專利名稱：判斷光學(xué)存取裝置主光束與副光束關(guān)系的方法與相關(guān)裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明是有關(guān)于光學(xué)存取的技術(shù)，尤指用來判斷光學(xué)存取裝置的主光束與 副光束間的關(guān)系的方法與裝置，以及相關(guān)的伺服控制信號產(chǎn)生方法與裝置。
背景技術(shù)：
在現(xiàn)有的4支術(shù)中，光驅(qū)的光學(xué)讀寫頭的主光束(main beam)與副光束(side beam)的比值是由光學(xué)讀寫頭的制造商所提供的。眾所周知，主光束與副光束 的比值是產(chǎn)生某些伺服控制信號的重要參數(shù)，例如循軌誤差(tracking error, TE ) 信號、聚焦誤差(focusing error, FE)信號、差動式徑向?qū)Ρ?differential radial contrast, DRC)信號。
然而，每一光學(xué)讀寫頭的主光束與副光束實際上的比值，可能會因制造工 藝上的偏差(process deviation)而與制造商所提供的數(shù)據(jù)不同。如此一來，將 會影響到光驅(qū)的伺服控制的效能。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的之一在于提供判斷光學(xué)存取裝置的主光束與副光束間的關(guān)系 的方法與裝置，以解決上述問題。
本說明書提供了 一種判斷一光學(xué)存取裝置的一主光束與 一副光束間的關(guān)系 的方法的實施例，其包含有測量所述的副光束于一第一激光功率下的反射光， 以產(chǎn)生一第一值；測量所述的主光束于所述的第一激光功率下的反射光，以產(chǎn) 生一第二值；測量所述的副光束于一第二激光功率下的反射光，以產(chǎn)生一第三 值；測量所述的主光束于所述的第二激光功率下的反射光，以產(chǎn)生一第四值；
以及依據(jù)所述的第一、第二、第三及第四值來決定所述的主光束與所述的副光 束的比值。
本說明書另提供了 一種可判斷一主光束與 一副光束間的關(guān)系的光學(xué)存取裝
置的實施例，其包含有 一測量模塊，用來測量所述的副光束于一第一激光功 率下的反射光以產(chǎn)生一第一值、測量所述的主光束于所述的第一激光功率下的 反射光以產(chǎn)生一第二值、測量所述的副光束于一第二激光功率下的反射光以產(chǎn) 生一第三值、與測量所述的主光束于所述的第二激光功率下的反射光以產(chǎn)生一 第四值；以及一決定單元，耦接于所述的測量模塊，用以依據(jù)所述的第一、第 二、第三及第四值來決定所述的主光束與所述的副光束的比值。
本發(fā)明的另 一 目的在于提供相關(guān)的伺服控制信號產(chǎn)生方法與裝置。 本說明書提供了 一種產(chǎn)生 一光學(xué)存取裝置的至少 一伺服控制信號的方法的 實施例，其包含有測量一副光束于一第一激光功率下的反射光，以產(chǎn)生一第 一值；測量一主光束于所述的第一激光功率下的反射光，以產(chǎn)生一第二值；測 量所述的副光束于一第二激光功率下的反射光，以產(chǎn)生一第三值；測量所述的 主光束于所述的第二激光功率下的反射光，以產(chǎn)生一第四值；依據(jù)所述的第一、 第二、第三及第四值來決定所述的主光束與所述的副光束的比值；依據(jù)所述的 主光束的反射光產(chǎn)生一第一推挽信號(push-pull signal);依據(jù)所述的副光束的反 射光產(chǎn)生一第二推挽信號；以及依據(jù)所述的第一推挽信號、所述的第二推挽信 號與所述的比值來產(chǎn)生所述的伺爿良控制信號。
本說明書另提供了 一種用來產(chǎn)生至少 一伺服控制信號的光學(xué)存取裝置的實 施例，其包含有 一測量模塊，用來測量一副光束于一第一激光功率下的反射 光以產(chǎn)生一第一值、測量一主光束于所述的第一激光功率下的反射光以產(chǎn)生一 第二值、測量所述的副光束于一第二激光功率下的反射光以產(chǎn)生一第三值、與
