一種tcam自檢功能的芯片實現(xiàn)方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及到一種芯片轉(zhuǎn)發(fā)硬件的管理技術(shù)，尤其涉及到一種TCAM自檢功能的芯片實現(xiàn)方法。
【背景技術(shù)】
[0002]隨著網(wǎng)絡(luò)的迅速發(fā)展，網(wǎng)絡(luò)的應(yīng)用范圍不斷擴大，TCAM( ternary contentaddressable memory，三態(tài)內(nèi)容尋址存儲器)作為網(wǎng)絡(luò)芯片的基本轉(zhuǎn)發(fā)硬件裝置，在網(wǎng)絡(luò)芯片中有著廣泛的應(yīng)用。網(wǎng)路設(shè)備軟件負責(zé)管理TCAM，如增/刪TCAM等。
[0003]隨著軟件復(fù)雜度不斷提高，軟件在芯片開發(fā)期出現(xiàn)誤寫TCAM的錯誤可能性也隨之增加。由于TCAM是根據(jù)內(nèi)容匹配，如果軟件出現(xiàn)問題，如寫芯片TCAM的時候出現(xiàn)順序錯誤等，這時就會誤匹配TCAM，而TCAM存儲的內(nèi)容比較多，如何快速的檢測硬件TCAM內(nèi)容是調(diào)試網(wǎng)絡(luò)設(shè)備和軟件必須解決的問題。
[0004]為了解決上述問題，現(xiàn)采取的技術(shù)方案有:測試者根據(jù)測試用例，通過軟件配置TCAM存儲信息，對網(wǎng)絡(luò)設(shè)備輸入測試用例報文，觀察芯片對測試報文的轉(zhuǎn)發(fā)行為是否和測試用例期望行為相符合，從而判斷芯片TCAM信息是否配置正確。
[0005]上述方案雖然能對硬件TCAM內(nèi)容進行檢測，但是，由于TCAM存儲內(nèi)容相當(dāng)多，在實際操作中對TCAM的每條存儲信息都發(fā)報文進行測試，不僅需要測試人員編寫測試用例，測試時間較長。而且網(wǎng)絡(luò)芯片的FIB裝置比較復(fù)雜，不僅有TCAM還有其它轉(zhuǎn)發(fā)裝置，通過觀察報文的轉(zhuǎn)發(fā)行為并不能充分證明TCAM存儲信息的正確性。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0006]本發(fā)明的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)的缺陷，提供一種TCAM自檢功能的芯片實現(xiàn)方法，通過將TCAM內(nèi)容加載到芯片內(nèi)部的檢測硬件進行檢測，以實現(xiàn)快速、精確地檢查全部TCAM配置。
[0007]為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提出如下技術(shù)方案:一種TCAM自檢功能的芯片實現(xiàn)方法，包括:芯片自檢軟件逐條讀取用戶輸入的TCAM內(nèi)容，并將其加載到芯片內(nèi)指定的檢測硬件進行檢測，所述自檢軟件讀取檢測硬件中的檢測結(jié)果并判斷其是否正常。
[0008]優(yōu)選地，所述芯片自檢軟件將所述TCAM內(nèi)容轉(zhuǎn)換成芯片內(nèi)部的TCAM塊索引值，指定所述檢測硬件對對應(yīng)的TCAM塊進行檢測。
[0009]優(yōu)選地，所述芯片自檢軟件將讀取的TCAM內(nèi)容加載到檢測硬件查詢請求信息中，所述檢測硬件逐條讀取所述請求信息，并將TCAM內(nèi)容在指定的TCAM塊做檢查。
[0010]優(yōu)選地，所述芯片自檢軟件還將用戶期望的匹配結(jié)果寫入自檢軟件期望查詢結(jié)果中。
[0011]優(yōu)選地，所述檢測硬件將查找到的索引結(jié)果和自檢軟件期望查詢結(jié)果中的期望值相比較，并將比較結(jié)果存入檢測硬件查詢返回結(jié)果中。
[0012]優(yōu)選地，所述自檢軟件讀取所述檢測硬件中的返回結(jié)果并判斷其是否正常，最后將判斷結(jié)果反饋給客戶。
[0013]優(yōu)選地，所述檢測硬件將TCAM內(nèi)容的關(guān)鍵信息送入芯片的TCAM查找模塊，所述TCAM查找模塊將查找結(jié)果存入所述檢測硬件中。
