換句話說，計(jì)算單元700對(duì)應(yīng)檢測(cè)單元110，且其皆輸出與數(shù)字取樣點(diǎn)P6有關(guān)的值至下一單元。計(jì)算單元701執(zhí)行與計(jì)算單元700相同的操作。因此，作為零交越點(diǎn)PZC的內(nèi)插點(diǎn)Pin4的值可通過計(jì)算器700來計(jì)算獲得。在一些實(shí)施例中，判斷單元12包括一檢索表(lookuptable)，如圖9所示。檢索表收集了多個(gè)相位。當(dāng)判斷單元12接收選擇信號(hào)Sel4至Sel0時(shí)，其根據(jù)選擇信號(hào)Sel4至Sel0來選擇其一相位。舉例來說，當(dāng)Sel4＝0、Sel3＝1、Sel2＝0、Sel1＝1、且Sel0＝0時(shí)，零交越點(diǎn)PZC的相位(τZC)等于12(t)。當(dāng)獲得零交越點(diǎn)PZC的相位(τZC)時(shí)，在零交越點(diǎn)PZC與數(shù)字取樣點(diǎn)P6間的抖動(dòng)量可以被計(jì)算出τjit＝τZC-τP6τjit表示在零交越點(diǎn)PZC與數(shù)字取樣點(diǎn)P6間的抖動(dòng)量，且τP6表示數(shù)字取樣點(diǎn)P6的相位。在一些實(shí)施例中，如圖10所示，相位檢測(cè)裝置9更包括鎖相回路(phaselockloop，PLL)電路90，耦接于ADC10。PLL電路90產(chǎn)生與數(shù)字信號(hào)SD同步的時(shí)鐘，以作為ADC10的取樣時(shí)鐘CLK。判斷單元12所獲得的零交越點(diǎn)PZC的相位(τZC)可因此等于零交越點(diǎn)PZC與數(shù)字取樣點(diǎn)P6間的抖動(dòng)量(τjit)。在一些實(shí)施例中，抖動(dòng)量(τjit)可作為光驅(qū)的寫入策略的指針。參閱圖11，相位檢測(cè)裝置100更包括寫入指針產(chǎn)生器101，耦接于判斷裝置12。關(guān)于寫入策略的指針的多個(gè)參數(shù)之一為各種數(shù)據(jù)組合的相位偏移的平均值。寫入指針產(chǎn)生器101收集了關(guān)于模擬信號(hào)SA的抖動(dòng)量(τjit)，以作為統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)。根據(jù)抖動(dòng)量(τjit)的統(tǒng)計(jì)，寫入指針產(chǎn)生器101可使用來調(diào)整光驅(qū)的寫入策略。在一實(shí)施例中，寫入指針產(chǎn)生器101計(jì)算每一數(shù)據(jù)結(jié)合的上升緣的平均抖動(dòng)量以及每一數(shù)據(jù)結(jié)合的下降緣的平均抖動(dòng)量。數(shù)據(jù)組表示EFM(Eight-to-FourteenModulation，八變十四調(diào)變)數(shù)據(jù)組合，例如3T-3T組合、3T-8T組合、4T-5T組合等等。T是指一個(gè)時(shí)鐘周期，可用以代表調(diào)變數(shù)據(jù)的長(zhǎng)度。EFM數(shù)據(jù)可以是3T至11T及14T數(shù)據(jù)，且為此技藝的人所知。當(dāng)寫入指針產(chǎn)生器101產(chǎn)生每一數(shù)據(jù)組合的平均抖動(dòng)量時(shí)，后續(xù)的電路則會(huì)使用此平均抖動(dòng)量來調(diào)整寫入策略。在一些實(shí)施例中，當(dāng)伺服控制不適當(dāng)時(shí)，則產(chǎn)生抖動(dòng)量，因此抖動(dòng)量(τjit)可用來做為光驅(qū)的伺服控制。