本發(fā)明關(guān)于一種顯示設(shè)備,尤指一種顯示區(qū)與非顯示區(qū)中的薄膜晶體管單元具有不同結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)的顯示設(shè)備。
背景技術(shù):
隨著顯示器技術(shù)不斷進(jìn)步,所有的顯示設(shè)備均朝體積小、厚度薄、重量輕等趨勢發(fā)展,故目前市面上主流的顯示器裝置已由以往的陰極射線管發(fā)展成薄型顯示器,如液晶顯示設(shè)備、有機(jī)發(fā)光二極管顯示設(shè)備或無機(jī)發(fā)光二極管顯示設(shè)備等。其中,薄型顯示器可應(yīng)用的領(lǐng)域相當(dāng)多,舉凡日常生活中使用的手機(jī)、筆記本電腦、攝影機(jī)、照相機(jī)、音樂播放器、行動(dòng)導(dǎo)航裝置、電視等顯示設(shè)備,大多數(shù)均使用該些顯示設(shè)備。
雖然液晶顯示設(shè)備或有機(jī)發(fā)光二極管顯示設(shè)備已為市面上常見的顯示設(shè)備,特別是液晶顯示設(shè)備的技術(shù)更是相當(dāng)成熟,但隨著顯示設(shè)備不斷發(fā)展且消費(fèi)者對(duì)顯示設(shè)備的顯示質(zhì)量要求日趨提高,各家廠商無不極力發(fā)展出具有更高顯示質(zhì)量的顯示設(shè)備。其中,除了顯示區(qū)上的薄膜晶體管結(jié)構(gòu)外,非顯示區(qū)中的柵極驅(qū)動(dòng)電路區(qū)域所使用的薄膜晶體管單元結(jié)構(gòu),亦為影響顯示設(shè)備整體效率的因素的一。
有鑒于此,目前仍需針對(duì)顯示區(qū)及非顯示區(qū)的薄膜晶體管單元結(jié)構(gòu)做改良,以更進(jìn)一步提升顯示設(shè)備的顯示質(zhì)量。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:
本發(fā)明提供一顯示設(shè)備,其中位于顯示區(qū)的薄膜晶體管單元的半導(dǎo)體層具有至少一凹陷,而可提升此區(qū)的薄膜晶體管的負(fù)柵極應(yīng)力(negative gate stress)表現(xiàn),進(jìn)而提升此區(qū)的薄膜晶體管特性。
本發(fā)明的顯示設(shè)備包括:一基板,設(shè)有一顯示區(qū)及一非顯示區(qū),且該非顯示區(qū)圍繞該顯示區(qū)設(shè)置;一第一薄膜晶體管單元,設(shè)于該顯示區(qū)上; 以及一第二薄膜晶體管單元,設(shè)于該非顯示區(qū)上。其中,該第一薄膜晶體管單元包括:一第一柵極電極,設(shè)于該基板上;一第一絕緣層,設(shè)于該第一柵極電極上;一第一半導(dǎo)體層,設(shè)于該第一絕緣層上且與該第一柵極電極對(duì)應(yīng)設(shè)置,包括一第一部份與第二部分,且該第一部分與該第二部分相距一預(yù)定距離;一第一源極及一第一漏極,分別設(shè)于該第一半導(dǎo)體層的該第一部分與該第二部分上。該第二薄膜晶體管單元包括:一第二柵極電極,設(shè)于該基板上;一第二絕緣層,設(shè)于該第二柵極電極上;一第二半導(dǎo)體層,設(shè)于該第二絕緣層上且與該第二柵極電極對(duì)應(yīng)設(shè)置;以及一第二源極及一第二漏極,設(shè)于該第二半導(dǎo)體層上。其中,該第一半導(dǎo)體層具有一第一厚度,該第二半導(dǎo)體層具有一第二厚度,其中,該第一厚度小于該第二厚度。