測量所述的主光束于所述的第二激光功率下的反射光以產(chǎn)生一第四值； 一決定 單元，耦接于所述的測量模塊，用以依據(jù)所述的第一、第二、第三及第四值來 決定所述的主光束與所述的副光束的比值； 一第一推挽信號產(chǎn)生器，用來依據(jù)
所述的主光束的反射光產(chǎn)生一第一推挽信號； 一第二推挽信號產(chǎn)生器，用來依 據(jù)所述的副光束的反射光產(chǎn)生一第二推挽信號；以及一伺服控制信號產(chǎn)生器， 用以依據(jù)所述的第 一推挽信號、所述的第二推挽信號與所述的比值來產(chǎn)生所述 的伺服控制信號。
本發(fā)明的效果是，提供了 一種判斷光學(xué)存儲裝置的主光束與副光束間關(guān)系的 方法與裝置，解決了光學(xué)讀寫頭的主光束與副光束實際上的比值，可能會因制 造工藝(process deviation)上的偏差而與制造商所提供的數(shù)據(jù)不同的問題。


圖1為本發(fā)明的光學(xué)存取裝置的一實施例簡化后的方塊圖。 圖2為檢測信號A H于圖1的光學(xué)感測器中的相對位置的示意圖。 圖3為本發(fā)明判斷所述的主光束與所述的副光束兩者間關(guān)系的方法的一實 施例流程圖。
圖4為描述主光束加總信號與副光束加總信號兩者的振幅在不同激光功率 下的關(guān)系的示意圖。
圖5為本發(fā)明的伺服控制信號產(chǎn)生裝置的第一實施例簡化后的方塊圖。 圖6為本發(fā)明的伺服控制信號產(chǎn)生裝置的第二實施例簡化后的方塊圖。 圖7為本發(fā)明的伺服控制信號產(chǎn)生裝置的第三實施例簡化后的方塊圖。 附圖標(biāo)號
100 光學(xué)存取裝置
102 光盤片
104 激光二極管
106 分光器
108 物鏡
110 測量才莫塊
120 決定單元
200710005516.5
130
140、 150 160
170、 532、 534、 632、 634、 732、 734
180
190
300
310、 320、 330、 340、 350 500、 600、 700 510、 520 530、 630、 730 610、 620、 710、 720
具體實施例方式
說明書第4/10頁
光學(xué)感測器 運算單元 信號選擇器 增益級
模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器
計算單元
流程圖
步驟
伺服控制信號產(chǎn)生裝置 加總信號產(chǎn)生器 伺服控制信號產(chǎn)生器 推挽信號產(chǎn)生器
在說明書及權(quán)利要求書當(dāng)中使用了某些詞匯來指稱特定的元件。所屬領(lǐng)域 中具有通常知識者應(yīng)可理解，制造商可能會用不同的名詞來稱呼同樣的元件。 本說明書及權(quán)利要求書并不以名稱的差異來作為區(qū)分元件的方式，而是以元件 在功能上的差異來作為區(qū)分的基準(zhǔn)。在本篇說明書及后續(xù)的請求項當(dāng)中所提及 的"包含"為一開放式的用語，故應(yīng)解釋成"包含但不限定于"。另外，"耦 接" 一詞在此為包含任何直接及間接的電氣連接手段。因此，若文中描述一第 一裝置耦接于一第二裝置，則代表所述的第一裝置可直接電氣連接于所述的第 二裝置，或通過其它裝置或連接手段間接地電氣連接至所述的第二裝置。 實施例一
請參考圖1 ，它是依據(jù)本發(fā)明一實施例所繪示的一光學(xué)存取裝置100簡化后
的方塊圖。
如圖1所示，光學(xué)存取裝置100包含有一光盤片102、 一激光二極管(laser
diode; LD)104、 一分光器(beamsplitter) 106、 一物鏡(objective lens)雨、 一測量才莫塊(measuring module) 110以及一決定單元120。其中，激光二極管 104、分光器106與物鏡108的運作方式為所屬技術(shù)領(lǐng)域中具有通常知識者所了 解，為簡潔起見，在此不予贅述。在光學(xué)存取裝置100中，測量模塊110用來 測量主光束(main beam)與副光束(side beam)兩者的反射光。決定單元120 則會依據(jù)測量模塊110的測量結(jié)果，來計算出主光束與副光束的比值(ratio )。