如圖12所示，相位檢測(cè)裝置120更包括伺服校準(zhǔn)單元121，耦接于判斷單元12。伺服校準(zhǔn)單元121接收來自判斷單元12的模擬信號(hào)SA的抖動(dòng)量(τjit)。伺服校準(zhǔn)單元121取得抖動(dòng)量(τjit)并產(chǎn)生用于伺服控制的伺服參數(shù)，例如光驅(qū)的讀寫頭的寫/讀焦距平衡與偏向。圖13表示本發(fā)明實(shí)施例的相位檢測(cè)裝置的方法流程圖。參閱圖1及圖13，ADC10接收模擬信號(hào)SA(步驟S10)，且根據(jù)多個(gè)數(shù)字取樣點(diǎn)以一取樣時(shí)鐘來將模擬信號(hào)SA轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)SD(步驟S11)。內(nèi)插器11根據(jù)預(yù)設(shè)數(shù)量的數(shù)字取樣點(diǎn)來產(chǎn)生多個(gè)內(nèi)插點(diǎn)(步驟S12)。在一些實(shí)施例中，內(nèi)插器11使用預(yù)設(shè)數(shù)量的邊界點(diǎn)來產(chǎn)生多個(gè)內(nèi)插點(diǎn)。內(nèi)插點(diǎn)11在此預(yù)設(shè)數(shù)量的邊界點(diǎn)之間產(chǎn)生內(nèi)插點(diǎn)。在圖13的實(shí)施例中，內(nèi)插點(diǎn)使用兩邊界點(diǎn)來產(chǎn)生內(nèi)插點(diǎn)，即相鄰于零交越點(diǎn)PZC的第一及第二邊界點(diǎn)。當(dāng)內(nèi)插器11內(nèi)插第一個(gè)內(nèi)插點(diǎn)時(shí)，邊界點(diǎn)則為上述預(yù)設(shè)數(shù)量的數(shù)字取樣點(diǎn)。圖14為表示圖13中步驟S12的流程圖。參閱圖4及圖14，在步驟S12中，內(nèi)插器11中檢測(cè)單元110的內(nèi)插單元110a接收邊界點(diǎn)的值，并決定在此邊界點(diǎn)間的一對(duì)應(yīng)內(nèi)插點(diǎn)(步驟S120)。內(nèi)插單元110a輸出對(duì)應(yīng)內(nèi)插點(diǎn)的值，以作為下一內(nèi)插時(shí)兩邊界點(diǎn)之一的值(步驟S121)。檢測(cè)單元110的零交越選擇單元110b接收此對(duì)應(yīng)內(nèi)插點(diǎn)的值以及第一邊界點(diǎn)的值，且判斷對(duì)應(yīng)內(nèi)插點(diǎn)的值的符號(hào)以及第一邊界點(diǎn)的值的符號(hào)是否相同(步驟S122)。零交越選擇單元110b根據(jù)判斷結(jié)果來輸出選擇信號(hào)(步驟S123)。檢測(cè)單元110的多任務(wù)器110c接收上述預(yù)設(shè)數(shù)量的邊節(jié)點(diǎn)的值，且根據(jù)選擇信號(hào)來輸出選擇的邊界點(diǎn)的值，以作為下一內(nèi)插時(shí)的兩邊界點(diǎn)另一點(diǎn)的值(步驟S124)。當(dāng)對(duì)應(yīng)內(nèi)插點(diǎn)的值的符號(hào)以及第一邊界點(diǎn)的值的符號(hào)相同時(shí)，多任務(wù)器110c輸出第二邊界點(diǎn)的值；而當(dāng)對(duì)應(yīng)內(nèi)插點(diǎn)的值的符號(hào)以及第一邊界點(diǎn)的值的符號(hào)相異時(shí)，多任務(wù)器110c輸出第一邊界點(diǎn)的值。判斷單元12根據(jù)多個(gè)選擇信號(hào)以獲得零交越點(diǎn)PZC的位置或相位(步驟S13)。