于本發(fā)明的顯示設(shè)備中,該第一厚度與該第二厚度的差值可介于至之間,較佳介于至之間;或該第一厚度與該第二厚度的差值可為第一半導(dǎo)體層的厚度的10-100%。
于本發(fā)明的顯示設(shè)備中,第一半導(dǎo)體層及第二半導(dǎo)體層的材料可為相同或不同材料,且較佳均為金屬氧化物(如:IGZO、AIZO、HIZO、ITZO、IGZTO、或IGTO)。
于本發(fā)明的顯示設(shè)備中,該第一半導(dǎo)體層的一表面包括一凹陷區(qū)域及一平坦區(qū)域,該第一半導(dǎo)體層在該凹陷區(qū)域具有該第一厚度,該第一半導(dǎo)體層在該平坦區(qū)域具有一第三厚度。其中,該第一厚度與該第三厚度的差值介于至之間;或該第一厚度與該第三厚度的差值為該第一半導(dǎo)體層的厚度的10-100%。
于本發(fā)明的顯示設(shè)備中,于一實(shí)施例中,該凹陷區(qū)域具有兩個(gè),且分別位于該第一部份及該第二部分上;于另一實(shí)施例中,該凹陷區(qū)域分布于該第一部分、該第二部分、與該第一部分與該第二部分之間的一第三部分上;于再一實(shí)施例中,凹陷區(qū)域設(shè)于部分該第一部分與該第二部分之間的一第三部分上;于更一實(shí)施例中,該凹陷區(qū)域設(shè)于整個(gè)該第一部分與該第二部分之間的一第三部分上。
本發(fā)明的顯示設(shè)備,位于顯示區(qū)的第一薄膜晶體管單元的第一半導(dǎo)體層的第一厚度小于位于非顯示區(qū)的第二薄膜晶體管單元的第二半導(dǎo)體層的第二厚度;特別是,于本發(fā)明的顯示設(shè)備中,第一半導(dǎo)體層的表面包括 一凹陷區(qū)域及一平坦區(qū)域,此凹陷區(qū)域所產(chǎn)生的膜內(nèi)缺陷可提升第一薄膜晶體管的負(fù)柵極應(yīng)力表現(xiàn),進(jìn)而提升第一薄膜晶體管特性。此外,由于非顯示區(qū)的第二薄膜晶體管作為一柵極驅(qū)動(dòng)電路,故位于此區(qū)的第二薄膜晶體管的第二半導(dǎo)體層則不具有凹陷區(qū)域,如此可提升第二薄膜晶體管的高電流應(yīng)力(high current stress)表現(xiàn)。
附圖說明
圖1A為本發(fā)明實(shí)施例1的顯示設(shè)備的上視圖。
圖1B為本發(fā)明實(shí)施例1的顯示設(shè)備的剖面示意圖。
圖2為本發(fā)明實(shí)施例1的顯示設(shè)備的顯示區(qū)上的第一薄膜晶體管單元的剖面示意圖。
圖3為本發(fā)明實(shí)施例1的顯示設(shè)備的顯示區(qū)上的第一薄膜晶體管單元的上視圖。
圖4為本發(fā)明實(shí)施例1的顯示設(shè)備的非顯示區(qū)上的第二薄膜晶體管單元的上視圖。
圖5為本發(fā)明實(shí)施例1的顯示設(shè)備的非顯示區(qū)上的第二薄膜晶體管單元的剖面示意圖。
圖6為本發(fā)明實(shí)施例1的顯示設(shè)備的顯示區(qū)及非顯示區(qū)上的第一薄膜晶體管單元及第二薄膜晶體管單元的剖面示意圖。
圖7A為本發(fā)明實(shí)施例1的第一薄膜晶體管單元的高電流應(yīng)力測試結(jié)果圖。
圖7B為本發(fā)明實(shí)施例1的第一薄膜晶體管單元的負(fù)柵極應(yīng)力測試結(jié)果圖。
圖7C為本發(fā)明實(shí)施例1的第一薄膜晶體管單元的負(fù)柵極應(yīng)力加上背光應(yīng)力的測試結(jié)果圖。