如圖1所示，本實施例的測量模塊110包含有一光學(xué)感測器(photo detector) 130、兩運算單元140與150、 一信號選擇器160、 一增益級(gain stage) 170、 一模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器(analog-to-digital converter, ADC )180以及一計算單元190。 光學(xué)感測器130用來檢測自光盤片102反射回來的光線，以產(chǎn)生檢測信號A、B、 C、 D、 E、 F、 G及H,其中檢測信號A D對應(yīng)于主光束的反射光，而檢測信 號E H則對應(yīng)于副光束的反射光。所述的等檢測信號A H相對于光學(xué)感測器 130的位置，如圖2所繪示。實作上，光學(xué)感測器130可用一光檢測芯片(photo detector integrated circuit, PDIC )來實現(xiàn)。第一運算單元140用以依據(jù)檢測信號A D來產(chǎn)生一主光束加總信號(main beam sum signal) RFLVL,而第二運算單元 150則用以依據(jù)檢測信號E H來產(chǎn)生一副光束加總信號(side beam sum signal) SBAD。實作上，信號選擇器160可以是一多任務(wù)器，用來選擇性地輸出所述的 主光束加總信號RFLVL或所述的副光束加總信號SBAD以作為一輸出信號。至 于增益級170則用來放大信號選擇器160的輸出信號。在本實施例中，模擬至 數(shù)字轉(zhuǎn)換器180會將經(jīng)過增益級170放大后的信號轉(zhuǎn)換成數(shù)字值，而計算單元 190接著會依據(jù)模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器180所輸出的數(shù)字值，來計算一相對應(yīng)于所述 的主光束或所述的副光束于一特定激光功率下的反射光的數(shù)值。
由前述的說明可知，光學(xué)感測器130、兩運算單元140與150、信號選擇器 160及增益級170的搭配所形成的組合，可視為是用來感測所述的主光束/副光 束的反射光以產(chǎn)生一相對應(yīng)模擬信號的一感測裝置。以下，將搭配圖3及圖4 來進一步說明測量才莫塊110與決定單元120的運作方式。
圖3為描述本發(fā)明判斷所述的主光束與所述的副光束兩者間關(guān)系的方法的
一實施例流程圖300。
在步驟310中，測量模塊IIO會測量所述的副光束于一第一激光功率Pl下 的反射光，以產(chǎn)生一第一值S一P1。進一步而言，決定單元120會控制激光二極 管104以所述的第一激光功率Pl來發(fā)射光束，而測量4莫塊110的光學(xué)感測器130 則會檢測自光盤片102反射回來的光束。此外，決定單元120于步驟310中會 控制信號選擇器160，選擇對應(yīng)于所述的第一激光功率P1的所述的副光束加總 信號SBAD來作為輸出信號。在本實施例中，模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器180會產(chǎn)生與 所述的第一激光功率P1下的所述的副光束加總信號SBAD相對應(yīng)的復(fù)數(shù)個第一 數(shù)字值，而計算單元190則會將所述的復(fù)數(shù)個第一數(shù)字值進行平均以產(chǎn)生所述 的第一值S—Pl。
在步驟320中，測量才莫塊110會測量所述的主光束于所述的第一激光功率 Pl下的反射光，以產(chǎn)生一第二值M一Pl。在此步驟中，決定單元120會控制信 號選擇器160選擇對應(yīng)于所述的第一激光功率Pl的所述的主光束加總信號 RFLVL來作為輸出信號。此外，模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器180會產(chǎn)生與所述的第一激 光功率Pl下的所述的主光束加總信號RFLVL相對應(yīng)的復(fù)數(shù)個第二數(shù)字值，而 計算單元190則會將所述的復(fù)數(shù)個第二數(shù)字值進行平均以產(chǎn)生所述的第二值 M一P1。