在步驟S13的一些實(shí)施例中，判斷單元12可以XOR運(yùn)算來計(jì)算選擇信號(hào)，以獲得零交越點(diǎn)PZC的相位。而步驟S13的另一些實(shí)施例中，判斷單元12可根據(jù)選擇信號(hào)而自收集多個(gè)相位的窗體中選擇其一，以作為零交越點(diǎn)PZC的相位。參閱圖10及圖13，PLL電路90產(chǎn)生與數(shù)字信號(hào)SD同步的時(shí)鐘(步驟S14)。因此，所獲得的零交越點(diǎn)PZC的相位等于與零交越點(diǎn)PZC相關(guān)的抖動(dòng)量。參閱圖11至13，寫入指針產(chǎn)生器101根據(jù)上述抖動(dòng)量而調(diào)整用于光驅(qū)的寫入策略(步驟S15a)，且伺服校準(zhǔn)單元121則根據(jù)上述抖動(dòng)量而校準(zhǔn)光驅(qū)的伺服參數(shù)(步驟S15b)。本發(fā)明雖以較佳實(shí)施例揭示如上，然其并非用以限定本發(fā)明的范圍，任何所屬
技術(shù)領(lǐng)域：
中具有通常知識(shí)者，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，當(dāng)可做些許的更動(dòng)與潤(rùn)飾，因此本發(fā)明的保護(hù)范圍當(dāng)視權(quán)利要求所界定為準(zhǔn)。權(quán)利要求1.一種相位檢測(cè)裝置，包括一模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器，接收一模擬信號(hào)，且根據(jù)多個(gè)數(shù)字取樣點(diǎn)來將該模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換為一數(shù)字信號(hào)；一內(nèi)插器，用以根據(jù)所述的數(shù)字取樣點(diǎn)中預(yù)設(shè)數(shù)量的所述的數(shù)字取樣點(diǎn)來產(chǎn)生多個(gè)內(nèi)插點(diǎn)，其中，預(yù)設(shè)數(shù)量的所述的數(shù)字取樣點(diǎn)相鄰于一零交越點(diǎn)；以及一判斷單元，用以根據(jù)所述的內(nèi)差點(diǎn)或是所述的數(shù)字取樣點(diǎn)以獲得所述的零交越點(diǎn)的相位。2.如權(quán)利要求1所述的相位檢測(cè)裝置，其中，所述的內(nèi)插器執(zhí)行每一次內(nèi)插時(shí)，在預(yù)設(shè)數(shù)量的多個(gè)邊界點(diǎn)間內(nèi)插一個(gè)內(nèi)插點(diǎn)。3.如權(quán)利要求2所述的相位檢測(cè)裝置，其中，當(dāng)所述的內(nèi)插器內(nèi)插所述的內(nèi)插點(diǎn)中一第一內(nèi)插點(diǎn)時(shí)，所述的邊界點(diǎn)為預(yù)設(shè)數(shù)量的所述的數(shù)字取樣點(diǎn)。4.如權(quán)利要求2所述的相位檢測(cè)裝置，其中，當(dāng)內(nèi)插器產(chǎn)生所述的第一內(nèi)插點(diǎn)的下一者時(shí)，所述的邊界點(diǎn)改變且接近于所述的零交越點(diǎn)。5.如權(quán)利要求2所述的相位檢測(cè)裝置，其中，所述的內(nèi)插器根據(jù)每一所述的內(nèi)插點(diǎn)的值的符號(hào)或?qū)?yīng)的所述的邊界點(diǎn)之一的值的符號(hào)，以決定所述的零交越點(diǎn)的位置，并輸出一選擇信號(hào)。6.如權(quán)利要求5所述的相位檢測(cè)裝置，其中，所述的判斷單元根據(jù)所述的選擇信號(hào)來計(jì)算所述的零交越點(diǎn)的相位。7.