圖8A為本發(fā)明實(shí)施例1的第二薄膜晶體管單元的高電流應(yīng)力測試結(jié)果圖。
圖8B為本發(fā)明實(shí)施例1的第二薄膜晶體管單元的負(fù)柵極應(yīng)力測試結(jié)果圖。
圖8C為本發(fā)明實(shí)施例1的第一薄膜晶體管單元的負(fù)柵極應(yīng)力加上背光應(yīng)力的測試結(jié)果圖。
圖9為本發(fā)明實(shí)施例2的顯示設(shè)備的顯示區(qū)上的第一薄膜晶體管單元的上視圖。
圖10為本發(fā)明實(shí)施例3的顯示設(shè)備的顯示區(qū)上的第一薄膜晶體管單元的上視圖。
圖11為本發(fā)明實(shí)施例4的顯示設(shè)備的顯示區(qū)上的第一薄膜晶體管單元的上視圖。
圖12A為本發(fā)明實(shí)施例5的顯示設(shè)備的顯示區(qū)上的第一薄膜晶體管單元的剖面示意圖。
圖12B為本發(fā)明實(shí)施例5的顯示設(shè)備的顯示區(qū)上的第一薄膜晶體管單元的上視圖。
圖13為本發(fā)明實(shí)施例6的顯示設(shè)備的顯示區(qū)上的第一薄膜晶體管單元的剖面示意圖。
【符號(hào)說明】
11 基板 11a 底面
12 線路 13 源極驅(qū)動(dòng)電路
14 對(duì)側(cè)基板 15 顯示層
2 第一薄膜晶體管單元 22 第一柵極電極
23 第一絕緣層 24 第一半導(dǎo)體層
24a,44a 表面 24b,24c 邊緣
241,242 凹陷區(qū)域 243 平坦區(qū)域
251 第一源極 252 第一漏極
253,453 通道區(qū) 4 第二薄膜晶體管單元
42 第二柵極電極 43 第二絕緣層
44 第二半導(dǎo)體層 451 第二源極
452 第二漏極 AA 顯示區(qū)
B 非顯示區(qū) D 深度
P1 第一部份 P2 第二部分
P3 第三部分 T1 第一厚度
T2 第二厚度 T3 第三厚度
具體實(shí)施方式
以下通過特定的具體實(shí)施例說明本發(fā)明的實(shí)施方式,熟習(xí)此技藝的人士可由本說明書所揭示的內(nèi)容輕易地了解本發(fā)明的其他優(yōu)點(diǎn)與功效。本發(fā)明亦可通過其他不同的具體實(shí)施例加以施行或應(yīng)用,本說明書中的各項(xiàng)細(xì)節(jié)亦可針對(duì)不同觀點(diǎn)與應(yīng)用,在不悖離本創(chuàng)作的精神下進(jìn)行各種修飾與變更。
再者,說明書與請(qǐng)求項(xiàng)中所使用的序數(shù)例如”第一”、”第二”等的用詞,以修飾請(qǐng)求項(xiàng)的元件,其本身并不意含及代表該請(qǐng)求元件有任何的前的序數(shù),也不代表某一請(qǐng)求元件與另一請(qǐng)求元件的順序、或是制造方法上的順序,該些序數(shù)的使用僅用來使具有某命名的一請(qǐng)求元件得以和另一具有相同命名的請(qǐng)求元件能作出清楚區(qū)分。
實(shí)施例1
圖1A為本實(shí)施例的顯示設(shè)備的上視圖,其中,本實(shí)施例的顯示設(shè)備包括:一基板11,設(shè)有一顯示區(qū)AA及一非顯示區(qū)B,且非顯示區(qū)B圍繞顯示區(qū)AA設(shè)置。本實(shí)施例的顯示設(shè)備更包括源極驅(qū)動(dòng)電路(Drive IC)13,與基板11的非顯示區(qū)B上的線路12電性連接。此外,于本實(shí)施例的顯示設(shè)備中,柵極驅(qū)動(dòng)電路(圖未示)是建構(gòu)在薄膜晶體管陣列(圖未示)里,而為一GOP電路,且位于非顯示區(qū)B上。
