專利名稱：交流接觸器延時(shí)控制方法及系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及交流接觸器控制技術(shù)領(lǐng)域，尤其是涉及一種交流接觸器延時(shí)控制方法及系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
交流接觸器廣泛應(yīng)用作電力的開(kāi)斷和控制電路，其利用主接點(diǎn)來(lái)開(kāi)閉電路，用輔助接點(diǎn)來(lái)執(zhí)行控制指令。主接點(diǎn)一般只有常開(kāi)接點(diǎn)，而輔助接點(diǎn)常有兩對(duì)具有常開(kāi)和常閉功能的接點(diǎn)，小型的接觸器也經(jīng)常作為中間繼電器配合主電路使用。交流接觸器的接點(diǎn)由銀鎢合金制成，具有良好的導(dǎo)電性和耐高溫?zé)g性。交流接觸器主要有四部分組成(1)電磁系統(tǒng)，包括吸引線圈、動(dòng)鐵芯和靜鐵芯； (2)觸頭系統(tǒng)，包括三組主觸頭和一至兩組常開(kāi)、常閉輔助觸頭，它和動(dòng)鐵芯是連在一起互相聯(lián)動(dòng)的；C3)滅弧裝置，一般容量較大的交流接觸器都設(shè)有滅弧裝置，以便迅速切斷電弧，免于燒壞主觸頭；(4)絕緣外殼及附件，各種彈簧、傳動(dòng)機(jī)構(gòu)、短路環(huán)、接線柱等。交流接觸器在頻繁的通斷情況下，由于其鐵心有的時(shí)候?qū)ξ粫?huì)產(chǎn)生誤差，漏磁會(huì)比較嚴(yán)重，所以經(jīng)常性閉合接觸器的線圈發(fā)熱量較大，這樣可能會(huì)造成交流接觸器的過(guò)熱損壞，因此通常需要在交流接觸器進(jìn)行閉合操作時(shí)進(jìn)行相應(yīng)的延時(shí)保護(hù)；常用的交流接觸器延時(shí)保護(hù)方法有兩種一種為軟件定時(shí)器的延時(shí)方式。對(duì)于軟件延時(shí)方式，雖然該方法可以靈活地調(diào)整延時(shí)時(shí)間，但存在以下缺陷a、當(dāng)有長(zhǎng)延時(shí)需求時(shí)，存在軟件可靠性問(wèn)題；b、當(dāng)出現(xiàn)軟件異常時(shí)無(wú)法知道當(dāng)前交流接觸器的狀態(tài)，故將出現(xiàn)不可預(yù)測(cè)的后果；C、因有部分MCU在軟件下載時(shí)會(huì)出現(xiàn)IO 口的電平跳動(dòng)，也會(huì)造成交流接觸器的頻繁通斷從而造成交流接觸器故障。另一種交流接觸器延時(shí)保護(hù)方法為硬件計(jì)數(shù)器的延時(shí)方式，其雖然可以彌補(bǔ)軟件延時(shí)的劣勢(shì)，但無(wú)法靈活的調(diào)整延時(shí)時(shí)間。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問(wèn)題是無(wú)法同時(shí)保證靈活地調(diào)整延時(shí)時(shí)間以及交流接觸器工作的可靠性。為解決上述技術(shù)問(wèn)題，本發(fā)明采用如下技術(shù)方案一種交流接觸器延時(shí)控制方法，包括以下步驟步驟Sl 通過(guò)調(diào)整所述計(jì)數(shù)時(shí)鐘信號(hào)(CPU_PWM)的周期值來(lái)改變交流接觸器動(dòng)作延時(shí)時(shí)間，并將延時(shí)計(jì)數(shù)時(shí)鐘信號(hào)經(jīng)過(guò)反饋電路輸入所述計(jì)數(shù)器將所述計(jì)數(shù)時(shí)鐘信號(hào)鎖住，以對(duì)所述交流接觸器的當(dāng)前狀態(tài)進(jìn)行鎖存，所述交流接觸器延時(shí)后閉合；步驟S2 當(dāng)檢測(cè)到MCU發(fā)生故障時(shí)，將MCU故障檢測(cè)信號(hào)及交流接觸器控制使能信號(hào)發(fā)送給計(jì)數(shù)器進(jìn)行復(fù)位；步驟S3 所述計(jì)數(shù)器釋放計(jì)數(shù)時(shí)鐘信號(hào)，所述交流接觸器在交流接觸器控制使能信號(hào)控制下斷開(kāi)。