本技術(shù)涉及硅部件清潔設(shè)備,具體而言,涉及一種硅部件刻蝕槽。
背景技術(shù):
1、半導(dǎo)體硅部件產(chǎn)品包括硅錠、硅桶、硅盤、硅環(huán)、硅管等,這些硅部件主要用于承載或參與半導(dǎo)體晶圓片的制造過程。濕法刻蝕工藝是半導(dǎo)體硅部件處理過程中的關(guān)鍵步驟,濕法蝕刻的原理是利用化學(xué)方法將硅部件表面附著的污染物進行去除,通過濕法刻蝕可以使零件表面達到較高的潔凈度。
2、工業(yè)生產(chǎn)中,采用專用的濕法刻蝕設(shè)備進行刻蝕工藝,濕法刻蝕設(shè)備包括刻蝕槽,用于承載刻蝕液,硅部件安裝在工裝上,浸入刻蝕槽內(nèi)的刻蝕液實現(xiàn)表面刻蝕清洗。
3、現(xiàn)有技術(shù)中,為了提高刻蝕效率,會在刻蝕槽內(nèi)設(shè)置鼓泡裝置,促進刻蝕液在槽內(nèi)的自循環(huán),保證濃度均勻,提高刻蝕效率。但是氣泡會附著于硅部件表面,導(dǎo)致刻蝕均勻性不佳,影響了整體刻蝕效果。
技術(shù)實現(xiàn)思路
1、本實用新型所要解決的問題是如何消除刻蝕液中的氣泡,提高硅部件濕法刻蝕均勻性。
2、為解決上述問題,本實用新型提供一種硅部件刻蝕槽,包括底板和設(shè)置在所述底板周圍的側(cè)板,所述底板和所述側(cè)板合圍形成頂部開口的槽體,所述槽體內(nèi)設(shè)有鼓泡裝置,所述底板的下方設(shè)有超聲波裝置,所述超聲波裝置包括水箱和設(shè)置在水箱內(nèi)的超聲波振動盒,所述底板覆蓋所述水箱頂部開口,所述超聲波振動盒的頂部與所述底板具有間隙。
3、相對于現(xiàn)有技術(shù),本實用新型硅部件刻蝕槽具有超聲波裝置,可以在硅部件刻蝕過程起到消泡作用,從而消除氣泡對刻蝕的影響,提高工件表面刻蝕均勻性,改善刻蝕效果;由于刻蝕液具有很強的腐蝕作用,本實用新型將超聲波裝置設(shè)置在槽體外部,以水為介質(zhì)傳遞超聲波振動盒產(chǎn)生的振動,可以有效避免超聲波裝置腐蝕,延長設(shè)備使用壽命。
4、進一步地,所述超聲波振動盒內(nèi)設(shè)有多個陣列排布的超聲波振子。該結(jié)構(gòu)可以使超聲波振動盒各部位產(chǎn)生均勻的超聲波振動,保證槽體內(nèi)刻蝕液的消泡效果。
5、進一步地,所述超聲波裝置的功率大于20w/cm2,超聲波頻率為20~40khz。超聲波振動傳遞過程會存在能量衰減,為保證消泡效果,超聲波裝置需要具有較大的功率。
6、進一步地,所述槽體內(nèi)設(shè)有加熱裝置。設(shè)置加熱裝置可以將槽體內(nèi)的刻蝕液加熱到工藝溫度,保證刻蝕效果。
7、進一步地,所述加熱裝置為設(shè)置在所述槽體兩側(cè)的加熱盤管。這種加熱裝置可以高效加熱刻蝕液。
8、進一步地,所述槽體內(nèi)設(shè)有液位保護器。設(shè)置液位保護器可以對槽體內(nèi)的液位進行監(jiān)控,在液位過低時可以實現(xiàn)斷電保護功能,避免加熱裝置在刻蝕液排空后干燒。
9、進一步地,所述鼓泡裝置包括設(shè)置在槽體底部的出氣盤管,所述出氣盤管上設(shè)有多個出氣孔。鼓泡裝置從出氣孔導(dǎo)出氣泡,促進刻蝕液在槽體內(nèi)循環(huán),保證刻蝕液濃度和溫度均勻。
10、進一步地,所述側(cè)板的下部設(shè)有排液口,所述排液口上設(shè)有排液閥,設(shè)置排液口和排液閥便于排液和更換。
11、進一步地,硅部件刻蝕槽還包括支撐平臺,所述支撐平臺的底部與所述側(cè)板的頂部連接,所述支撐平臺的中部鏤空形成與所述槽體連接的通道。設(shè)置支撐平臺提供了刻蝕裝置其他零件的安裝位置,便于裝置整體布局。
12、進一步地,所述底板、所述側(cè)板和所述支撐平臺的材質(zhì)為pvc??涛g槽整體采用耐腐蝕性好的pvc材料,避免刻蝕液腐蝕損壞刻蝕槽。
1.一種硅部件刻蝕槽,其特征在于,包括底板(11)和設(shè)置在所述底板(11)周圍的側(cè)板(12),所述底板(11)和所述側(cè)板(12)合圍形成頂部開口的槽體(13),所述槽體(13)內(nèi)設(shè)有鼓泡裝置,所述底板(11)的下方設(shè)有超聲波裝置(5),所述超聲波裝置(5)包括水箱(51)和設(shè)置在水箱(51)內(nèi)的超聲波振動盒(52),所述底板(11)覆蓋所述水箱(51)頂部開口,所述超聲波振動盒(52)的頂部與所述底板(11)具有間隙,所述鼓泡裝置包括設(shè)置在槽體(13)底部的出氣盤管(2),所述出氣盤管(2)上設(shè)有多個出氣孔。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的硅部件刻蝕槽,其特征在于,所述超聲波振動盒(52)內(nèi)設(shè)有多個陣列排布的超聲波振子(53)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的硅部件刻蝕槽,其特征在于,所述超聲波裝置(5)的功率大于20w/cm2,超聲波頻率為20~40khz。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的硅部件刻蝕槽,其特征在于,所述槽體(13)內(nèi)設(shè)有加熱裝置。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的硅部件刻蝕槽,其特征在于,所述加熱裝置為設(shè)置在所述槽體(13)兩側(cè)的加熱盤管(3)。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的硅部件刻蝕槽,其特征在于,所述槽體(13)內(nèi)設(shè)有液位保護器。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的硅部件刻蝕槽,其特征在于,所述側(cè)板(12)的下部設(shè)有排液口(4),所述排液口(4)上設(shè)有排液閥。
8.根據(jù)權(quán)利要求1-7任一所述的硅部件刻蝕槽,其特征在于,還包括支撐平臺(14),所述支撐平臺(14)的底部與所述側(cè)板(12)的頂部連接,所述支撐平臺(14)的中部鏤空形成與所述槽體(13)連接的通道。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的硅部件刻蝕槽,其特征在于,所述底板(11)、所述側(cè)板(12)和所述支撐平臺(14)的材質(zhì)為pvc。