專利名稱：存儲裝置、存儲控制電路和磁頭位置偏移測量方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明扭及用于檢測向磁頭設(shè)置的寫入頭與讀取頭的磁頭位置偏移 并在讀取存儲介質(zhì)時(shí)校正該讀取頭的位置偏移量的存儲裝置、存儲控制 電路和磁頭位置偏移測量方法。具體地說，本發(fā)明涉及一種針對向磁道 之間的非磁性區(qū)設(shè)置的存儲介質(zhì)的用于測量磁頭位置偏移的存儲裝置、 存儲控制電路和磁頭位置偏移測量方法。
背景技術(shù)：
近年來，在磁盤裝置中，已經(jīng)釆用組合型磁頭結(jié)構(gòu)，在該組合型磁頭結(jié)構(gòu)中，例如利用隧道磁阻效應(yīng)(TMR)的高靈敏度讀取頭獨(dú)立于寫 入頭。在具有這種結(jié)構(gòu)的磁頭中，不能完全消除在磁頭制造處理中出現(xiàn) 的寫入頭與讀取頭的位置偏移，因此，在特定磁道上記錄時(shí)，寫入頭和讀取頭所經(jīng)過的路徑不同。因此，針對存儲，要求例如在制造檢查處理 中預(yù)先測量這種偏移量，然后，在目標(biāo)磁道上記錄數(shù)據(jù)時(shí)，從徑向位置 校正該偏移量，以再現(xiàn)該目標(biāo)磁道上的數(shù)據(jù)。近年來，相鄰磁道之間的 間隔已經(jīng)在200 rnn的量級。如果寫入頭與讀取頭的位置偏移為幾個微米， 則必須要求與幾個磁道相對應(yīng)的位置偏移校正。隨著磁道之間的間隔因 密度的增高而變窄，該趨勢成為更加重要的問題。而且近年來，在磁盤 裝置中，小型化的趨勢顯著，因此，己經(jīng)要求能夠進(jìn)行高密度記錄的磁 盤介質(zhì)。然而，在增加磁盤的記錄密度時(shí)，存在如何防止來自相鄰記錄 位的干擾的問題。在認(rèn)識到這種問題的情況下，傳統(tǒng)上已經(jīng)提出了稱作 離散磁道記錄(discrete-trackrecording)的技術(shù)，在該技術(shù)中，針對磁盤 介質(zhì)沿徑向的干擾，針對各磁道對磁盤介質(zhì)進(jìn)行物理分區(qū)，以減小來自 相鄰磁道的干擾。此外，在認(rèn)識到防止來自相鄰記錄位的干擾不利于記 錄密度的增加的同一問題的情況下，傳統(tǒng)上還提出了稱作晶格介質(zhì)，在該技術(shù)中，還沿周向?qū)Υ疟P介質(zhì)進(jìn)行物理 分區(qū)，即，以記錄位為單位進(jìn)行構(gòu)圖，從而減小來自相鄰位的干擾。因 此，對于使用諸如離散磁道和晶格介質(zhì)的技術(shù)的存儲介質(zhì)，也要求精確 地進(jìn)行寫入頭與讀取頭的位置偏移校正，以實(shí)現(xiàn)高密度記錄。圖1以線性方式示出了在測量磁頭位置偏移的處理中記錄介質(zhì)的一 個磁道長度，其中，M個伺服扇區(qū)對應(yīng)于一圈磁道。為了校正向組合型 磁頭200設(shè)置的寫入頭202與讀取頭204的位置偏移，首先使用通過讀 取頭204讀取伺服扇區(qū)而獲得的磁頭位置信號而使寫入頭202位于特定 徑向位置處的磁道204-N處，將一圈磁道的測量信號記錄在測量圖案206 上，如圖所示。此時(shí)，由于讀取頭204與寫入頭202之間存在位置偏移， 因此讀取頭204采取與磁道204-N相一致的路徑208，而寫入頭202采取 偏移磁道204-N的位置處的路徑210，在該位置寫入了測量圖案206。通 過在寫入測量圖案206之后，在從被寫入測量圖案206的位置逐漸偏移 讀取頭204的讀取位置的同時(shí)讀取讀取頭204在徑向中所處的讀取位置， 并且例如求得再現(xiàn)信號的振幅的輪廓(分布)，從而獲得圖2A，來檢測 位置偏移量。在圖2A中，可以獲得以下輪廓(信號分布)在該輪廓中，在測量 圖案的寫入位置212處，再現(xiàn)信號的振幅低，當(dāng)在逐漸偏移讀取位置的 同時(shí)讀取測量圖案時(shí)，再現(xiàn)信號的振幅增加，并且在達(dá)到其峰點(diǎn)214之 后，振幅再次減小。相對于在再現(xiàn)信號振幅216的輪廓216中再現(xiàn)信號 的振幅為最大處的峰點(diǎn)214的偏移值218被檢測作為讀取頭與寫入頭的 位置偏移量。這里，圖2A的振幅的值表示在一個磁道上讀取的再現(xiàn)信號 的振幅的平均值。峰214和1/2峰點(diǎn)220的再現(xiàn)信號的振幅是在一個磁道 上讀取的再現(xiàn)信號振幅222和224 (如圖2B所示出的)的平均值。例如， 已經(jīng)提出了以下方法在該方法中，通過使用該位置偏移檢測方法，在 存儲介質(zhì)上設(shè)置用于測量磁道偏移的區(qū)，以測量寫入頭與讀取頭的位置 偏移隨時(shí)間的改變(JP09-045025)。然而，在這種位置偏移檢測方法中， 不能支持有可能位于未放置磁性物質(zhì)的位置處的離散磁道和晶格介質(zhì)。 例如，如圖3所示出的，在離散磁道的情況下，在由磁性區(qū)226形成的磁道的兩側(cè)存在非磁性區(qū)228。如果當(dāng)讀取頭204位于磁道204-N上時(shí)， 寫入頭202的路徑210恰好在磁性區(qū)226上，則當(dāng)為了位置偏移檢測而 偏移讀取頭204以搜索測量圖案206時(shí)的輪廓與圖2A的輪廓相似。然而， 如圖4所示出的，當(dāng)寫入頭202的路徑210在非磁性區(qū)228上時(shí)，不能 精確地記錄測量圖案206，并且當(dāng)在逐漸偏移讀取頭204的讀取位置的同 時(shí)讀取測量圖案206時(shí)，再現(xiàn)信號的振幅的輪廓如圖5A的輪廓216-1， 從而使得難以指出再現(xiàn)信號的振幅為最大的峰點(diǎn)214-1的偏移值。這里， 圖5B將峰點(diǎn)214-1和1/2峰點(diǎn)220-1的讀取位置處的再現(xiàn)信號的振幅表 示為在一個磁道上讀取的再現(xiàn)信號振幅222-1和224-1。為了解決這些問 題，還提出了一種存儲介質(zhì)和磁存儲裝置，其中，在存儲介質(zhì)的伺服扇 區(qū)與數(shù)據(jù)扇區(qū)之間設(shè)置其中沿介質(zhì)的徑向連續(xù)地形成有磁性物質(zhì)的區(qū) (JP 2005-166115以及JP 2005-166116)。然而，當(dāng)將如JP 2005-166115中所述地在伺服扇區(qū)與數(shù)據(jù)扇區(qū)之間 設(shè)置其中沿介質(zhì)的徑向連續(xù)地形成有磁性物質(zhì)的區(qū)用于寫入頭與讀取頭 的位置偏移校正測量的專用區(qū)時(shí)，不能在該區(qū)中寫入用戶數(shù)據(jù)，從而使 記錄容量減小該量。此外，為了精確地測量位置偏移校正量，需要長度 達(dá)到某一程度的測量區(qū)(例如， 一圈磁道)，以對測量圖案的再現(xiàn)信號進(jìn) 行平均來去除噪聲，從而導(dǎo)致用戶數(shù)據(jù)格式效率劣化。發(fā)明內(nèi)容根據(jù)本發(fā)明，提供了一種存儲裝置、存儲控制電路和磁頭位置偏移 測量方法，其即使不在其中磁性物質(zhì)被徑向分區(qū)的存儲介質(zhì)中設(shè)置專用 區(qū)，也能精確地測量寫入頭與讀取頭的位置偏移。 (存儲裝置)本發(fā)明提供了一種存儲裝置。