進(jìn)一步地，所述步驟Sl中，所述改變交流接觸器動(dòng)作延時(shí)時(shí)間的步驟具體包括步驟Sll 用戶提出延時(shí)時(shí)間修改請(qǐng)求。步驟S12 通信端口接收新設(shè)置的延時(shí)時(shí)間。步驟S13 讀取FRAM存儲(chǔ)器中原延時(shí)時(shí)間。步驟S14 判斷是否為新的延時(shí)時(shí)間，如是，則執(zhí)行步驟S15 ；若否，則執(zhí)行步驟 S18。步驟S15 將所述新的延時(shí)時(shí)間存入FRAM存儲(chǔ)器。步驟S16 計(jì)算延時(shí)時(shí)間將其轉(zhuǎn)換成對(duì)應(yīng)的PWM參數(shù)值。步驟S17 根據(jù)對(duì)應(yīng)的PWM參數(shù)值設(shè)置PWM的周期值。步驟S18 等待交流接觸器控制指令。進(jìn)一步地，所述步驟S2中，當(dāng)MCU軟件運(yùn)行正常時(shí)，將所述MCU故障檢測(cè)信號(hào)輸出高電平，這時(shí)交流接觸器控制開(kāi)關(guān)會(huì)根據(jù)交流接觸器控制使能信號(hào)的狀態(tài)變化控制交流接觸器。進(jìn)一步地，所述步驟S3中，當(dāng)MCU出現(xiàn)異常時(shí)，將MCU故障檢測(cè)信號(hào)輸出低電平， 所述計(jì)數(shù)器釋放計(jì)數(shù)時(shí)鐘信號(hào)，這時(shí)交流接觸器控制使能信號(hào)控制交流接觸器控制開(kāi)關(guān)固定輸出低電平，斷開(kāi)交流接觸器。本發(fā)明還提供一種交流接觸器延時(shí)控制系統(tǒng)，包括MCU故障檢測(cè)模塊、交流接觸器的控制使能模塊、計(jì)數(shù)時(shí)鐘信號(hào)模塊、計(jì)數(shù)器、交流接觸器控制開(kāi)關(guān)模塊及交流接觸器，通過(guò)調(diào)整所述計(jì)數(shù)時(shí)鐘信號(hào)模塊生成的計(jì)數(shù)時(shí)鐘信號(hào) (CPU_PWM)的周期值來(lái)改變所述交流接觸器的動(dòng)作延時(shí)時(shí)間，并將延時(shí)計(jì)數(shù)時(shí)鐘信號(hào)經(jīng)過(guò)反饋電路輸入所述計(jì)數(shù)器將所述計(jì)數(shù)時(shí)鐘信號(hào)鎖住，以對(duì)所述交流接觸器的當(dāng)前狀態(tài)進(jìn)行鎖存，所述交流接觸器延時(shí)后閉合，當(dāng)所述MCU故障檢測(cè)模塊檢測(cè)到MCU發(fā)生故障時(shí)，所述 MCU故障檢測(cè)模塊、交流接觸器的控制使能模塊分別將MCU故障檢測(cè)信號(hào)及交流接觸器控制使能信號(hào)發(fā)送給計(jì)數(shù)器進(jìn)行復(fù)位；所述計(jì)數(shù)器釋放計(jì)數(shù)時(shí)鐘信號(hào)，所述交流接觸器在交流接觸器控制使能信號(hào)控制下斷開(kāi)。進(jìn)一步地，所述MCU故障檢測(cè)信號(hào)為MCU故障檢測(cè)信號(hào)，由心跳檢測(cè)電路輸出；當(dāng) MCU運(yùn)行正常時(shí)，MCU故障檢測(cè)信號(hào)為高電平輸出；當(dāng)MCU運(yùn)行異常時(shí)，MCU故障檢測(cè)信號(hào)為低電平輸出。