本發(fā)明涉及存儲
技術領域：
，特別是線序測試方法、裝置及電子設備。
背景技術：
：存儲器作為存儲數(shù)據(jù)的器件，常用于存儲電子設備的數(shù)據(jù)。具體而言，存儲器的多個引腳可與電子設備的多個引腳對應連接，以實現(xiàn)數(shù)據(jù)的交互。然而，存儲器的引腳和電子設備的引腳的連接關系并不是統(tǒng)一固定的，例如存儲器的任一引腳連接至電子設備的任一引腳，從而導致不同產(chǎn)品中的存儲器和電子設備之間的引腳連接關系可能并不相同。而本申請的發(fā)明人在實踐中發(fā)現(xiàn)，對存儲器進行諸如調(diào)試(debug)等工作時，需要用到存儲器與電子設備之間的引腳連接關系，但是此時相關人員一般僅能依賴產(chǎn)品出廠時，所附帶的存儲器與電子設備之間的硬件圖才能確定上述引腳連接關系。但是，若該硬件圖丟失或者出錯，則很難獲取上述引腳連接關系。因此現(xiàn)有技術存在不足，有改進之必要。技術實現(xiàn)要素：本發(fā)明提供了線序測試方法、裝置及電子設備，能夠快速、準確地測試出存儲器和電子設備之間引腳連接關系(即線序)。本發(fā)明第一方面提供一種線序測試方法，用于測試存儲器和與其連接的電子設備之間的引腳連接關系，包括：以至少一個測試圖案對該存儲器進行測試，得到至少一個第一數(shù)據(jù)；根據(jù)該測試圖案與該存儲器的引腳之間的映射關系，預估以至少一個該測試圖案對該存儲器進行測試時，所應得到的至少一個第二數(shù)據(jù)；以及根據(jù)該至少一個第一數(shù)據(jù)和該至少一個第二數(shù)據(jù)，確定該存儲器和該電子設備之間的引腳連接關系。本發(fā)明第二方面提供一種線序測試裝置，用于測試存儲器和與其連接的電子設備之間的引腳連接關系，包括：測試模塊，用于以至少一個測試圖案對該存儲器進行測試，得到至少一個第一數(shù)據(jù)；預估模塊，用于根據(jù)該測試圖案與該存儲器的引腳之間的映射關系，預估以至少一個該測試圖案對該存儲器進行測試時，所應得到的至少一個第二數(shù)據(jù)；以及確定模塊，用于根據(jù)該至少一個第一數(shù)據(jù)和該至少一個第二數(shù)據(jù)，確定該存儲器和該電子設備之間的引腳連接關系。本發(fā)明第三方面提供一種電子設備，包括多個引腳、處理核心和控制端口；該多個引腳分別與存儲器的多個引腳對應連接；該控制端口用于與該存儲器的受控端口連接；該處理核心用于采用如上所述的線序測試方法來確定該存儲器和該電子設備之間的引腳連接關系。上述方案中，利用測試圖案對存儲器進行測試，以得到與存儲器連接的電子設備輸出的第一數(shù)據(jù)，并獲取預估的該測試圖案對應的存儲器輸出的第二數(shù)據(jù)，根據(jù)電子設備與存儲器具有連接關系的管腳具有相同輸出的原理，通過對比第一數(shù)據(jù)和第二數(shù)據(jù)，可快速、準確地測試出存儲器和電子設備之間引腳連接關系。附圖說明圖1是本發(fā)明的線序測試方法一應用場景中的存儲器與電子設備之間的連接關系示意圖；圖2是本發(fā)明的線序測試方法的一實施例的流程圖；圖3是圖2中的步驟s21的實施例的流程示意圖；圖4是圖2中的步驟s21的實施例的流程示意圖；圖5是圖2中的步驟23的實施例的流程示意圖；圖6是是圖2中的步驟s23的實施例的流程示意圖；圖7是本發(fā)明的線序測試方法一應用場景中采用的測試圖案的示意圖；圖8是圖7所示的測試圖案對應可確定的存儲器的引腳示意圖；圖9是以圖7所示的測試圖案進行測試而得到的第一數(shù)據(jù)的示意圖；圖10是本發(fā)明的線序測試方法另一應用場景中采用的測試圖案的示意圖；圖11是本發(fā)明的線序測試方法再一應用場景中采用的測試圖案的示意圖；圖12是本發(fā)明的線序測試方法另一實施例的部分流程圖；圖13是本發(fā)明的線序測試裝置的一實施例的結構示意圖；圖14是本發(fā)明的電子設備的一實施例的結構示意圖。具體實施方式以下描述中，為了說明而不是為了限定，提出了諸如特定系統(tǒng)結構、接口、技術之類的具體細節(jié)，以便透徹理解本申請。然而，本領域的技術人員應當清楚，在沒有這些具體細節(jié)的其它實施例中也可以實現(xiàn)本申請。在其它情況中，省略對眾所周知的裝置、電路以及方法的詳細說明，以免不必要的細節(jié)妨礙本申請的描述。請參閱圖1，圖1是本發(fā)明線序測試方法一應用場景中的存儲器與電子設備之間的引腳連接關系示意圖。