[0014]優(yōu)選地，所述芯片自檢軟件的自檢功能由其對應(yīng)的自檢控制器使能。
[0015]優(yōu)選地，所述自檢軟件為TCAM BIST應(yīng)用軟件，所述檢測硬件為TCAM BIST檢測硬件。
[0016]優(yōu)選地，所述自檢軟件判斷的內(nèi)容包括:TCAM內(nèi)容是否查找到，及查找結(jié)果的索引值是否符合所述軟件期望查詢值。
[0017]通過本發(fā)明提出的TCAM自檢功能的芯片實現(xiàn)方法，當(dāng)用戶在軟件開發(fā)初期和后期維護時，發(fā)現(xiàn)TCAM查找錯誤引起的錯誤時可以快速找到出錯的TCAM內(nèi)容，找出軟件問題，檢測由軟件自動完成，根據(jù)用戶需要批量完成查找，從而提高調(diào)試和定位問題效率。
【附圖說明】
[0018]圖1是本發(fā)明TCAM自檢功能的芯片實現(xiàn)方法的流程示意圖；
[0019]圖2是本發(fā)明芯片BIST裝置檢測TCAM的流程示意圖。
【具體實施方式】
[0020]下面將結(jié)合本發(fā)明的附圖，對本發(fā)明實施例的技術(shù)方案進行清楚、完整的描述。
[0021]本發(fā)明所揭示的一種TCAM自檢功能的芯片實現(xiàn)方法，通過將用戶輸入的TCAM信息，由應(yīng)用軟件送入芯片內(nèi)建的TCAM檢測硬件，自動完成TCAM檢測，提示用戶硬件TCAM查找到結(jié)果和期望值不相符的結(jié)果，方便用戶調(diào)試TCAM代碼和定位網(wǎng)絡(luò)設(shè)備TCAM相關(guān)業(yè)務(wù)。
[0022]具體地，結(jié)合圖1和圖2所示，本發(fā)明實施例所揭示的一種TCAM自檢功能的芯片實現(xiàn)方法，包括以下步驟:
[0023]首先，判斷芯片是否使能BIST功能，BIST功能的使能可由芯片內(nèi)的TCAMBIST控制器所控制，若使能，則芯片TCAM BIST應(yīng)用軟件逐條讀取用戶輸入的TCAM信息，并將該TCAM信息加載到芯片內(nèi)的TCAM BIST檢測硬件進行檢測。
[0024]具體地，芯片TCAMBIST應(yīng)用軟件將讀取的TCAM信息轉(zhuǎn)換成芯片內(nèi)部的TCAM硬件塊存儲位置索引，根據(jù)該存儲位置索引指定TCAM BIST檢測硬件對對應(yīng)的TCAM硬件塊進行檢測。如圖2所示，若轉(zhuǎn)換過來的存儲位置索引值為2 JljTCAM BIST檢測硬件則對對應(yīng)的TCAM2硬件塊進行檢測。芯片TCAM BIST應(yīng)用軟件還將讀取的TCAM信息加載到TcamBist查詢請求信息中，并將用戶期望的匹配結(jié)果寫入TcamBist期望查詢結(jié)果中。
[0025]芯片TcamBist檢測硬件逐條讀取TcamBi st查詢請求信息，在指定的TCAM塊做檢查。具體地，芯片TcamBist檢測硬件的檢測過程包括:先將TCAM內(nèi)容的關(guān)鍵信息送入芯片的TCAM查找模塊進行查找，再將查找到的索引結(jié)果和期望索引值相比較，并將比較結(jié)果存入TcamBist查詢返回結(jié)果中。在該檢測過程中，TCAM查找模塊查找到相應(yīng)結(jié)果后，將查找結(jié)果存入芯片TcamBist檢測硬件中。
[0026]最后TCAM BIST應(yīng)用軟件讀取TcamBist查詢返回結(jié)果，并判斷結(jié)果是否正常，如TCAM內(nèi)容是否查找到，及查找結(jié)果的索引值是否符合軟件期望查詢值。然后將判斷出的結(jié)果及時反饋給用戶，從而及時發(fā)現(xiàn)軟件問題。
[0027]通過本發(fā)明提出的自動檢測TCAM的方法，當(dāng)用戶在軟件開發(fā)初期和后期維護時，可以快速找到出錯的TCAM內(nèi)容，找出軟件問題，降低了軟件開發(fā)初期調(diào)試TCAM的時間，提高TCAM測試效率。
[0028]本發(fā)明的技術(shù)內(nèi)容及技術(shù)特征已揭示如上，然而熟悉本領(lǐng)域的技術(shù)人員仍可能基于本發(fā)明的教示及揭示而作種種不背離本發(fā)明精神的替換及修飾，因此，本發(fā)明保護范圍應(yīng)不限于實施例所揭示的內(nèi)容，而應(yīng)包括各種不背離本發(fā)明的替換及修飾，并為本專利申請權(quán)利要求所涵蓋。
