專利名稱：光驅(qū)測(cè)試系統(tǒng)及方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種光驅(qū)測(cè)試系統(tǒng)及方法。
背景技術(shù)：
在生產(chǎn)線上組裝完成的光驅(qū)在出廠之前需要經(jīng)過各個(gè)功能測(cè) 試，比如托盤開啟關(guān)閉、光盤驅(qū)動(dòng)、數(shù)據(jù)資料讀取及各項(xiàng)發(fā)光二極
管(light emitting diode, LED)指示燈顯示等，在確認(rèn)該光驅(qū)的各 項(xiàng)功能正常后才可以包裝出廠。
其中對(duì)于托盤開啟關(guān)閉的測(cè)試，通常采用氣缸推動(dòng)托盤使得光 驅(qū)吸入托盤中的光盤。由于氣缸的頻繁重復(fù)運(yùn)動(dòng)，可能導(dǎo)致在長(zhǎng)時(shí) 間測(cè)試過程中不能保證托盤被推到光驅(qū)可自動(dòng)吸入光盤的位置，但 是，即使氣缸沒有將托盤推到光驅(qū)可自動(dòng)吸入光盤的位置，氣缸仍 然繼續(xù)工作。由于上述原因，通常需要配備相關(guān)的測(cè)試人員監(jiān)督氣 缸的工作狀況，檢查托盤是否被推到光驅(qū)可自動(dòng)吸入光盤的位置。 因此，這樣的測(cè)試處于半自動(dòng)化狀態(tài)。在這種測(cè)試方式中，氣缸的 不正常狀況以及測(cè)試人員的失誤經(jīng)常影響托盤開啟關(guān)閉測(cè)試結(jié)果的 有效性和可靠性。
另外，由于需要配備相關(guān)的測(cè)試人員，從而使得測(cè)試成本相對(duì) 較高。

發(fā)明內(nèi)容
鑒于以上內(nèi)容，有必要提供一種光驅(qū)測(cè)試系統(tǒng)，能自動(dòng)判斷托 盤是否被推到光驅(qū)可自動(dòng)吸入光盤的位置，并且降低人力成本。
還有必要提供一種光驅(qū)測(cè)試方法，能自動(dòng)判斷托盤是否被推到 光驅(qū)可自動(dòng)吸入光盤的位置，并且降低人力成本。
一種光驅(qū)測(cè)試系統(tǒng)，包括計(jì)算機(jī)及推動(dòng)裝置，所述的計(jì)算機(jī)連 接光驅(qū)，所述的推動(dòng)裝置用于當(dāng)光驅(qū)的托盤處于彈出狀態(tài)時(shí)推動(dòng)托 盤到該光驅(qū)可自動(dòng)吸入托盤中的光盤的位置，所述計(jì)算機(jī)包括光驅(qū) 測(cè)試裝置用于偵測(cè)及記錄光驅(qū)識(shí)別到光盤的次數(shù)以及在光驅(qū)每一次 識(shí)別到光盤后控制該光驅(qū)彈出托盤。
一種光驅(qū)測(cè)試方法，包括連接光驅(qū)到計(jì)算機(jī)，并運(yùn)行光驅(qū)測(cè) 試裝置；當(dāng)光驅(qū)的托盤處于彈出狀態(tài)時(shí)，推動(dòng)裝置推動(dòng)托盤到該光 驅(qū)可自動(dòng)吸入托盤中的光盤的位置；及光驅(qū)測(cè)試裝置在光驅(qū)識(shí)別到 光盤后做一次記錄，并控制光驅(qū)彈出托盤。
一種光驅(qū)測(cè)試系統(tǒng)，包括計(jì)算機(jī)及推動(dòng)裝置，所述的計(jì)算機(jī)連 接光驅(qū)，所述的推動(dòng)裝置用于當(dāng)光驅(qū)的托盤處于彈出狀態(tài)時(shí)推動(dòng)托 盤到該光驅(qū)可自動(dòng)吸入托盤中的光盤的位置，所述計(jì)算機(jī)包括光驅(qū) 測(cè)試裝置。該光驅(qū)測(cè)試裝置包括偵測(cè)模塊、彈出模塊以及記錄模塊。 其中，偵測(cè)模塊用于實(shí)時(shí)偵測(cè)光驅(qū)的讀盤狀況并判斷光驅(qū)是否已經(jīng) 識(shí)別到光盤；彈出模塊用于在偵測(cè)模塊偵測(cè)到光驅(qū)已經(jīng)識(shí)別到光盤 之后發(fā)出指令給計(jì)算機(jī)控制光驅(qū)彈出托盤；及記錄模塊用于在偵測(cè) 模塊每一次偵測(cè)到光驅(qū)已經(jīng)識(shí)別到光盤之后做一次記錄。
