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一種無(wú)線充電系統(tǒng)金屬異物檢測(cè)方法與流程

文檔序號(hào):40609992發(fā)布日期:2025-01-07 20:52閱讀:4來(lái)源:國(guó)知局
一種無(wú)線充電系統(tǒng)金屬異物檢測(cè)方法與流程

本發(fā)明涉及金屬異物檢測(cè),具體的,涉及一種無(wú)線充電系統(tǒng)金屬異物檢測(cè)方法。


背景技術(shù):

1、無(wú)線電能傳輸技術(shù)發(fā)展日趨成熟,尤其是磁耦合諧振式無(wú)線電能傳輸方式目前已在功率等級(jí)、傳輸效率、抗偏移性能等方面取得了顯著的提升。磁耦合諧振式無(wú)線電能傳輸通過(guò)電磁感應(yīng)耦合將發(fā)射線圈能量傳輸至接收線圈,傳能過(guò)程中諧振腔產(chǎn)生強(qiáng)交流磁場(chǎng)。因?yàn)槌潆娤到y(tǒng)在結(jié)構(gòu)上通常具有開(kāi)放特性往往會(huì)有異物存在,尤其是金屬類異物靠近充電系統(tǒng)時(shí)會(huì)被感應(yīng)出大量渦流進(jìn)而產(chǎn)生大量的熱。若不能及時(shí)識(shí)別并將異物清除,發(fā)射線圈傳輸?shù)墓β蕰?huì)有部分被異物吸收導(dǎo)致系統(tǒng)整體傳輸效率下降,同時(shí)異物中感應(yīng)渦流產(chǎn)生的熱量會(huì)威脅到整個(gè)系統(tǒng)的安全。為避免發(fā)生此類問(wèn)題,在系統(tǒng)啟動(dòng)前或者運(yùn)行時(shí)有必要對(duì)易發(fā)熱的金屬類異物進(jìn)行識(shí)別并發(fā)出警告。

2、目前國(guó)內(nèi)外針對(duì)金屬異物的檢測(cè)多處于能否檢測(cè)到金屬異物的狀態(tài),而無(wú)法有效地實(shí)現(xiàn)對(duì)金屬異物的類型、尺寸、位置等特征進(jìn)行全方位的識(shí)別與判斷。因此,有必要研究一種成本相對(duì)較低、精度較高方法來(lái)實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)間金屬異物的檢測(cè)與識(shí)別。

3、中國(guó)專利,公開(kāi)號(hào):cn114465369a,公開(kāi)日:2022年5月10日,公開(kāi)了一種無(wú)線充電系統(tǒng)金屬異物檢測(cè)系統(tǒng),通過(guò)置于無(wú)線充電系統(tǒng)發(fā)射線圈之上的差分垂直檢測(cè)線圈組,信號(hào)采集處理單元和判斷識(shí)別單元;所述差分垂直檢測(cè)線圈組在存在金屬異物時(shí)產(chǎn)生異于正常情況的信號(hào),此信號(hào)經(jīng)信號(hào)采集處理單元的采集和處理,再提供給判斷識(shí)別單元,由判斷識(shí)別單元進(jìn)行識(shí)別,但是只能判斷是否有金屬異物,無(wú)法對(duì)金屬異物的種類和位置進(jìn)行精確的判斷。


技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本發(fā)明針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)無(wú)法對(duì)無(wú)線充電系統(tǒng)中的金屬異物的種類、位置和尺寸進(jìn)行精確判斷從而造成的對(duì)金屬異物識(shí)別不準(zhǔn)確的問(wèn)題提出了一種無(wú)線充電系統(tǒng)金屬異物檢測(cè)方法,通過(guò)構(gòu)建檢測(cè)線圈陣列,采用檢測(cè)線圈陣列對(duì)無(wú)線充電系統(tǒng)進(jìn)行金屬異物檢測(cè),通過(guò)對(duì)組成檢測(cè)線圈陣列的檢測(cè)線圈單元進(jìn)行編號(hào),將檢測(cè)線圈單元的電感值轉(zhuǎn)化為更易檢測(cè)電阻兩端的電壓,通過(guò)檢測(cè)電壓大小判斷是否存在金屬異物并基于編號(hào)確定金屬異物位置和尺寸,根據(jù)檢測(cè)電阻兩端電壓再次為0時(shí)電源頻率的變化量來(lái)判斷金屬異物的具體種類,通過(guò)對(duì)無(wú)線充電系統(tǒng)中的金屬異物的位置、尺寸以及種類進(jìn)行確定極大的提高了對(duì)金屬異物的識(shí)別精度,方便根據(jù)檢測(cè)到的具體信息采取針對(duì)性措施,保證無(wú)線充電系統(tǒng)運(yùn)行穩(wěn)定。