進(jìn)一步地，當(dāng)交流接觸器控制信號(hào)為高電平時(shí)，所述交流接觸器閉合，將計(jì)數(shù)時(shí)鐘信號(hào)鎖住，從而將交流接觸器控制信號(hào)鎖存在高電平；當(dāng)交流接觸器控制信號(hào)為低電平時(shí)， 所述交流接觸器斷開(kāi)，將計(jì)數(shù)時(shí)鐘信號(hào)釋放，等待交流接觸器控制使能信號(hào)操作。進(jìn)一步地，所述MCU運(yùn)行中通過(guò)看門狗喂狗端口提供小于600ms的喂狗信號(hào)輸入到MCU故障檢測(cè)信號(hào)模塊；當(dāng)MCU軟件停止喂狗時(shí)，MCU故障檢測(cè)信號(hào)CPU_ERR_L將輸出低電平；這時(shí)交流接觸器控制信號(hào)AC_CTRL_RLY會(huì)固定輸出低電平，切離所述交流接觸器。進(jìn)一步地，所述延時(shí)計(jì)算公式Tsw= 2n-l*TPWM, T延時(shí)與PWM寄存器TBPRD的關(guān)系表達(dá)式為
TBPRD = (fsystem*T 延時(shí))/2n ；T 延時(shí)=(TBPRD*2n)/fsystem ；其中，fsystem為系統(tǒng)頻率，TTBCLK為系統(tǒng)時(shí)鐘；進(jìn)一步地，所述系統(tǒng)延時(shí)時(shí)間Tsw的可設(shè)置范圍為4. 38ms 217天。本發(fā)明交流接觸器延時(shí)控制方法及系統(tǒng)既解決了單純軟件方式實(shí)現(xiàn)長(zhǎng)延時(shí)時(shí)對(duì)計(jì)數(shù)變量翻轉(zhuǎn)問(wèn)題的處理，保證了交流接觸器工作的可靠性；又解決了單純用硬件方式實(shí)現(xiàn)時(shí)出現(xiàn)延時(shí)時(shí)間修改的不靈活問(wèn)題。
圖1為本發(fā)明交流接觸器延時(shí)控制方法一實(shí)施例的流程示意圖；圖2為圖1的改變交流接觸器動(dòng)作延時(shí)時(shí)間的流程示意圖；圖3為本發(fā)明交流接觸器延時(shí)控制系統(tǒng)一實(shí)施例的原理示意圖；圖4為圖3中計(jì)數(shù)器的管腳定義及相應(yīng)輸出示意圖。
具體實(shí)施例方式下面結(jié)合附圖詳細(xì)說(shuō)明本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例。本發(fā)明交流接觸器延時(shí)控制方法及系統(tǒng)采用軟硬件結(jié)合的延時(shí)方式，即解決了單純軟件方式實(shí)現(xiàn)長(zhǎng)延時(shí)時(shí)對(duì)計(jì)數(shù)變量翻轉(zhuǎn)問(wèn)題的處理，又解決了單純用硬件方式實(shí)現(xiàn)時(shí)出現(xiàn)延時(shí)時(shí)間修改的不靈活問(wèn)題。請(qǐng)參閱圖1，圖1為本發(fā)明交流接觸器控制方法一實(shí)施例的原理示意圖。本發(fā)明交流接觸器延時(shí)控制方法包括以下步驟步驟Sl 通過(guò)調(diào)整所述計(jì)數(shù)時(shí)鐘信號(hào)(CPU_PWM)的周期值來(lái)改變交流接觸器動(dòng)作延時(shí)時(shí)間，并將延時(shí)計(jì)數(shù)時(shí)鐘信號(hào)經(jīng)過(guò)反饋電路輸入所述計(jì)數(shù)器將所述計(jì)數(shù)時(shí)鐘信號(hào)鎖住，以對(duì)所述交流接觸器的當(dāng)前狀態(tài)進(jìn)行鎖存，所述交流接觸器延時(shí)后閉合；步驟S2 當(dāng)檢測(cè)到MCU發(fā)生故障時(shí)，將MCU故障檢測(cè)信號(hào)及交流接觸器控制使能信號(hào)發(fā)送給計(jì)數(shù)器進(jìn)行復(fù)位；步驟S3 所述計(jì)數(shù)器釋放計(jì)數(shù)時(shí)鐘信號(hào)，所述交流接觸器在交流接觸器控制使能信號(hào)控制下斷開(kāi)。