專利名稱：光盤制造方法
技術領域：
本發(fā)明涉及用于將兩個光盤基板粘合而形成的粘合型光盤用的光盤制造方法。
背景技術：
一般說來，諸如數(shù)字視頻媒體(DVD媒體)等的光盤是由兩個光盤基板粘合而形成的粘合型光盤。即是，目前使用的數(shù)字視頻媒體光盤是由諸如0.6mm厚的兩個光盤基板粘合而形成的，下一代的數(shù)字視頻媒體光盤預計是通過兩個為0.1mm厚和1.1mm厚的基板粘合而形成的。
舉例來說，對兩個光盤基板實施粘合的技術已經(jīng)在日本特開平05-20714號公報(專利文獻1)中公開。下面參考圖1至圖4，對這一技術進行說明。
正如圖1和圖2所示，可以將一對轉(zhuǎn)動臺101、102相對配置，并且將需要實施粘合處理的兩個光盤基板103、104通過真空吸附方式相對這兩個轉(zhuǎn)動臺101、102實施固定。位于下側(cè)的轉(zhuǎn)動臺101可以通過電動機105實施轉(zhuǎn)動驅(qū)動，位于上側(cè)的轉(zhuǎn)動臺102可以通過上下移動機構(gòu)106上下自由移動。而且，可以通過旋轉(zhuǎn)涂布裝置107，向固定在上下側(cè)的轉(zhuǎn)動臺101、102處的兩個光盤基板103、104之間供給粘接劑。在旋轉(zhuǎn)涂布裝置107處設置有具有噴嘴108的配置器109，這種配置器109按照使噴嘴108的前端部可以沿固定在轉(zhuǎn)動臺101、102處的兩個光盤基板103、104的半徑方向自由移動的方式實施著支撐。
如圖3所示，旋轉(zhuǎn)涂布裝置107可以使相對噴嘴108供給粘接劑的粘接劑路徑110和供給壓縮空氣的壓縮空氣路徑111，在配置器109的正前方合并。粘接劑路徑110可以經(jīng)由收裝在加壓箱112內(nèi)的粘接劑供給容器113，三通閥114，過濾器115，球閥116和針孔閥117到達空氣閥118處，并且在此處與壓縮空氣路徑111合并。壓縮空氣路徑111由壓縮空氣的供給源通過電磁閥119到達空氣閥118，并且在此處與粘接劑路徑110合并。
采用這種構(gòu)成形式，可以通過將粘接劑路徑110中的三通閥114和壓縮空氣路徑111中的電磁閥119等打開的方式，將壓縮空氣和粘接劑一并供給至配置器109，進而使粘接劑由噴嘴108處排出。在這時，可以通過調(diào)節(jié)空氣閥118的方式，改變供給至配置器109處的壓縮空氣的壓力，進而對由噴嘴108排出的粘接劑量實施調(diào)節(jié)。而且，可以采用電氣控制的電磁閥作為上述的空氣閥118。
下面參考圖4，對使用這種制造裝置對兩個光盤基板103、104實施粘合的工序進行說明。將噴嘴108插入至固定在轉(zhuǎn)動臺101、102處的兩個光盤基板103、104之間，使其前端部位于光盤基板103的中央部附近。在這種狀態(tài)下，在由噴嘴108處排出諸如紫外線硬化樹脂120等粘接劑的同時，轉(zhuǎn)動驅(qū)動下側(cè)的轉(zhuǎn)動臺101。這樣，便可以在下側(cè)的光盤基板103的中央部附近，呈圓周狀涂布紫外線硬化樹脂120(參見圖4A)。
隨后，通過上下移動機構(gòu)106使位于上側(cè)的轉(zhuǎn)動臺102下降，將位于上側(cè)的光盤基板104與下側(cè)的光盤基板103重合(參見圖4B)。由電動機105的驅(qū)動力轉(zhuǎn)動驅(qū)動下側(cè)的轉(zhuǎn)動臺101，這樣使上側(cè)的轉(zhuǎn)動臺102產(chǎn)生追隨轉(zhuǎn)動。這時，夾在兩個光盤基板103、104之間的紫外線硬化樹脂120將朝外側(cè)周部擴散(參見圖4C)。在該擴散范圍到達規(guī)定位置處時，停止轉(zhuǎn)動臺101、102的轉(zhuǎn)動。
在這種狀態(tài)下，待機至由紫外線硬化樹脂120構(gòu)成的粘接劑擴散至兩個光盤基板103、104的外側(cè)周部端面處(參見圖4D)。在達到如圖4D所示的狀態(tài)，由紫外線照射燈121照射出紫外線光束，對紫外線硬化樹脂120實施硬化處理。通過這種方式，可以制作出對兩個光盤基板103、104實施粘合而形成的粘合型光盤122。
圖5為舉例表示粘合型光盤122的平面圖。圖6為表示對位于其中央部的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域?qū)嵤┓糯蟛⑹购穸茸冃蔚目v剖側(cè)面圖。粘合型光盤122包含占其大部分面積的信息區(qū)域123，以及位于中央部的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域124。
該內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域124為從在光盤122中央部處的中心孔125至信息區(qū)域123間形成的區(qū)域，其中包含有模槽區(qū)域126。這種模槽區(qū)域126，是由在制造光盤基板103、104時所必然生成的模槽127所形成的區(qū)域。
