專利名稱：盤判別方法、盤控制電路及盤裝置的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及DVD-RAM等光盤介質的判別技術。
背景技術：
近年來，作為大容量存儲介質，作為光盤的DVD(Digital Versatile Disc，數(shù)字多能光盤)的普及引人注目。這樣的DVD介質不斷被廣泛利用于個人計算機的數(shù)據(jù)記錄或電影、音樂等的推廣等。
這里，DVD存在DVD-ROM、DVD±RW、DVD±R、DVD-RAM等多個規(guī)格，盤的格式相應地分別不同。其中，對于被稱作復合驅動(combodrive)的格式不同的DVD，正在開發(fā)可進行再現(xiàn)或記錄的盤裝置。
為了再現(xiàn)這樣的格式不同的多個盤介質或記錄信息，需要應用與盤的格式相應的再現(xiàn)方法、記錄方法，因此在再現(xiàn)或記錄之前需要判定盤的種類。提出了幾個用于判別這樣的多個盤介質的技術。
特開平8-263930號公報[專利文獻2]特開平8-307419號公報[專利文獻3]特開平9-7288號公報[專利文獻4]特開平9-198780號公報[專利文獻5]特開平9-282784號公報發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明與上述專利文獻同樣，以判別盤介質作為課題，其目的在于，通過與上述專利文獻不同的方法更準確地判別規(guī)定的盤介質。
本發(fā)明的某一方式是盤介質的判別方法。該判別方法使作為判別對象的盤介質旋轉，檢測該盤介質中記錄的固有數(shù)據(jù)模式(pattern)，對該固有的數(shù)據(jù)模式的個數(shù)進行計數(shù)，并基于被計數(shù)到數(shù)據(jù)模式的個數(shù)來判別盤介質。
根據(jù)該方式，將盤介質旋轉規(guī)定的角度或規(guī)定時間期間，檢測包含規(guī)定的位串的模式，進而對檢測出的模式的個數(shù)進行計數(shù)，從而能夠準確地判別格式。
固有的數(shù)據(jù)模式也可以是盤每每一周記錄的多個首標信息中包含的模式。在該情況下，與對首標信息的有無或者首標信息的個數(shù)進行計數(shù)的情況相比，能夠減少噪聲引起的誤檢測，因此能夠高精度地判別盤介質。
固有的數(shù)據(jù)模式也可以是首標信息中包含的VFO(Variable FrequencyOsillator，可變頻率振蕩器)信息。
判別的盤介質的格式也可以是DVD-RAM。通過識別VFO信息等固有的數(shù)據(jù)模式，從而能夠良好地區(qū)別DVD-RAM和其它的DVD介質。
本發(fā)明的其它方式涉及至少能夠對格式不同的多個盤介質進行再現(xiàn)的盤控制電路。該盤控制電路包括旋轉控制電路，控制成為判別對象的盤介質的旋轉；模式檢測電路，在盤介質中記錄的信息中，檢測該盤介質固有的數(shù)據(jù)模式；以及盤判別電路，基于模式檢測電路以及旋轉控制電路的輸出，對檢測出的固有的數(shù)據(jù)模式的個數(shù)進行計數(shù)，基于其個數(shù)來判定盤介質的格式。
根據(jù)該方式，通過檢測包含規(guī)定的位串的模式，進而對檢測出的模式的個數(shù)進行計數(shù)，從而能夠準確地判別格式。
模式檢測電路作為固有的數(shù)據(jù)模式，也可以檢測在盤每一周中記錄的多個首標信息中包含的模式。模式檢測電路作為固有的數(shù)據(jù)模式，也可以檢測首標信息中包含的VFO(Variable Frequency Osillator)信息。
本發(fā)明的其它方式是盤裝置。該裝置包括盤控制電路；以及使成為判別對象的盤介質旋轉的電機，盤控制電路控制電機的旋轉，同時檢測盤介質中記錄的模式，判定格式。
另外，將以上的構成元件的任意組合或本發(fā)明的構成元件和表現(xiàn)在方法、裝置、系統(tǒng)等之間互相置換的結果，作為本發(fā)明的方式有效。
根據(jù)本發(fā)明的盤判定方法，能夠準確地判別規(guī)定的盤介質。


圖1是表示實施方式的盤裝置的結構的方框圖。
圖2(a)、圖2(b)是表示DVD-RAM的格式的圖。
圖3是圖1的盤控制電路中的盤判別方法的流程圖。
圖4是表示每個不同的盤介質的首標以及VFO數(shù)據(jù)的有無的圖。
符號說明