本實施例中，存儲器11包括多個引腳，例如引腳dq0-dq15，電子設備12同樣包括多個引腳，例如引腳dq0-dq15。其中，存儲器11與電子設備12的引腳一一連接，以實現(xiàn)電子設備12向存儲器11中寫入數(shù)據(jù)以及從存儲器11中讀取數(shù)據(jù)。需要說明的是，圖1僅示范性給出一應用場景中的存儲器與電子設備之間的引腳連接關系，此并非為對本發(fā)明中的存儲器與電子設備之間的引腳連接關系的限定，例如在圖1中存儲器11的引腳dq4連接至了電子設備12的引腳dq5，但是在另一實施例中，存儲器11的引腳dq4可以連接至電子設備12的引腳dq3或者其他引腳。另外，需要說明的是，在不查看硬件圖或者利用本發(fā)明實施例提供的線序測試方式的情況下，本領域技術人員一般并不清楚存儲器11和電子設備12之間的引腳連接關系。如圖1所示，本實施例的存儲器11和電子設備12的數(shù)據(jù)引腳均為16個。但是，在其他實施例中，存儲器11的引腳數(shù)量和電子設備12的引腳數(shù)量均不受限制，例如可以為8個或者32個等。本實施例中，該存儲器11可以支持指令地址調(diào)訓(commandaddresstraining，以下簡稱catraining)功能，即可向存儲器11的指令地址(英文：commandaddress，簡稱：ca)線輸入特定的ca測試圖案(pattern)，并從存儲器11至少部分上述引腳中獲取到與該ca測試圖案對應的數(shù)據(jù)，以校準時鐘和ca線之間的關系。例如該存儲器11為低功耗雙數(shù)據(jù)速率同步動態(tài)隨機存儲器(lowpowerdoubledataratesdram，lpddr)，諸如lpddr3等。該電子設備11例如可為一控制系統(tǒng)，如為片上系統(tǒng)(systemonchip，soc)；當然，電子設備也可以為任何可讀寫存儲器的裝置。鑒于在硬件圖缺失或者錯誤的情況下，本領域技術人員難以獲取上述存儲器11與上述電子設備12之間的線序的情況。本發(fā)明提供了一種線序測試方法，可快速、準確地測試出上述存儲器11與電子設備12之間的引腳連接關系。請結合參閱圖2，圖2是本發(fā)明的線序測試方法的一實施例的流程圖。該測試方法可由線序測試裝置執(zhí)行，該線序測試裝置可集成于電子設備中，或者與電子設備為分離的兩個獨立設備。該測試方法包括以下步驟：s21：以至少一個測試圖案對存儲器進行測試，得到至少一個第一數(shù)據(jù)。s22：根據(jù)該測試圖案與該存儲器的引腳之間的映射關系，預估以至少一個該測試圖案對該存儲器進行測試時，所應得到的至少一個第二數(shù)據(jù)。s23：根據(jù)該至少一個第一數(shù)據(jù)和該至少一個第二數(shù)據(jù)，確定該存儲器和該電子設備之間的引腳連接關系。由于存儲器的引腳與電子設備的引腳之間存在連接關系，故存儲器的引腳輸出的數(shù)據(jù)會輸入至電子設備的對應引腳上。換句話說，測試時，存儲器和電子設備之間相連接的引腳上的數(shù)據(jù)是相同的，以圖1為例，存儲器dq0和電子設備dq0上的數(shù)據(jù)是相同的。因而，通過對比在測試時從電子設備的引腳得到的第一數(shù)據(jù)以及根據(jù)該測試圖案以及預存映射關系確定的存儲器的引腳應當輸出的第二數(shù)據(jù)，可以快速、準確地測試出存儲器和電子設備之間的引腳連接關系。其中，在上述s21中，每個測試圖案可以包括：多個測試符號。其中該多個測試符號主要分為第一類測試符號和第二類測試符號。例如，在以多個設定電壓值作為測試符號的實施例中，0v的輸入電壓為第一類測試符號，-5v和5v的輸入電壓為第二類測試符號。又例如，以二進制符號作為測試符號的實施例中，該第一類測試符號為二進制中的“0”，該第二類測試符號為二進制中的“1”?；蛘?，該第一類測試符號為二進制中的“1”，該第二類測試符號為二進制中的“0”。在上述s21中，該第一數(shù)據(jù)為電子設備的引腳上的數(shù)據(jù)。其中，一個測試圖案對應一個第一數(shù)據(jù)。其中，在步驟s21中，主要采用catraining的方式來進行測試。但是在其他實施例中，也可通過其他向存儲器輸入測試圖案且能夠在其引腳輸出預期數(shù)據(jù)的其他方式進行測試。在進行catraining測試的實施例中，為提高每條ca線的利用率，可將測試圖案中每兩個測試符號作為一條ca線的輸入。請結合參照圖3，圖3是圖2中的步驟s21的實施例的流程示意圖。