圖1B為本實(shí)施例的顯示設(shè)備的剖面示意圖,其中,本實(shí)施例的顯示設(shè)備更包括:一對(duì)側(cè)基板14,與基板11相對(duì)設(shè)置;以及一顯示層15,設(shè)于對(duì)側(cè)基板14與基板11間。于本實(shí)施例中,基板11可為上方設(shè)置有薄膜晶體管單元(圖未示)的薄膜晶體管基板,而對(duì)側(cè)基板14可為上方設(shè)置有彩色濾光層(圖未示)的彩色濾光片基板;然而,于本發(fā)明的其他實(shí)施例中,彩色濾光層(圖未示)亦可設(shè)置在基板11上,此時(shí),基板11則為一整合彩 色濾光片陣列的薄膜晶體管基板(color filter on array,COA)。此外,本實(shí)施例的顯示設(shè)備中的顯示層15可為一液晶層、一有機(jī)發(fā)光二極管元件層、一無機(jī)發(fā)光二極管元件層。當(dāng)本實(shí)施例的顯示設(shè)備中的顯示層15為液晶層時(shí),本實(shí)施例的顯示設(shè)備更包括一背光模塊,設(shè)于基板11下方。
圖2及圖3分別為本實(shí)施例的顯示設(shè)備的顯示區(qū)AA上的第一薄膜晶體管單元的剖面示意圖及上視圖。首先,于基板11上形成一第一柵極電極22,再于第一柵極電極22及基板11上形成一作為柵極絕緣層的第一絕緣層23。而后,于第一絕緣層23上形成一第一半導(dǎo)體層24;于沉積第一半導(dǎo)體層24材料后,更進(jìn)行一蝕刻制程,以于第一半導(dǎo)體層24的一表面上形成至少一凹陷區(qū)域241,242。在此,形成凹陷區(qū)域241,242的蝕刻制程較佳使用濕蝕刻制程,且濕蝕刻所使用的蝕刻液可根據(jù)第一半導(dǎo)體層24的材料做調(diào)整;其中,蝕刻液的一具體例子包括一含有氟離子的蝕刻液。經(jīng)由濕蝕刻后,于第一半導(dǎo)體層24的凹陷區(qū)域241,242處,因濕蝕刻液內(nèi)的離子與第一半導(dǎo)體層24作用而會(huì)部分摻雜于第一半導(dǎo)體層24中,使得第一半導(dǎo)體層24產(chǎn)生缺陷(defect)。最后,于第一半導(dǎo)體層24上形成一第一源極251及一第一漏極252,則完成本實(shí)施例的顯示區(qū)AA上的第一薄膜晶體管單元2的制備。
圖4及圖5分別為本實(shí)施例的顯示設(shè)備的非顯示區(qū)B上的第二薄膜晶體管單元的剖面示意圖及上視圖。于本實(shí)施例中,顯示區(qū)AA及非顯示區(qū)B上的薄膜晶體管單元以相似制程制作,除了非顯示區(qū)B的第二薄膜晶體管單元4的第二半導(dǎo)體層44不具有凹陷區(qū)域。首先,于基板11上形成一第二柵極電極42,再于第二柵極電極42及基板11上形成一作為柵極絕緣層的第二絕緣層43。而后,于第二絕緣層43上形成一第二半導(dǎo)體層44。最后,于第二半導(dǎo)體層44上形成一第二源極451及一第二漏極452,則完成本實(shí)施例的非顯示區(qū)B上的第二薄膜晶體管單元4的制備。