就某一角度而言，所述的第一值S一P1對應(yīng)于所述的副光束在所述的第一激 光功率P1下的反射光的直流成分，而所述的第二值M—Pl則對應(yīng)于所述的主光 束在所述的第一激光功率P1下的反射光的直流成分。
在步驟330中，測量模塊110會測量所述的副光束于一第二激光功率P2下 的反射光，以產(chǎn)生一第三值S—P2。在本實施例中，決定單元120會于步驟330 中控制激光二極管104以所述的第二激光功率P2來發(fā)射光束，并控制信號選擇 器160選擇對應(yīng)于所述的第二激光功率P2的所述的副光束加總信號SBAD來作 為輸出信號。如此一來，4莫擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器180會產(chǎn)生與所述的第二激光功率
P2下的所述的副光束加總信號SBAD相對應(yīng)的復(fù)數(shù)個第三數(shù)字值，而計算單元 190則會將所述的復(fù)數(shù)個第三數(shù)字值進行平均以產(chǎn)生所述的第三值S—P2，其中 該第三值S一P2對應(yīng)于所述的副光束在所述的第二激光功率P2下的反射光的直 流成分。
在步驟340中，測量模塊110會測量所述的主光束于所述的第二激光功率 P2下的反射光，以產(chǎn)生一第四值M_P2。與步驟320相似，決定單元120于步 驟340中會控制信號選擇器160選擇對應(yīng)于所述的第二激光功率P2的所述的主 光束加總信號RFLVL來作為輸出信號。因此，模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器180會產(chǎn)生與 所述的第二激光功率P2下的所述的主光束加總信號RFLVL相對應(yīng)的復(fù)數(shù)個第 四數(shù)字值，而計算單元190則會將所述的復(fù)數(shù)個第四數(shù)字值進行平均以產(chǎn)生所 述的第四值M一P2，其中該第四值M—P2對應(yīng)于所迷的主光束在所述的第二激光 功率P2下的反射光的直流成分。在不同的激光功率下，所述的主光束加總信號 RFLVL與所述的副光束加總信號SBAD兩者振幅間的關(guān)系，如圖4所繪示。
在步驟350中，決定單元120會依據(jù)計算單元190所產(chǎn)生的所述的第一值 S—Pl、所述的第二值M一Pl、所述的第三值S—P2及所述的第四值M—P2，來決 定所述的主光束與所述的副光束的一比值cc。在一較佳實施例中，決定單元120 依據(jù)下式來決定所述的比值cc:<formula>formula see original document page 13</formula>
如前所述，光學(xué)存取裝置100可藉由改變激光二極管104的激光功率的方 式，來求得所述的主光束與所述的副光束的實際比值，而無需進行復(fù)雜的機構(gòu) 操作(mechanical operations)。
請注意，圖1中的不同功能方塊在實作上可用相同的元件來實現(xiàn)。例如， 計算單元190與決定單元120可用光學(xué)存取裝置100中的同一控制器(例如一 微處理器)來實現(xiàn)。
在前述實施例中，測量模塊110依序進行步驟310與320以產(chǎn)生所述的第 一值5_ 1與所述的第二值M—Pl，并依序進行步驟330與340以產(chǎn)生所述的第
三值S—P2與所述的第四值M一P2。此僅為一實施例，但本發(fā)明的實際實施方式 并不局限于此。實作上，測量模塊110亦可利用兩套增益級與模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換 器，以平行處理方式同時測量所述的主光束與所述的副光束兩者在一預(yù)定激光 功率下個別的反射光。換而言之，流程圖300中的步驟實施順序僅為一實施例， 而非局限本發(fā)明的實際實施方式。
如前所述，求得所述的主光束與所述的副光束兩者的實際比值a后，便能 據(jù)此產(chǎn)生可靠的伺^控制信號。
請參考圖5，它是依據(jù)本發(fā)明第一實施例所繪示的一伺服控制信號產(chǎn)生裝置