該步驟s21包括以下子步驟：s211：檢測存儲器的時鐘信號；s212：當存儲器的時鐘信號處于上升沿時，向存儲器的ca線輸入ca線對應的一個測試符號；s213：當存儲器的時鐘信號處于下降沿時，向存儲器的ca線輸入ca線對應的另一個測試符號。例如，存儲器的ca線ca0用于測試存儲器的數(shù)據(jù)線dq0和dq1的線序。在滿足設定時序后，線序測試裝置在存儲器的時鐘信號處于上升沿時，向ca0輸入與該dq0對應的測試符號，在存儲器的時鐘信號處于下降沿時，向ca0輸入與該dq1對應的測試符號。通過將ca線復用于測試兩條數(shù)據(jù)線，可提高存儲器的ca線的利用率。請結合參照圖4，圖4是圖2中的步驟s21的實施例的流程示意圖。保證測試的準確性，該步驟s21具體包括以下子步驟：s214：連續(xù)多次地以同一測試圖案對存儲器進行測試，并于電子設備的引腳上得到多個測試結果。s215：將該多個測試結果中連續(xù)出現(xiàn)次數(shù)最多的一個作為以該測試圖案所測試得到的第一數(shù)據(jù)。本實施例，可以連續(xù)地多次地以同一測試圖案來對存儲器進行多次測試，以得到多個測試結果，并從這些測試結果中選出最合適的一個測試結果來做作最終的數(shù)據(jù)，從而減低測試數(shù)據(jù)的失真率，確保測試得到的數(shù)據(jù)的準確性。在又一實施例中，線序測試裝置在電子設備輸出的第一數(shù)據(jù)后，還可判斷該第一數(shù)據(jù)是否有效，例如判斷該第一數(shù)據(jù)的第一類測試符號的個數(shù)是否與測試圖案中的第一類測試符號的個數(shù)相同，若是，則有效，否則為無效；若有效則執(zhí)行s22，否則以該測試圖案重新進行測試或者發(fā)出存儲器出現(xiàn)故障的警告。由此，進一步提高測試的準確性。在s22中，該第二數(shù)據(jù)可以理解為當存儲器輸入該至少一個測試圖案時，該存儲器的引腳對應輸出的數(shù)據(jù)。該第二數(shù)據(jù)可根據(jù)該測試圖案獲得，例如由測試圖案與存儲器的引腳之間映射關系，來得到第二數(shù)據(jù)。也就是說，第二數(shù)據(jù)不需要通過測試來獲取。請參閱圖5，圖5是圖2中的步驟23的實施例的流程示意圖。該圖5針對的情形是：該測試圖案包含的多個測試符號中僅有一個為第一類測試符號，其余為第二類測試符號。則在步驟23中，對于每個測試圖案，可以根據(jù)其對應的第一數(shù)據(jù)和對應的第二數(shù)據(jù)，來確定存儲器的一個引腳與電子設備的一個引腳之間的連接關系。具體的，圖5包括以下子步驟：s231：根據(jù)一第一數(shù)據(jù)，確定該電子設備的多個引腳中出現(xiàn)該第一類測試符號的引腳為引腳x。s232：根據(jù)一第二數(shù)據(jù)，確定該存儲器的多個引腳中出現(xiàn)該第一類測試符號的引腳為引腳y。s233：確定該電子設備的引腳x對應連接該存儲器的引腳x。其中，測試圖案中的第一類測試符號可以為二進制中的“1”，該第二類測試符號可以為二進制中的“0”。且在本實施例中，每個測試圖案可以包括僅包含一位“1”或者一位“0”。上述x，y為正整數(shù)。本實施例采用的測試圖案僅包括一個第一類測試符號，進而可使得每以一個測試圖案進行測試即可確定存儲器一個引腳與電子設備一個引腳之間的連接關系，故，只要進行與存儲器待測試引腳數(shù)量相同次數(shù)的測試，即可快速確定該存儲器與電子設備之間的連接關系，而且每次測試可直接根據(jù)輸出為第一類測試符號確定對應引腳關系，大大簡化了測試的復雜度。以catraining測試來作為本發(fā)明實施例的測試方式為例，可以借由線序測試裝置向存儲器的ca線輸入測試圖案，以進行catraining測試。其中，在存儲器時鐘信號的上升沿和下降沿時每條ca線分別與不同的引腳對應，且分別輸入該測試圖案中的一個測試符號，存儲器中與該ca線對應的引腳則輸出該ca線輸入的測試符號。本例中，存儲器中用于進行該測試的ca線包括ca0-ca3和ca5-ca8，共8條ca線。存儲器的ca線與引腳dq0-dq15的對應關系表1所示：表1ca0ca1ca2ca3ca5ca6ca7ca8時鐘信號dq0dq2dq4dq6dq8dq10dq12dq14上升沿dq1dq3dq5dq7dq9dq11dq13dq15下降沿上表1中，以ca0舉例，當時鐘信號處于上升沿時，ca0線輸入的測試符號，則從存儲器的引腳dq0輸出；當時鐘信號處于下降沿時，ca0線輸入的測試符號，則從存儲器的引腳dq1輸出。