【主權(quán)項】
1.一種TCAM自檢功能的芯片實現(xiàn)方法，其特征在于，包括:芯片自檢軟件逐條讀取用戶輸入的TCAM內(nèi)容，并將其加載到芯片內(nèi)指定的檢測硬件進行檢測，所述自檢軟件讀取檢測硬件中的檢測結(jié)果并判斷其是否正常。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的TCAM自檢功能的芯片實現(xiàn)方法，其特征在于，所述芯片自檢軟件將所述TCAM內(nèi)容轉(zhuǎn)換成芯片內(nèi)部的TCAM塊索引值，指定所述檢測硬件對對應(yīng)的TCAM塊進行檢測。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的TCAM自檢功能的芯片實現(xiàn)方法，其特征在于，所述芯片自檢軟件將讀取的TCAM內(nèi)容加載到檢測硬件查詢請求信息中，所述檢測硬件逐條讀取所述請求信息，在指定的TCAM塊做檢查。4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的TCAM自檢功能的芯片實現(xiàn)方法，其特征在于，所述芯片自檢軟件還將用戶期望的匹配結(jié)果寫入自檢軟件期望查詢結(jié)果中。5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的TCAM自檢功能的芯片實現(xiàn)方法，其特征在于，所述檢測硬件將查找到的索引結(jié)果和自檢軟件期望查詢結(jié)果中的期望值相比較，并將比較結(jié)果存入檢測硬件查詢返回結(jié)果中。6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的TCAM自檢功能的芯片實現(xiàn)方法，其特征在于，所述自檢軟件讀取所述檢測硬件中的返回結(jié)果并判斷其是否正常，最后將判斷結(jié)果反饋給客戶。7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的TCAM自檢功能的芯片實現(xiàn)方法，其特征在于，所述檢測硬件將TCAM內(nèi)容的關(guān)鍵信息送入芯片的TCAM查找模塊，所述TCAM查找模塊將查找結(jié)果存入所述檢測硬件中。8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的TCAM自檢功能的芯片實現(xiàn)方法，其特征在于，所述芯片的自檢功能由相應(yīng)的自檢控制器使能。9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的TCAM自檢功能的芯片實現(xiàn)方法，其特征在于，所述自檢軟件為TCAM BIST應(yīng)用軟件，所述檢測硬件為TCAM BIST檢測硬件。10.根據(jù)權(quán)利要求6所述的TCAM自檢功能的芯片實現(xiàn)方法，其特征在于，所述自檢軟件的判斷結(jié)果包括:TCAM內(nèi)容是否查找到，及查找結(jié)果的索引值是否符合所述軟件期望查詢值。
【專利摘要】本發(fā)明揭示了一種TCAM自檢功能的芯片實現(xiàn)方法，通過逐條讀取TCAM內(nèi)容，并將其加載到芯片檢測硬件BIST，硬件BIST將TCAM內(nèi)容送入芯片的查找模塊，芯片查找模塊將查找結(jié)果存入BIST裝置，通過讀取芯片檢測結(jié)果，從而連續(xù)檢查全部TCAM配置。本發(fā)明在軟件開發(fā)芯片初期和后期維護時，可以快速定位發(fā)現(xiàn)TCAM錯誤，找出軟件問題，降低了軟件開發(fā)初期調(diào)試TCAM時間，提高測試效率。
【IPC分類】G11C29/56
【公開號】CN105679376
【申請?zhí)枴緾N201610014139
【發(fā)明人】龔源泉, 常志恒, 周杰, 徐志欣
【申請人】盛科網(wǎng)絡(luò)（蘇州）有限公司
【公開日】2016年6月15日
【申請日】2016年1月11日