2、第一方面,本發(fā)明實(shí)施例中提供的一種技術(shù)方案是:一種無(wú)線充電系統(tǒng)金屬異物檢測(cè)方法,包括如下步驟:

3、s1、構(gòu)建由檢測(cè)線圈單元組成的檢測(cè)線圈陣列,并對(duì)檢測(cè)線圈單元基于排列方式進(jìn)行編號(hào);

4、s2、采用檢測(cè)線圈陣列對(duì)無(wú)線充電系統(tǒng)進(jìn)行金屬異物檢測(cè),根據(jù)編號(hào)順序依次將檢測(cè)線圈單元接入檢測(cè)電路,獲取目標(biāo)檢測(cè)線圈單元的電感值;

5、s3、基于目標(biāo)檢測(cè)線圈單元的電感值獲取檢測(cè)電阻兩端的電壓;當(dāng)檢測(cè)電阻兩端的電壓超出設(shè)定閾值時(shí),將目標(biāo)檢測(cè)線圈單元標(biāo)記為異常檢測(cè)線圈單元;

6、s4、獲取異常檢測(cè)線圈單元對(duì)應(yīng)的編號(hào),基于編號(hào)獲取異常檢測(cè)線圈單元排列位置確定金屬異物所處位置和尺寸;

7、s5、基于異常檢測(cè)線圈單元的編號(hào)順序,依次調(diào)節(jié)檢測(cè)電路電源接通目標(biāo)異常檢測(cè)線圈單元的頻率,記錄檢測(cè)電阻兩端電壓為0時(shí)的電源頻率偏移量;

8、s6、基于電源頻率偏移量,確定金屬異物的種類。

9、本方案中,為了實(shí)現(xiàn)對(duì)金屬異物的類型、尺寸、位置等特征進(jìn)行全方位的識(shí)別與判斷,通過(guò)若干個(gè)檢測(cè)線圈單元進(jìn)行順次排列構(gòu)成檢測(cè)線圈陣列,并對(duì)每一個(gè)檢測(cè)線圈單元按照排列順序進(jìn)行編號(hào),對(duì)無(wú)線供電發(fā)射模塊和無(wú)線供電接收模塊進(jìn)行全方位的檢測(cè),可以減小對(duì)金屬異物排查的識(shí)別盲區(qū),基于編號(hào)對(duì)每個(gè)檢測(cè)線圈單元單獨(dú)接入檢測(cè)電路進(jìn)行單獨(dú)檢測(cè),在檢測(cè)線圈單元接入檢測(cè)電路時(shí),為了方便后續(xù)對(duì)金屬異物的檢測(cè),調(diào)節(jié)電源頻率,使檢測(cè)線圈單元接入檢測(cè)電路發(fā)生并聯(lián)諧振,此時(shí)檢測(cè)電路中的檢測(cè)電阻兩端電壓為0,當(dāng)檢測(cè)到有金屬異物時(shí),檢測(cè)線圈單元的電感發(fā)生變化,此時(shí)并聯(lián)諧振失諧,因此檢測(cè)電阻兩端的電壓會(huì)變大,因此只需要檢測(cè)各個(gè)編號(hào)的檢測(cè)線圈單元時(shí),哪幾個(gè)編號(hào)的檢測(cè)線圈單元讓檢測(cè)電阻兩端電壓變大且超出閾值時(shí),即可確定這些編號(hào)的檢測(cè)線圈單元所處的位置有金屬異物存在,并對(duì)其進(jìn)行分析可以大致判斷出金屬異物的尺寸,極大的提高了對(duì)金屬異物檢測(cè)的判斷能力,可以幫助工作人員根據(jù)檢測(cè)到的金屬異物數(shù)據(jù)實(shí)行針對(duì)性的處理策略,提高了對(duì)金屬異物的處理效率;檢測(cè)到存在金屬異物后,將異常檢測(cè)線圈單元依次接通異物檢測(cè)電路,并通過(guò)修改電源頻率,直到異物檢測(cè)電路的檢測(cè)電阻兩端電壓重新回到0,通過(guò)計(jì)算電源頻率的修改量來(lái)判斷檢測(cè)到的金屬異物的種類,若該金屬異物對(duì)無(wú)線供電系統(tǒng)的影響較高,則可以及時(shí)處理,防止無(wú)線供電系統(tǒng)因金屬異物發(fā)熱從而造成安全隱患,若該異物對(duì)無(wú)線供電系統(tǒng)影響較小,則可以暫時(shí)先不處理,等到檢測(cè)到的異物對(duì)無(wú)線供電系統(tǒng)產(chǎn)生較大影響時(shí)再集中處理,無(wú)需時(shí)刻對(duì)無(wú)線供電系統(tǒng)進(jìn)行檢測(cè)和處理,只需要在問(wèn)題影響較大時(shí)再處理,可以降低工作人員的工作量,減小人工成本,提高了工作效率。