100盤控制電路，10模式檢測電路，20旋轉控制電路，30盤判別電路，32計數(shù)部分，34條件判定部分，200盤裝置，202電機，204拾取器，210盤介質具體實施方式
圖1是表示本發(fā)明的實施方式的盤裝置200的結構的方框圖。圖1的盤裝置200內(nèi)置于個人計算機、DVD錄像機等電子設備中，用于再現(xiàn)聲音數(shù)據(jù)及其它數(shù)字數(shù)據(jù)或記錄信息。
在本實施方式中，盤裝置200至少可對格式不同的多種盤介質進行再現(xiàn)。此外，盤裝置200根據(jù)情況，是能夠對這些盤介質記錄信息的所謂復合驅動器。
在本實施方式中，盤裝置200至少可再現(xiàn)DVD-RAM格式的盤介質，還假設能夠再現(xiàn)DVD-ROM、DVD-R等其它格式的盤介質。
盤裝置200包括電機202、拾取器204、盤控制電路100。電機202是用于使被插入盤裝置200的盤介質210旋轉的旋轉機構，例如是主軸電機等。
拾取器204對盤介質210照射激光，并檢測從盤介質210反射的光。拾取器204將檢測出的光變換為微弱的電信號。由拾取器204輸出的電信號通過未圖示的放大器放大。
盤控制電路100是如下的電路，即對應于成為數(shù)據(jù)讀出、或數(shù)據(jù)寫入的對象的盤介質210，控制電機202的轉速以及拾取器204的位置，或者用于設定對于盤介質210照射的激光的強度。因此，盤控制電路100在盤介質210被插入裝置中時首先需要判定盤介質210的格式。
圖1的盤控制電路100具有判別盤介質的格式所需的塊。本實施方式的盤控制電路100包括模式檢測電路10、旋轉控制電路20、盤判別電路30，通常作為功能IC而被一體集成在一個半導體襯底上。在圖1中，僅取出判別格式所需的塊來進行表示，其它的塊被省略。
另外，在圖中，作為進行各種處理的功能塊而記載的各元件可以通過硬件方式由晶體管等電路元件實現(xiàn)，并且能夠通過軟件方式由在CPU上執(zhí)行的程序等實現(xiàn)。從而，本領域技術人員應當理解這些功能塊能夠僅通過硬件、僅通過軟件、或通過它們的組合而以各種形式實現(xiàn)，不應限定于任何一個。
旋轉控制電路20與成為判別對象的盤介質210的格式對應來控制電機202的旋轉。旋轉控制裝置20上連接有被稱作電機驅動器的用于驅動電機202的電路(未圖示)，對電機驅動器指示盤的轉速。而且，從未圖示的電機驅動器或霍爾元件對旋轉控制電路20輸入與電機202的轉速對應的信號，能夠判定電機202的轉速。
模式檢測電路10在盤介質210中記錄的信息中檢測具有該盤介質固有的模式(位串)的數(shù)據(jù)(以下稱作固有數(shù)據(jù))。在以下，作為例子，說明盤控制電路100對DVD-RAM格式的盤介質進行判別的情況。
圖2(a)、圖2(b)是表示DVD-RAM的格式的圖。圖中的數(shù)字表示字節(jié)數(shù)。圖2(b)表示DVD-RAM的盤介質的軌道(一周)被分割而得的扇區(qū)的格式。在扇區(qū)的前端寫入128字節(jié)的首標地址(Header Address)數(shù)據(jù)1。接著首標地址數(shù)據(jù)1寫入鏡像(Mirror)數(shù)據(jù)2。在未記錄盤介質中，在空缺(Gap)～緩沖(Buffer)數(shù)據(jù)3中不作任何記錄而成為空白。
圖2(a)是詳細地表示圖2(b)的首標地址數(shù)據(jù)1中包含的數(shù)據(jù)的圖。首標地址數(shù)據(jù)1中包含四個首標(Header)數(shù)據(jù)4a～4d。各首標數(shù)據(jù)4a～4d含有用于控制PLL(Phase Locked Loop，鎖相環(huán))的VFO(Variable FrequencyOscillator)數(shù)據(jù)、AM(Address Mark，地址標記)數(shù)據(jù)、提供扇區(qū)號的PID(Physical ID，物理標識)數(shù)據(jù)、保持ID錯誤檢測信息的IED(ID ErrorDetection，標識錯誤檢測)數(shù)據(jù)、用于設定數(shù)據(jù)調(diào)制的初始狀態(tài)的PA(Postamble，后同步信號)數(shù)據(jù)。這些首標信息在盤基板的制造時由預刻凹坑構成。