所述步驟Sl中，所述改變交流接觸器動(dòng)作延時(shí)時(shí)間的步驟具體包括步驟S11 用戶提出延時(shí)時(shí)間修改請(qǐng)求。步驟S12 通信端口接收新設(shè)置的延時(shí)時(shí)間。步驟S13 讀取FRAM存儲(chǔ)器中原延時(shí)時(shí)間。步驟S14 判斷是否為新的延時(shí)時(shí)間，如是，則執(zhí)行步驟S15 ；若否，則執(zhí)行步驟 S18。步驟S15 將所述新的延時(shí)時(shí)間存入FRAM存儲(chǔ)器。步驟S16 計(jì)算延時(shí)時(shí)間將其轉(zhuǎn)換成對(duì)應(yīng)的PWM參數(shù)值。步驟S17 根據(jù)對(duì)應(yīng)的PWM參數(shù)值設(shè)置PWM的周期值。步驟S18 等待交流接觸器控制指令。所述步驟S2中，當(dāng)MCU軟件運(yùn)行正常時(shí)，將所述MCU故障檢測(cè)信號(hào)輸出高電平，這時(shí)交流接觸器控制開(kāi)關(guān)會(huì)根據(jù)交流接觸器控制使能信號(hào)的狀態(tài)變化控制交流接觸器。當(dāng)檢測(cè)到MCU發(fā)生故障時(shí)，即MCU軟件運(yùn)行中通過(guò)看門狗喂狗端口提供小于600ms 的喂狗信號(hào)輸入到MCU故障檢測(cè)信號(hào)的前端電路。所述步驟S3中，當(dāng)MCU出現(xiàn)異常時(shí)，將MCU故障檢測(cè)信號(hào)輸出低電平，所述計(jì)數(shù)器釋放計(jì)數(shù)時(shí)鐘信號(hào)，這時(shí)交流接觸器控制使能信號(hào)控制交流接觸器控制開(kāi)關(guān)固定輸出低電平，斷開(kāi)交流接觸器。即當(dāng)出現(xiàn)MCU失控的情況下，系統(tǒng)將交流接觸器切離以保護(hù)負(fù)載設(shè)備。本發(fā)明還提供一種交流接觸器延時(shí)控制系統(tǒng)，請(qǐng)參閱圖3，圖3為本發(fā)明交流接觸器延時(shí)控制系統(tǒng)一實(shí)施例的原理示意圖。所述交流接觸器延時(shí)控制系統(tǒng)包括MCU故障檢測(cè)模塊10、交流接觸器的控制使能模塊20、計(jì)數(shù)時(shí)鐘信號(hào)模塊30、計(jì)數(shù)器40、交流接觸器控制開(kāi)關(guān)模塊50及交流接觸器 60，通過(guò)調(diào)整所述計(jì)數(shù)時(shí)鐘信號(hào)模塊30生成的計(jì)數(shù)時(shí)鐘信號(hào)(CPU_PWM)的周期值來(lái)改變交流接觸器60的動(dòng)作延時(shí)時(shí)間，并將延時(shí)計(jì)數(shù)時(shí)鐘信號(hào)經(jīng)過(guò)反饋電路輸入所述計(jì)數(shù)器40將所述計(jì)數(shù)時(shí)鐘信號(hào)鎖住，以對(duì)所述交流接觸器60的當(dāng)前狀態(tài)進(jìn)行鎖存，所述交流接觸器60 延時(shí)后閉合，當(dāng)所述MCU故障檢測(cè)模塊10檢測(cè)到MCU發(fā)生故障時(shí)，MCU故障檢測(cè)模塊10、交流接觸器的控制使能模塊20分別將MCU故障檢測(cè)信號(hào)及交流接觸器控制使能信號(hào)發(fā)送給計(jì)數(shù)器40進(jìn)行復(fù)位；所述計(jì)數(shù)器40釋放計(jì)數(shù)時(shí)鐘信號(hào)，所述交流接觸器60在交流接觸器控制使能信號(hào)控制下斷開(kāi)。