根據(jù)本發(fā)明的存儲裝置包括 存儲介質(zhì)，其結(jié)構(gòu)具有由可磁存儲的磁性物質(zhì)形成的多個磁道，所述磁道被不允許磁記錄的非磁性物質(zhì)分區(qū)；組合型磁頭，其具有用于讀取記錄在所述磁道上的磁存儲信息的讀取頭和用于在所述磁道上寫入磁存儲信息的寫入頭；測量數(shù)據(jù)記錄單元，其以所述存儲介質(zhì)的預(yù)定徑向位置和磁道位置 為記錄起點(diǎn)，在一圈磁道中使所述磁頭移動經(jīng)過至少等于或大于一個磁 道的預(yù)定量，從而在繪制螺旋形路徑的同時(shí)在所述存儲介質(zhì)中寫入測量數(shù)據(jù)；測量數(shù)據(jù)讀取單元，其在對從包括所述測量數(shù)據(jù)記錄單元的所述記 錄起點(diǎn)的內(nèi)周側(cè)到外周側(cè)的預(yù)定掃描范圍內(nèi)的讀取起點(diǎn)進(jìn)行掃描的同 時(shí)，使所述磁頭針對所述讀取起點(diǎn)中的每一個移動經(jīng)過所述測量數(shù)據(jù)記 錄單元的所述預(yù)定量，從而在繪制螺旋形路徑的同時(shí)從所述存儲介質(zhì)讀 取所述測量數(shù)據(jù)；以及磁頭位置偏移檢測單元，其根據(jù)所述測量數(shù)據(jù)讀取單元獲得的測量 數(shù)據(jù)再現(xiàn)信號來求得所述預(yù)定掃描范圍內(nèi)的評測值的分布，并且在所述 評測值的分布中檢測所述讀取頭與所述寫入頭在所述存儲介質(zhì)上沿徑向 的位置偏移量以進(jìn)行存儲。這里，所述測量數(shù)據(jù)記錄單元預(yù)先設(shè)置通過將磁道寬度除以沿磁道 周向按預(yù)定間隔形成的伺服扇區(qū)的數(shù)量而獲得的目標(biāo)偏移量，并且在從 所述記錄起點(diǎn)幵始寫入之后，在各伺服扇區(qū)檢測時(shí)，使所述磁頭沿徑向 移動所述目標(biāo)偏移量，從而在一圈磁道中使所述磁頭移動經(jīng)過至少一個 磁道，同時(shí)在所述存儲介質(zhì)中寫入所述測量數(shù)據(jù)。在從所述預(yù)定掃描范圍內(nèi)的從其進(jìn)行掃描的讀取起點(diǎn)開始讀取之 后，所述測量數(shù)據(jù)讀取單元在各伺服扇區(qū)檢測時(shí)，使所述磁頭沿所述徑 向移動所述目標(biāo)偏移量，從而在一圈磁道中使所述磁頭移動經(jīng)過至少一 個磁道，同時(shí)從所述存儲介質(zhì)讀取所述測量數(shù)據(jù)。所述磁頭位置偏移檢測單元對從所述測量數(shù)據(jù)讀取單元獲得的再現(xiàn) 信號的振幅進(jìn)行檢測作為所述評測值，并且根據(jù)所述振幅的分布中的峰 值來檢測所述位置偏移量。在這種情況下，所述磁頭位置偏移檢測單元 檢測通過讀取一個螺旋形路徑而獲得的所述再現(xiàn)信號的振幅的平均值或 累計(jì)值作為所述再現(xiàn)信號的振幅。所述磁頭位置偏移檢測單元可以檢測所述測量數(shù)據(jù)讀取單元獲得的 再現(xiàn)信號的差錯率作為所述評測值，并且根據(jù)所述差錯率的分布中的底部峰值來檢測所述位置偏移量。在根據(jù)本發(fā)明的存儲裝置中，所述測量數(shù)據(jù)記錄單元、所述測量數(shù) 據(jù)讀取單元和所述磁頭位置偏移檢測單元針對所述存儲介質(zhì)的所有磁道位置中的每一個，檢測并存儲所述位置偏移量。在根據(jù)本發(fā)明的存儲裝置中，所述測量數(shù)據(jù)記錄單元、所述測量數(shù) 據(jù)讀取單元和所述磁頭位置偏移檢測單元可以檢測并存儲在所述存儲介 質(zhì)上沿徑向的多個測量位置處的所述位置偏移量，并且除了所述測量位 置之外的其它各位置處的位置偏移量可以通過插值計(jì)算根據(jù)兩側(cè)的測量 位置處的位置偏移量來求得。 (存儲控制電路)本發(fā)明提供了一種存儲裝置的存儲控制電路。本發(fā)明的特征在于所 述存儲裝置的所述存儲控制電路， 所述存儲裝置設(shè)置有存儲介質(zhì)，其結(jié)構(gòu)具有由可磁存儲的磁性物質(zhì)形成的多個磁 道，所述磁道被不允許磁記錄的非磁性物質(zhì)分區(qū)；以及磁頭，其具有用于讀取記錄在所述磁道上的磁存儲信息的讀 取頭和用于在所述磁道上寫入磁存儲信息的寫入頭， 所述存儲控制電路包括測量數(shù)據(jù)記錄單元，其以所述存儲介質(zhì)的預(yù)定徑向位置和磁 道位置為記錄起點(diǎn)，在一圈磁道中使所述磁頭移動經(jīng)過至少大于 一個磁道的預(yù)定量，從而在繪制螺旋形路徑的同時(shí)在所述存儲介 質(zhì)中寫入測量數(shù)據(jù)；測量數(shù)據(jù)讀取單元，其在對從包括所述測量數(shù)據(jù)記錄單元的 所述記錄起點(diǎn)的內(nèi)周側(cè)到外周側(cè)的預(yù)定掃描范圍內(nèi)的讀取起點(diǎn)進(jìn) 行掃描的同時(shí)，使所述磁頭針對所述讀取起點(diǎn)中的每一個移動經(jīng) 過所述測量數(shù)據(jù)記錄單元的所述預(yù)定量，從而在繪制螺旋形路徑 的同時(shí)從所述存儲介質(zhì)讀取所述測量數(shù)據(jù)；以及磁頭位置偏移檢測單元，其根據(jù)所述測量數(shù)據(jù)讀取單元獲得 的測量數(shù)據(jù)再現(xiàn)信號來求得所述預(yù)定掃描范圍內(nèi)的評測值的分布，并且在所述評測值的分布中檢測所述讀取頭與所述寫入頭在 所述存儲介質(zhì)上沿徑向的位置偏移量以進(jìn)行存儲。 (測量方法)本發(fā)明提供了一種存儲裝置的磁頭位置偏移測量方法。本發(fā)明的特 征在于所述存儲裝置的所述磁頭位置偏移測量方法， 所述存儲裝置設(shè)置有存儲介質(zhì)，其結(jié)構(gòu)具有由可磁存儲的磁性物質(zhì)形成的多個磁 道，所述磁道被不允許磁記錄的非磁性物質(zhì)分區(qū)；以及磁頭，其具有用于讀取記錄在所述磁道上的磁存儲信息的讀取頭和用于在所述磁道上寫入磁存儲信息的寫入頭， 所述方法包括以下步驟測量數(shù)據(jù)記錄步驟，其以所述存儲介質(zhì)的預(yù)定徑向位置和磁 道位置為記錄起點(diǎn)，在一圈磁道中使所述磁頭移動經(jīng)過至少等于 或大于一個磁道的預(yù)定量，從而在繪制螺旋形路徑的同時(shí)在所述 存儲介質(zhì)中寫入測量數(shù)據(jù)；測量數(shù)據(jù)讀取步驟，其在對從包括所述測量數(shù)據(jù)記錄步驟中 的所述記錄起點(diǎn)的內(nèi)周側(cè)到外周側(cè)的預(yù)定掃描范圍內(nèi)的讀取起點(diǎn) 進(jìn)行掃描的同時(shí)，使所述磁頭針對所述讀取起點(diǎn)中的每一個移動 經(jīng)過所述測量數(shù)據(jù)記錄步驟中的所述預(yù)定量，從而在繪制螺旋形 路徑的同時(shí)從所述存儲介質(zhì)讀取所述測量數(shù)據(jù)；以及磁頭位置偏移檢測步驟，其根據(jù)所述測量數(shù)據(jù)讀取步驟獲得 的測量數(shù)據(jù)再現(xiàn)信號來求得所述預(yù)定掃描范圍內(nèi)的評測值的分 布，并且在所述評測值的分布中檢測所述讀取頭與所述寫入頭在 所述存儲介質(zhì)上沿徑向的位置偏移量以進(jìn)行存儲。 根據(jù)本發(fā)明，即使在其中磁性物質(zhì)被沿徑向分區(qū)的存儲介質(zhì)的情況 下(例如，離散磁道或晶格介質(zhì))，也在以寫入頭的路徑按螺旋線改變的 方式記錄測量圖案之后，使讀取頭的路徑按與記錄時(shí)相似的螺旋方式改 變，而在沿徑向逐漸改變預(yù)定掃描范圍內(nèi)的讀取起點(diǎn)的同時(shí)讀取測量圖 案。因此，通常通過磁性區(qū)來記錄和讀取測量圖案。因此，可以在無需設(shè)置用于檢測磁頭位置偏移的專用區(qū)的情況下精確地測量寫入頭與讀取 頭的位置偏移。參照附圖，根據(jù)以下詳細(xì)說明，本發(fā)明的以上和其他目 的、特征和優(yōu)點(diǎn)將變得更加清楚。