首標數(shù)據(jù)4中包含的數(shù)據(jù)中，VFO數(shù)據(jù)以及AM數(shù)據(jù)是介質固有的數(shù)據(jù)，具有所有首標所共同的模式。具體來說，VFO數(shù)據(jù)以及AM數(shù)據(jù)由以下的模式構成。
VFO＝{4T，4T，4T，…}AM＝{4T，4T，14T，4T，4T，14T，4T}這里，1T被稱作信道位(channel bit)，具有與一時鐘對應的長度，1字節(jié)＝16T。
此外，PA數(shù)據(jù)也是DVD-RAM的首標內(nèi)的固有數(shù)據(jù)，由以下的模式構成。
PA1＝{6T，6T，4T}或{4T，4T，4T，4T}PA2＝{1T，4T，3T，4T，4T}或{1T，5T，6T，4T}
本實施方式的盤控制電路100作為DVD-RAM的盤介質固有的數(shù)據(jù)，檢測VFO數(shù)據(jù)的模式，并基于檢測到的VFO數(shù)據(jù)的個數(shù)，判定判別對象的盤介質是否為DVD-RAM。
返回圖1。盤介質被插入時，旋轉控制電路20使電機202旋轉。拾取器204在盤介質210旋轉的狀態(tài)下讀出記錄的信息。模式檢測電路10從由拾取器204讀出的信號中檢測VFO的模式。盤判別電路30的計數(shù)部分32對由模式檢測電路10檢測出的VFO數(shù)據(jù)的個數(shù)進行計數(shù)。計數(shù)部分32從旋轉控制電路20取得電機202的旋轉信息，并導出盤介質210的每一周的固有數(shù)據(jù)(VFO數(shù)據(jù))的個數(shù)。在導出每一周的固有數(shù)據(jù)的個數(shù)時，將盤介質210旋轉幾次來檢測VFO數(shù)據(jù)并計算平均值也可以。
另外，在模式檢測電路10中，在檢測固有數(shù)據(jù)(VFO)的情況下，如上所述，也可以檢測4T的連續(xù)，但也可以檢測每8T的上升沿(正沿)或下降沿(負沿)或者其兩者。從盤中讀出的輸入數(shù)據(jù)中，例如VFO數(shù)據(jù)以某一基準值為中心以8T的周期振動，比限幅電平高的范圍被檢測為高電平，比限幅電平低的范圍被檢測為低電平。其結果，在限幅電平正好被設定為輸入信號的中心值的情況下，出現(xiàn)高電平4T、低電平4T的周期信號。但是，在尋軌不穩(wěn)定、限幅電平不確定的狀態(tài)下，也假設限幅電平和中心值不一致的情況。在該情況下，可能檢測出3T、5T等模式而不是4T、4T這樣的模式。在該情況下，通過檢測每8T的正沿、負沿或者其兩者，從而能夠準確地檢測VFO數(shù)據(jù)。
例如，作為一例，模式檢測電路10讀出成為判別對象的盤介質210的最內(nèi)周中記錄的信息，并檢測記錄在最內(nèi)周的固有數(shù)據(jù)也可以。例如，DVD-RAM的內(nèi)周部分在一周(1軌道)中記錄有25個首標。VFO數(shù)據(jù)由于在每個首標信息中包含一個，因此在一周中檢測出25×4＝100個。
計數(shù)部分32將每一周的固有數(shù)據(jù)的個數(shù)輸出到條件判定部分34。條件判定部分34基于從計數(shù)部分32輸出的固有數(shù)據(jù)的個數(shù)，判定盤介質210的格式。例如，在盤介質210的固有數(shù)據(jù)的個數(shù)包含在90個～110個的范圍內(nèi)的情況下，判定盤介質210的格式為DVD-RAM。
圖3是本實施方式的盤控制電路100中的盤判別方法的流程圖。
插入盤介質后(S100)，電機開始被旋轉(S110)。模式檢測電路10檢測VFO數(shù)據(jù)作為固有數(shù)據(jù)(S120)。接著，計數(shù)部分32導出每一周的固有數(shù)據(jù)的個數(shù)n(S130)。接著，基于個數(shù)n，判別盤介質210的格式(S140)。
這樣，根據(jù)本實施方式的盤控制電路100以及盤裝置200，檢測具有盤介質固有的模式的數(shù)據(jù)，并導出每一周的個數(shù)，從而判別盤介質的格式。其結果，與單純地根據(jù)有無首標來判別盤介質的格式的情況相比，能夠提高判別的精度。
實施方式是例示，本領域技術人員應當理解這些各構成元件和各處理過程的組合可以有各種變形例，而且這樣的變形例也屬于本發(fā)明的范圍。