相較于現(xiàn)有技術(shù)，所述的光驅(qū)測(cè)試系統(tǒng)及方法，可以自動(dòng)判斷 托盤是否被推到光驅(qū)可自動(dòng)吸入光盤的位置，提高了測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn) 確性以及可靠性，而且，由于實(shí)現(xiàn)了自動(dòng)化測(cè)試，降低了人力成本。


圖1是本發(fā)明光驅(qū)測(cè)試系統(tǒng)的較佳實(shí)施例的硬件架構(gòu)圖。
圖2是圖1中光驅(qū)測(cè)試裝置的功能模塊圖。
圖3是本發(fā)明光驅(qū)測(cè)試方法的較佳實(shí)施例的流程圖。
具體實(shí)施例方式
如圖1所示，是本發(fā)明光驅(qū)測(cè)試系統(tǒng)的較佳實(shí)施例的硬件架構(gòu) 圖。在本較佳實(shí)施例中，主要包括計(jì)算機(jī)10、光驅(qū)12以及作為推
動(dòng)裝置的氣缸14。其中，光驅(qū)12主要包括托盤120和光學(xué)讀取頭 (未示出)。在測(cè)試光驅(qū)12之前，可以在托盤120中放置一片光盤 122。本實(shí)施例還包括一個(gè)測(cè)試平臺(tái)16,所述的計(jì)算機(jī)10和作為推 動(dòng)裝置的氣缸14均被固定在該測(cè)試平臺(tái)16上。計(jì)算機(jī)IO安裝有光 驅(qū)測(cè)試裝置20可用于測(cè)試該光驅(qū)12的托盤120彈出與吸入的壽命。 其中，光驅(qū)12安裝在計(jì)算機(jī)10的光驅(qū)接口上。氣缸14與計(jì)算 機(jī)10的相對(duì)位置應(yīng)該滿足如下要求當(dāng)光驅(qū)12的托盤120處于彈 出狀態(tài)時(shí)，氣缸14剛好能夠推動(dòng)托盤120到光驅(qū)12可自動(dòng)吸入托 盤120中的光盤122。因此，應(yīng)該在將氣缸14與計(jì)算機(jī)10固定到 測(cè)試平臺(tái)16上之前調(diào)整好氣缸14與計(jì)算機(jī)10的相對(duì)位置。在其他 實(shí)施例中，也可以采用機(jī)械活塞式推動(dòng)裝置代替氣缸14作為推動(dòng)裝 置用來推動(dòng)托盤120到光驅(qū)12可自動(dòng)吸入托盤120中的光盤122的 位置。所述的計(jì)算機(jī)10可以是IBM架構(gòu)的個(gè)人計(jì)算機(jī)(personal computer, PC )，也可以是蘋果公司的MAC架構(gòu)的計(jì)算機(jī)，或者其 他類型可安裝光驅(qū)12以及光驅(qū)測(cè)試裝置20的計(jì)算設(shè)備。所述的氣 缸14可以包括氣缸控制器(未示出)用于設(shè)定控制氣缸14運(yùn)動(dòng)的 參數(shù)，例如設(shè)定氣缸14推動(dòng)托盤120的時(shí)間間隔。所述的光驅(qū)12 可以是緊密光盤只讀存儲(chǔ)驅(qū)動(dòng)器(compact disk read only memory drive, CD-ROM Drive),可以是數(shù)字化視頻光盤只讀存儲(chǔ)驅(qū)動(dòng)器 (digital video disk read only memory drive, DVD-ROM Drive )。