也就是說，假設在上升沿向ca0輸入了測試符號“0”，則在dq0也會出現(xiàn)該測試符“0”，并且電子設備中與存儲器的dq0連接的引腳也會出現(xiàn)該測試符號“0”。線序測試裝置獲取以測試圖案進行測試時，電子設備側輸出的第一數(shù)據(jù)以及存儲器應當輸出的第二數(shù)據(jù)。例如，電子設備的引腳dq0-dq15輸出組成的第一數(shù)據(jù)為0x0001，且由測試圖案確定的存儲器的引腳dq0-dq15輸出組成的第二數(shù)據(jù)為0x0001，即由此次測試可確定電子設備的引腳dq0與存儲器的引腳dq0具有連接關系。需要說明的是，雖然在測試之前并不知道存儲器和電子設備之間的連接關系，但是對于電子設備的引腳順序本領域技術人員是清楚的，因此在測試時可以清楚地測試到電子設備的各引腳的信號。線序測試裝置以16個不同的測試圖案分別進行上述測試，以分別得到電子設備的16個引腳與存儲器的16個引腳之間的連接關系。具體如下表2所示：表2值的注意的是，線序測試裝置以15個不同的測試圖案分別進行上述測試，以分別得到電子設備的16個引腳與存儲器的16個引腳之間的連接關系(根據(jù)15次測試圖案確定電子設備的15個引腳與存儲器的15個引腳之間的連接關系后，即可確定電子設備的剩余一個引腳與存儲器的剩余一個引腳之間的連接關系)。同理地，當?shù)谝活悳y試符號為“0”，第二類測試符號為“1”，每個測試圖案僅包含一個“0”的另一示例中，線序測試裝置輸入測試圖案得到第一數(shù)據(jù)后，可確定存儲器與電子設備的引腳連接關系。其中，其輸入的測試圖案如下表3所示：表3因此，線序測試裝置可利用存儲器已有的用于校準時鐘和指令(command)線之間的關系的catraining模式來用于獲取存儲器與電子設備之間的線序，故無需對存儲器進行任何改進，即可實現(xiàn)其線序的測試。請參閱圖6，是圖2中的步驟s23的實施例的流程示意圖。圖6針對的情形為：測試圖案包含的多個測試符號中含有至少兩個第一類測試符號，且同樣含有至少兩個第二類測試符號。上述步驟s21中該的至少一個測試圖案為多個測試圖案，對應測試得到多個第一數(shù)據(jù)和預估得到多個第二數(shù)據(jù)。上述步驟s23具體包括以下子步驟：s234：根據(jù)該多個第一數(shù)據(jù)和該多個第二數(shù)據(jù)，得到多組對應關系。其中，該s234可具體包括：根據(jù)該多個第一數(shù)據(jù)中的其中一個，確定該電子設備的多個引腳中出現(xiàn)該第一類測試符號的多個第一引腳；根據(jù)該第二數(shù)據(jù)中的其中一個，確定該存儲器的多個引腳中出現(xiàn)該第一類測試符號的多個第二引腳；確定一組對應關系，其中該組對應關系為：該多個第一引腳與該多個第二引腳具有連接關系。s235：根據(jù)該多組對應關系，確定該存儲器和該電子設備之間的引腳連接關系。其中，每組對應關系表示：該電子設備的多個引腳中的部分引腳與該存儲器的多個引腳中的部分引腳存在連接關系。例如，電子設備的dq0-dq15組成的第一數(shù)據(jù)為0x0111，獲取存儲器的dq0-dq15組成的第二數(shù)據(jù)為0x0405，即可確定電子設備的dq0、dq4、dq8三個引腳與存儲器的dq0、dq1、dq9三個引腳具有連接關系，但不能確定電子設備的該三個引腳與存儲器的該三個引腳具體的每個引腳的連接關系。而需要通過多組這樣的關系來相互比較，從而確定存儲器和該電子設備之間的引腳連接關系。例如，一組對應關系表明存儲器的dq0連接至了電子設備的dq1、dq3和dq5，而另一組對應關系表明存儲器的dq0連接至了電子設備的dq3、dq7和dq9，則確定存儲器的dq0連接至了電子設備的dq3。其中，可參考下述方式來設計測試圖案及進行測試。例如，每個測試圖案包括：n個第一類測試符號和k個第二類測試符號，其中n和k均為大于2的整數(shù)。存儲器和電子設備的待測試引腳數(shù)量均為m，其中，該m可以為根據(jù)不同存儲器進行確定，例如，存儲器的與電子設備連接的引腳數(shù)量為8，則可將待測試引腳數(shù)量確定為8，或者存儲器的可用于測試的ca線為8條，即對應引腳共為16個，故可將待測試引腳確定為16。一般，該m大于或等于上述n和k的和。線序測試裝置以不同的測試圖案進行j次測試，其中，該j為最接近的整數(shù)，且j等于或大于其中，第i次測試采用的測試圖案為第i階測試圖案。