如權(quán)利要求2所述的相位檢測(cè)裝置，其中，所述的內(nèi)插器包括串接的多個(gè)檢測(cè)單元，每一該檢測(cè)單元包括預(yù)設(shè)數(shù)量的多個(gè)輸入端以及預(yù)設(shè)數(shù)量的多個(gè)輸出端，預(yù)設(shè)數(shù)量的所述的輸入端分別接收預(yù)設(shè)數(shù)量的所述的邊界點(diǎn)的值，且每一所述的檢測(cè)單元的預(yù)設(shè)數(shù)量的所述的輸出端分別耦接下一所述的檢測(cè)單元的預(yù)設(shè)數(shù)量的所述的輸入端。8.如權(quán)利要求7所述的相位檢測(cè)裝置，其中，在每一所述的檢測(cè)單元中，所述的輸出端之一輸出對(duì)應(yīng)的內(nèi)插點(diǎn)的值，以作為下一所述的檢測(cè)單元的所述的邊界點(diǎn)之一的值。9.如權(quán)利要求8所述的相位檢測(cè)裝置，其中，每一所述的檢測(cè)單元包括一內(nèi)插單元，接收所述的邊界點(diǎn)的值，決定介于相鄰于所述的零交越點(diǎn)的一第一及第二邊界點(diǎn)間對(duì)應(yīng)的內(nèi)插點(diǎn)，且輸出對(duì)應(yīng)的該內(nèi)插點(diǎn)的值以作為下一所述的檢測(cè)單元的所述的邊界點(diǎn)之一的值；一零交越選擇單元，接收來自所述的內(nèi)插單元的對(duì)應(yīng)的內(nèi)插點(diǎn)的值以及第一邊界點(diǎn)的值，判斷對(duì)應(yīng)的該內(nèi)插點(diǎn)的值的符號(hào)與該第一邊界點(diǎn)的值的符號(hào)是否相同，且根據(jù)判斷結(jié)果通過所述的檢測(cè)單元的一附加輸出端來輸出一選擇信號(hào)；以及一多任務(wù)器，接收所述的邊界點(diǎn)的值，且根據(jù)所述的選擇信號(hào)以輸出所選擇的該邊界點(diǎn)的值，以作為下一所述的檢測(cè)單元的所述的邊界點(diǎn)之一的值。10.如權(quán)利要求9所述的相位檢測(cè)裝置，其中，當(dāng)對(duì)應(yīng)的所述的內(nèi)插點(diǎn)的值的符號(hào)與所述的第一邊界點(diǎn)的值的符號(hào)相同時(shí)，所述的多任務(wù)器輸出所述的第二邊界點(diǎn)，且當(dāng)對(duì)應(yīng)的所述的內(nèi)插點(diǎn)的值的符號(hào)與所述的第一邊界點(diǎn)的值的符號(hào)相異時(shí)，所述的多任務(wù)器輸出所述的第一邊界點(diǎn)。11.如權(quán)利要求1所述的相位檢測(cè)裝置，其中，所述的內(nèi)插器根據(jù)所述的內(nèi)插點(diǎn)的值的符號(hào)或預(yù)設(shè)數(shù)量的所述的數(shù)字取樣點(diǎn)的值的符號(hào)，以輸出多個(gè)選擇信號(hào)，且所述的判斷單元根據(jù)所述的選擇信號(hào)而獲得所述的零交越點(diǎn)的相位。12.如權(quán)利要求11所述的相位檢測(cè)裝置，其中，所述的判斷單元以一譯碼器來實(shí)施，且該譯碼器以XOR運(yùn)算來計(jì)算所述的選擇信號(hào)，以獲得所述的零交越點(diǎn)的相位。13.如權(quán)利要求11所述的相位檢測(cè)裝置，其中，所述的判斷單元以一檢索表來實(shí)施，且該檢索表收集多個(gè)相位，并根據(jù)所述的選擇信號(hào)來選出所述的零交越點(diǎn)的對(duì)應(yīng)相位。14.如權(quán)利要求11所述的相位檢測(cè)裝置，其中，所述的判斷單元包括一計(jì)算器，接收所述的選擇信號(hào)以及預(yù)設(shè)數(shù)量的所述的數(shù)字取樣點(diǎn)的相位，且該計(jì)算器根據(jù)所述的選擇信號(hào)來計(jì)算所述的零交越點(diǎn)的相位。