10、作為優(yōu)選,s1中,構(gòu)建由檢測(cè)線圈單元組成的檢測(cè)線圈陣列,并對(duì)檢測(cè)線圈單元基于排列方式進(jìn)行編號(hào),包括如下步驟:

11、依次將各個(gè)檢測(cè)線圈單元以m行n列的形式順次排列組成檢測(cè)線圈陣列,基于排列的順序?qū)Ω鱾€(gè)檢測(cè)線圈單元進(jìn)行編號(hào),所述各個(gè)檢測(cè)線圈單元規(guī)格相同。

12、本方案中,為了減小對(duì)金屬異物的識(shí)別盲區(qū),通過(guò)采用m行n列的排列方式組成檢測(cè)線圈陣列,可以極大的減小各檢測(cè)線圈單元之間的間距,從而降低了對(duì)金屬異物的識(shí)別盲區(qū),并且每個(gè)檢測(cè)線圈單元的規(guī)格相同,因此每個(gè)檢測(cè)線圈單元的自感值都相同,因此在接入檢測(cè)電路時(shí),當(dāng)其中一個(gè)檢測(cè)線圈單元接通時(shí),調(diào)節(jié)電源頻率時(shí),檢測(cè)電路主干路的阻抗在接通每一個(gè)檢測(cè)線圈單元時(shí)的變化量也相同,方便后續(xù)對(duì)金屬異物是否存在和金屬異物具體種類的判斷,減少了檢測(cè)時(shí)對(duì)接通各個(gè)檢測(cè)線圈單元時(shí)的工作量,提高了檢測(cè)效率。

13、作為優(yōu)選,s2中,采用檢測(cè)線圈陣列對(duì)無(wú)線充電系統(tǒng)進(jìn)行金屬異物檢測(cè),根據(jù)編號(hào)順序依次將檢測(cè)線圈單元接入檢測(cè)電路,獲取目標(biāo)檢測(cè)線圈單元的電感值,包括如下步驟:通過(guò)功率分析儀測(cè)量目標(biāo)檢測(cè)線圈單元在無(wú)金屬異物影響下的自感值,并根據(jù)檢測(cè)線圈單元的編號(hào)進(jìn)行記錄,記為li,其中i為檢測(cè)線圈單元的編號(hào);

14、根據(jù)編號(hào)順序?qū)⒛繕?biāo)檢測(cè)線圈單元接入檢測(cè)電路,調(diào)節(jié)電源頻率直至檢測(cè)電阻兩端電壓為0,記錄此時(shí)電源頻率為初始頻率f0;

15、接通目標(biāo)檢測(cè)線圈單元接入檢測(cè)電路的回路,獲取目標(biāo)檢測(cè)線圈單元的電感變化量,并基于自感值獲取目標(biāo)檢測(cè)線圈單元在金屬異物影響下的電感值。

16、本方案中,為了方便檢測(cè)各個(gè)檢測(cè)線圈單元在受到金屬異物影響前后的電感變化量,需要對(duì)每個(gè)檢測(cè)線圈在受到金屬異物影響前的自感值進(jìn)行檢測(cè)并記錄,用于后續(xù)計(jì)算在受到金屬異物影響時(shí)重新構(gòu)成并聯(lián)諧振時(shí)的電源頻率偏移量;在進(jìn)行金屬異物檢測(cè)前,需要對(duì)檢測(cè)線圈單元進(jìn)行初始化處理,使每個(gè)檢測(cè)線圈單元在接入檢測(cè)電路時(shí)都處于并聯(lián)諧振狀態(tài)并記錄此時(shí)的電源頻率作為初始頻率,用于后續(xù)計(jì)算電源頻率偏移量;在進(jìn)行金屬異物檢測(cè)時(shí),獲取檢測(cè)線圈單元的電感變化量,通過(guò)電感變化量和自感值計(jì)算出檢測(cè)線圈單元在受到金屬異物影響下的電感值,用于后續(xù)計(jì)算檢測(cè)電阻兩端的電壓。