圖1是用于描述在傳統(tǒng)磁頭位置偏移測量處理中對測量圖案的記錄和讀取的圖(現(xiàn)有技術(shù))；圖2A和圖2B是用于描述圖1的測量圖案讀取處理中生成的再現(xiàn)信 號的振幅相對于讀取位置的輪廓以及針對一個磁道的再現(xiàn)信號的振幅的 圖(現(xiàn)有技術(shù))；圖3是用于描述在針對離散磁道存儲介質(zhì)的傳統(tǒng)磁頭位置偏移測量 處理中對測量圖案的記錄和讀取的圖(現(xiàn)有技術(shù))；圖4是用于描述在離散磁道存儲介質(zhì)的非磁性區(qū)上記錄測量圖案的 情況的圖(現(xiàn)有技術(shù))；圖5A和圖5B是用于描述圖4的測量圖案讀取處理中生成的再現(xiàn)信 號的振幅相對于讀取位置的輪廓以及針對一個磁道的再現(xiàn)信號的振幅的 圖；圖6A和圖6B是代表根據(jù)本發(fā)明的存儲裝置的一個實(shí)施方式的磁盤 裝置的框圖；圖7是用于描述根據(jù)本發(fā)明的磁盤裝置的機(jī)械結(jié)構(gòu)的圖；圖8是用于描述磁頭相對于磁盤移動時(shí)的磁頭位置偏移的狀態(tài)的圖；圖9是用于描述根據(jù)本發(fā)明的圖6A和圖6B的控制表的內(nèi)容的圖， 該控制表存儲位置偏移測量結(jié)果；圖IOA和圖10B是用于描述本實(shí)施方式中的在正常記錄/讀取時(shí)和在 測量記錄/讀取時(shí)的磁頭路徑的圖；圖11是用于描述本實(shí)施方式中的將測量圖案記錄到存儲介質(zhì)的處理 的圖；圖12是用于描述本實(shí)施方式中的從存儲介質(zhì)讀取測量圖案的處理的圖；圖13A和圖13B是用于描述在圖12的測量圖案讀取處理中生成的 再現(xiàn)信號的振幅相對于讀取位置的輪廓以及針對一個磁道的再現(xiàn)信號的 振幅的圖；圖14是示出根據(jù)本實(shí)施方式的磁頭位置偏移的測量過程的流程圖； 圖15是示出圖14的步驟S3的測量記錄處理的細(xì)節(jié)的流程圖；以及 圖16是示出圖14的步驟S4的測量讀取處理的細(xì)節(jié)的流程圖。
具體實(shí)施方式
圖6A和圖6B是代表根據(jù)本發(fā)明的應(yīng)用了磁頭位置偏移測量處理的 存儲裝置的一個實(shí)施方式的磁盤裝置的框圖。在圖6A和圖6B中，稱作 硬盤驅(qū)動器(HDD)的磁盤裝置10由控制板12和磁盤外殼14構(gòu)成。磁 盤外殼14設(shè)置有主軸馬達(dá)16。主軸馬達(dá)16具有旋轉(zhuǎn)軸，磁盤20-1和20-2 插入到該旋轉(zhuǎn)軸中以按恒定速度(例如，4200 rpm)旋轉(zhuǎn)。根據(jù)本實(shí)施方 式的磁盤20-1和20-2使用離散磁道介質(zhì)或晶格介質(zhì)，在其結(jié)構(gòu)中，由磁 性物質(zhì)形成的多個磁道被不允許磁記錄的非磁性物質(zhì)分區(qū)。磁盤外殼14 設(shè)置有音圈馬達(dá)18。音圈馬達(dá)18具有安裝在磁頭致動器的臂的端部處的 磁頭22-1至22-4，磁頭致動器用于對這些磁頭進(jìn)行相對于磁盤20-1和 20-2的介質(zhì)記錄表面的定位。磁頭22-1至22-4是分別具有結(jié)合在一起的 寫入頭和讀取頭的組合型磁頭。作為寫入頭，使用縱向磁記錄型寫入頭 或垂直磁記錄型寫入頭。在垂直磁記錄型寫入頭的情況下，作為磁盤20-1 和20-2，使用設(shè)置有記錄層和軟磁保護(hù)層的垂直存儲介質(zhì)。作為讀取頭， 使用GMR元件或TMR元件。磁頭22-1至22-4以信號線連接到磁頭IC 24。磁頭IC 24基于來自作為上層裝置的主機(jī)11的寫入命令或讀取命令 利用磁頭選擇信號來選擇用于寫入或讀取的磁頭中的任一個。此外，磁 頭IC 24設(shè)置有寫入系統(tǒng)中的寫入放大器和讀取系統(tǒng)中的前置放大器。控 制板12設(shè)置有MPU 26。用于MPU 26的總線28設(shè)置有使用RAM來存 儲控制程序和控制數(shù)據(jù)的存儲器30和使用FROM等來存儲控制程序的非 易失性存儲器32。此外，用于MPU26的總線28設(shè)置有主機(jī)接口控制單元34、控制緩沖存儲器38的緩沖存儲器控制單元36、用作格式器的硬 盤控制器40、用作寫入調(diào)制單元和讀取解調(diào)單元的讀取通道42、以及控 制音圈馬達(dá)18和主軸馬達(dá)16的馬達(dá)驅(qū)動控制單元44。此外，MPU26、 存儲器30、非易失性存儲器32、主機(jī)接口控制單元34、緩沖存儲器控制 單元36、硬盤控制器40和讀取通道42形成存儲控制電路15。存儲控制 電路15由一個LSI電路來實(shí)現(xiàn)。磁盤裝置IO基于來自主機(jī)11的命令來 進(jìn)行記錄處理和讀取處理。這里，如下描述該磁盤裝置中的正常操作。 當(dāng)在主機(jī)接口控制單元34處接收到來自主機(jī)11的寫入命令和寫入數(shù)據(jù) 時(shí)，在MPU 26處對該寫入命令進(jìn)行解碼，并且接收到的寫入數(shù)據(jù)根據(jù) 需要而被存儲在緩沖存儲器38中，然后在硬盤控制器40處被轉(zhuǎn)換為預(yù) 定數(shù)據(jù)格式。此外，通過ECC編碼處理來添加ECC碼。在讀取通道42 中的寫入調(diào)制系統(tǒng)中進(jìn)行加擾、RLL碼變換以及寫入補(bǔ)償之后，例如從 通過磁頭IC 24而選自寫入放大器的磁頭22-1的寫入頭向磁盤20-1進(jìn)行 寫入。此時(shí)，從MPU26向馬達(dá)驅(qū)動控制單元44給出磁頭定位信號。在 利用磁頭對命令所指示的目標(biāo)磁道進(jìn)行尋道之后，由音圈馬達(dá)18進(jìn)行磁 道上(cm-track)控制。另一方面，當(dāng)在主機(jī)接口控制單元34處接收到來 自主機(jī)的讀取命令時(shí)，在MPU 26處對該讀取命令進(jìn)行解碼。在從通過 磁頭IC 24的磁頭選擇而選擇的讀取頭讀取的再現(xiàn)信號經(jīng)前置放大器放 大之后，將再現(xiàn)信號輸入到讀取通道42中的讀取解調(diào)系統(tǒng)。通過部分響 應(yīng)最大似然檢測(PRML)等來對讀取數(shù)據(jù)進(jìn)行解調(diào)。在硬盤控制器40 處進(jìn)行ECC解碼處理以校正差錯之后，將讀取數(shù)據(jù)緩沖到緩沖存儲器38 ， 并且從主機(jī)接口控制單元34向主機(jī)傳送該讀取數(shù)據(jù)。在讀取處理時(shí)，在 對目標(biāo)磁道進(jìn)行尋道之后的磁道上跟隨控制中，進(jìn)行位置校正控制，以 用來自控制表52的讀取頭位置偏移量來校正讀取頭的位置偏移，從而使 讀取頭位于可以從其獲得最大讀取振幅的磁道位置處。根據(jù)本實(shí)施方式 的磁盤裝置IO進(jìn)行磁頭位置偏移測量處理，該磁頭位置偏移測量處理在 完成裝置裝配的階段中通過使用測試裝置等來測量向磁頭22-1至22-4設(shè) 置的寫入頭與讀取頭的位置偏移量并將該量存儲在控制表52中。在連接 了磁盤裝置10的情況下，作為測試裝置的主機(jī)11向存儲器30下載用于測量磁頭位置偏移的測量固件(程序)。MPU26執(zhí)行下載到存儲器30的 測量固件，從而實(shí)現(xiàn)測量記錄單元46、測量讀取單元48和位置偏移檢測 單元50的功能，以執(zhí)行檢測磁頭位置偏移量以及將該量存儲在控制表52 中的處理。