本發(fā)明交流接觸器延時(shí)控制系統(tǒng)包括一個(gè)輸入信號(hào)、一個(gè)輸出信號(hào)和一個(gè)反饋信號(hào)，即MCU故障檢測(cè)模塊10生成MCU故障檢測(cè)信號(hào)CPU_ERR_L及交流接觸器的控制使能模塊20生成交流接觸器控制使能信號(hào)AC_CTRL_EN_H的輸入、計(jì)數(shù)時(shí)鐘信號(hào)模塊30及反饋電路生成的計(jì)數(shù)時(shí)鐘信號(hào)(CPU_PWM)及所述計(jì)數(shù)器40輸出的交流接觸器控制信號(hào)AC_CTRL_ RLY ；所述交流接觸器延時(shí)控制系統(tǒng)分別的控制邏輯如下MCU故障檢測(cè)信號(hào)CPU_ERR_L為MCU故障檢測(cè)信號(hào)，由心跳檢測(cè)電路輸出；當(dāng)MCU 運(yùn)行正常時(shí)，MCU故障檢測(cè)信號(hào)CPU_ERR_L為高電平輸出；當(dāng)MCU運(yùn)行異常時(shí)，即MCU未及時(shí)提供喂狗信號(hào)輸出，MCU故障檢測(cè)信號(hào)CPU_ERR_L為低電平輸出。交流接觸器控制使能信號(hào)AC_CTRL_EN_H根據(jù)系統(tǒng)的實(shí)際需要對(duì)交流接觸器進(jìn)行閉合和斷開(kāi)控制；當(dāng)交流接觸器控制使能信號(hào)AC_CTRL_EN_H為高電平時(shí)，交流接觸器延時(shí)一定時(shí)間后閉合；當(dāng)交流接觸器控制使能信號(hào)AC_CTRL_EN_H為低電平時(shí)，交流接觸器立即斷開(kāi)； 計(jì)數(shù)時(shí)鐘信號(hào)CPU_PWM為計(jì)數(shù)器芯片提供計(jì)數(shù)時(shí)鐘信號(hào)，通過(guò)調(diào)整計(jì)數(shù)時(shí)鐘信號(hào)CPU_PWM 的周期值來(lái)改變延時(shí)時(shí)間，該信號(hào)由MCU提供；交流接觸器控制信號(hào)AC_CTRL_RLY為延時(shí)后控制交流接觸器動(dòng)作的信號(hào)；并經(jīng)過(guò)一路反饋電路轉(zhuǎn)換成計(jì)數(shù)時(shí)鐘信號(hào)的輸入對(duì)當(dāng)前狀態(tài)進(jìn)行鎖存；當(dāng)交流接觸器控制信號(hào)AC_CTRL_RLY為高電平時(shí)，交流接觸器60閉合，將計(jì)數(shù)時(shí)鐘信號(hào)鎖住，從而將交流接觸器控制信號(hào)AC_CTRL_RLY鎖存在高電平；當(dāng)交流接觸器控制信號(hào)AC_CTRL_RLY為低電平時(shí)，交流接觸器60斷開(kāi)，將計(jì)數(shù)時(shí)鐘信號(hào)釋放，等待交流接觸器控制使能信號(hào)操作。
計(jì)數(shù)器40芯片的控制邏輯如表1所示
權(quán)利要求
1.一種交流接觸器延時(shí)控制方法，其特征在于，所述方法包括以下步驟步驟Sl 通過(guò)調(diào)整所述計(jì)數(shù)時(shí)鐘信號(hào)(CPU_PWM)的周期值來(lái)改變交流接觸器動(dòng)作延時(shí)時(shí)間，并將延時(shí)計(jì)數(shù)時(shí)鐘信號(hào)經(jīng)過(guò)反饋電路輸入所述計(jì)數(shù)器將所述計(jì)數(shù)時(shí)鐘信號(hào)鎖住，以對(duì)所述交流接觸器的當(dāng)前狀態(tài)進(jìn)行鎖存，所述交流接觸器延時(shí)后閉合；步驟S2 當(dāng)檢測(cè)到MCU發(fā)生故障時(shí)，將MCU故障檢測(cè)信號(hào)及交流接觸器控制使能信號(hào)發(fā)送給計(jì)數(shù)器進(jìn)行復(fù)位；步驟S3 