17、作為優(yōu)選,s3中,基于目標(biāo)檢測(cè)線圈單元的電感值獲取檢測(cè)電阻兩端的電壓;當(dāng)檢測(cè)電阻兩端的電壓超出設(shè)定閾值時(shí),將目標(biāo)檢測(cè)線圈單元標(biāo)記為異常檢測(cè)線圈單元,包括如下步驟:

18、基于目標(biāo)檢測(cè)線圈單元的電感值和自感值,獲取目標(biāo)檢測(cè)線圈單元的電感變化量;

19、基于目標(biāo)檢測(cè)線圈單元的電感變化量和自感值,獲取檢測(cè)電路主干路上的輸入阻抗;

20、基于檢測(cè)電路主干路上的輸入阻抗,獲取檢測(cè)電阻兩端電壓的有效值;

21、將檢測(cè)電阻兩端電壓的有效值經(jīng)過(guò)運(yùn)算放大器進(jìn)行放大,獲取運(yùn)算放大器輸出的電壓值為utest,若utest大于設(shè)定閾值則將目標(biāo)檢測(cè)線圈單元標(biāo)記為異常檢測(cè)線圈單元。

22、本方案中,為了判斷是否存在金屬異物,通過(guò)檢測(cè)各個(gè)檢測(cè)線圈單元的電感值,并將電感值與自感值進(jìn)行對(duì)比獲取每個(gè)檢測(cè)線圈單元的電感變化量,為了對(duì)金屬異物是否存在有一個(gè)更加精確的判斷,通過(guò)將電感變化量轉(zhuǎn)化為檢測(cè)電阻兩端的電壓變化量,但是由于受到金屬異物影響時(shí)的電感變化量很小,在體現(xiàn)在檢測(cè)電阻兩端的電壓變化上不明顯,因此對(duì)檢測(cè)檢測(cè)電阻兩端的電壓進(jìn)行放大處理,經(jīng)過(guò)運(yùn)算放大器放大后輸出的電壓為檢測(cè)電壓,若檢測(cè)電壓超出了預(yù)設(shè)閾值則可以確認(rèn)該檢測(cè)線圈單元所處位置有金屬異物,通過(guò)這種方式可以提高對(duì)金屬異物的識(shí)別敏感度,防止忽略對(duì)檢測(cè)線圈單元電感影響較小的金屬種類的識(shí)別。

23、作為優(yōu)選,s4中,獲取異常檢測(cè)線圈單元對(duì)應(yīng)的編號(hào),基于編號(hào)獲取異常檢測(cè)線圈單元排列位置確定金屬異物所處位置和尺寸,包括如下步驟:

24、構(gòu)建以檢測(cè)線圈陣列中心為原點(diǎn),橫軸和縱軸均為長(zhǎng)度,以檢測(cè)線圈陣列所在平面為坐標(biāo)系平面的笛卡爾坐標(biāo)系,獲取異常檢測(cè)線圈單元中心點(diǎn)在笛卡爾坐標(biāo)系中的坐標(biāo),基于異常檢測(cè)線圈單元中心點(diǎn)在笛卡爾坐標(biāo)系中的坐標(biāo)獲取金屬異物所處位置;

25、基于異常檢測(cè)線圈單元數(shù)量和檢測(cè)線圈單元面積獲取金屬異物的最大面積;

26、基于異常檢測(cè)線圈單元各個(gè)坐標(biāo)之間的最大兩個(gè)橫向距離和最大縱向距離,獲取金屬異物的長(zhǎng)度和寬度范圍,基于金屬異物的最大面積、長(zhǎng)度范圍以及寬度范圍獲取金屬異物的尺寸。