下面以舉例形式，對作為粘合型光盤122典型實例的數(shù)字視頻媒體光盤的各部分尺寸進行說明。數(shù)字視頻媒體的外側(cè)直徑為120mm，厚度為1.2mm，中心孔125為15mm，模槽區(qū)域126形成在由中心起至直徑為22mm左右的位置處。諸如紫外線硬化樹脂120等構(gòu)成的粘接劑以下述狀態(tài)存在。即粘接劑通過在兩個光盤基板103、104的大約整個表面處延展的方式而存在于數(shù)字視頻媒體光盤中，一般說來通常需要一直延展至模槽區(qū)域126的正前方位置處，而且在從模槽區(qū)域126至所述中心孔125間的位置處，往往存在有粘接劑未能到達的空氣層128。
在這種包含有空氣層128的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域124中，往往存在有由于由諸如紫外線硬化樹脂120等構(gòu)成的粘接劑的延展狀況而使外觀不良的情況。這種外觀不良不會導致記錄在數(shù)字視頻媒體光盤的信息區(qū)域123處的信息出現(xiàn)不良，只不過是一種用肉眼即可以發(fā)現(xiàn)的問題。但是，這在數(shù)字視頻媒體光盤作為商品銷售時，會降低其商品價值。由于這種原因，內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域124處出現(xiàn)外觀不良的數(shù)字視頻媒體光盤，通常要作為次品處理。
如圖5和圖6所示，在內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域124處的外觀不良狀態(tài)形式為粘接劑未到達作為目標位置的模槽區(qū)域126為延展不足A，一直進入至模槽區(qū)域126處為延展過度B，粘接劑出現(xiàn)部分缺落為延展氣泡C等。
在這種光盤122的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域124是否有外觀不良，需要在光盤122制作完成之后進行檢查。實施這種檢查最常用的方式是通過人的肉眼實施確認的方式。然而，不論是光盤122中的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域124，還是延展至該內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域124處的紫外線硬化樹脂120，通常均是透明的。因此，往往難以通過肉眼對內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域124處是否出現(xiàn)外觀不良作出判斷。由于這一原因，目前已有利用諸如電荷耦合型照相機(CCD照相機)等等的照相裝置，對光盤122的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域124實施照相以對外觀不良實施自動判斷的光盤檢查裝置的方案。
圖7為表示這種光盤檢查裝置的一例的側(cè)面圖。這種光盤檢查裝置是利用設置在光盤支撐臺201處的中心輪轂202，對作為檢查對象的光盤122實施定位。從實施這種定位處理后的光盤122的正上方由電荷耦合型照相機(CCD照相機)203對光盤122的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域124作為檢查區(qū)域204進行照相。在這時，光盤122中的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域124，以及延展至該內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域124處的紫外線硬化樹脂120均是透明的，所以區(qū)別它們困難。由于這一原因，還需要使用照明部件205對光盤122的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域124實施照明。
然而，由于光盤122的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域124近似于鏡面，所以在由電荷耦合型照相機(CCD照相機)203的照相圖象中，照明部件205的虛象205a也會進入至圖象中。在這種光盤122的檢查區(qū)域204中照明裝置205所進入的局部范圍將會出現(xiàn)明亮部分205c。因此，存在有電荷耦合型照相機(CCD照相機)203的圖象輸出信號不均勻的問題。
可以對光盤122的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域124的外觀不良實施自動判定的其他光盤檢查裝置，例如在日本特開平11-328756號公報(專利文獻2)和日本特開2000-162147號公報(專利文獻3)中公開。
在上述日本特開平11-328756號公報(專利文獻2)中，公開了通過照相機對利用輝度均勻的面光源從下側(cè)實施照明的光盤圖象實施照相，并且通過該圖象的象素明亮度判定粘接劑是否出現(xiàn)延展不良的技術。