測量記錄單元46以磁盤20-1和20-2中的每一個的存儲介質(zhì) 表面上的預(yù)定徑向位置和磁道位置(例如，變址=0的伺服扇區(qū))為記錄 起點(diǎn)，在一圈磁道中使磁頭22-1至22-4中的每一個沿徑向移動經(jīng)過至少 等于或大于一個磁道的預(yù)定量，從而在以螺旋方式繪制路徑的同時(shí)寫入 測量數(shù)據(jù)。針對磁頭22-1至22-4中的每一個，測量讀取單元48在沿徑 向順序偏移讀取起點(diǎn)的同時(shí)，使磁頭在從包括測量記錄單元46的記錄起 點(diǎn)的內(nèi)周側(cè)到外周側(cè)的預(yù)定掃描范圍內(nèi)針對各讀取起點(diǎn)沿徑向移動等于 測量記錄單元46中的量的預(yù)定量，從而在繪制螺旋形路徑的同時(shí)讀取作 為測量數(shù)據(jù)而寫入在磁盤20-1和20-2中的測量圖案。位置偏移檢測單元 50求得從在設(shè)置有讀取起點(diǎn)的預(yù)定掃描范圍中的再現(xiàn)信號獲得的作為評 測值(例如，再現(xiàn)信號的振幅或差錯率)的分布的輪廓，通過讀取測量 讀取單元48所獲得的測量圖案，根據(jù)再現(xiàn)信號來求得該輪廓。根據(jù)該評 測值的輪廓，檢測讀取頭與寫入頭在存儲介質(zhì)表面上沿徑向的位置偏移 量，并且將該位置偏移量存儲在控制表52中。在這種磁頭位置偏移檢測 中，順序選擇四個磁頭22-1至22-4中的一個，并以磁盤20-1和20-2中 的對應(yīng)磁盤的存儲介質(zhì)表面上的所有磁道或多個預(yù)定磁道為目標(biāo)磁道， 同時(shí)進(jìn)行測量處理。這里，當(dāng)對存儲介質(zhì)表面上的部分磁道進(jìn)行磁頭位 置偏移量測量時(shí)，通過針對測量的位置偏移磁頭的插值計(jì)算來計(jì)算未測 量的磁道的位置偏移，然后將該位置偏移存儲在控制表52中，或者，每 次對磁頭位置偏移進(jìn)行校正時(shí)都進(jìn)行插值計(jì)算，如下所述。在測量磁頭 位置偏移的處理完成之后，刪除從主機(jī)11下載到存儲器30的測量固件。 因此，在MPU26中，測量記錄單元46、測量讀取單元48和位置偏移檢 測單元50的功能被刪除。隨著裝置的停止和結(jié)束處理，存儲器30中的 控制表52與檢測到的磁頭位置偏移量一起以非易失性方式被寫入并存儲 在例如與磁頭22-1相對應(yīng)的磁盤20-1的介質(zhì)記錄表面上的最外系統(tǒng)區(qū) 中。然后，當(dāng)連接到用戶的主機(jī)11的裝置打開電源時(shí)，磁盤裝置10被激活。在激活的初始處理中，讀取頭22-l從磁盤20-l的存儲介質(zhì)表面的 系統(tǒng)區(qū)讀取控制表52，并且控制表52如所描述地設(shè)置在存儲器30上。 在MPU 26中，在從主機(jī)11接收到讀取命令時(shí)的讀取處理中，當(dāng)磁頭22-1 針對磁道上跟隨控制而尋到目標(biāo)磁道時(shí)，從存儲器32中的控制表52讀 取與該目標(biāo)磁道相對應(yīng)的磁頭位置偏移量。然后，驅(qū)動VCM 18來進(jìn)行 位置偏移校正，以消除磁頭位置偏移量。由此，對磁頭進(jìn)行定位控制， 使得磁頭位于再現(xiàn)信號相對于目標(biāo)磁道的記錄圖案為最大的位置處或者 位于差錯率為最小的位置處。
圖7是用于描述根據(jù)本實(shí)施方式的磁盤裝置的內(nèi)部結(jié)構(gòu)的圖。在圖 7中，根據(jù)本實(shí)施方式的磁盤裝置在基體54上布置有由主軸馬達(dá)16驅(qū)動 而以預(yù)定速度旋轉(zhuǎn)的磁盤20-1和20-2。對于磁盤20-1和20-2，布置有被 軸單元58以可旋轉(zhuǎn)方式支承的致動器56。致動器56在其臂的端部處布 置有磁頭22-1，并且具有設(shè)置在臂的相對側(cè)并且以可旋轉(zhuǎn)方式布置在磁 軛60中的線圈，磁軛60以在其中插入永磁體的方式垂直固定到基體54。 由主軸馬達(dá)16旋轉(zhuǎn)的磁盤20-1和20-2 (提取它們的存儲介質(zhì)表面，以 放大方式在外部示出)的結(jié)構(gòu)為離散磁道62或晶格介質(zhì)68。離散磁道 62具有作為磁性區(qū)64的磁道部分。在作為該磁性區(qū)64的磁道的兩側(cè)設(shè) 置有非磁性區(qū)66。另一方面，在晶格介質(zhì)68的情況下，在磁道邊界部分 和沿磁道方向分區(qū)的區(qū)域中布置有磁性區(qū)70，并且布置有主導(dǎo)磁道方向 和磁道寬度方向的非磁性區(qū)72。
圖8是用于描述本實(shí)施方式中的磁頭相對于磁盤移動時(shí)的磁頭位置 偏移的狀態(tài)的圖。在圖8中，對于磁盤20，如圖7所示出的，致動器56 關(guān)于繞軸單元58被可轉(zhuǎn)動地設(shè)置，并且在致動器56的端部處安裝磁頭 22。磁頭22設(shè)置有寫入頭74和讀取頭76，并且寫入頭74和讀取頭76 由于制造過程中的誤差而沿磁道徑向位置發(fā)生偏移。致動器56使設(shè)置有 具有位置偏移的寫入頭74和讀取頭76的磁頭22相對于磁盤20的存儲 介質(zhì)表面沿徑向移動，在致動器56的軸向與磁道方向相一致的中心位置 處形成偏航角6=0。在該0=0的位置處，寫入頭74與讀取頭76的相對于 磁道徑向的位置偏移(不包括制造過程中的誤差)為最小。另一方面，在致動器56使磁頭74移動到最外側(cè)的磁頭22-11的位置或最內(nèi)側(cè)的磁頭 22-12的位置處的偏航角為emax或+6max的位置處，寫入頭74與讀取頭 76的相對于磁道徑向的位置偏移(不包括制造過程中的誤差)為最大。 因此，在根據(jù)本實(shí)施方式的磁頭位置偏移量測量中，在兩個位置(即， 至少在最外磁頭22-11的位置和最內(nèi)磁頭22-12的位置)處測量磁頭位置 偏移量，而在它們之間的位置處，必須通過插值計(jì)算來求得磁頭位置偏 移量。這里，最外磁頭位置偏移量和最內(nèi)磁頭位置偏移量的取值相對于 磁頭在偏航角0=0的中心位置處的位置偏移量沿相反方向(即，正側(cè)和負(fù) 側(cè))變化。
圖9是用于描述根據(jù)本實(shí)施方式的圖6A和圖6B的控制表52的圖， 該控制表52存儲位置偏移測量結(jié)果。在圖9中，控制表52在其中設(shè)置 磁頭號、柱面地址和位置偏移量。磁頭號被設(shè)置為與圖6A和圖6B的四 個磁頭22-1至22-4相對應(yīng)的HH01至HH04。柱面地址對應(yīng)于磁頭22-1 至22-4所處的磁道地址，當(dāng)磁道的總數(shù)為n時(shí)，柱面地址為CC1至CCn。 在本實(shí)施方式中，作為分別由磁頭號和柱面地址指定的目標(biāo)磁道的磁頭 位置偏移量，通過磁頭位置偏移測量處理來獲得OFF1至OFF4n，然后 將它們存儲在控制表52中，如圖所示出的。當(dāng)然，對于存儲在控制表52 中的位置偏移量的值，在對在沿徑向的多個磁道位置(包括最內(nèi)位置和 最外位置)處測量的值進(jìn)行登記之后，對于它們之間的位置，可以對通 過插值計(jì)算根據(jù)兩側(cè)的測量值而求得的偏移量進(jìn)行存儲，并且可以測量 所有磁道的偏移量并存儲這些偏移量。