每階測試圖案滿足以下條件：互斥條件為：每階的任意2個測試圖案中不能出現(xiàn)相同位置為第一類測試符號的情況；互補條件為：當?shù)谝活悳y試符號為“1”，每階的所有測試圖案中置“1”位(bit)之和為0xffff；當?shù)谝活悳y試符號為“0”，每階的所有測試圖案中清“0”位(bit)之和為0xffff；2n分條件為：子節(jié)點均分父節(jié)點中的第一類測試符號的位，即上一階的每個測試圖案(父節(jié)點)均為兩個下一階測試圖案(子節(jié)點)之和，且該兩個下一階測試圖案中的第一類測試符號的個數(shù)相等。下面對具體測試方式列舉兩個例子，如下：1)在第i次以測試圖案對存儲器進行測試的步驟中，包括：依次以2i-1個第i階測試圖案對存儲器進行測試；其中，該i為1至j之間的整數(shù)；每個該第i階測試圖案包含第i-1階測試圖案中的m/2i個第一類測試符號且m-m/2i個第二類測試符號，或包含第i-1階補充圖案中的m/2i個第一類測試符號且m-m/2i個第二類測試符號；該第i-1階測試圖案中的第一類測試符號的位置不同于該第i-1階補充圖案中的第一類測試符號的位置，且該第0階測試圖案包含m個第一類測試符號。該補充圖案并不需要向存儲器輸入以進行測試的。其中，該每階的測試圖案可如圖7所示，其中，實線方框為測試圖案，虛線方框為補充圖案，，該第一類測試符號為二進制“1”。其中，，針對每一測試圖案，該存儲器的引腳dq0-dq15輸出組成的第二數(shù)據(jù)與其測試圖案相同，即也如圖7所示。每輸入一個測試圖案，對應地電子設備的引腳dq0-dq15輸出組成的第一數(shù)據(jù)如圖9所示。2)第i次以測試圖案對存儲器進行測試的步驟包括：以一個第i階測試圖案進行測試；其中，該i為1至j之間的整數(shù)；該第i階測試圖案包含第i-1階測試圖案中的m/2i個第一類測試符號和第i-1階補充圖案中的m/2i個第一類測試符號以及m-2m/2i個第二類測試符號；該第i-1階測試圖案中的第一類測試符號的位置不同于該第i-1階補充圖案中的第一類測試符號的位置，且該第0階測試圖案包含m個第一類測試符號。如圖10所示，圖10是上述第一種測試方式采用的測試圖案另一示意圖，其中，實線方框為第一種測試方式所采用的測試圖案，虛線方框為第一種測試方式所采用的補充圖案，該第一類測試符號為二進制“1”。圖10中每一階的實線方框表示的測試圖案之和作為第二種測試方式所采用的該階的測試圖案，即第一階測試圖案為0xcf03，第二階測試圖案為0x033f，第三階測試圖案為0x0ccf，第四階測試圖案為0x5555。線序測試裝置對應不同測試圖案獲得多個第一數(shù)據(jù)以及第二數(shù)據(jù)后，根據(jù)第i階測試圖案測得的第一數(shù)據(jù)，確定該電子設備中出現(xiàn)該第一類測試符號的m/2i個引腳；根據(jù)第i階測試圖案獲取的第二數(shù)據(jù)，確定該存儲器中出現(xiàn)該第一類測試符號的m/2i個引腳(如圖8所示，對應圖7的每個測試圖案，分別可確定該存儲器的出現(xiàn)該第一類測試符號的引腳)；確定該存儲器的該m/2i個引腳與該電子設備的該m/2i個引腳具有連接關系，并確定該存儲器其余的m-m/2i個引腳該電子設備的其余的m-m/2i個引腳具有連接關系。由該多個第一數(shù)據(jù)和多個第二數(shù)據(jù)即可得到多組對應關系。在獲得該多組對應關系后，由于不同組的對應關系所包括的引腳至少部分不同，故通過對比不同組的對應關系，以確定存儲器與電子設備的每個引腳之間的連接關系。具體，從i為1開始，在對應第i-1階測試圖案確定的存儲器和電子設備的具有連接關系的m/2i-1個引腳中，確定除對應第i階測試圖案確定的存儲器和電子設備的具有連接關系的m/2i個引腳外的存儲器和電子設備剩余的m/2i-1-m/2i個引腳具有引腳關系，直到i為上述j，進而得到該電子設備的m個待測試引腳與該存儲器的m個待測試引腳之間的一一連接關系。