15.如權(quán)利要求1所述的相位檢測(cè)裝置，更包括一鎖相回路電路，用以接收所述的數(shù)字信號(hào)，并產(chǎn)生與該數(shù)字信號(hào)同步的一時(shí)鐘，以作為所述的模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器的一取樣時(shí)鐘，其中，所述的判斷裝置所獲得的所述的零交越點(diǎn)的相位等于與該零交越點(diǎn)相關(guān)的一抖動(dòng)量。16.如權(quán)利要求15所述的相位檢測(cè)裝置，更包括一寫入指針產(chǎn)生器，用以接收所述的抖動(dòng)量，并根據(jù)該抖動(dòng)量而產(chǎn)生用于一光驅(qū)的寫入策略。17.如權(quán)利要求15所述的相位檢測(cè)裝置，更包括一伺服校準(zhǔn)單元，用以接收所述的抖動(dòng)量，并根據(jù)該抖動(dòng)量來校準(zhǔn)一光驅(qū)的伺服參數(shù)。18.一種方法，用于一相位檢測(cè)裝置，包括接收一模擬信號(hào)；根據(jù)多個(gè)數(shù)字取樣點(diǎn)，將該模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換為一數(shù)字信號(hào)；根據(jù)所述的數(shù)字取樣點(diǎn)中預(yù)設(shè)數(shù)量的所述的數(shù)字取樣點(diǎn)，產(chǎn)生多個(gè)內(nèi)插點(diǎn)；以及根據(jù)所述的內(nèi)插點(diǎn)或所述的數(shù)字取樣點(diǎn)，獲得一零交越點(diǎn)的相位。19.如權(quán)利要求18所述的方法，其中，在執(zhí)行每一次內(nèi)插時(shí)，在一預(yù)設(shè)數(shù)量的多個(gè)邊界點(diǎn)間產(chǎn)生一內(nèi)插點(diǎn)。20.如權(quán)利要求19所述的方法，其中，當(dāng)內(nèi)插所述的內(nèi)插點(diǎn)中一第一內(nèi)插點(diǎn)時(shí)，所述的邊界點(diǎn)為預(yù)設(shè)數(shù)量的所述的數(shù)字取樣點(diǎn)。21.如權(quán)利要求19所述的方法，其中，當(dāng)產(chǎn)生所述的第一內(nèi)插點(diǎn)的下一者時(shí)，所述的邊界點(diǎn)改變且接近于所述的零交越點(diǎn)。22.如權(quán)利要求19所述的方法，其中，根據(jù)每一所述的內(nèi)插點(diǎn)的值的符號(hào)或?qū)?yīng)的所述的邊界點(diǎn)之一的值的符號(hào)，決定所述的零交越點(diǎn)的位置，并輸出一選擇信號(hào)。23.如權(quán)利要求22所述的方法，其中，根據(jù)所述的選擇信號(hào)，來計(jì)算所述的零交越點(diǎn)的相位。24.如權(quán)利要求19所述的方法，更包括根據(jù)所述的邊界點(diǎn)的值，決定介于相鄰于所述的零交越點(diǎn)的一第一及第二邊界點(diǎn)間對(duì)應(yīng)的內(nèi)插點(diǎn)，且輸出對(duì)應(yīng)的該內(nèi)插點(diǎn)的值以作為下一所述的邊界點(diǎn)之一之值；根據(jù)對(duì)應(yīng)的所述的內(nèi)插點(diǎn)的值以及所述的第一邊界點(diǎn)的值，判斷對(duì)應(yīng)的該內(nèi)插點(diǎn)的值的符號(hào)與該第一邊界點(diǎn)的值的符號(hào)是否相同，且根據(jù)判斷結(jié)果輸出一選擇信號(hào)；以及根據(jù)所述的邊界點(diǎn)的值，且根據(jù)所述的選擇信號(hào)來輸出所選擇的該邊界點(diǎn)的值，以作為下一所述的邊界點(diǎn)之一的值。