當(dāng)光 驅(qū)12采用CD-ROM Drive時(shí)，光盤122可以是緊密光盤(compact disk, CD),也可以是視頻緊密光盤(video compact disk, VCD); 當(dāng)光驅(qū)12采用DVD-ROM Drive時(shí)，光盤122可以是CD、 VCD或 者是數(shù)字化視頻光盤(digital video disk, DVD )。如圖2所示，是光驅(qū)測(cè)試裝置20的功能模塊圖。在本較佳實(shí)施 例中，該光驅(qū)測(cè)試裝置20是安裝并運(yùn)行于計(jì)算機(jī)10中并且可以被 計(jì)算機(jī)10執(zhí)行的一段計(jì)算機(jī)程序。光驅(qū)測(cè)試裝置20主要用于偵測(cè) 及記錄光驅(qū)12自動(dòng)吸入光盤122后讀盤識(shí)別到光盤122的次數(shù)以及 在光驅(qū)12每一次識(shí)別到光盤12后發(fā)出指令控制光驅(qū)12彈出托盤 120。光驅(qū)測(cè)試裝置20主要包括偵測(cè)模塊200、彈出模塊202以及 記錄模塊204。其中，偵測(cè)模塊200主要用于實(shí)時(shí)偵測(cè)光驅(qū)12的讀盤狀況，并 判斷光驅(qū)12是否已經(jīng)識(shí)別到光盤122。彈出模塊202主要用于在 偵測(cè)模塊200偵測(cè)到光驅(qū)12已經(jīng)識(shí)別到光盤122之后，發(fā)出指令給 計(jì)算機(jī)IO控制光驅(qū)12彈出托盤120。記錄模塊204主要用于在 偵測(cè)模塊200每一次偵測(cè)到光驅(qū)12已經(jīng)識(shí)別到光盤122之后做一次 記錄。記錄模塊204還可以用于設(shè)定光驅(qū)12需要完成的測(cè)試總次 數(shù)(也就是測(cè)試需要光驅(qū)12識(shí)別到光盤122的總次數(shù))；以及判斷 是否已經(jīng)完成所設(shè)定的測(cè)試總次數(shù)。如圖3所示，是本發(fā)明光驅(qū)測(cè)試方法的較佳實(shí)施例的流程圖。 步驟S300,將光驅(qū)12安裝在計(jì)算機(jī)10上，放置一片光盤122在托 盤120中，并將作為推動(dòng)裝置的氣缸14(或者機(jī)械活塞式推動(dòng)裝置) 與計(jì)算機(jī)10固定在測(cè)試平臺(tái)16;根據(jù)光驅(qū)12識(shí)別光盤122的時(shí)間 以及彈出光盤122的時(shí)間設(shè)定氣缸14推動(dòng)托盤120的時(shí)間間隔；并 啟動(dòng)光驅(qū)測(cè)試裝置20。根據(jù)需要，在啟動(dòng)光驅(qū)測(cè)試裝置20的時(shí)候 (或者之后)還可以利用記錄模塊204設(shè)定需要完成的測(cè)試總次數(shù) (也就是測(cè)試需要光驅(qū)12識(shí)別到光盤122的總次數(shù))。其中，氣缸 14推動(dòng)托盤120的時(shí)間間隔應(yīng)該等于或者稍長(zhǎng)于光驅(qū)12識(shí)別光盤 122的時(shí)間加上彈出光盤122的時(shí)間的總和。該時(shí)間間隔可以通過 氣缸控制器或者其他可以設(shè)定氣缸14運(yùn)動(dòng)參數(shù)的相應(yīng)單元來設(shè)定。 步驟S302,氣缸14啟動(dòng)并推動(dòng)托盤120到光驅(qū)12可自動(dòng)吸入 托盤120中的光盤122的位置；光驅(qū)12自動(dòng)吸入光盤122后進(jìn)行讀 盤操作。步驟S304，偵測(cè)才莫塊200偵測(cè)光驅(qū)12的讀盤狀況。步驟S306， 偵測(cè)模塊200根據(jù)偵測(cè)到的讀盤狀況判斷光驅(qū)12是否已經(jīng)識(shí)別到光 盤122。如果光驅(qū)12已經(jīng)識(shí)別到光盤122，步驟S308，彈出模塊202