(servo control signal generating device ) 500簡4匕后的方塊圖。在本實施例中， 伺服控制信號產(chǎn)生裝置500包含有決定單元120，用來提供所述的主光束與所 述的副光束的比值oc; —第一加總信號產(chǎn)生器(summing signal generator) 510， 用來依據(jù)所述的主光束的反射光產(chǎn)生一第一加總信號(summing signal) RFLVL=(A+B+C+D); —第二加總信號產(chǎn)生器520，用來依據(jù)所述的副光束的反 射光產(chǎn)生一第二加總信號SBAD=(E+F+G+H);以及一伺服控制信號產(chǎn)生器
(servo control signal generator) 530，用以依據(jù)所述的第一加總信號RFLVL、所 述的第二加總信號SBAD以及所述的比值ct，來產(chǎn)生一差動式徑向?qū)Ρ?br> (differential radial contrast) 4言號DRC。
在一較佳實施例中，伺服控制信號產(chǎn)生器530包含有一第一增益級532與 一第二增益級534,如圖5所示。本實施例的伺服控制信號產(chǎn)生器530依據(jù)下式 來產(chǎn)生所述的差動式徑向?qū)Ρ刃盘朌RC:
DRC = KDRC* [(A+B+C+D)- a *(E+F+G+H)] (2)
其中，所述的主光束與所述的副光束的比值ct為第一增益級532的增益， 而KoRc則是第二增益級534的增益。在此例中，所述的增益KoRc用來調(diào)整所述 的差動式徑向?qū)Ρ刃盘朌RC的直流準(zhǔn)位至所需的值。
實施例二
圖6為依據(jù)本發(fā)明第二實施例所繪示的一伺服控制信號產(chǎn)生裝置600簡化
后的方塊圖。
如圖6所示，在本實施例中，伺服控制信號產(chǎn)生裝置600包含有決定單 元120,用來提供所述的主光束與所述的副光束的比值a; —第一推挽信號產(chǎn)生 器(push-pull signal generator) 610,用來依據(jù)所述的主光束的反射光產(chǎn)生一第 一推挽信號(push-pull signal )MPP2=(A+D)-(B+C); —第二推挽信號產(chǎn)生器620， 用來依據(jù)所述的副光束的反射光產(chǎn)生一第二推挽信號SPP2=(F+H)-(E+G);以及 一伺服控制信號產(chǎn)生器630,用以依據(jù)所述的第一推挽信號MPP2、所述的第二 推挽信號SPP2以及所述的比值cc,來產(chǎn)生一循軌誤差(tracking error )信號TE。
在一較佳實施例中，伺服控制信號產(chǎn)生器630包含有一第一增益級632與 一第二增益級634,如圖6所示。本實施例的伺服控制信號產(chǎn)生器630依據(jù)下式 來產(chǎn)生所述的循軌誤差信號TE:
TE = Kte*{[(A+DHB+C)]- a *[(F+H)-(E+G)]}。)
其中，所述的主光束與所述的副光束的比值a為第一增益級632的增益， 而KrE則是第二增益級634的增益。同樣地，所述的增益KTE用來調(diào)整所述的循 軌誤差信號TE的直流準(zhǔn)位至所需的值。
實施例三
請參考圖7,它是依據(jù)本發(fā)明第三實施例所繪示的一伺服控制信號產(chǎn)生裝置 700簡化后的方塊圖。
如圖7所示，伺服控制信號產(chǎn)生裝置700包含有決定單元120,用來提供 所述的主光束與所述的副光束的比值a; —第一推挽信號產(chǎn)生器710，用來依據(jù) 所述的主光束的反射光產(chǎn)生一第一推挽信號MPP3=(A+C)-(B+D); —第二推挽信 號產(chǎn)生器720，用來依據(jù)所述的副光束的反射光產(chǎn)生一第二推挽信號 SPP3=(E+H)-(F+G);以及一伺服控制信號產(chǎn)生器730,用以依據(jù)所述的第一推挽 信號MPP3、所述的第二推挽信號SPP3以及所述的比值a，來產(chǎn)生一聚焦誤差 (focusing error)信號FE。如圖7所示，伺服控制信號產(chǎn)生器730包含有一第 一增益級732與一第二增益級734。本實施例的伺服控制信號產(chǎn)生器730依據(jù)下
式來產(chǎn)生所述的聚焦誤差信號FE-.