在實施方式中，以判別DVD-RAM的情況為例進行了說明，但本發(fā)明不限定于此。圖4是表示每個不同的盤介質的首標以及VFO數(shù)據(jù)的有無的圖。如圖4所示，在檢測VFO數(shù)據(jù)的情況下，除了DVD-RAM之外，也能夠判別MO(Magneto Optical，磁光)、作為下一代DVD規(guī)格的HD-DVD。另外，每一軌道的VFO數(shù)據(jù)的個數(shù)為DVD-RAM＞HD-DVD＞其它盤的順序。
進而，在進行通過VFO數(shù)據(jù)的判定的情況下，也可以進行MO的介質判別。當前，作為MO介質，存在128MB、230MB、540MB、640MB、1.3GB、2.3GB等。這里，每一軌道的扇區(qū)個數(shù)根據(jù)介質來決定。從而，能夠通過檢測VFO數(shù)據(jù)的個數(shù)來判別MO數(shù)據(jù)的種類。
此外，在實施方式中，作為固有數(shù)據(jù)，說明了檢測VFO數(shù)據(jù)的情況，但本發(fā)明不限定于此。例如，作為固有數(shù)據(jù)可以檢測AM數(shù)據(jù)，也可以檢測PA數(shù)據(jù)。進而，為了提高精度，也可以將這些數(shù)據(jù)組合來判別盤介質的格式。
在實施方式中，說明了對盤每一周的固有數(shù)據(jù)進行計數(shù)的情況，但不限定于此，也可以對規(guī)定的角度，例如180度(半旋轉)的固有數(shù)據(jù)進行計數(shù)，或者將盤旋轉規(guī)定時間，并對該期間中檢測出的固有數(shù)據(jù)進行計數(shù)。
權利要求
1.一種盤判別方法，是盤介質的判別方法，其特征在于，使作為判別對象的盤介質旋轉，檢測該盤介質的盤每一周中記錄的多個首標信息中包含的固有數(shù)據(jù)模式，對該固有的數(shù)據(jù)模式的個數(shù)進行計數(shù)，并基于被計數(shù)到的數(shù)據(jù)模式的個數(shù)來判別盤介質。
2.如權利要求1所述的盤判別方法，其特征在于，所述固有的數(shù)據(jù)模式是首標信息中包含的VFO(Variable FrequencyOsillator)信息。
3.如權利要求1或2所述的盤判別方法，其特征在于，被判別的盤介質的格式是DVD-RAM。
4.一種盤控制電路，至少可對格式不同的多個盤介質進行再現(xiàn)，其特征在于，所述盤控制電路包括旋轉控制電路，控制成為判別對象的盤介質的旋轉；模式檢測電路，在所述盤介質中記錄的信息中，檢測該盤介質固有的數(shù)據(jù)模式；以及盤判別電路，基于所述模式檢測電路以及所述旋轉控制電路的輸出，對檢測出的所述固有的數(shù)據(jù)模式的個數(shù)進行計數(shù)，基于其個數(shù)來判定盤介質的格式。
5.如權利要求4所述的盤控制電路，其特征在于，所述模式檢測電路作為所述固有的數(shù)據(jù)模式，檢測在盤每一周中記錄的多個首標信息中包含的模式。
6.如權利要求5所述的盤控制電路，其特征在于，所述模式檢測電路作為所述固有的數(shù)據(jù)模式，檢測首標信息中包含的VFO(Variable Frequency Osillator)信息。
7.如權利要求4至6的任何一項所述的盤控制電路，其特征在于，被判別的盤介質的格式是DVD-RAM。
8.如權利要求4至6的任何一項所述的盤控制電路，其特征在于，所述盤控制電路被一體集成在一個半導體襯底上。
9.一種盤裝置，其特征在于，該盤裝置包括權利要求4至6的任何一項所述的盤控制電路；以及使成為判別對象的盤介質旋轉的電機，所述盤控制電路控制所述電機的旋轉，同時檢測所述盤介質中記錄的模式，判定格式。
全文摘要
提供一種盤判別方法、盤控制電路及盤裝置，準確地判別規(guī)定的盤介質。盤控制電路(100)至少對格式不同的多個盤介質進行再現(xiàn)。旋轉控制電路(20)控制成為判別對象的盤介質(210)的旋轉。模式檢測電路(10)在盤介質(210)中記錄的信息中，檢測該盤介質固有的數(shù)據(jù)模式。盤判別電路(30)基于模式檢測電路(10)以及所述旋轉控制電路(20)的輸出，對檢測出的固有的數(shù)據(jù)模式的每一周的個數(shù)進行計數(shù)，基于其個數(shù)來判定盤介質的格式。
文檔編號G11B19/12GK101025975SQ20071008494
公開日2007年8月29日 申請日期2007年2月16日 優(yōu)先權日2006年2月20日
發(fā)明者星野圣彰, 江下志郎 申請人:羅姆股份有限公司