所述計(jì)數(shù)器釋放計(jì)數(shù)時(shí)鐘信號(hào)，所述交流接觸器在交流接觸器控制使能信號(hào)控制下斷開(kāi)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的交流接觸器延時(shí)控制方法，其特征在于，所述步驟Sl中，所述改變交流接觸器動(dòng)作延時(shí)時(shí)間的步驟具體包括步驟Sll 用戶提出延時(shí)時(shí)間修改請(qǐng)求； 步驟S12 通信端口接收新設(shè)置的延時(shí)時(shí)間； 步驟S13 讀取FRAM存儲(chǔ)器中原延時(shí)時(shí)間；步驟S14 判斷是否為新的延時(shí)時(shí)間，如是，則執(zhí)行步驟S15 ；若否，則執(zhí)行步驟S18 ； 步驟S15 將所述新的延時(shí)時(shí)間存入FRAM存儲(chǔ)器； 步驟S16 計(jì)算延時(shí)時(shí)間將其轉(zhuǎn)換成對(duì)應(yīng)的PWM參數(shù)值； 步驟S17 根據(jù)對(duì)應(yīng)的PWM參數(shù)值設(shè)置PWM的周期值； 步驟S18 等待交流接觸器控制指令。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的交流接觸器延時(shí)控制方法，其特征在于，所述步驟S2中，當(dāng) MCU軟件運(yùn)行正常時(shí)，將所述MCU故障檢測(cè)信號(hào)輸出高電平，這時(shí)交流接觸器控制開(kāi)關(guān)會(huì)根據(jù)交流接觸器控制使能信號(hào)的狀態(tài)變化控制交流接觸器。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的交流接觸器延時(shí)控制方法，其特征在于，所述步驟S3中，當(dāng) MCU出現(xiàn)異常時(shí)，將MCU故障檢測(cè)信號(hào)輸出低電平，所述計(jì)數(shù)器釋放計(jì)數(shù)時(shí)鐘信號(hào)，這時(shí)交流接觸器控制使能信號(hào)控制交流接觸器控制開(kāi)關(guān)固定輸出低電平，斷開(kāi)交流接觸器。
5.一種交流接觸器延時(shí)控制系統(tǒng)，其特征在于，所述系統(tǒng)包括MCU故障檢測(cè)模塊、交流接觸器的控制使能模塊、計(jì)數(shù)時(shí)鐘信號(hào)模塊、計(jì)數(shù)器、交流接觸器控制開(kāi)關(guān)模塊及交流接觸器，通過(guò)調(diào)整所述計(jì)數(shù)時(shí)鐘信號(hào)模塊生成的計(jì)數(shù)時(shí)鐘信號(hào) (CPU_PWM)的周期值來(lái)改變所述交流接觸器的動(dòng)作延時(shí)時(shí)間，并將延時(shí)計(jì)數(shù)時(shí)鐘信號(hào)經(jīng)過(guò)反饋電路輸入所述計(jì)數(shù)器將所述計(jì)數(shù)時(shí)鐘信號(hào)鎖住，以對(duì)所述交流接觸器的當(dāng)前狀態(tài)進(jìn)行鎖存，所述交流接觸器延時(shí)后閉合，當(dāng)所述MCU故障檢測(cè)模塊檢測(cè)到MCU發(fā)生故障時(shí)，所述 MCU故障檢測(cè)模塊、交流接觸器的控制使能模塊分別將MCU故障檢測(cè)信號(hào)及交流接觸器控制使能信號(hào)發(fā)送給計(jì)數(shù)器進(jìn)行復(fù)位；所述計(jì)數(shù)器釋放計(jì)數(shù)時(shí)鐘信號(hào)，所述交流接觸器在交流接觸器控制使能信號(hào)控制下斷開(kāi)。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的交流接觸器延時(shí)控制系統(tǒng)，其特征在于，所述MCU故障檢測(cè)信號(hào)為MCU故障檢測(cè)信號(hào)，由心跳檢測(cè)電路輸出；當(dāng)MCU運(yùn)行正常時(shí)，MCU故障檢測(cè)信號(hào)為高電平輸出；當(dāng)MCU運(yùn)行異常時(shí)，MCU故障檢測(cè)信號(hào)為低電平輸出。