于本實(shí)施例中,基板11其可使用例如玻璃、塑料、可撓性材質(zhì)等基材材料所制成。第一絕緣層23及第二絕緣層43可同時(shí)形成,且可使用如氧化物、氮化物或氮氧化物等絕緣層材料制作;第一柵極電極22及第二柵極電極42可同時(shí)形成,而第一源極251及第一漏極252與第二源極451及第二漏極452可同時(shí)形成,且此些電極單元可使用導(dǎo)電材料,如金屬、 合金、金屬氧化物、金屬氮氧化物、或其他電極材料所制成;第一半導(dǎo)體層24及第二半導(dǎo)體層44可同時(shí)形成,且可使用如IGZO(indium galium zinc oxide)、AIZO(alumimun indium zinc oxide)、HIZO(hafnium indium gallium zinc oxide)、ITZO(indium tin zinc oxide)、IGZTO(indium gallium zinc tin oxide)、或IGTO(indium gallium tin oxide)的金屬氧化物制作。然而,于本發(fā)明的其他實(shí)施例中,前述元件的材料并不僅限于此。
經(jīng)由前述制程后,如圖1及圖6所示,則可得到本實(shí)施例的顯示設(shè)備,包括:一基板11,設(shè)有一顯示區(qū)AA及一非顯示區(qū)B,且非顯示區(qū)B圍繞顯示區(qū)AA設(shè)置;一第一薄膜晶體管單元2,設(shè)于顯示區(qū)AA上;以及一第二薄膜晶體管單元4,設(shè)于非顯示區(qū)B上。其中,如圖2、圖3及圖6所示,第一薄膜晶體管單元2包括:一第一柵極電極22,設(shè)于基板11上;一第一絕緣層23,設(shè)于第一柵極電極22上;一第一半導(dǎo)體層24,設(shè)于第一絕緣層23上且與第一柵極電極22對(duì)應(yīng)設(shè)置,包括一第一部份P1與第二部分P2,且第一部份P1與第二部分P2相距一預(yù)定距離;一第一源極251及一第一漏極252,分別設(shè)于第一半導(dǎo)體層24的第一部份P1與第二部分P2上且與第一半導(dǎo)體層24連接,且第一源極251與第一漏極252相距一預(yù)定距離而與第一半導(dǎo)體層24形成一通道區(qū)253;其中,第一半導(dǎo)體層24朝向第一源極251與第一漏極252的一表面24a上具有兩凹陷區(qū)域241,242,且此兩凹陷區(qū)域241,242分別設(shè)于第一部份P1及第二部分P2上。此外,如圖4至圖6所示,第二薄膜晶體管單元4包括:一第二柵極電極42,設(shè)于基板11上;一第二絕緣層43,設(shè)于第二柵極電極42上;一第二半導(dǎo)體層44,設(shè)于第二絕緣層43上且與第二柵極電極42對(duì)應(yīng)設(shè)置;一第二源極451及一第二漏極452,設(shè)于第二半導(dǎo)體層44上且與第二半導(dǎo)體層44連接,且第二源極451及第二漏極452相距一預(yù)定距離而與第二半導(dǎo)體層44形成一通道區(qū)453。其中,第二半導(dǎo)體層44朝向第二源極451及第二漏極452的一表面44a上不具有凹陷區(qū)域。
于本實(shí)施例中,如圖6所示,第一半導(dǎo)體層24具有一第一厚度T1,該第二半導(dǎo)體層具有一第二厚度T2,其中,第一厚度T1小于第二厚度T2。其中,第一厚度T1與第二厚度T2的差值并無特殊限制,可介于至之間,且較佳介于至之間?;蛘?,于本發(fā)明的其他實(shí)施 例中,第一厚度T1與第二厚度T2的差值為第一半導(dǎo)體層24的厚度(即,第三厚度T3)的10-100%。