另外，在上述日本特開2000-162147號公報(專利文獻3)中，公開了從上側(cè)使用由半透鏡和穹型照明部件構(gòu)成的照明裝置對光盤實施照射，并依據(jù)對光盤內(nèi)側(cè)周部照相獲得的圖象數(shù)據(jù)對粘接狀態(tài)良好與否實施判定的技術。

發(fā)明內(nèi)容
對光盤內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域的外觀不良實施自動判定的光盤檢查裝置需要具有的性能首要的就是可以對光盤的檢查區(qū)域?qū)嵤┚鶆虻恼彰鳎纱丝梢垣@得該檢查區(qū)域的均勻照相圖象。這是對光盤內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域的外觀不良實施自動判定所不可缺少的性能。
對此，本申請的發(fā)明人對前述的日本特開平11-328756號公報(專利文獻2)中公開的裝置進行實驗的結(jié)果難以獲得由于粘接劑存在與否所產(chǎn)生的明暗差異。這一結(jié)果表明，該技術難以用來對光盤內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域的外觀不良實施自動的判定。
而且，目前對光盤內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域的外觀不良實施自動判定的光盤檢查裝置需要具有的其他性能中，確保在光盤與照相裝置之間具有某程度的工作距離也是非常重要的。舉例來說，在用機械手往光盤檢查裝置上安裝光盤時，這一工作距離為確保機械手移動空間所需要的。
特別是，如果能夠確保在光盤與照相裝置之間具有某程度的工作距離，在如圖1和圖2所表示的對兩個光盤基板實施粘合操作的光盤制造裝置是可以在安裝光盤時對其內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域的外觀不良實施自動判定的。然而如果要作到這一點，光盤與照相裝置之間的工作距離需要10cm以上。
對此，由上述的日本特開2000-162147號公報(專利文獻3)公開的裝置，采用的是使用半透鏡對光盤實施照明的構(gòu)造，所以半透鏡的高度必然占據(jù)一定高度，所以難以確保光盤與照相裝置之間的工作距離為10cm以上。換句話說就是，如果使這種裝置的工作距離為10cm以上，必然會使整個裝置的高度過高，從而會出現(xiàn)光盤檢查裝置大型化的問題。
而且，在如圖1和圖2所表示的對兩個光盤基板實施粘合操作的光盤制造裝置，對于對在安裝光盤時并對其內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域的外觀不良實施自動判定時，難以采用如日本特開平11-328756號公報(專利文獻2)中所公開的從光盤的下側(cè)對其檢查區(qū)域?qū)嵤┱彰鞯募夹g。
本發(fā)明的目的就是提供一種可以對這種光盤的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域的外觀不良實施自動判定的光盤檢查裝置，這種光盤檢查裝置可以確保在光盤與照相裝置之間具有某程度的工作距離，并且可以對整個規(guī)定的檢查區(qū)域?qū)嵤┚鶆虻恼彰鳌?br> 為了能夠?qū)崿F(xiàn)上述目的，本發(fā)明第一方面，是一種將由兩個光盤基板粘合而形成的光盤的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域，并且對該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施檢查的光盤檢查裝置，其具有以位置不動方式對作為檢查對象物的光盤實施支撐的光盤支撐臺；環(huán)狀照明裝置，其具有光源和從從光源給出的照射光束實施擴散的擴散板，其光軸按照與支撐在所述光盤支撐臺處的所述光盤中心軸相重合的方式實施配置，并且將由所述擴散板給出的照射光束從上側(cè)呈環(huán)狀對所述光盤的檢查區(qū)域?qū)嵤┱彰?；照相裝置，其光軸按照與支撐在所述光盤支撐臺處的所述光盤中心軸相重合的方式實施配置，從上側(cè)對該光盤的檢查區(qū)域?qū)嵤┱障?；當取檢查區(qū)域內(nèi)側(cè)直徑為S1，檢查區(qū)域外側(cè)直徑為S2，所述環(huán)狀照明裝置的照明部內(nèi)側(cè)直徑為L1，所述環(huán)狀照明裝置的照明部外側(cè)直徑為L2，所述環(huán)狀照明裝置與所述光盤間的距離為LD，所述照相裝置上的第一主點位置HI與所述光盤間的距離為HD時，滿足
S2×(1-LD/HD)＜L1＜S1×(1+LD/HD)L2＞S2×(1+LD/HD)。
采用這種構(gòu)成形式，可以將由環(huán)狀照明裝置給出的照射光束均勻地投射在光盤的整個檢查區(qū)域上，對檢查區(qū)域?qū)嵤┚鶆虻卣彰?。因此，可以對檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施高精度的檢查。同時，還可以充分確保光盤與照相裝置之間的工作距離。