27、本方案中,為了確定金屬異物的具體位置和大致尺寸,通過(guò)在檢測(cè)線圈陣列平面上構(gòu)建笛卡爾坐標(biāo)系,當(dāng)需要判斷金屬異物所處的位置時(shí),只需要判斷異常檢測(cè)線圈單元所處的位置即可判斷出金屬異物所處的位置;當(dāng)需要判斷金屬異物的形狀時(shí),提取受金屬異物影響的異常檢測(cè)線圈單元所處的坐標(biāo),將提取出來(lái)的坐標(biāo)根據(jù)檢測(cè)線圈單元的編號(hào)順序順次連接,可以得到金屬異物的大致形狀;當(dāng)需要判斷金屬異物的面積時(shí),獲取異常檢測(cè)線圈單元的數(shù)量,將異常檢測(cè)線圈單元的面積和數(shù)量相乘可以得到金屬異物的大致面積;當(dāng)需要判斷金屬異物的長(zhǎng)度和寬度時(shí),通過(guò)獲取異常檢測(cè)線圈單元所處的各個(gè)坐標(biāo)之間的距離,尋找其中相差最大和第二大的x軸方向上的距離和y軸方向上的距離,通過(guò)將這兩個(gè)距離分別與檢測(cè)線圈單元的長(zhǎng)和寬相乘可以得到金屬異物的大致長(zhǎng)度范圍和寬度范圍,通過(guò)金屬異物的大致形狀、面積、長(zhǎng)度和寬度可以判斷出金屬異物的大致尺寸,方便在對(duì)金屬異物進(jìn)行處理時(shí)選擇合適的解決策略,對(duì)問(wèn)題的針對(duì)性更強(qiáng),提高了解決效率。

28、作為優(yōu)選,s5中,基于異常檢測(cè)線圈單元的編號(hào)順序,依次調(diào)節(jié)檢測(cè)電路電源接通目標(biāo)異常檢測(cè)線圈單元的頻率,記錄檢測(cè)電阻兩端電壓為0時(shí)的電源頻率偏移量,包括如下步驟:

29、在金屬異物影響下,獲取檢測(cè)電阻兩端電壓為0時(shí)的電源頻率,計(jì)算公式如下:

30、

31、其中l(wèi)i為編號(hào)為i的檢測(cè)線圈單元的自感值,δli為編號(hào)為i的檢測(cè)線圈單元在金屬異物影響下的電感變化量,ci為與編號(hào)為i的檢測(cè)線圈單元串聯(lián)的電容,fi為編號(hào)為檢測(cè)電路接通編號(hào)為i的檢測(cè)線圈單元時(shí)檢測(cè)電阻兩端電壓為0時(shí)的電源頻率;

32、基于檢測(cè)電阻兩端電壓為0時(shí)的電源頻率和檢測(cè)電路電源的初始頻率獲取電源頻率偏移量,計(jì)算公式如下:

33、

34、其中f0為檢測(cè)電路電源的初始頻率,δfi為編號(hào)為i的檢測(cè)線圈單元受到金屬異物影響的電源頻率偏移量。

35、本方案中,為了獲取檢測(cè)線圈單元在金屬異物影響前后的電源頻率偏移量,為了方便對(duì)電源頻率偏移量的計(jì)算,基于目標(biāo)檢測(cè)線圈單元檢測(cè)到的電感值、電感變化量以及初始頻率,可以直接計(jì)算出電源頻率偏移量,在實(shí)際測(cè)試中也可以不用去調(diào)節(jié)電源頻率,可以簡(jiǎn)化對(duì)金屬異物檢測(cè)的步驟,只需要檢測(cè)出目標(biāo)檢測(cè)線圈單元的電感值、電感變化量以及電源的初始頻率即可進(jìn)行后續(xù)的金屬異物種類判斷,使檢測(cè)金屬異物種類十分方便。

36、作為優(yōu)選,s6中,基于電源頻率偏移量,確定金屬異物的種類,包括如下步驟:記錄檢測(cè)線圈單元在不同種類金屬異物影響下的電源頻率偏移量,構(gòu)建電源頻率偏移量與金屬種類相關(guān)聯(lián)的金屬查詢表;