結合參考圖7-圖9，由第1階測試圖案，可確定存儲器的引腳dq0-dq7與電子設備的引腳dq0-dq7具有連接關系，存儲器的引腳dq8-dq15與電子設備的引腳dq8-dq15具有連接關系；由第2階測試圖案，可確定存儲器的引腳dq0-dq3與電子設備的引腳dq0-dq2、dq4，存儲器的引腳dq4-dq7與電子設備的引腳dq3、dq5-dq7，存儲器的引腳dq8-dq11與電子設備的引腳dq8-dq0、dq12，存儲器的引腳dq12-dq15與電子設備的引腳dq11、dq13-dq15具有連接關系；由第3階測試圖案，可確定存儲器的引腳dq0-dq1與電子設備的引腳dq0-dq1，存儲器的引腳dq2-dq3與電子設備的引腳dq2、dq4，存儲器的引腳dq4-dq5與電子設備的引腳dq3、dq5，存儲器的引腳dq6-dq7與電子設備的引腳dq6-dq7，存儲器的引腳dq8-dq9與電子設備的引腳dq8-dq9，存儲器的引腳dq10-dq11與電子設備的引腳dq10、dq12，存儲器的引腳dq12-dq13與電子設備的引腳dq11、dq14，存儲器的引腳dq14-dq15與電子設備的引腳dq13、dq15具有連接關系；由第4階測試圖案，可確定存儲器的引腳dq0-dq15分別與電子設備的引腳dq0-dq2、dq4、dq5、dq3、dq7、dq6、dq8-10、dq12、dq11、dq14、dq15、dq13具有連接關系。可以理解的是，上述每一階測試圖案并不限定為圖7和圖10所示，可為任意只要滿足上述互斥、互補和2n分條件的符號集合。另外，上述例子均采用將每個測試圖案一分為二(2n分法，n＝1)進行測試。在其他實施例中，也可采用將每個測試圖案一分為四(2n分法，n＝2)進行測試，也即線序測試裝置只需以上述例子中的第偶數(shù)階測試圖案進行測試，如圖11所示，實線方框為測試圖案，虛線方框為補充圖案。當然，測試圖案還可為其他分法，即上述n可為任意整數(shù)，對應地，線序測試裝置需進行次測試，其中第i次以第i階測試圖案進行測試，該i為1至z之間的整數(shù)；且每個第i階測試圖案包含第i-1階測試圖案中的m/(2n)i個第一類測試符號且m-m/(2n)i個第二類測試符號，或包含第i-1階補充圖案中的m/(2n)i個第一類測試符號且m-m/(2n)i個第二類測試符號。請參閱圖12，圖12是本發(fā)明的線序測試方法另一實施例的部分流程圖。本實施例中，在上述實施例中的s21之前還包括步驟s121、s122和s123，接下來具體介紹各步驟。s121：以第一檢查圖案對該存儲器進行測試，得到該電子設備側產(chǎn)生的一第三數(shù)據(jù)。s122：以第二檢查圖案對該存儲器進行測試，得到該電子設備側產(chǎn)生的另一第三數(shù)據(jù)。其中，上述每個檢查圖案中的多個測試符號相同，且第一檢查圖案和第二檢查圖案中含有的測試符號不同，例如，該第一檢查圖案含有多個第一類測試符號，該第二檢查圖案含有多個第二類測試符號。s123：根據(jù)該第一檢查圖案對應的第三數(shù)據(jù)和該第二檢查圖案對應的第三數(shù)據(jù)，確定該電子設備的待測試引腳。例如，當該一第三數(shù)據(jù)包括的測試符號與該第一檢查圖案中的測試符號相同，如均為該第一類測試符號，及當該另一第三數(shù)據(jù)包括的測試符號與該第二檢查圖案中的測試符號相同，如均為該第二類測試符號時，將該一第三數(shù)據(jù)中的第一類測試符號與另一第三數(shù)據(jù)中的第二類測試符號共同對應的該電子設備的引腳確定為該電子設備的待測試引腳，并執(zhí)行步驟s21。例如，在存儲器的引腳的缺省輸出為“0”，分別以0xffff和0x0000作為上述兩個檢查圖案進行測試，得到電子設備的引腳dq0-dq15的輸出組成為0xffff和0x0000，由上述輸出可確定電子設備的16個引腳均已獲得存儲器相應檢查圖案的輸出，故可確定存儲器可正常工作，故可執(zhí)行圖2-圖6所示的測試方法，并且根據(jù)電子設備非缺省值的輸出0xffff可確定dq0-dq15共16個引腳為電子設備的待測試引腳。請參閱圖13，圖13是本發(fā)明線序測試裝置一實施例的結構示意圖。該線序測試裝置13用于測試存儲器和與其連接的電子設備之間的引腳連接關系，包括測試模塊131、預估模塊132和確定模塊133。測試模塊131用于以至少一個測試圖案對存儲器進行測試，得到至少一個第一數(shù)據(jù)。預估模塊132用于根據(jù)該測試圖案與該存儲器的引腳之間的映射關系，預估以至少一個該測試圖案對該存儲器進行測試時，所應得到的至少一個第二數(shù)據(jù)。確定模塊133用于根據(jù)該至少一個第一數(shù)據(jù)和該至少一個第二數(shù)據(jù)，確定該存儲器和該電子設備之間的引腳連接關系。可選地，測試模塊131具體用于：以該至少一個測試圖案對該存儲器進行catraining測試。可選地，該測試圖案包括：多個測試符號，其中該多個測試符號中的其中一個為第一類測試符號，其余為第二類測試符號。