<formula>formula see original document page 16</formula> (4)
其中，所述的主光束與所述的副光束的比值cc為第一增益級732的增益， 而Kre則是第二增益級734的增益。在本例中，所述的增益KpE用來調(diào)整所述的 聚焦誤差信號FE的直流準(zhǔn)位至所需的值。
以上所述僅為本發(fā)明的較佳實施例，凡依本發(fā)明申請專利范圍所做的均等 變化與修飾，皆應(yīng)屬本發(fā)明的涵蓋范圍。
權(quán)利要求
1.一種判斷一光學(xué)存取裝置的一主光束與一副光束間的關(guān)系的方法，其特征是，所述的方法包含有測量所述的副光束于一第一激光功率下的反射光，以產(chǎn)生一第一值；測量所述的主光束于所述的第一激光功率下的反射光，以產(chǎn)生一第二值；測量所述的副光束于一第二激光功率下的反射光，以產(chǎn)生一第三值；測量所述的主光束于所述的第二激光功率下的反射光，以產(chǎn)生一第四值；以及依據(jù)所述的第一、第二、第三及第四值來決定所述的主光束與所述的副光束的比值。
2. 如權(quán)利要求l所述的方法，其特征是，決定所述的比值的步驟包含有 計算所述的第 一與第三值間的一第 一差值；計算所述的第二與第四值間的 一第二差值；以及依據(jù)所述的第一、第二差值來計算所述的主光束與所述的副光束的比值。
3. 如權(quán)利要求2所述的方法，其特征是，依據(jù)所述的第一、第二差值來計 算所述的比值的步驟包含有將所述的第一差值除以所述的第二差值以產(chǎn)生所述的主光束與副光束的比值。
4. 如權(quán)利要求1所述的方法，其特征是，所述的第一值對應(yīng)于所述的副光 束在所述的第一激光功率下的反射光的直流成分，而所述的第三值對應(yīng)于所述 的副光束在所述的第二激光功率下的反射光的直流成分。
5. 如權(quán)利要求1所述的方法，其特征是，所述的第二值對應(yīng)于所述的主光 束在所述的第一激光功率下的反射光的直流成分，而所述的第四值對應(yīng)于所述 的主光束在所述的第二激光功率下的反射光的直流成分。
6. 如權(quán)利要求1所述的方法，其特征是，測量所述的副光束于所述的第一 激光功率下的反射光的步驟包含有 將所述的副光束的反射光轉(zhuǎn)換成復(fù)數(shù)個第一數(shù)字值；以及將所述的復(fù)數(shù)個第 一數(shù)字值進行平均以產(chǎn)生所述的第 一值。
7. 如權(quán)利要求1所述的方法，其特征是，測量所述的主光束于所述的第一 激光功率下的反射光的步驟包含有將所述的主光束的反射光轉(zhuǎn)換成復(fù)數(shù)個第二數(shù)字值；以及將所述的復(fù)數(shù)個第二數(shù)字值進行平均以產(chǎn)生所述的第二值。
8. 如權(quán)利要求1所述的方法，其特征是，測量所述的副光束于所述的第二 激光功率下的反射光的步驟包含有將所述的副光束的反射光轉(zhuǎn)換成復(fù)數(shù)個第三數(shù)字值；以及將所述的復(fù)數(shù)個第三數(shù)字值進行平均以產(chǎn)生所述的第三值。
9. 如權(quán)利要求1所述的方法，其特征是，測量所述的主光束于所述的第二 激光功率下的反射光的步驟包含有將所述的主光束的反射光轉(zhuǎn)換成復(fù)數(shù)個第四數(shù)字值；以及將所述的復(fù)數(shù)個第四數(shù)字值進行平均以產(chǎn)生所述的第四值。
10. —種光學(xué)存取裝置，用來判斷一主光束與一副光束間的關(guān)系，其特征是， 所述的光學(xué)存取裝置包含有一測量模塊，用來測量所述的副光束于一第一激光功率下的反射光以產(chǎn)生 一第一值、測量所述的主光束于所述的第一激光功率下的反射光以產(chǎn)生一第二 值、測量所述的副光束于一第二激光功率下的反射光以產(chǎn)生一第三值、測量所 述的主光束于所述的第二激光功率下的反射光以產(chǎn)生一第四值；以及一決定單元，耦接于所述的測量模塊，用以依據(jù)所述的第一、第二、 第三及第四值來決定所述的主光束與所述的副光束的比值。