在此,如圖2所示,第一半導(dǎo)體層24的表面24a包括一凹陷區(qū)域241,242及一平坦區(qū)域243,第一半導(dǎo)體層24在凹陷區(qū)域241,242具有一第一厚度T1,第一半導(dǎo)體層24在平坦區(qū)域243具有一第三厚度T3。其中,第一厚度T1與第三厚度T3的差值(即,第一半導(dǎo)體層24的凹陷區(qū)域241,242的深度D)可介于至之間?;蛘撸诒景l(fā)明的其他實(shí)施例中,第一厚度T1與第三厚度T3的差值(即,第一半導(dǎo)體層24的凹陷區(qū)域241,242的深度D)為第一半導(dǎo)體層24的第三厚度T3的10-100%。此外,第一半導(dǎo)體層24的凹陷區(qū)域241,242的形狀并無特別限制,可如本實(shí)施例中所示的圓形,或者其他多邊形或不規(guī)則性。此外,如圖2所示,于本實(shí)施例的顯示面板中,于一剖面線上,第一半導(dǎo)體層24的凹陷區(qū)域241,242的側(cè)壁為一垂直于表面24a的側(cè)壁;然而,于本發(fā)明的其他實(shí)施例中,于一剖面線上,凹陷區(qū)域241,242的側(cè)壁可為一斜面或一曲面,此時(shí),凹陷區(qū)域241,242的深度D則指其最大深度。
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在此,使用實(shí)施例1所制得的第一薄膜晶體管單元2(如圖2及圖3所示)及第二薄膜晶體管單元4(如圖4及圖5所示),進(jìn)行其開關(guān)特性的測試。其中,第一薄膜晶體管單元2的第一半導(dǎo)體層24及第二薄膜晶體管單元4的第二半導(dǎo)體層44的材料均為IGZO;第一絕緣層23為氧化硅而第二絕緣層43的材料為氮化硅;第一柵極電極22及第二柵極電極42的材料均為下層為鋁而上層為鉬的金屬電極,但本發(fā)明并不僅限于此,也可使用銅或銀類的材料;而第一源極251及第一漏極252與第二源極451及第二漏極452的材料均為上下兩層為鉬而中間層為鋁(Mo/Al/Mo)的金屬電極,但本發(fā)明并不僅限于此,也可使用銅或銀類的材料;第一半導(dǎo)體層24及第二薄膜晶體管單元4的厚度T均約為而第一半導(dǎo)體層24上的凹陷區(qū)域241,242的深度D約為
高電流應(yīng)力(high current stress)測試的條件如下所述:Vg=35V、Vd=20V、Vs=0V、測試溫度70℃、時(shí)間3600s,以確認(rèn)大電流流過薄膜晶體管時(shí)的元件穩(wěn)定性。
當(dāng)以實(shí)施例1所制得的第一薄膜晶體管單元2及第二薄膜晶體管單元4進(jìn)行高電流應(yīng)力(high current stress)測試時(shí),結(jié)果分別如圖7A及圖8A所示。如圖7A所示,在高電流及大電壓的情形下,隨著操作時(shí)間增加,第一薄膜晶體管單元2的Id-Vg曲線往右偏移;故若以第一薄膜晶體管單元2作為GOP電路所使用的薄膜晶體管單元時(shí),由于所輸入的電壓固定,而此往右偏移的情形會(huì)造成薄膜晶體管單元輸出電流不足。然而,如圖8A所示,在高電流及大電壓的情形下,隨著操作時(shí)間增加,第二薄膜晶體管單元4的Id-Vg曲線偏移情形并不顯著;故若以第二薄膜晶體管單元4作為GOP電路所使用的薄膜晶體管單元時(shí),可確保薄膜晶體管單元輸出電流維持在一定高電流。因此,相較于第一半導(dǎo)體層24具有凹陷區(qū)域241,242的第一薄膜晶體管單元2,第二半導(dǎo)體層44不具凹陷的第二薄膜晶體管單元4,因長時(shí)間使用仍可維持一定的高電流輸出,故較適用于作為GOP電路所使用的薄膜晶體管單元。