圖IOA和圖10B是用于描述本實(shí)施方式中的在正常記錄/讀取時(shí)和在 用于磁頭位置偏移測量的記錄/讀取時(shí)的磁頭路徑的圖。圖IOA示出了在 正常記錄/讀取時(shí)的磁頭路徑。例如，當(dāng)在磁道78-N中寫入數(shù)據(jù)時(shí)，讀取 頭對以預(yù)定間隔沿磁道方向設(shè)置的伺服扇區(qū)進(jìn)行讀取以解調(diào)位置信號， 并針對磁道上而對磁道78-N的位置進(jìn)行尋道，從而在沿磁道78-N繪制 圓形磁頭路徑80的同時(shí)在存儲介質(zhì)表面上進(jìn)行數(shù)據(jù)記錄或讀取。
圖IOB示出了根據(jù)本實(shí)施方式的磁頭位置測量時(shí)的讀取路徑。在本 實(shí)施方式中，在將磁盤20的磁道78-N作為針對磁道上的目標(biāo)磁道進(jìn)行尋道時(shí)，扇區(qū)號=0 (利用其可以獲得變址)的伺服扇區(qū)被視為記錄或讀
取起點(diǎn)85-l。進(jìn)行控制，使得在磁盤20旋轉(zhuǎn)一次的同時(shí)，磁頭例如移動 經(jīng)過內(nèi)磁道78-(N+l)，從而以螺旋方式從磁道78-N的起點(diǎn)85-1到磁道 78-(N+l)的結(jié)束點(diǎn)85-2繪制磁頭路徑82。
圖11是用于描述本實(shí)施方式中的將測量圖案記錄到存儲介質(zhì)的處理 的圖。在圖11中，作為示例，以離散磁道為存儲介質(zhì)，并且針對一圈磁 盤旋轉(zhuǎn)而取出三個磁道，艮卩，磁道78-N、 78-(N+l)、 78-(N+2)。磁性區(qū) 64布置在磁道記錄區(qū)中，而非磁性區(qū)66布置在磁道邊界部分處。這里， 盡管在此對非磁性區(qū)66進(jìn)行分區(qū)，但是非磁性區(qū)66可以是連續(xù)的非磁 性區(qū)。這里，在磁盤上沿存儲介質(zhì)表面的磁道方向以預(yù)定間隔形成伺服. 扇區(qū)。例如，伺服扇區(qū)的數(shù)量為M。因此，在圖11中，示出了從扇區(qū)號 =0至扇區(qū)號-M-l的伺服扇區(qū)的一圈的磁道。對于這種存儲介質(zhì)的磁頭位 置測量，首先以磁道78-N為目標(biāo)磁道寫入測量圖案92。按以下方式進(jìn)行 對測量圖案92的寫入針對磁道上，利用向磁頭22設(shè)置的讀取頭76來 對目標(biāo)磁道78-N進(jìn)行尋道，當(dāng)檢測到讀取頭76正讀取扇區(qū)號=0的伺服 扇區(qū)時(shí)，確定到達(dá)讀取起點(diǎn)84-1，從而寫入頭74開始從記錄起點(diǎn)86-1 寫入測量圖案92。然后，針對一圈磁道，從讀取起點(diǎn)84-1到扇區(qū)(M-l)， 磁頭22沿徑向(即，沿磁道78-(N+l)方向)偏移一個磁道寬度的M分 之一。由此，在圖10B中示出的螺旋方式的磁頭路徑82，即，在圖11 的線性化的情況下，獲得了讀取頭76的由從讀取起點(diǎn)84-1到讀取結(jié)束點(diǎn) 84-2的直線表示的讀取路徑88。同時(shí)，對于寫入頭74，獲得了從記錄起 點(diǎn)86-1到記錄結(jié)束點(diǎn)86-2的直線記錄路徑90。寫入頭74從磁道78-N 通過磁道78-(N+l)朝磁道78-(N+2)沿記錄路徑90以直線方式(實(shí)際上是 以螺旋方式)記錄測量圖案92。在記錄該測量圖案92時(shí)，在本實(shí)施方式 中，由于這是離散磁道的情況，因此在磁道區(qū)的各邊界位置處設(shè)置有非 磁性區(qū)66。以螺旋方式記錄測量圖案92，以使其在一圈旋轉(zhuǎn)沿磁道方向 經(jīng)過一磁道間距。因此，即使在磁道邊界部分處存在非磁性區(qū)66，也可 以可靠地記錄測量圖案92，以在一圈磁道中總是越過磁性區(qū)64。
圖12是用于描述本實(shí)施方式中的從存儲介質(zhì)讀取測量圖案的處理的圖。按如圖11所示出的方式，讀取以螺旋方式記錄的從磁道78-N到
磁道78-(N+l)的測量圖案92，在記錄時(shí)讀取頭76的讀取起點(diǎn)84被視為 中心，沿徑向設(shè)置具有預(yù)定偏移值+P和-P的掃描范圍94。然后，對于掃 描范圍94，在沿預(yù)定方向逐漸移動讀取頭76的讀取起點(diǎn)進(jìn)行掃描的同時(shí) 沿磁道方向以螺旋方式進(jìn)行掃描，讀取測量圖案92。具體地說，針對磁 道上，讀取頭76對在記錄時(shí)相對于讀取起點(diǎn)84偏移-P的讀取起點(diǎn)84(-P) 進(jìn)行尋道。在該狀態(tài)下，在檢測到扇區(qū)號=0的伺服扇區(qū)時(shí)開始讀取。然 后，每次檢測到伺服扇區(qū)時(shí)，在使點(diǎn)向正側(cè)偏移一個磁道寬度的M分之 一的同時(shí)進(jìn)行讀取，從而沿讀取路徑88 (-P)移動讀取頭76。 g卩，如圖 10B所示，沿磁頭路徑80以螺旋方式移動讀取頭76。對通過沿讀取路徑 88 (-P)移動讀取頭76而獲得的再現(xiàn)信號進(jìn)行釆樣，以將針對一圈磁道 的釆樣值存儲在存儲器30中。然后，在以預(yù)定間隔從讀取起點(diǎn)84 (-P) 向正側(cè)偏移到讀取起點(diǎn)84 (+P)的同時(shí)，讀取頭76在各操作起點(diǎn)處以螺 旋方式移動，從而對測量圖案92的一圈磁道的再現(xiàn)信號的振幅進(jìn)行采樣， 并將結(jié)果存儲在存儲器30中。以這種方式，當(dāng)通過對掃描范圍94的順 序掃描而完成讀取處理時(shí)，生成表示再現(xiàn)信號的振幅(作為信號評測值) 相對于讀取位置的信號分布的輪廓96，如圖13A所示。在通過測量圖案 讀取處理而獲得的峰處的再現(xiàn)信號振幅104和1/2峰處的再現(xiàn)信號振幅 106的示例情況下，輪廓96表示作為針對一圈的釆樣值的平均值或累計(jì) 值而被求得的如圖13B所描述的值。圖13A的再現(xiàn)信號的振幅相對于讀 取位置的輪廓96表示以掃描范圍94為讀取起點(diǎn)沿多個螺旋路徑移動讀 取頭76而獲得的通過如圖12中由記錄路徑所示出的值。其中，沿經(jīng)過 測量圖案92的中心的記錄路徑90進(jìn)行讀取。因此，盡管如圖13B的再 現(xiàn)信號振幅104所示出的，再現(xiàn)信號振幅在扇區(qū)0側(cè)和扇區(qū)M-l側(cè)較小， 但是如再現(xiàn)信號振幅104所示出的，在磁性區(qū)64中存在測量圖案的中央 部分處可以獲得足夠的振幅值，從而使得可以精確地求得作為平均值或 累計(jì)值而獲得的輪廓96的再現(xiàn)峰值101。只要檢測到輪廓96的峰點(diǎn)101， 就可以精確地檢測到在圖11中的測量記錄時(shí)從寫入位置98到峰點(diǎn)101 的偏移值102，作為寫入頭74與讀取頭76在磁道78-N上沿徑向的偏移量。這里，對于掃描范圍94，可以基于寫入頭與讀取頭的位置偏移的最 大值來限定+P和-P的值，可以在磁頭制造過程中采用該值。圖14是根據(jù)本實(shí)施方式的磁頭位置偏移的測量過程的流程圖，并且參照圖6A和圖6B來如下描述。在圖14中，在步驟S1，從主機(jī)ll將用 于在測試裝置中使用的測量固件下載到磁盤裝置10的存儲器30，并且由 MPU26來執(zhí)行該測量固件。由此，向MPU26設(shè)置的測量記錄單元46、 測量讀取處理單元48、位置偏移檢測單元50的功能變得有效。然后，在 步驟S2，提取測量磁道位置作為目標(biāo)磁道位置X。具體地說，從布置在 存儲器30中的控制表52，順序提取磁頭號和柱面地址。在該階段，控制 表52在其中僅設(shè)置了圖9中所示出的磁頭號和柱面地址，而位置偏移量 的區(qū)為空白。