11. 如權(quán)利要求IO所述的光學(xué)存取裝置，其特征是，所述的決定單元會計 算所述的第一與第三值間的一第一差值和計算所述的第二與第四值間的一第二 差值，并依據(jù)所述的第一、第二差值來計算所述的主光束與所迷的副光束的比 值。
12. 如權(quán)利要求11所述的光學(xué)存取裝置，其特征是，所述的決定單元將所 述的第 一差值除以第二差值以產(chǎn)生所述的主光束與所述的副光束的比值。
13. 如權(quán)利要求10所述的光學(xué)存取裝置，其特征是，所述的第一值對應(yīng)于 所述的副光束在所述的第一激光功率下的反射光的直流成分，而所述的第三值 對應(yīng)于所述的副光束在所述的第二激光功率下的反射光的直流成分。
14. 如權(quán)利要求IO所述的光學(xué)存取裝置，其特征是，所述的第二值對應(yīng)于 所述的主光束在所述的第一激光功率下的反射光的直流成分，而所述的第四值 對應(yīng)于所述的主光束在所述的第二激光功率下的反射光的直流成分。
15. 如權(quán)利要求10所述的光學(xué)存取裝置，其特征是，所述的測量模塊包含有一感測裝置，用來感測所迷的副光束于所述的第一激光功率下的反射光， 以產(chǎn)生一第一模擬信號；一模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器，耦接于所述的感測裝置，用來將所述的第一模擬信 號轉(zhuǎn)換成復(fù)數(shù)個第一數(shù)字值；以及一計算單元，耦接于所述的模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器，用來將所述的復(fù)數(shù)個 第 一數(shù)字值進行平均以產(chǎn)生所迷的第 一值。
16. 如權(quán)利要求10所述的光學(xué)存取裝置，其特征是，所述的測量模塊包含有一感測裝置，用來感測所述的主光束于所述的第一激光功率下的反射光， 以產(chǎn)生一第二模擬信號；一模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器，耦接于所述的感測裝置，用來將所述的第二模擬信 號轉(zhuǎn)換成復(fù)數(shù)個第二數(shù)字值；以及一計算單元，耦接于所述的模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器，用來將所述的復(fù)數(shù)個 第二數(shù)字值進行平均以產(chǎn)生所述的第二值。
17. 如權(quán)利要求io所述的光學(xué)存取裝置，其特征是，所述的測量模塊包含有 一感測裝置，用來感測所述的副光束于所述的第二激光功率下的反射光，以產(chǎn)生一第三模擬信號；一;t莫擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器，耦接于所述的感測裝置，用來將所述的第三模擬信 號轉(zhuǎn)換成復(fù)數(shù)個第三數(shù)字值；以及一計算單元，耦接于所述的模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器，用來將所述的復(fù)數(shù)個 第三數(shù)字值進行平均以產(chǎn)生所述的第三值。
18. 如權(quán)利要求10所述的光學(xué)存取裝置，其特征是，所述的測量模塊包含有一感測裝置，用來感測所述的主光束于所述的第二激光功率下的反射光， 以產(chǎn)生一第四模擬信號；一模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器，耦接于所述的感測裝置，用來將所述的第四模擬信 號轉(zhuǎn)換成復(fù)數(shù)個第四數(shù)字值；以及一計算單元，耦接于所述的模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器，用來將所述的復(fù)數(shù)個 第四數(shù)字值進行平均以產(chǎn)生所述的第四值。