本發(fā)明第二方面，是在第一方面所述的光盤檢查裝置上，對所述光盤支撐臺上至少與所述光盤檢查區(qū)域相對應的區(qū)域?qū)嵤┑头瓷涮幚怼?br> 采用這種構(gòu)成形式，可以降低與光盤支撐臺上的光盤檢查區(qū)域相對應的區(qū)域的光反射率，從而可以降低光盤中檢查區(qū)域的光反射率，可對檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施更高精度的檢查。
本發(fā)明第三方面，是在第一方面所述的光盤檢查裝置上，由發(fā)光二極管(LED)作為用于所述環(huán)狀照明裝置中的所述光源。
采用這種構(gòu)成形式，還可以減小環(huán)狀照明裝置的厚度，確保在光盤與照相裝置之間具有更大的工作距離。而且，采用發(fā)光二極管(LED)的環(huán)狀照明裝置具有更高的輝度均勻性，所以可以對光盤上的檢查區(qū)域?qū)嵤└鶆虻恼彰鳌?br> 本發(fā)明第四方面，是在第三方面所述的光盤檢查裝置上，所述發(fā)光二極管(LED)的光軸朝向所述環(huán)狀照明裝置的內(nèi)周方向。
采用這種構(gòu)成形式，可以減小發(fā)光二極管(LED)由環(huán)狀照明裝置朝向光束照射方向的尺寸，并且可以減小環(huán)狀照明裝置的厚度。因此，可以確保在光盤與照相裝置之間具有更大的工作距離。
本發(fā)明第五方面，是在第一方面所述的光盤檢查裝置上，用于所述環(huán)狀照明裝置中的光源為彎曲成環(huán)狀的熒光燈。
采用這種構(gòu)成形式，還可以采用價格低廉的照明裝置對光盤上的整個檢查區(qū)域?qū)嵤┐篌w均勻的照明。
本發(fā)明第六方面，是在第五方面所述的光盤檢查裝置中，還具有對所述照相裝置給出的圖象輸出信號實施用于修正所述環(huán)狀照明裝置的輝度不均勻的陰影修正的陰影修正裝置。
彎曲成環(huán)狀的熒光燈在其電極部分處，輝度會急劇下降，這一部分會使對光盤檢查區(qū)域的照明均勻度下降，產(chǎn)生不均勻現(xiàn)象，進而會使由照相裝置.給出的照相圖象也不均勻。針對這種情況，通過對如上所述的照相裝置給出的圖象輸出信號實施陰影修正的方式，可以獲得與對光盤的檢查區(qū)域?qū)嵤┚鶆蛘彰鞯耐瑯咏Y(jié)果，從而可以對檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施高精度的檢查。
本發(fā)明第七方面，是在第一方面所述的光盤檢查裝置中，還具有將所述照相裝置給出的圖象輸出信號在顯示器上顯示輸出的監(jiān)視裝置。
采用這種構(gòu)成形式，可以通過觀察顯示器，對光盤上檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施觀察，從而可以容易實施判定其良好與否的作業(yè)。
本發(fā)明第八方面，是在第七方面所述的光盤檢查裝置中，還具有利用某一閾值對所述照相裝置給出的圖象輸出信號實施白黑二值化處理的二值化處理裝置，在所述監(jiān)視裝置將二值化處理后的所述圖象輸出信號顯示輸出在顯示器上。
采用這種構(gòu)成形式，還可以使在顯示器處顯示的圖象成為白黑二值化處理后的圖象，并且使存在有粘接劑的部分由黑色表示，不存在有粘接劑的部分由白色表示。這樣，還可以使光盤檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量一目了然，從而可以更容易實施判定其良好與否的作業(yè)。
本發(fā)明第九方面，是一種將由兩個光盤基板粘合而形成的光盤的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域，并且對該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施檢查的光盤檢查方法，其具有以位置不動方式將作為檢查對象物的光盤支撐在光盤支撐臺上的工序；對具有光源和從光源給出的照射光束實施擴散的擴散板的、其光軸按照與支撐在所述光盤支撐臺處的所述光盤中心軸相重合的方式實施配置的環(huán)狀照明裝置實施照明，并且將由所述擴散板給出的照射光束從上側(cè)呈環(huán)狀對所述光盤的檢查區(qū)域?qū)嵤┱彰鞯墓ば?；使用其光軸按照與支撐在所述光盤支撐臺處的所述光盤中心軸相重合的方式實施配置的照相裝置，從上側(cè)對該光盤的檢查區(qū)域?qū)嵤┱障嗟墓ば?；當取檢查區(qū)域內(nèi)側(cè)直徑為，檢查區(qū)域外側(cè)直徑為S2，所述環(huán)狀照明裝置的照明部內(nèi)側(cè)直徑為L1，所述環(huán)狀照明裝置的照明部外側(cè)直徑為L2，所述環(huán)狀照明裝置與所述光盤間的距離為LD，所述照相裝置上的第一主點位置HI與所述光盤間的距離為HD時，滿足S2×(1-LD/HD)＜L1＜S1×(1+LD/HD)
L2＞S2×(1+LD/HD)。