發(fā)出指令給計(jì)算機(jī)IO控制光驅(qū)12彈出托盤120,并且記錄模塊204 估支一次i己錄。步驟S310，記錄模塊204判斷是否已經(jīng)完成所設(shè)定的測(cè)試總次 數(shù)。如杲尚未完成測(cè)試總次數(shù)，返回到步驟S302,氣缸再次推動(dòng)托 盤122到光驅(qū)12可自動(dòng)吸入托盤120中的光盤122的位置，然后光 驅(qū)12自動(dòng)吸入光盤122后進(jìn)行讀盤操作。如果已經(jīng)完成測(cè)試總次數(shù)， 測(cè)試流程結(jié)束。在步驟S306中，如果偵測(cè)模塊200偵測(cè)到的讀盤狀況是光驅(qū) 12尚未識(shí)別到光盤122，則返回到步驟S304，偵測(cè)模塊200繼續(xù)偵 測(cè)光驅(qū)12的讀盤狀況。在本實(shí)施例中，步驟S308中彈出模塊202發(fā)出指令給計(jì)算機(jī) 10控制光驅(qū)12彈出托盤120與記錄模塊204記錄一次光驅(qū)12已經(jīng) 識(shí)別到光盤122的步驟可以同時(shí)進(jìn)行，也可以先后進(jìn)行?，F(xiàn)有技術(shù)中判斷光驅(qū)壽命的依據(jù)通常是氣缸14的推動(dòng)次數(shù)。如 果氣缸14與計(jì)算機(jī)10的相對(duì)位置發(fā)生變化或者由于氣缸14本身的 原因，導(dǎo)致氣缸14不能每次都推動(dòng)托盤120到預(yù)定位置(也就是光 驅(qū)12可以自動(dòng)吸入光盤122的位置)，那么氣缸14的推動(dòng)次數(shù)一定 多于光盤12識(shí)別到光盤122的實(shí)際次數(shù)。相較與現(xiàn)有技術(shù)，記錄模 塊204記錄的次數(shù)是光驅(qū)12識(shí)別到光盤122的實(shí)際次數(shù)，根據(jù)此實(shí) 際次數(shù)判斷的光驅(qū)壽命測(cè)試結(jié)果客觀真實(shí)可靠。
權(quán)利要求
1. 一種光驅(qū)測(cè)試系統(tǒng)，包括計(jì)算機(jī)及推動(dòng)裝置，所述的計(jì)算機(jī) 連接被測(cè)光驅(qū)，所述的推動(dòng)裝置用于當(dāng)被測(cè)光驅(qū)的托盤處于彈出狀態(tài) 時(shí)推動(dòng)托盤到該被測(cè)光驅(qū)可自動(dòng)吸入托盤中的光盤的位置，其特征在 于，所述計(jì)算機(jī)包括光驅(qū)測(cè)試裝置，該光驅(qū)測(cè)試裝置用于偵測(cè)及記錄 被測(cè)光驅(qū)識(shí)別到光盤的次數(shù)以及在被測(cè)光驅(qū)每一次識(shí)別到光盤后控 制該被測(cè)光驅(qū)彈出托盤。
2. 如權(quán)利要求1所述的光驅(qū)測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述的推動(dòng) 裝置是氣缸。
3. 如權(quán)利要求1所述的光驅(qū)測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述的光驅(qū) 測(cè)試裝置還用于設(shè)定光驅(qū)需要完成的測(cè)試總次數(shù)。
4. 如權(quán)利要求1所述的光驅(qū)測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述的光驅(qū) 是數(shù)字化視頻光盤只讀存儲(chǔ)驅(qū)動(dòng)器。