進一步地，該確定模塊133具體用于：根據(jù)該至少一個第一數(shù)據(jù)之一，確定該電子設備的多個引腳中出現(xiàn)該第一類測試符號的引腳為引腳x；根據(jù)該至少一個第二數(shù)據(jù)之一，確定該存儲器的多個引腳中出現(xiàn)該第一類測試符號的引腳為引腳y；確定該電子設備的引腳x對應連接該存儲器的引腳x?？蛇x地，該測試圖案包括：多個測試符號，其中該多個測試符號中的至少兩個為第一類測試符號且至少兩個為第二類測試符號；其中，該至少一個測試圖案為多個測試圖案，該至少一個第一數(shù)據(jù)為多個第一數(shù)據(jù)，該至少一個第二數(shù)據(jù)為多個第二數(shù)據(jù)。進一步地，該確定模塊133具體用于：根據(jù)該多個第一數(shù)據(jù)和該多個第二數(shù)據(jù)，得到多組對應關系；以及根據(jù)該多組對應關系，確定該存儲器和該電子設備之間的引腳連接關系；其中，每組對應關系表示：該電子設備的部分引腳與該存儲器的部分引腳存在連接關系。其中，該線序測試裝置的上述模塊分別用于執(zhí)行上述方法實施例中的相應步驟，具體執(zhí)行過程如上方法實施例說明，在此不作贅述。上述線序測試裝置可為圖1所示的電子設備12，或為該電子設備12中的部分電路。請參閱圖14，圖14是本發(fā)明的電子設備的一實施例的結構示意圖。該電子設備14與存儲器具有引腳連接關系，包括多個引腳141、處理核心142和控制端口143。該多個引腳141用于分別與存儲器的多個引腳一一連接，例如圖1所示進行連接。該控制端口143用于與該存儲器的受控端口連接。在一具體應用中，存儲器的受控端口為存儲器的ca線接口，該控制端口143為向存儲器的ca線接口輸入的端口。該處理核心142用于：通過控制端口143向存儲器輸入至少一個測試圖案，以對該存儲器進行測試，并從該多個引腳141中得到至少一個第一數(shù)據(jù)；根據(jù)該測試圖案與該存儲器的引腳之間的映射關系，預估以至少一個該測試圖案對該存儲器進行測試時，所應得到的至少一個第二數(shù)據(jù)；以及根據(jù)該至少一個第一數(shù)據(jù)和該至少一個第二數(shù)據(jù)，確定該存儲器和該電子設備之間的引腳連接關系?？蛇x地，處理核心142用于以該至少一個測試圖案對該存儲器進行catraining測試?？蛇x地，該測試圖案包括：多個測試符號，其中該多個測試符號中的其中之一為第一類測試符號，其余為第二類測試符號。進一步地，處理核心142用于：根據(jù)該至少一個第一數(shù)據(jù)之一，確定該電子設備的多個引腳141中出現(xiàn)該第一類測試符號的引腳為引腳x；根據(jù)該至少一個第二數(shù)據(jù)之一據(jù)，確定該存儲器的多個引腳中出現(xiàn)該第一類測試符號的引腳為引腳y；確定該電子設備的引腳x對應連接該存儲器的引腳x。可選地，該測試圖案包括：多個測試符號，其中該多個測試符號中的至少兩個為第一類測試符號且至少兩個為第二類測試符號；其中，該至少一個測試圖案為多個測試圖案，該至少一個第一數(shù)據(jù)為多個第一數(shù)據(jù)，該至少一個第二數(shù)據(jù)為多個第二數(shù)據(jù)。進一步地，處理核心142用于：根據(jù)該多個第一數(shù)據(jù)和該多個第二數(shù)據(jù)，得到多組對應關系；根據(jù)該多組對應關系，確定該存儲器和該電子設備之間的引腳連接關系；其中，每組對應關系表示：該電子設備的多個引腳141中的部分引腳與該存儲器的多個引腳中的部分引腳存在連接關系。進一步地，處理核心142用于：根據(jù)該多個第一數(shù)據(jù)之一，確定該電子設備的多個引腳中出現(xiàn)該第一類測試符號的多個第一引腳；根據(jù)該第二數(shù)據(jù)之一，確定該存儲器的多個引腳中出現(xiàn)該第一類測試符號的多個第二引腳；確定一組對應關系，其中該組對應關系表示：該多個第一引腳與該多個第二引腳具有連接關系?？蛇x地，處理核心142還用于：通過控制端口142向該存儲器輸入至少一個檢查圖案，以對該存儲器進行測試，并從多個引腳141中得到至少一個第三數(shù)據(jù)，其中，每個檢查圖案中的多個測試符號相同；當每個第三數(shù)據(jù)中包括的測試符號與其對應的檢查圖案所包含的測試符號均相同時，執(zhí)行該以至少一個測試圖案對該存儲器進行測試的步驟。進一步地，該至少一個檢查圖案包括：第一檢查圖案和第二檢查圖案，其中第一檢查圖案和第二檢查圖案中含有的測試符號不同；處理核心142還用于：根據(jù)該第一檢查圖案對應的第三數(shù)據(jù)和該第二檢查圖案對應的第三數(shù)據(jù)，確定該電子設備的待測試引腳?？