采用這種構(gòu)成形式，可以將由環(huán)狀照明裝置給出的照射光束均勻地投射在光盤的整個檢查區(qū)域上，對檢查區(qū)域?qū)嵤┚鶆虻卣彰?。因此，可以對檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施高精度的檢查。同時，還可以充分確保光盤與照相裝置之間的工作距離。
本發(fā)明第十方面，是一種將由兩個光盤基板粘合而形成的光盤的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域，并且對該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施檢查的光盤檢查方法，其具有以位置不動方式將作為檢查對象物的光盤支撐在光盤支撐臺上的工序；對具有光源和從光源給出的照射光束實施擴散的擴散板的、其光軸按照與支撐在所述光盤支撐臺處的所述光盤中心軸相重合的方式實施配置的環(huán)狀照明裝置實施照明，并且將由所述擴散板給出的照射光束從上側(cè)呈環(huán)狀對所述光盤的檢查區(qū)域?qū)嵤┱彰鞯墓ば?；通過將所述光盤反轉(zhuǎn)成凹形狀，縮小與所述環(huán)狀照明裝置的照明部內(nèi)側(cè)直徑大小相關出現(xiàn)在所述光盤檢查區(qū)域的內(nèi)徑側(cè)處的影象直徑，由此將該影象由所述光盤的檢查區(qū)域內(nèi)徑側(cè)去除的工序；使用其光軸按照與支撐在所述光盤支撐臺處的所述光盤中心軸相重合的方式實施配置的照相裝置，從上側(cè)對該光盤的檢查區(qū)域?qū)嵤┱障嗟墓ば颉?br> 采用這種構(gòu)成形式，可以不將由環(huán)狀照明裝置給出的照射光投射在光盤的檢查區(qū)域內(nèi)徑側(cè)，所以即使該區(qū)域生成有影象，也可以通過使光盤反轉(zhuǎn)或凹形狀而使該影象縮小，由此可以將該影象從光盤的檢查區(qū)域內(nèi)徑側(cè)除去。采用這種方式，在光盤的檢查區(qū)域內(nèi)徑側(cè)也可以對粘接劑的延展質(zhì)量實施高精度的檢查。
本發(fā)明第十一方面，是一種光盤制造方法，其具有形成粘合型光盤的光盤形成工序，其包含向固定在轉(zhuǎn)動臺處的第一光盤基板上排出粘接劑的階段，將第二光盤基板重合在所述第一光盤基板上的階段，轉(zhuǎn)動驅(qū)動所述轉(zhuǎn)動臺以使位于所述兩個光盤基板間的粘接劑延展的階段，對延展的粘接劑實施硬化處理的階段；檢查工序，其將所述粘合型光盤的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域，并且對該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施檢查。
另外，在所述檢查工序使用第九方面或第十方面所述的光盤檢查方法對粘接劑延展質(zhì)量實施檢查。
采用這種構(gòu)成形式，在采用第九方面所述的光盤檢查方法在對粘接劑延展質(zhì)量實施檢查時，可以將由環(huán)狀照明裝置給出的照射光均勻地投射在由光盤形成工序形成的光盤的整個檢查區(qū)域上，對檢查區(qū)域?qū)嵤┚鶆虻卣彰?。因此，可以對檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施高精度的檢查。同時，還可以充分確保在光盤與照相裝置之間的工作距離。
采用這種構(gòu)成形式，在采用第十方面所述的光盤檢查方法在對粘接劑延展質(zhì)量實施檢查時，可以不將由環(huán)狀照明裝置給出的照射光投射在通過光盤形成工序形成的光盤的檢查區(qū)域內(nèi)徑側(cè)，所以即使該區(qū)域生成有影象，也可以通過使光盤反轉(zhuǎn)或凹形狀而使該影象縮小，由此可以將該影象從光盤的檢查區(qū)域內(nèi)徑側(cè)除去。采用這種方式，在光盤的檢查區(qū)域內(nèi)徑側(cè)也可以對粘接劑的延展質(zhì)量實施高精度的檢查。
本發(fā)明第十二方面，是在第十一項所述的光盤制造方法中，還具有依據(jù)由所述照相裝置給出的圖象輸出信號對粘接劑的延展質(zhì)量是否良好實施判定的良好與否判定工序；在依據(jù)所述良好與否判定工序判定結(jié)果為粘接劑延展質(zhì)量出現(xiàn)不良時可以對出現(xiàn)這種不良的所述光盤實施甄選的甄選工序。
采用這種構(gòu)成形式，可以通過實施甄選工序，對出現(xiàn)這種粘接劑延展質(zhì)量不良的光盤實施甄選作業(yè)。
本發(fā)明第十三方面，是一種將由兩個光盤基板粘合而形成的光盤的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域，并且對該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施檢查的粘合型光盤，其利用第九或第十方面所述的光盤檢查方法對所述粘接劑延展質(zhì)量實施檢查。
采用這種構(gòu)成形式，可以獲得對檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施高精度檢查的光盤。