負(fù)柵極應(yīng)力(negative gate stress)測試條件如下所述:Vg=-30V、Vd=Vs=0V、溫度70℃、時(shí)間3600s;負(fù)柵極應(yīng)力加上背光應(yīng)力(back light stress)的測試條件為Vg=-30V、Vd=Vg=0V、溫度為室溫、時(shí)間3600s,加上8000~10000nits背光源照射下測量TFT Vth偏移(shift)結(jié)果。
當(dāng)以實(shí)施例1所制得的第一薄膜晶體管單元2及第二薄膜晶體管單元4進(jìn)行負(fù)柵極應(yīng)力(negative gate stress)測試時(shí),結(jié)果分別如圖7B及圖8B所示;而負(fù)柵極應(yīng)力加上背光應(yīng)力(back light stress)測試的結(jié)果,則分別如圖7C及圖8C所示,其中,背光由基板11的底面11a朝第一源極251與第一漏極252(如圖2所示)或第二源極451與第二漏極452(如圖4所示)方向照射,如圖2及圖4的箭號(hào)所示。
如圖7B所示,在負(fù)偏壓下,在施與負(fù)柵極應(yīng)力前及后,第一薄膜晶體管單元2的Id-Vg曲線并無顯著偏移的情形發(fā)生;且即便在施與負(fù)柵極應(yīng)力及背光應(yīng)力前及后,如圖7C所示,也僅有少量的偏移情形產(chǎn)生。然而,如圖8B所示,在負(fù)偏壓下,在施與負(fù)柵極應(yīng)力前及后,第二薄膜晶體管單元4的Id-Vg曲線卻有顯著的向左偏移情形發(fā)生;且在施與負(fù)柵極應(yīng)力及背光應(yīng)力前及后,如圖8C所示,也有顯著的向左偏移情形。此結(jié)果表示,第一薄膜晶體管單元2無論是僅施加負(fù)柵極應(yīng)力或更同時(shí)施加背 光應(yīng)力,漏電流也無顯著增加,代表第一半導(dǎo)體層24具有凹陷區(qū)域241,242的第一薄膜晶體管單元2具有良好的開關(guān)特性而可適用于顯示區(qū)上;而第二薄膜晶體管單元4在僅施加負(fù)柵極應(yīng)力或更同時(shí)施加背光應(yīng)力下,所產(chǎn)生的漏電流會(huì)造成漏光的情形發(fā)生,故不適用于顯示區(qū)上。
實(shí)施例2
圖9為本實(shí)施例的顯示設(shè)備的顯示區(qū)上的第一薄膜晶體管單元的上視圖。本實(shí)施例與實(shí)施例1的第一薄膜晶體管單元的結(jié)構(gòu)大致相同,除了本實(shí)施例的凹陷區(qū)域241,242是具有類似半圓形的外型,且位于第一半導(dǎo)體層24的邊緣24b,24c上。
實(shí)施例3
圖10為本實(shí)施例的顯示設(shè)備的顯示區(qū)上的第一薄膜晶體管單元的上視圖。本實(shí)施例與實(shí)施例1的第一薄膜晶體管單元的結(jié)構(gòu)大致相同,除了本實(shí)施例的第一半導(dǎo)體層24僅具有單一凹陷區(qū)域241,分布于第一部分P1(第一源極251下方)、第二部份P2(第一漏極252下方)及第一部分P1與第二部份P2間的第三部分P3(通道區(qū)253)上。于本實(shí)施例凹陷區(qū)域241以類似橢圓形的外型加以表示,然而,于本發(fā)明的其他實(shí)施例中,凹陷區(qū)域241可具有不同外形,只要分布情形如圖9所示即可。
實(shí)施例4