25.如權(quán)利要求24所述的方法，其中，當(dāng)對(duì)應(yīng)的所述的內(nèi)插點(diǎn)的值的符號(hào)與所述的第一邊界點(diǎn)的值的符號(hào)相同時(shí)，輸出所述的第二邊界點(diǎn)，且當(dāng)對(duì)應(yīng)的所述的內(nèi)插點(diǎn)的值的符號(hào)與所述的第一邊界點(diǎn)的值的符號(hào)相異時(shí)，輸出該第一邊界點(diǎn)。26.如權(quán)利要求18所述的方法，其中，根據(jù)所述的內(nèi)插點(diǎn)的值的符號(hào)或預(yù)設(shè)數(shù)量的所述的數(shù)字取樣點(diǎn)的值的符號(hào)，以輸出多個(gè)選擇信號(hào)，且根據(jù)所述的選擇信號(hào)來獲得所述的零交越點(diǎn)的相位。27.如權(quán)利要求26所述的方法，其中，獲得所述的零交越點(diǎn)的相位的步驟包括，以XOR運(yùn)算來計(jì)算所述的選擇信號(hào)，以獲得所述的零交越點(diǎn)的相位。28.如權(quán)利要求26所述的方法，其中，獲得所述的零交越點(diǎn)的相位的步驟包括，根據(jù)所述的選擇信號(hào)，以自收集于一檢索表的多個(gè)相位中選出所述的零交越點(diǎn)的對(duì)應(yīng)相位。29.如權(quán)利要求18所述的方法，更包括，產(chǎn)生與所述的數(shù)字信號(hào)同步的一時(shí)鐘，以作為所述的模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器的一取樣時(shí)鐘，其中，所獲得的所述的零交越點(diǎn)的相位等于與該零交越點(diǎn)相關(guān)的一抖動(dòng)量。30.如權(quán)利要求29所述的方法，更包括，根據(jù)所述的抖動(dòng)量而調(diào)整用于一光驅(qū)的寫入策略。31.如權(quán)利要求29所述的方法，更包括，根據(jù)所述的抖動(dòng)量來校準(zhǔn)一光驅(qū)的伺服參數(shù)。32.如權(quán)利要求18所述的方法，其中，預(yù)設(shè)數(shù)量的所述的數(shù)字取樣點(diǎn)相鄰于所述的零交越點(diǎn)。全文摘要一種相位檢測(cè)裝置，包括模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器、內(nèi)插器、以及判斷單元。模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器接收模擬信號(hào)，且根據(jù)多個(gè)數(shù)字取樣點(diǎn)來將模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)。內(nèi)插器根據(jù)預(yù)設(shè)數(shù)量的數(shù)字取樣點(diǎn)來產(chǎn)生多個(gè)內(nèi)插點(diǎn)。判斷單元根據(jù)多個(gè)內(nèi)插點(diǎn)及多個(gè)數(shù)字取樣點(diǎn)而獲得零交越點(diǎn)的相位。文檔編號(hào)H03M1/10GK1929310SQ200610151480公開日2007年3月14日申請(qǐng)日期2006年9月8日優(yōu)先權(quán)日2005年9月9日發(fā)明者鄭裕,劉碧海,楊孟達(dá)申請(qǐng)人:聯(lián)發(fā)科技股份有限公司