蛇x地，處理核心142用于：對于該至少一個測試圖案中的每一個，連續(xù)多次地以其對該存儲器進行測試，得到多個測試結果；以及將該多組測試結果中連續(xù)出現(xiàn)次數(shù)最多的一個測試結果作為該第一數(shù)據(jù)。以上方案中，該第一類測試符號為二進制中的“0”，該第二類測試符號為二進制中的“1”；或者，該第一類測試符號為二進制中的“1”，該第二類測試符號為二進制中的“0”。在一實施例中，上述存儲器為lpddr，該電子設備為soc。其中，上述處理核心142通過執(zhí)行存儲指令來執(zhí)行上述步驟，該存儲指令可存儲在與該電子設備連接的該存儲器中，處理核心通過上述多個引腳從存儲器中讀取指令，或者該存儲指令存儲在電子設備設置的內(nèi)存中，又或存儲在于電子設備連接的其他存儲介質(zhì)中。上述本發(fā)明實施例揭示的方法也可以應用于處理核心142中，或者由處理核心142實現(xiàn)。處理核心142可能是一種集成電路芯片，具有信號的處理能力。在實現(xiàn)過程中，上述方法的各步驟可以通過處理核心142中的硬件的集成邏輯電路或者軟件形式的指令完成。上述的處理核心142可以是通用處理器、數(shù)字信號處理器(dsp)、專用集成電路(asic)、現(xiàn)成可編程門陣列(fpga)或者其他可編程邏輯器件、分立門或者晶體管邏輯器件、分立硬件組件?？梢詫崿F(xiàn)或者執(zhí)行本發(fā)明實施例中的公開的各方法、步驟及邏輯框圖。通用處理器可以是微處理器或者該處理器也可以是任何常規(guī)的處理器等。結合本發(fā)明實施例所公開的方法的步驟可以直接體現(xiàn)為硬件譯碼處理器執(zhí)行完成，或者用譯碼處理器中的硬件及軟件模塊組合執(zhí)行完成。軟件模塊可以位于隨機存儲器，閃存、只讀存儲器，可編程只讀存儲器或者電可擦寫可編程存儲器、寄存器等本領域成熟的存儲介質(zhì)中。處理核心142讀取相應儲介質(zhì)中的信息，結合其硬件完成上述方法的步驟。上述方案中，利用測試圖案對存儲器進行測試，以得到與存儲器連接的電子設備輸出的第一數(shù)據(jù)，并獲取預估的該測試圖案對應的存儲器輸出的第二數(shù)據(jù)，根據(jù)電子設備與存儲器具有連接關系的管腳具有相同輸出的原理，通過對比第一數(shù)據(jù)和第二數(shù)據(jù)，可快速、準確地測試出存儲器和電子設備之間引腳連接關系。在本申請所提供的幾個實施例中，應該理解到，所揭露的系統(tǒng)，裝置和方法，可以通過其它的方式實現(xiàn)。例如，以上所描述的裝置實施例僅僅是示意性的，例如，該模塊或單元的劃分，僅僅為一種邏輯功能劃分，實際實現(xiàn)時可以有另外的劃分方式，例如多個單元或組件可以結合或者可以集成到另一個系統(tǒng)，或一些特征可以忽略，或不執(zhí)行。另一點，所顯示或討論的相互之間的耦合或直接耦合或通信連接可以是通過一些接口，裝置或單元的間接耦合或通信連接，可以是電性，機械或其它的形式。該作為分離部件說明的單元可以是或者也可以不是物理上分開的，作為單元顯示的部件可以是或者也可以不是物理單元，即可以位于一個地方，或者也可以分布到多個網(wǎng)絡單元上?？梢愿鶕?jù)實際的需要選擇其中的部分或者全部單元來實現(xiàn)本實施例方案的目的。另外，在本申請各個實施例中的各功能單元可以集成在一個處理單元中，也可以是各個單元單獨物理存在，也可以兩個或兩個以上單元集成在一個單元中。上述集成的單元既可以采用硬件的形式實現(xiàn)，也可以采用軟件功能單元的形式實現(xiàn)。該集成的單元如果以軟件功能單元的形式實現(xiàn)并作為獨立的產(chǎn)品銷售或使用時，可以存儲在一個計算機可讀取存儲介質(zhì)中?；谶@樣的理解，本申請的技術方案本質(zhì)上或者說對現(xiàn)有技術做出貢獻的部分或者該技術方案的全部或部分可以以軟件產(chǎn)品的形式體現(xiàn)出來，該計算機軟件產(chǎn)品存儲在一個存儲介質(zhì)中，包括若干指令用以使得一臺計算機設備(可以是個人計算機，服務器，或者網(wǎng)絡設備等)或處理核心(processor)執(zhí)行本申請各個實施例該方法的全部或部分步驟。而前述的存儲介質(zhì)包括：u盤、移動硬盤、只讀存儲器(rom，read-onlymemory)、隨機存取存儲器(ram，randomaccessmemory)、磁碟或者光盤等各種可以存儲程序代碼的介質(zhì)。當前第1頁12