圖11為本實(shí)施例的顯示設(shè)備的顯示區(qū)上的第一薄膜晶體管單元的上視圖。本實(shí)施例與實(shí)施例3的第一薄膜晶體管單元的結(jié)構(gòu)大致相同,除了本實(shí)施例的第一半導(dǎo)體層24中的凹陷區(qū)域241設(shè)于部分第一部分P與第二部分P2之間的一第三部分P3上;換言之,僅設(shè)于部分通道區(qū)253中,而未設(shè)于第一源極251下方及第一漏極252下方。同樣的,于本實(shí)施例凹陷區(qū)域241以類似橢圓形的外型加以表示,然而,于本發(fā)明的其他實(shí)施例中,凹陷區(qū)域241可具有不同外形,只要分布情形如圖11所示即可。
實(shí)施例5
圖12A及12B分別為本實(shí)施例的顯示設(shè)備的顯示區(qū)上的第一薄膜晶體管單元的剖面示意圖及上視圖。本實(shí)施例與實(shí)施例4的第一薄膜晶體管單元的結(jié)構(gòu)大致相同,除了本實(shí)施例的第一半導(dǎo)體層24中的凹陷區(qū)域241 設(shè)于整個(gè)第一部分P1與第二部分P2之間的一第三部分P3上;換言之,設(shè)于整個(gè)通道區(qū)253中,且未設(shè)于第一源極251下方及第一漏極252下方。
于實(shí)施例4及5中,第一半導(dǎo)體層24中的凹陷區(qū)域241的制作,可與實(shí)施例1相同,即在形成第一半導(dǎo)體層24后先進(jìn)行蝕刻凹陷區(qū)域241后,再進(jìn)行形成第一源極251及第一漏極252的制程?;蛘撸趯?shí)施例4及5中,可于形成第一半導(dǎo)體層24后暫不進(jìn)行蝕刻,待完成第一源極251及第一漏極252的制程后,再部分或整個(gè)蝕刻通道區(qū)253中的第一半導(dǎo)體層24,以形成如圖11、圖12A及圖12B所示的凹陷區(qū)域241。
實(shí)施例6
圖13為本實(shí)施例的顯示設(shè)備的顯示區(qū)上的第一薄膜晶體管單元的剖面示意圖。本實(shí)施例與實(shí)施例1的第一薄膜晶體管單元的結(jié)構(gòu)大致相同,除了本實(shí)施例的第一半導(dǎo)體層24中的凹陷區(qū)域241,242整個(gè)貫穿第一半導(dǎo)體層24。換言的,于本實(shí)施例中,實(shí)施例1中的第一厚度T1為即,第一半導(dǎo)體層24的凹陷區(qū)域241,242的深度D為第一半導(dǎo)體層24的第三厚度T3的100%。
于前述實(shí)施例中,僅以底柵極薄膜晶體管單元加以說明;于本發(fā)明的其他實(shí)施例的顯示面板中,顯示區(qū)的第一薄膜晶體管單元及非顯示區(qū)的第二薄膜晶體管單元亦可為頂柵極薄膜晶體管單元,只要第一半導(dǎo)體層朝向第一源極與第一漏極的一表面上具有凹陷,而第二半導(dǎo)體層朝向第二源極與第二漏極的一表面上不具有凹陷。
于本發(fā)明中,前述實(shí)施例所制得的顯示面板,可應(yīng)用于液晶顯示面板、有機(jī)發(fā)光二極管顯示面板、或無機(jī)發(fā)光二極管面板上。此外,前述實(shí)施例所制得的顯示面板,亦可與觸控面板合并使用,而做為一觸控顯示設(shè)備。同時(shí),本發(fā)明前述實(shí)施例所制得的顯示面板或觸控顯示設(shè)備,可應(yīng)用于本技術(shù)領(lǐng)域已知的任何需要顯示屏幕的電子裝置上,如顯示器、手機(jī)、筆記本電腦、攝影機(jī)、照相機(jī)、音樂播放器、行動(dòng)導(dǎo)航裝置、電視等需要顯示影像的電子裝置上。
上述實(shí)施例僅為了方便說明而舉例而已,本發(fā)明所主張的權(quán)利范圍自應(yīng)以權(quán)利要求所述為準(zhǔn),而非僅限于上述實(shí)施例。