接下來，在步驟S3，根據(jù)測量記錄單元46，如圖11所示， 針對磁道上，利用磁頭22來對目標(biāo)磁道位置X進(jìn)行尋道，并且該磁頭在 一圈磁道中移動經(jīng)過這些磁道，從而以螺旋方式寫入測量圖案。接下來， 在步驟S4，如圖12所示出的，沿徑向?qū)σ月菪绞綄懭氲臏y量圖案92 設(shè)置掃描范圍94，并且針對一圈磁道，磁頭順序移動經(jīng)過一個磁道，從 而利用螺旋方式的磁頭路徑來讀取測量圖案。然后，在步驟S5，位置偏 移檢測單元50求得再現(xiàn)信號的振幅相對于讀取位置的輪廓96，例如如圖 13A所示出的。然后，根據(jù)輪廓96中的峰101的讀取位置來求得偏移值 102，并且將該偏移值102作為對應(yīng)的位置偏移量而存儲在圖9的控制表 中。在步驟S5，在檢測圖13A中的輪廓96的峰點(diǎn)101時(shí)，當(dāng)難以從輪 廓96的波形中指定峰點(diǎn)101時(shí)，求得與A/2相交叉的、分別為峰101的 振幅A的半幅的點(diǎn)108和110的讀取位置，并且求得這兩個讀取位置的 1/2讀取位置作為峰點(diǎn)101的偏移值102。然后，在步驟S6，檢査是否已 經(jīng)處理了控制表52中所設(shè)置的所有測量磁道。如果尚未處理，則過程返 回到步驟S2，提取下一測量磁道作為目標(biāo)磁道X并重復(fù)相似的處理。如 果在步驟S6確定已經(jīng)處理了所有的測量磁道，則在步驟S7將控制表52 存儲在磁盤的系統(tǒng)區(qū)中。這里，如果非易失性存儲器32具有足夠的容量， 則可以將控制表52存儲在非易失性存儲器32中。然后，在步驟S8，從 存儲器30中刪除由于磁頭位置偏移測量的結(jié)束而不再需要的測量固件。由此， 一系列處理結(jié)束。這里，可以在保持存儲在磁盤中的測量固件的 情況下將磁盤裝置10移交給用戶，而并不如步驟S8那樣刪除測量固件。 在這種情況下，如果在用戶使用磁盤裝置10時(shí)由于磁頭位置偏移量而出 現(xiàn)故障，則可以在用戶側(cè)執(zhí)行所安裝的測量固件并新創(chuàng)建針對該磁頭位置偏移量的控制表52。圖15是示出圖14的步驟S3的測量記錄處理的細(xì)節(jié)的流程圖，并且 參照圖11來如下描述。在圖15中，在測量記錄處理中，在步驟Sl獲得 目標(biāo)磁道位置X。然后，在步驟S2，對目標(biāo)磁道位置X進(jìn)行尋道。該目 標(biāo)磁道位置X例如處于這樣的狀態(tài)中即，例如，使圖11的磁道78-N 位于經(jīng)過讀取起點(diǎn)84-1的磁道中心處而對讀取頭76進(jìn)行定位。然后，在 步驟S3，將伺服扇區(qū)計(jì)數(shù)器m和目標(biāo)偏移量5重置為0。在步驟S4，確 定是否已經(jīng)實(shí)現(xiàn)到達(dá)測量記錄起點(diǎn)。具體地說，在圖11中，是以下情況 在磁頭22的讀取頭76位于磁道78-N的磁道中心處的磁盤上狀態(tài)中，檢 測到伺服扇區(qū)號=0并且實(shí)現(xiàn)到達(dá)讀取起點(diǎn)84-1。此時(shí)，位置偏移的寫入 頭74位于磁道78-(N+l)側(cè)的記錄起點(diǎn)84-1處。如果在步驟S4確定已經(jīng) 實(shí)現(xiàn)到達(dá)測量記錄起點(diǎn)，則過程轉(zhuǎn)到步驟S5，在步驟S5，磁頭74在介 質(zhì)記錄表面上記錄了記錄信號以寫入測量圖案92。當(dāng)開始記錄測量圖案 92時(shí)，接著在步驟S6檢査是否檢測到下一伺服扇區(qū)。在檢測到下一伺服 扇區(qū)時(shí)，過程轉(zhuǎn)到步驟S7，在步驟S7，將伺服扇區(qū)計(jì)數(shù)器m計(jì)數(shù)增加 一，并且目標(biāo)偏移量5增加通過將磁道間距Tp除以伺服扇區(qū)的數(shù)量M而 獲得的量(Tp/M)。接下來在步驟S8，將目標(biāo)磁道位置X增加在步驟S7 更新的目標(biāo)偏移量5，從而使磁頭22偏移到磁道78-(N+l)側(cè)。然后，在 步驟SIO，確定伺服扇區(qū)計(jì)數(shù)器的值m是否已經(jīng)達(dá)到伺服扇區(qū)的數(shù)量M。 如果未達(dá)到，則過程重復(fù)從步驟S5起的處理。通過對步驟S5至S9的處 理的這種重復(fù)，每次檢測到伺服扇區(qū)時(shí)，磁頭22沿內(nèi)徑向順序移動目標(biāo) 偏移量5，從而實(shí)現(xiàn)在一圈旋轉(zhuǎn)中移動一個磁道間距。結(jié)果，如圖10B所 示出的，可以沿磁頭路徑82以螺旋方式記錄測量圖案92。在步驟S9， 如果伺服扇區(qū)計(jì)數(shù)器的值m達(dá)到伺服扇區(qū)的數(shù)量M，則一系列測量記錄 處理結(jié)束。圖16是示出圖14的步驟S4的測量讀取處理的細(xì)節(jié)的流程圖，并且 參照圖7來如下描述。在圖16中，在測量讀取處理中，在步驟S1，將偏 移W設(shè)置為初始值-P，從而W;P。針對圖12中的讀取測量，這向掃描 范圍94中的讀取起點(diǎn)84 (-P)賦予偏移。然后，在步驟S2，以X-X+W 為目標(biāo)磁道位置X進(jìn)行尋道。即，利用磁頭對圖12的掃描范圍94中的 掃描起點(diǎn)84 (-P)所經(jīng)過的位置進(jìn)行尋道。然后，在步驟S4，將伺服扇 區(qū)計(jì)數(shù)器m和目標(biāo)偏移量5重置為零。然后，在步驟S5，對伺服扇區(qū)的 扇區(qū)號進(jìn)行監(jiān)測以檢查是否己經(jīng)到達(dá)扇區(qū)號量=0的讀取起點(diǎn)84 (-P)。 如果確定達(dá)到該讀取起點(diǎn)，則過程轉(zhuǎn)到讀取頭76讀取測量圖案的步驟 S5。然后，在步驟S6，檢查是否檢測到伺服扇區(qū)。如果檢測到伺服扇區(qū)， 則在步驟S7，將伺服扇區(qū)計(jì)數(shù)器m計(jì)數(shù)增加一，同時(shí)，將目標(biāo)偏移量S 增加通過將磁盤間距Tp除以伺服扇區(qū)的數(shù)量M而獲得的量(Tp/M)。然 后，在步驟S8，將目標(biāo)磁道位置更新為X=X+S。重復(fù)步驟S5至S8的這 些處理，直到在步驟S9，伺服扇區(qū)計(jì)數(shù)器m達(dá)到伺服扇區(qū)的數(shù)量M為 止。步驟S5至S9的這些處理與圖15中所示出的測量記錄處理中的步驟 S5至S9的處理相同。結(jié)果，如圖10B所示出的，可以以從通過讀取起 點(diǎn)的磁道移動一個磁道的螺旋方式繪制磁頭路徑82。結(jié)果，在圖12中， 通過使讀取頭76沿讀取路徑88 (-P)移動來讀取記錄圖案92，并且把 來自伺服扇區(qū)^至M-1的再現(xiàn)信號的振幅的釆樣值存儲在存儲器中。然 后，在步驟SIO，作為來自通過以螺旋方式掃描一圈磁道而獲得的再現(xiàn)信 號的信號評測值，例如計(jì)算如圖13B所示出的針對一圈磁道的再現(xiàn)信號 的振幅的平均值或累計(jì)值。然后，在步驟Sll，在偏移W被更新為通過 增加偏移量Sp而獲得的值之后，過程轉(zhuǎn)到步驟S12，在步驟S12，如果偏 移W不超過掃描范圍的相對側(cè)的偏移值+P，則過程返回到步驟S2，獲得 掃描范圍92中的下一讀取起點(diǎn)處的目標(biāo)磁道值X并對其進(jìn)行尋道，類似 地以螺旋方式針對與磁道相似的范圍讀取測量圖案，然后計(jì)算信號評測 值。