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的交流接觸器延時(shí)控制系統(tǒng)，其特征在于，當(dāng)交流接觸器控制信號(hào)為高電平時(shí)，所述交流接觸器閉合，將計(jì)數(shù)時(shí)鐘信號(hào)鎖住，從而將交流接觸器控制信號(hào)鎖存在高電平；當(dāng)交流接觸器控制信號(hào)為低電平時(shí)，所述交流接觸器斷開(kāi)，將計(jì)數(shù)時(shí)鐘信號(hào)釋放，等待交流接觸器控制使能信號(hào)操作。
8.根據(jù)權(quán)利要求5所述的交流接觸器延時(shí)控制系統(tǒng)，其特征在于，所述MCU運(yùn)行中通過(guò)看門狗喂狗端口提供小于600ms的喂狗信號(hào)輸入到MCU故障檢測(cè)信號(hào)模塊；當(dāng)MCU軟件停止喂狗時(shí)，MCU故障檢測(cè)信號(hào)CPU_ERR_L將輸出低電平；這時(shí)交流接觸器控制信號(hào)AC_CTRL_ RLY會(huì)固定輸出低電平，切離所述交流接觸器。
9.根據(jù)權(quán)利要求5所述的交流接觸器延時(shí)控制系統(tǒng)，其特征在于，所述延時(shí)計(jì)算公式T 2n-l*TP麗，T延時(shí)與P麗寄存器TBPRD的關(guān)系表達(dá)式為TBPRD = (fsystem*T 延時(shí))/2n ；T 延時(shí)=(TBPRD*2n)/fsystem ；其中，fsystem為系統(tǒng)頻率，TTBCLK為系統(tǒng)時(shí)鐘；
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的交流接觸器延時(shí)控制系統(tǒng)，其特征在于，所述系統(tǒng)延時(shí)時(shí)間 Is時(shí)的可設(shè)置范圍為4. 38ms 217天。
全文摘要
本發(fā)明公開(kāi)了一種交流接觸器延時(shí)控制方法及系統(tǒng)，所述方法包括以下步驟步驟S1通過(guò)調(diào)整所述計(jì)數(shù)時(shí)鐘信號(hào)(CPU_PWM)的周期值來(lái)改變交流接觸器動(dòng)作延時(shí)時(shí)間，并將延時(shí)計(jì)數(shù)時(shí)鐘信號(hào)經(jīng)過(guò)反饋電路輸入所述計(jì)數(shù)器將所述計(jì)數(shù)時(shí)鐘信號(hào)鎖住，以對(duì)所述交流接觸器的當(dāng)前狀態(tài)進(jìn)行鎖存，所述交流接觸器延時(shí)后閉合；步驟S2當(dāng)檢測(cè)到MCU發(fā)生故障時(shí)，將MCU故障檢測(cè)信號(hào)及交流接觸器控制使能信號(hào)發(fā)送給計(jì)數(shù)器進(jìn)行復(fù)位；步驟S3所述計(jì)數(shù)器釋放計(jì)數(shù)時(shí)鐘信號(hào)，所述交流接觸器在交流接觸器控制使能信號(hào)控制下斷開(kāi)。本發(fā)明既保證了交流接觸器工作的可靠性；又解決了單純用硬件方式實(shí)現(xiàn)時(shí)出現(xiàn)修改延時(shí)時(shí)間不靈活的問(wèn)題。
文檔編號(hào)H01H47/18GK102324341SQ20111027033
公開(kāi)日2012年1月18日 申請(qǐng)日期2011年9月13日 優(yōu)先權(quán)日2011年9月13日
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