本發(fā)明第十四方面，是一種將由兩個光盤基板粘合而形成的光盤的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域，并且對該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施檢查的粘合型光盤，其利用第九或第十方面所述的光盤檢查方法對所述粘接劑延展質(zhì)量實施檢查，并且依據(jù)該檢查結(jié)果，按照粘接劑延展質(zhì)量未出現(xiàn)不良的方式實施甄選。
采用這種構(gòu)成形式，可以對檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施高精度檢查，并且依據(jù)該高精度的檢查結(jié)果得到實施甄選作業(yè)后的光盤。
本發(fā)明第十五方面，是一種將由兩個光盤基板粘合而形成的光盤的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域，并且對該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施檢查的光盤檢查裝置，其具有以位置不動方式對作為檢查對象物的光盤實施支撐的光盤支撐臺；環(huán)狀照明裝置，其具有光源和從光源給出的照射光束實施擴散的擴散板，其光軸按照與支撐在所述光盤支撐臺處的所述光盤中心軸相重合的方式實施配置，并且將由所述擴散板給出的照射光束從上側(cè)呈環(huán)狀對所述光盤的檢查區(qū)域?qū)嵤┱彰鳎徽障嘌b置，其光軸按照與支撐在所述光盤支撐臺處的所述光盤中心軸相重合的方式實施配置，從上側(cè)對該光盤的檢查區(qū)域?qū)嵤┱障?；而且還具有檢查機構(gòu)，當取檢查區(qū)域內(nèi)側(cè)直徑為S1，檢查區(qū)域外側(cè)直徑為S2，所述環(huán)狀照明裝置的照明部內(nèi)側(cè)直徑為L1，所述環(huán)狀照明裝置的照明部外側(cè)直徑為L2，所述環(huán)狀照明裝置與所述光盤間的距離為LD，所述照相裝置上的第一主點位置HI與所述光盤間的距離為HD時，滿足S2×(1-LD/HD)＜L1＜S1×(1+LD/HD)L2＞S2×(1+LD/HD)；二值化處理裝置，其利用某一閾值對所述照相裝置給出的圖象輸出信號實施白黑二值化處理；良好與否判定裝置，其將白黑二值化處理后的、與所述光盤檢查區(qū)域相對應的所述圖象輸出信號與某上下閾值進行比較，以判定該檢查區(qū)域中粘接劑是否過多或不足。
采用這種構(gòu)成形式，可以將由環(huán)狀照明裝置給出的照射光均勻地投射在光盤的整個檢查區(qū)域上，對檢查區(qū)域?qū)嵤┚鶆虻卣彰鳌６?，可以對由照相裝置給出的圖象輸出信號實施白黑二值化處理，使存在有粘接劑的部分由黑色表示，不存在有粘接劑的部分由白色表示，從而可以對表示存在有粘接劑的部分和不存在有粘接劑的部分的信號實施明確分離。采用這種方式，還可以通過使與光盤檢查區(qū)域相對應的圖象輸出信號與某上下閾值進行比較，對檢查區(qū)域中粘接劑是否過多或不足實施高精度的檢查。同時，還可以充分確保在光盤與照相裝置之間的工作距離。
利用良好與否判定裝置實施判定的形式有許多種。下面的第十六到第二十一方面就是其各種形式。
本發(fā)明第十六方面，是在第十五方面所述的光盤檢查裝置中，所述良好與否判定裝置在所述圖象輸出信號中的白色圖象數(shù)據(jù)低于某一下閾值時，判定其粘接劑過多。
本發(fā)明第十七方面，是在第十五方面所述的光盤檢查裝置中，所述良好與否判定裝置在所述圖象輸出信號中的黑色圖象數(shù)據(jù)高于某一上閾值時，判定其粘接劑過多。
本發(fā)明第十八方面，是在第十五方面所述的光盤檢查裝置中，所述良好與否判定裝置在所述圖象輸出信號中的白色圖象數(shù)據(jù)高于某一上閾值時，判定其粘接劑不足。
本發(fā)明第十九方面，是在第十八方面所述的光盤檢查裝置中，所述良好與否判定裝置獲得對應于將白黑二值化處理后的所述光盤檢查區(qū)域沿該光盤半徑方向分割成若干分割檢查區(qū)域的所述圖象輸出信號，并且將該圖象輸出信號與按照在外周側(cè)的所述分割檢查區(qū)域更低的方式設定的上閾值進行比較，在所述圖象輸出信號中的白色圖象數(shù)據(jù)高于任意一個所述分割檢查區(qū)域的上閾值時，判定其粘接劑不足。
采用這種構(gòu)成形式，可以對位于光盤外周側(cè)位置處的分割檢查區(qū)域使用更嚴格的基準對粘接劑的不足實施判定。采用這種方式，在單純實施面積對比中，在檢測不出沿光盤半徑方向長的粘接劑不足部分的形狀時，可以對這種粘接劑不足實施更容易地檢查。
本發(fā)明第二十方面，是第十五方面所述的光盤檢查裝置中，所述良好與否判定裝置在所述圖象輸出信號中的黑色圖象數(shù)據(jù)低于某一下閾值時，判定其粘接劑不足。
本發(fā)明第二十一方面，是在第二十方面所述的光盤檢查裝置中，所述良好與否判定裝置獲得對應于將白黑二值化處理后的所述光盤檢查區(qū)域沿該光盤半徑方向分割成若干分割檢查區(qū)域的所述圖象輸出信號，并且將該圖象輸出信號與按照在外周側(cè)的所述分割檢查區(qū)域更低的方式設定的下閾值進行比較，在所述圖象輸出信號中的黑色圖象數(shù)據(jù)低于任意一個所述分割檢查區(qū)域的下閾值時，判定其粘接劑不足。