這里，偏移量5p表示對掃描范圍92進(jìn)行掃描時(shí)的步寬，并且可以指 定可以實(shí)現(xiàn)足夠精度的磁頭位置偏移校正的值。如果偏移W超過表示對 掃描范圍94的相對側(cè)的限制值的偏移值+P，則過程返回到步驟S12，過程返回到圖14的主例程。在步驟S5，根據(jù)評測值的輪廓(例如，再現(xiàn)信 號的振幅的輪廓)，針對表注冊來檢測磁頭位置偏移。此外，本發(fā)明涉及用于在設(shè)置有磁盤裝置的MPU 26上執(zhí)行的磁頭位置偏移測量的程序。 根據(jù)本實(shí)施方式的程序包括如圖14至圖16中的流程圖所示出的內(nèi)容。 此外，本發(fā)明提供了其中存儲有在磁盤裝置的MPU上執(zhí)行的用于磁頭位 置偏移測量的測量程序的存儲介質(zhì)。這里，存儲介質(zhì)包括設(shè)置在計(jì)算機(jī) 系統(tǒng)的內(nèi)部或外部的諸如CD-ROM、軟盤(RR)、 DVD盤、磁光盤或IC 卡的簡單的存儲介質(zhì)和諸如硬盤驅(qū)動器的存儲介質(zhì)，以及通過線路等來 保持?jǐn)?shù)據(jù)程序的數(shù)據(jù)庫、其他計(jì)算機(jī)系統(tǒng)及其數(shù)據(jù)庫，以及線路上的傳 輸介質(zhì)。更進(jìn)一步，在上述實(shí)施方式中，已經(jīng)描述了一種示例情況，在 該情況下，在測量記錄和測量讀取時(shí)，在一圈磁道中磁頭沿徑向移動至 少一個磁道，記錄測量圖案和讀取測量圖案以螺旋方式繪制磁頭路徑。 作為另一種選擇，在一圈磁道中磁頭沿徑向的移動量被取為一個磁道寬 度或更多，利用斜跨過多個磁道的磁頭路徑來進(jìn)行對測量圖案的記錄和 讀取。更進(jìn)一步，在不損害本發(fā)明的目的和優(yōu)點(diǎn)的情況下，本發(fā)明包括 適當(dāng)?shù)淖冃?，并且本發(fā)明不受上述實(shí)施方式中所提及的數(shù)值的限制。本申請基于2007年2月16日在日本提交的在先申請JP2007-035957 的優(yōu)先權(quán)。
權(quán)利要求
1. 一種存儲裝置，該存儲裝置包括存儲介質(zhì)，其結(jié)構(gòu)具有由可磁存儲的磁性物質(zhì)形成的多個磁道，所述磁道被不允許磁記錄的非磁性物質(zhì)分區(qū)；磁頭，其具有用于讀取記錄在所述磁道上的磁存儲信息的讀取頭和用于在所述磁道上寫入磁存儲信息的寫入頭；測量數(shù)據(jù)記錄單元，其以所述存儲介質(zhì)的預(yù)定徑向位置和磁道位置為記錄起點(diǎn)，在一圈磁道中使所述磁頭移動經(jīng)過至少等于或大于一個磁道的預(yù)定量，從而在繪制螺旋形路徑的同時(shí)在所述存儲介質(zhì)中寫入測量數(shù)據(jù)；測量數(shù)據(jù)讀取單元，其在對從包括所述測量數(shù)據(jù)記錄單元的所述記錄起點(diǎn)的內(nèi)周側(cè)到外周側(cè)的預(yù)定掃描范圍內(nèi)的讀取起點(diǎn)進(jìn)行掃描的同時(shí)，使所述磁頭針對所述讀取起點(diǎn)中的每一個移動經(jīng)過所述測量數(shù)據(jù)記錄單元的所述預(yù)定量，從而在繪制螺旋形路徑的同時(shí)從所述存儲介質(zhì)讀取所述測量數(shù)據(jù)；以及磁頭位置偏移檢測單元，其根據(jù)所述測量數(shù)據(jù)讀取單元獲得的測量數(shù)據(jù)再現(xiàn)信號來求得所述預(yù)定掃描范圍內(nèi)的評測值的分布，并且在所述評測值的分布中檢測所述讀取頭與所述寫入頭在所述存儲介質(zhì)上沿徑向的位置偏移量以進(jìn)行存儲。
2、 根據(jù)權(quán)利要求l所述的存儲裝置，其中，所述測量數(shù)據(jù)記錄單元預(yù)先設(shè)置通過將磁道寬度除以沿磁道周向按 預(yù)定間隔記錄的伺服扇區(qū)的數(shù)量而獲得的目標(biāo)偏移量，并且在開始從所 述記錄起點(diǎn)進(jìn)行寫入之后，在各伺服扇區(qū)檢測時(shí)，使所述磁頭沿徑向移 動所述目標(biāo)偏移量，從而在一圈磁道中使所述磁頭移動經(jīng)過至少一個磁 道，同時(shí)在所述存儲介質(zhì)中寫入所述測量數(shù)據(jù)。
3、 根據(jù)權(quán)利要求2所述的存儲裝置，其中，在從所述預(yù)定掃描范圍內(nèi)的從其進(jìn)行掃描的讀取起點(diǎn)開始讀取之 后，所述測量數(shù)據(jù)讀取單元在各伺服扇區(qū)檢測時(shí)，使所述磁頭沿所述徑向移動所述目標(biāo)偏移量，從而在一圈磁道中使所述磁頭移動經(jīng)過至少一 個磁道，同時(shí)從所述存儲介質(zhì)讀取所述測量數(shù)據(jù)。
4、 根據(jù)權(quán)利要求l所述的存儲裝置，其中，所述磁頭位置偏移檢測單元對從所述測量數(shù)據(jù)讀取單元獲得的再現(xiàn) 信號的振幅進(jìn)行檢測作為所述評測值，并且根據(jù)所述振幅的分布中的峰 值來檢測所述位置偏移量。
5、 根據(jù)權(quán)利要求4所述的存儲裝置，其中，所述磁頭位置偏移檢測單元檢測通過讀取一個螺旋形來路徑而獲得 的所述再現(xiàn)信號的振幅的平均值或累計(jì)值，作為所述再現(xiàn)信號的振幅。
6、 根據(jù)權(quán)利要求l所述的存儲裝置，其中，所述磁頭位置偏移檢測單元檢測所述測量數(shù)據(jù)讀取單元獲得的再現(xiàn) 信號的差錯率作為所述評測值，并且根據(jù)所述差錯率的分布中的底部峰 值來檢測所述位置偏移量。
7、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的存儲裝置，其中，所述測量數(shù)據(jù)記錄單元、所述測量數(shù)據(jù)讀取單元和所述磁頭位置偏 移檢測單元針對所述存儲介質(zhì)的所有磁道位置中的每一個，檢測并存儲 所述位置偏移量。
8、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的存儲裝置，其中，所述測量數(shù)據(jù)記錄單元、所述測量數(shù)據(jù)讀取單元和所述磁頭位置偏 移檢測單元檢測并存儲在所述存儲介質(zhì)上沿徑向的多個測量位置處的所 述位置偏移量，并且除了所述測量位置之外的其它各位置處的位置偏移 量是通過插值計(jì)算根據(jù)兩側(cè)的測量位置處的位置偏移量來求得的。
9、 一種存儲裝置的存儲控制電路， 所述存儲裝置設(shè)置有存儲介質(zhì)，其結(jié)構(gòu)具有由可磁存儲的磁性物質(zhì)形成的多個磁 道，所述磁道被不允許磁記錄的非磁性物質(zhì)分區(qū)；以及磁頭，其具有用于讀取記錄在所述磁道上的磁存儲信息的讀 取頭和用于在所述磁道上寫入磁存儲信息的寫入頭， 所述存儲控制電路包括測量數(shù)據(jù)記錄單元，其以所述存儲介質(zhì)的預(yù)定徑向位置和磁 道位置為記錄起點(diǎn)，在一圈磁道中使所述磁頭移動經(jīng)過至少大于 一個磁道的預(yù)定量，從而在繪制螺旋形路徑的同時(shí)在所述存儲介 質(zhì)中寫入測量數(shù)據(jù)；測量數(shù)據(jù)讀取單元，其在對從包括所述測量數(shù)據(jù)記錄單元的 所述記錄起點(diǎn)的內(nèi)周側(cè)到外周側(cè)的預(yù)定掃描范圍內(nèi)的讀取起點(diǎn)進(jìn) 行掃描的同時(shí)，使所述磁頭針對所述讀取起點(diǎn)中的每一個移動經(jīng) 過所述測量數(shù)據(jù)記錄單元的所述預(yù)定量，從而在繪制螺旋形路徑 的同時(shí)從所述存儲介質(zhì)讀取所述測量數(shù)據(jù)；以及磁頭位置偏移檢測單元，其根據(jù)所述測量數(shù)據(jù)讀取單元獲得 的測量數(shù)據(jù)再現(xiàn)信號來求得所述預(yù)定掃描范圍內(nèi)的評測值的分 布，并且在所述評測值的分布中檢測所述讀取頭與所述寫入頭在 所述存儲介質(zhì)上沿徑向的位置偏移量以進(jìn)行存儲。