19. 一種用來產(chǎn)生一光學(xué)存取裝置的至少一伺服控制信號的方法，其特征 是，所述的方法包含有測量一副光束于一第一激光功率下的反射光，以產(chǎn)生一第一值； 測量一主光束于所述的第一激光功率下的反射光，以產(chǎn)生一第二值； 測量所述的副光束于一第二激光功率下的反射光，以產(chǎn)生一第三值； 測量所述的主光束于所述的第二激光功率下的反射光，以產(chǎn)生一第四值； 依據(jù)所述的第一、第二、第三及第四值來決定所述的主光束與所述的副光 束的比值；依據(jù)所述的主光束的反射光產(chǎn)生一第一推挽信號； 依據(jù)所述的副光束的反射光產(chǎn)生 一第二推挽信號；以及依據(jù)所述的第一推挽信號、所述的第二推挽信號與所述的比值來產(chǎn)生 所述的伺服控制信號。
20. 如權(quán)利要求19所述的方法，其特征是，所述的比值為所述的第二推挽 信號相對于所述的第 一推挽信號的 一合成增益。
21. 如權(quán)利要求19所述的方法，其特征是，所述的至少一伺服控制信號選 自于由一循軌誤差信號、 一聚焦誤差信號以及一差動式徑向?qū)Ρ刃盘査M成的 一群組。
22. —種光學(xué)存取裝置，用來產(chǎn)生至少一伺服控制信號，其特征是，所迷的光學(xué)存取裝置包含有一測量模塊，用來測量一副光束于一第一激光功率下的反射光以產(chǎn)生一第 一值、測量一主光束于所述的第一激光功率下的反射光以產(chǎn)生一第二值、測量 所述的副光束于一第二激光功率下的反射光以產(chǎn)生一第三值、與測量所述的主 光束于所述的第二激光功率下的反射光以產(chǎn)生 一 第四值；一決定單元，耦接于所述的測量模塊，用以依據(jù)所述的第一、第二、第三 及第四值來決定所述的主光束與所述的副光束的比值；一第一推挽信號產(chǎn)生器，用來依據(jù)所述的主光束的反射光產(chǎn)生一第一推挽 信號；一笫二推挽信號產(chǎn)生器，用來依據(jù)所述的副光束的反射光產(chǎn)生一第二推挽 信號；以及一伺服控制信號產(chǎn)生器，用以依據(jù)所述的第一推挽信號、所述的第二 推挽信號與所述的比值來產(chǎn)生所述的伺服控制信號。
23. 如權(quán)利要求22所述的光學(xué)存取裝置，其特征是，所述的比值為所述的 第二推挽信號相對于所述的第 一推挽信號的 一合成增益。
24. 如權(quán)利要求22所述的光學(xué)存取裝置，其特征是，所述的至少一伺服控 制信號選自于由一循軌誤差信號、 一聚焦誤差信號以及一差動式徑向?qū)Ρ刃盘?所組成的一群組。
全文摘要
本發(fā)明提供用來判斷一主光束與一副光束間的關(guān)系的方法與相關(guān)裝置。方法之一包含有測量所述的副光束于一第一激光功率下的反射光，以產(chǎn)生一第一值；測量所述的主光束于所述的第一激光功率下的反射光，以產(chǎn)生一第二值；測量所述的副光束于一第二激光功率下的反射光，以產(chǎn)生一第三值；測量所述的主光束于所述的第二激光功率下的反射光，以產(chǎn)生一第四值；以及依據(jù)所述的第一、第二、第三及第四值來決定所述的主光束與所述的副光束的比值。當(dāng)決定出所述的比值后，便可據(jù)此產(chǎn)生至少一伺服控制信號。
文檔編號G11B7/125GK101114479SQ20071000551
公開日2008年1月30日 申請日期2007年2月9日 優(yōu)先權(quán)日2006年7月27日
發(fā)明者趙志謀 申請人:聯(lián)發(fā)科技股份有限公司