采用這種構(gòu)成形式，可以對位于光盤外周側(cè)位置處的分割檢查區(qū)域使用更嚴格的基準對粘接劑的不足實施判定。采用這種方式，在單純實施面積對比中，在檢測不出沿光盤半徑方向長的粘接劑不足部分的形狀時，可以對這種粘接劑不足實施更容易地檢查。
本發(fā)明第二十二方面，是在第十五方面所述的光盤檢查裝置中，還具有依據(jù)所述良好與否判定裝置的判定結(jié)果實施信息報告的報告裝置。
采用這種構(gòu)成形式，可以依據(jù)報告裝置報告的判定結(jié)果，使觀察者能夠更容易地對光盤是否良好實施識別。
本發(fā)明第二十三方面，是在第二十二方面所述的光盤檢查裝置中，所述報告裝置將所述良好與否判定裝置的判定結(jié)果顯示輸出至顯示器。
采用這種構(gòu)成形式，可使光盤是否良好一目了然。
本發(fā)明第二十四方面，是在第十五方面所述的光盤檢查裝置中，對所述光盤支撐臺上至少對應于所述光盤檢查區(qū)域的區(qū)域?qū)嵤┑头瓷涮幚怼?br> 采用這種構(gòu)成形式，可以降低對應于光盤支撐臺上的光盤檢查區(qū)域的區(qū)域的光反射率，從而可以降低光盤中檢查區(qū)域的光反射率，對檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施更高精度的檢查。
本發(fā)明第二十五方面，是在第十五方面所述的光盤檢查裝置中，用于所述環(huán)狀照明裝置中的所述光源為發(fā)光二極管(LED)。
采用這種構(gòu)成形式，還可以減小環(huán)狀照明裝置的厚度，確保在光盤與照相裝置之間具有更大的工作距離。而且，采用發(fā)光二極管(LED)的環(huán)狀照明裝置具有更高的輝度均勻性，所以可以對光盤上的檢查區(qū)域?qū)嵤└鶆虻恼彰鳌?br> 本發(fā)明第二十六方面，是在第二十五方面所述的光盤檢查裝置中，所述發(fā)光二極管(LED)的光軸朝向所述環(huán)狀照明裝置的內(nèi)周方向。
采用這種構(gòu)成形式，可以減小發(fā)光二極管(LED)由環(huán)狀照明裝置朝向光束照射方向的尺寸，并且可以減小環(huán)狀照明裝置的厚度。因此，可以確保在光盤與照相裝置之間具有更大的工作距離。
本發(fā)明第二十七方面，是在第十五方面所述的光盤檢查裝置中，用于所述環(huán)狀照明裝置中的光源為彎曲成環(huán)狀的熒光燈。
采用這種構(gòu)成形式，還可以采用價格低廉的照明裝置對光盤上的整個檢查區(qū)域?qū)嵤┐篌w均勻的照明。
本發(fā)明第二十八方面，是在第二十七所述的光盤檢查裝置中，還具有對所述照相裝置給出的圖象輸出信號實施用于修正所述環(huán)狀照明裝置的輝度不均勻的陰影修正的陰影修正裝置。
彎曲成環(huán)狀的熒光燈在其電極部分處，輝度會急劇下降，這一部分會使對光盤檢查區(qū)域的照明均勻度下降，產(chǎn)生不均勻現(xiàn)象，進而會使由照相裝置給出的照相圖象也不均勻。針對這種情況，通過對如上所述的照相裝置給出的圖象輸出信號實施陰影修正的方式，可以獲得與對光盤的檢查區(qū)域?qū)嵤┚鶆蛘彰鞯耐瑯咏Y(jié)果，從而可以對檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施高精度的檢查。
本發(fā)明第二十九方面，是一種將由兩個光盤基板粘合而形成的光盤的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域，并且對該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施檢查的光盤檢查方法，其具有以位置不動方式將作為檢查對象物的光盤支撐在光盤支撐臺上的工序；對具有光源和從光源給出的照射光束實施擴散的擴散板的、其光軸按照與支撐在所述光盤支撐臺處的所述光盤中心軸相重合的方式實施配置的環(huán)狀照明裝置實施照明，并且將由所述擴散板給出的照射光束從上側(cè)呈環(huán)狀對所述光盤的檢查區(qū)域?qū)嵤┱彰鞯墓ば?；使用其光軸按照與支撐在所述光盤支撐臺處的所述光盤中心軸相重合的方式實施配置的照相裝置，從上側(cè)對該光盤的檢查區(qū)域?qū)嵤┱障嗟墓ば?；利用某一閾值對所述照相裝置給出的圖象輸出信號實施白黑二值化處理的二值化處理工序；將白黑二值化處理后的、與所述光盤檢查區(qū)域相對應的所述圖象輸出信號與某上下閾值進行比較，以判定該檢查區(qū)域中粘接劑是否過多或不足的良好與否判定工序。
另外，當取檢查區(qū)域內(nèi)側(cè)直徑為S1，檢查區(qū)域外側(cè)直徑為S2，所述環(huán)狀照明裝置的照明部內(nèi)側(cè)直徑為L1，所述環(huán)狀照明裝置的照明部外側(cè)直徑為L2，所述環(huán)狀照明裝置與所述光盤間的距離為LD，所述照相裝置上的第一主點位置HI與所述光盤間的距離為HD時，滿足S2×(1-LD/HD)＜L1＜S1×(1+LD/HD)L2＞S2×(1+LD/HD)。