10、 根據(jù)權(quán)利要求9所述的存儲控制電路，其中， 所述測量數(shù)據(jù)記錄單元預(yù)先設(shè)置通過將磁道寬度除以沿磁道周向按預(yù)定間隔記錄的伺服扇區(qū)的數(shù)量而獲得的目標(biāo)偏移量，并且在從所述記 錄起點(diǎn)開始寫入之后，在各伺服扇區(qū)檢測時(shí)，使所述磁頭沿徑向移動所 述目標(biāo)偏移量，從而在一圈磁道中使所述磁頭移動經(jīng)過至少一個磁道， 同時(shí)在所述存儲介質(zhì)中寫入所述測量數(shù)據(jù)。
11、 根據(jù)權(quán)利要求10所述的存儲控制電路，其中， 在從所述預(yù)定掃描范圍內(nèi)的從其進(jìn)行掃描的讀取起點(diǎn)開始讀取之后，所述測量數(shù)據(jù)讀取單元在各伺服扇區(qū)檢測時(shí)，使所述磁頭沿所述徑 向移動所述目標(biāo)偏移量，從而在一圈磁道中使所述磁頭移動經(jīng)過至少一 個磁道，同時(shí)從所述存儲介質(zhì)讀取所述測量數(shù)據(jù)。
12、 根據(jù)權(quán)利要求9所述的存儲控制電路，其中， 所述磁頭位置偏移檢測單元對從所述測量數(shù)據(jù)讀取單元獲得的再現(xiàn)信號的振幅進(jìn)行檢測作為所述評測值，并且根據(jù)所述振幅的分布中的峰 值來檢測所述位置偏移量。
13、 根據(jù)權(quán)利要求12所述的存儲控制電路，其中，所述磁頭位置偏移檢測單元檢測通過讀取一個螺旋形路徑而獲得的 所述再現(xiàn)信號的振幅的平均值或累計(jì)值作為所述再現(xiàn)信號的振幅。
14、 根據(jù)權(quán)利要求9所述的存儲控制電路，其中，所述磁頭位置偏移檢測單元檢測所述測量數(shù)據(jù)讀取單元獲得的再現(xiàn) 信號的差錯率作為所述評測值，并且根據(jù)所述差錯率的分布中的底部峰 值來檢測所述位置偏移量。
15、 根據(jù)權(quán)利要求9所述的存儲控制電路，其中， 所述測量數(shù)據(jù)記錄單元、所述測量數(shù)據(jù)讀取單元和所述磁頭位置偏移檢測單元針對所述存儲介質(zhì)的所有磁道位置中的每一個，檢測并存儲 所述位置偏移量。
16、 根據(jù)權(quán)利要求9所述的存儲控制電路，其中， 所述測量數(shù)據(jù)記錄單元、所述測量數(shù)據(jù)讀取單元和所述磁頭位置偏移檢測單元測量并存儲在所述存儲介質(zhì)上沿徑向的多個測量位置處的所 述位置偏移量，并且除了所述測量位置之外的其它各位置處的位置偏移 量是通過插值計(jì)算根據(jù)兩側(cè)的測量位置處的位置偏移量來求得的。
17、 一種存儲裝置的磁頭位置偏移測量方法， 所述存儲裝置設(shè)置有存儲介質(zhì)，其結(jié)構(gòu)具有由可磁存儲的磁性物質(zhì)形成的多個磁 道，所述磁道被不允許磁記錄的非磁性物質(zhì)分區(qū)；以及磁頭，其具有用于讀取記錄在所述磁道上的磁存儲信息的讀 取頭和用于在所述磁道上寫入磁存儲信息的寫入頭， 所述方法包括以下步驟測量數(shù)據(jù)記錄步驟，其以所述存儲介質(zhì)的預(yù)定徑向位置和磁 道位置為記錄起點(diǎn)，在一圈磁道中使所述磁頭移動經(jīng)過至少等于 或大于一個磁道的預(yù)定量，從而在繪制螺旋形路徑的同時(shí)在所述存儲介質(zhì)中寫入測量數(shù)據(jù)；測量數(shù)據(jù)讀取步驟，其在對從包括所述測量數(shù)據(jù)記錄步驟中 的所述記錄起點(diǎn)的內(nèi)周側(cè)到外周側(cè)的預(yù)定掃描范圍內(nèi)的讀取起點(diǎn) 進(jìn)行掃描的同時(shí)，使所述磁頭針對所述讀取起點(diǎn)中的每一個移動經(jīng)過所述測量數(shù)據(jù)記錄步驟中的所述預(yù)定量，從而在繪制螺旋形路徑的同時(shí)從所述存儲介質(zhì)讀取所述測量數(shù)據(jù)；以及磁頭位置偏移檢測步驟，其根據(jù)所述測量數(shù)據(jù)讀取步驟獲得 的測量數(shù)據(jù)再現(xiàn)信號來求得所述預(yù)定掃描范圍內(nèi)的評測值的分 布，并且在所述評測值的分布中檢測所述讀取頭與所述寫入頭在 所述存儲介質(zhì)上沿徑向的位置偏移量以進(jìn)行存儲。
18、 根據(jù)權(quán)利要求17所述的磁頭位置偏移測量方法，其中， 所述測量數(shù)據(jù)記錄步驟預(yù)先設(shè)置通過將磁道寬度除以沿磁道周向按預(yù)定間隔記錄的伺服扇區(qū)的數(shù)量而獲得的目標(biāo)偏移量，并且在從所述記 錄起點(diǎn)開始寫入之后，在各伺服扇區(qū)檢測時(shí)，使所述磁頭沿徑向移動所 述目標(biāo)偏移量，從而在一圈磁道中使所述磁頭移動經(jīng)過至少一個磁道， 同時(shí)在所述存儲介質(zhì)中寫入所述測量數(shù)據(jù)。
19、 根據(jù)權(quán)利要求18所述的磁頭位置偏移測量方法，其中， 在所述測量數(shù)據(jù)讀取步驟中，在從所述預(yù)定掃描范圍內(nèi)的從其進(jìn)行掃描的讀取起點(diǎn)開始讀取之后，在各伺服扇區(qū)檢測時(shí)，使所述磁頭沿所 述徑向移動所述目標(biāo)偏移量，從而在一圈磁道中使所述磁頭移動經(jīng)過至 少一個磁道，同時(shí)從所述存儲介質(zhì)讀取所述測量數(shù)據(jù)。
20、 根據(jù)權(quán)利要求18所述的磁頭位置偏移測量方法，其中， 在所述磁頭位置偏移檢測步驟中，對從所述測量數(shù)據(jù)讀取步驟獲得的再現(xiàn)信號的振幅進(jìn)行檢測作為所述評測值，并且根據(jù)所述振幅的分布 中的峰值來檢測所述位置偏移量。
全文摘要
本發(fā)明提供存儲裝置、存儲控制電路和磁頭位置偏移測量方法。磁盤具有這樣的結(jié)構(gòu)，在該結(jié)構(gòu)中，通過不允許磁寫入的非磁性物質(zhì)對由磁性物質(zhì)形成的多個磁道進(jìn)行分區(qū)。磁頭是由讀取頭和寫入頭組成的組合型磁頭。測量記錄單元以磁盤的預(yù)定徑向位置和磁道位置為記錄起點(diǎn)，在一圈磁道中使磁頭移動經(jīng)過至少大于一個磁道的預(yù)定量，從而在繪制螺旋形路徑的同時(shí)寫入測量數(shù)據(jù)。測量讀取單元使得在從包括記錄起點(diǎn)的內(nèi)周側(cè)到外周側(cè)的預(yù)定掃描范圍內(nèi)逐漸偏移記錄起點(diǎn)的同時(shí)讀取以螺旋方式記錄的測量數(shù)據(jù)。位置偏移檢測單元求得讀取掃描范圍內(nèi)的再現(xiàn)信號的振幅的分布，并在評測值的分布中檢測讀取頭與寫入頭在存儲介質(zhì)上沿徑向的位置偏移量以進(jìn)行存儲。
文檔編號G11B5/596GK101246696SQ20081000137
公開日2008年8月20日 申請日期2008年1月16日 優(yōu)先權(quán)日2007年2月16日
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