37、基于金屬查詢表和電源頻率偏移量獲取金屬異物的具體種類。

38、本方案中,為了對(duì)確定存在金屬異物時(shí),對(duì)金屬異物種類進(jìn)行識(shí)別,先將無(wú)線充電系統(tǒng)中常見(jiàn)的幾種金屬異物作為實(shí)驗(yàn)對(duì)象,記錄在不同金屬異物前后影響下,檢測(cè)線圈單元在異物檢測(cè)電路中發(fā)生并聯(lián)諧振時(shí)的電源頻率偏移量,不同金屬異物電源頻率的偏移量不同,通過(guò)電源頻率的偏移量再進(jìn)行查表可以確定金屬異物的具體種類,將難以直接檢測(cè)到的電感變化轉(zhuǎn)化成容易檢測(cè)的電源頻率的偏移量,通過(guò)不同金屬異物對(duì)應(yīng)的電源頻率偏移量不同且一一對(duì)應(yīng),因此通過(guò)檢測(cè)電源頻率的偏移量即可十分簡(jiǎn)單的判斷出金屬異物的種類,降低了對(duì)金屬異物判斷的難度,提高了檢測(cè)效率。

39、作為優(yōu)選,所述檢測(cè)線圈陣列以檢測(cè)線圈陣列中心點(diǎn)為對(duì)稱中心,對(duì)稱位置上的檢測(cè)線圈單元的線圈繞制方向相反。

40、本方案中,為了提高磁場(chǎng)檢測(cè)靈敏度并且減少外部干擾影響,在組成檢測(cè)線圈陣列時(shí),以檢測(cè)線圈陣列中心點(diǎn)為對(duì)稱中心,對(duì)稱位置上的檢測(cè)線圈單元的線圈繞制方向相反,當(dāng)兩個(gè)對(duì)稱位置上的線圈繞向相反時(shí),它們?cè)跊](méi)有外部磁場(chǎng)影響的情況下產(chǎn)生的自感磁場(chǎng)會(huì)相互抵消,從而減小其他檢測(cè)線圈單元產(chǎn)生的磁場(chǎng)對(duì)自身的影響,并且對(duì)稱且繞向相反的線圈設(shè)計(jì)能自然地抵消環(huán)境中的磁場(chǎng)影響,在金屬異物檢測(cè)時(shí)可以最大程度上的降低其他磁場(chǎng)對(duì)檢測(cè)線圈單元的影響,從而提高檢測(cè)精度。

41、作為優(yōu)選,所述檢測(cè)線圈單元為矩形平面線圈。

42、本方案中,為了提高對(duì)無(wú)線供電系統(tǒng)金屬異物的排查面積,減少識(shí)別盲區(qū),采用矩形平面線圈作為檢測(cè)線圈單元,同時(shí)矩形平面線圈產(chǎn)生的磁場(chǎng)在中心區(qū)域較為均勻,有助于提高對(duì)金屬異物檢測(cè)的精度和一致性,并且相比其他形狀的線圈,矩形線圈在制造過(guò)程中更為簡(jiǎn)單,成本更低,而且由于檢測(cè)線圈陣列是多線圈陣列,采用矩形線圈可以更有效的排列,以實(shí)現(xiàn)最佳的空間利用率和磁場(chǎng)強(qiáng)度分布,可以對(duì)金屬異物更加精確和全面的識(shí)別。

43、本發(fā)明的有益效果:(1)本發(fā)明通過(guò)檢測(cè)線圈陣列中的檢測(cè)線圈單元對(duì)金屬異物進(jìn)行判斷,增大了對(duì)金屬異物的排查面積,減小了識(shí)別盲區(qū);

44、(2)本發(fā)明通過(guò)將檢測(cè)線圈單元的自感變化量轉(zhuǎn)化為易檢測(cè)的檢測(cè)電阻兩端的電壓變化量確定是否存在異物,減小了異物的排查難度;

45、(3)本發(fā)明通過(guò)改變電源頻率,使檢測(cè)電阻上電壓為0,讓電路處于諧振狀態(tài),從而獲取異物對(duì)線圈頻率偏移的影響,以此確定異物種類,提供了一種對(duì)金屬異物種類確定的簡(jiǎn)單手段,方便對(duì)異物進(jìn)行自動(dòng)判斷和報(bào)警。

46、上述
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:
僅是本發(fā)明技術(shù)方案的概述,為了能夠更清楚了解本發(fā)明的技術(shù)手段,而可依照說(shuō)明書(shū)的內(nèi)容予以實(shí)施,并且為了讓本發(fā)明的上述和其它目的、特征和優(yōu)點(diǎn)能夠更明顯易懂,以下特舉本發(fā)明的具體實(shí)施方式。

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