5. —種光驅(qū)測(cè)試方法，其特征在于，該方法包括 連接光驅(qū)到計(jì)算機(jī)，啟動(dòng)計(jì)算機(jī)的光驅(qū)測(cè)試裝置； 當(dāng)光驅(qū)的托盤處于彈出狀態(tài)時(shí)，推動(dòng)裝置推動(dòng)該光驅(qū)的托盤到該光驅(qū)可自動(dòng)吸入托盤中的光盤的位置；及光驅(qū)測(cè)試裝置在光驅(qū)識(shí)別到光盤后做一次記錄，并控制光驅(qū)彈出 托盤。
6. 如權(quán)利要求5所述的光驅(qū)測(cè)試方法，其特征在于，該方法還包 括步驟設(shè)定光驅(qū)需要完成的測(cè)試總次數(shù)。
7. 如權(quán)利要求5所述的光驅(qū)測(cè)試方法，其特征在于，該方法還包 括步驟根據(jù)光驅(qū)識(shí)別光盤的時(shí)間以及彈出光盤的時(shí)間設(shè)定推動(dòng)裝置 推動(dòng)托盤的時(shí)間間隔。
8. 如權(quán)利要求5所述的光驅(qū)測(cè)試方法，其特征在于，所述的推動(dòng) 裝置是氣缸。
9. 一種光驅(qū)測(cè)試系統(tǒng)，包括計(jì)算機(jī)及推動(dòng)裝置，所述的計(jì)算機(jī)連 接被測(cè)光驅(qū)，所述的推動(dòng)裝置用于當(dāng)光驅(qū)的托盤處于彈出狀態(tài)時(shí)推動(dòng)托盤到該光驅(qū)可自動(dòng)吸入托盤中的光盤的位置，其特征在于，所述計(jì)算機(jī)包括光驅(qū)測(cè)試裝置，該光驅(qū)測(cè)試裝置包括偵測(cè)模塊，用于實(shí)時(shí)偵測(cè)光驅(qū)的讀盤狀況并判斷光驅(qū)是否已經(jīng)識(shí) 別到光盤；彈出模塊，用于在偵測(cè)模塊偵測(cè)到光驅(qū)已經(jīng)識(shí)別到光盤之后發(fā)出 指令給計(jì)算機(jī)控制光驅(qū)彈出托盤；及記錄模塊，用于在偵測(cè)模塊每一次偵測(cè)到光驅(qū)已經(jīng)識(shí)別到光盤之 后做一次記錄。
10.如權(quán)利要求9所述的光驅(qū)測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述的記 錄模塊還用于設(shè)定光驅(qū)需要完成的測(cè)試總次數(shù)以及判斷是否已經(jīng)完 成所設(shè)定的測(cè)試總次數(shù)。
全文摘要
一種光驅(qū)測(cè)試系統(tǒng)，包括計(jì)算機(jī)及推動(dòng)裝置，所述的計(jì)算機(jī)連接光驅(qū)，所述的推動(dòng)裝置用于當(dāng)光驅(qū)的托盤處于彈出狀態(tài)時(shí)推動(dòng)托盤到該光驅(qū)可自動(dòng)吸入托盤中的光盤的位置，所述計(jì)算機(jī)包括光驅(qū)測(cè)試裝置用于偵測(cè)及記錄光驅(qū)識(shí)別到光盤的次數(shù)以及在光驅(qū)每一次識(shí)別到光盤后控制該光驅(qū)彈出托盤。利用本發(fā)明可以提高光驅(qū)測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性以及可靠性，而且，由于實(shí)現(xiàn)了自動(dòng)化測(cè)試，降低了人力成本。
文檔編號(hào)G11B33/00GK101145381SQ200610062608
公開日2008年3月19日 申請(qǐng)日期2006年9月15日 優(yōu)先權(quán)日2006年9月15日
發(fā)明者何友光, 廖善明, 甘小林 申請(qǐng)人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司;鴻海精密工業(yè)股份有限公司