采用這種構(gòu)成形式，可以將由環(huán)狀照明裝置給出的照射光均勻地投射在光盤的整個檢查區(qū)域上，對檢查區(qū)域?qū)嵤┚鶆虻卣彰?。而且，可以對由照相裝置給出的圖象輸出信號實施白黑二值化處理，使存在有粘接劑的部分由黑色表示，不存在有粘接劑的部分由白色表示，從而可以對表示存在有粘接劑的部分和不存在有粘接劑的部分的信號實施明確分離。采用這種方式，還可以通過使與光盤檢查區(qū)域相對應的圖象輸出信號與某上下閾值進行比較，對檢查區(qū)域中粘接劑是否過多或不足實施高精度的檢查。同時，還可以充分確保在光盤與照相裝置之間的工作距離。
通過良好與否判定工序?qū)嵤┡卸ǖ男问接性S多種。下面第三十至三十五方向就是其各種形式。
本發(fā)明第三十方面，是在第二十九方面所述的光盤檢查方法中，所述良好與否判定工序在所述圖象輸出信號中的白色圖象數(shù)據(jù)低于某一下閾值時，判定其粘接劑過多。
本發(fā)明第三十一方面，是在第二十九所述的光盤檢查方法中，所述良好與否判定工序在所述圖象輸出信號中的黑色圖象數(shù)據(jù)高于某一上閾值時，判定其粘接劑過多。
本發(fā)明第三十二方面，是在第二十九方面所述的光盤檢查方法中，所述良好與否判定工序在所述圖象輸出信號中的白色圖象數(shù)據(jù)高于某一上閾值時，判定其粘接劑不足。
本發(fā)明第三十三方面，是在第三十二方面所述的光盤檢查方法中，所述良好與否判定工序獲得對應于將白黑二值化處理后的所述光盤檢查區(qū)域沿該光盤半徑方向分割成若干分割檢查區(qū)域的所述圖象輸出信號，并且將該圖象輸出信號與按照在外周側(cè)的所述分割檢查區(qū)域更低的方式設定的上閾值進行比較，在所述圖象輸出信號中的白色圖象數(shù)據(jù)高于任意一個所述分割檢查區(qū)域的上閾值時，判定其粘接劑不足。
采用這種構(gòu)成形式，可以對位于光盤外周側(cè)位置處的分割檢查區(qū)域使用更嚴格的基準對粘接劑的不足實施判定。采用這種方式，在單純實施面積對比中，在檢測不出沿光盤半徑方向長的粘接劑不足部分的形狀時，可以對這種粘接劑不足實施更可靠地檢查。
本發(fā)明第三十四方面，是在第二十九方面所述的光盤檢查方法中，所述良好與否判定工序在所述圖象輸出信號中的黑色圖象數(shù)據(jù)低于某一下閾值時，判定其粘接劑不足。
本發(fā)明第三十五方面，是在第三十四方面所述的光盤檢查方法中，所述良好與否判定工序獲得對應于與將白黑二值化處理后的所述光盤檢查區(qū)域沿該光盤半徑方向分割成若干分割檢查區(qū)域的所述圖象輸出信號，并且將該圖象輸出信號與按照在外周側(cè)的所述分割檢查區(qū)域更低的方式設定的下閾值進行比較，在所述圖象輸出信號中的黑色圖象數(shù)據(jù)低于任意一個所述分割檢查區(qū)域的下閾值時，判定其粘接劑不足。
采用這種構(gòu)成形式，可以對位于光盤外周側(cè)位置處的分割檢查區(qū)域使用更嚴格的基準對粘接劑的不足實施判定。采用這種方式，在單純實施面積對比中，在檢測不出沿光盤半徑方向的粘接劑不足部分的形狀時，可以對這種粘接劑不足實施更可靠地檢查。
本發(fā)明第三十六方面，是一種光盤制造方法，其具有形成粘合型光盤的光盤形成工序，其包含向固定在轉(zhuǎn)動臺處的第一光盤基板上排出粘接劑的階段，將第二光盤基板重合在所述第一光盤基板上的階段，轉(zhuǎn)動驅(qū)動所述轉(zhuǎn)動臺以使位于所述兩個光盤基板間的粘接劑延展的階段，對延展的粘接劑實施硬化處理的階段；檢查工序，其將所述粘合型光盤的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域，并且對該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施檢查。另外，所述檢查工序使用第二十九至三十五方面所述的任何一種光盤檢查方法對粘接劑延展質(zhì)量實施檢查。
采用這種構(gòu)成形式，可以將由環(huán)狀照明裝置給出的照射光均勻地投射在通過光盤形成工序形成的光盤的整個檢查區(qū)域上，對檢查區(qū)域?qū)嵤┚鶆虻卣彰?。而且，可以對由照相裝置給出的圖象輸出信號實施白黑二值化處理，使存在有粘接劑的部分由黑色表示，不存在有粘接劑的部分由白色表示，從而可以對表示存在有粘接劑的部分和不存在有粘接劑的部分的信號實施明確分離。采用這種方式，還可以通過使與光盤檢查區(qū)域相對應的圖象輸出信號與某上下閾值進行比較，對檢查區(qū)域中粘接劑是否過多或不足實施高精度的檢查。同時，還可以充分確保在光盤與照相裝置之間的工作距離。
本發(fā)明第三十七方面，是在第三十六方面所述的光盤制造方法中，還具有依據(jù)由所述照相裝置給出的圖象輸出信號對粘接劑的延展質(zhì)量是否良好實施判定的工序；在依據(jù)所述良好與否判定工序判定結(jié)果為粘接劑延展質(zhì)量出現(xiàn)不良時可以對出現(xiàn)這種不良的所述光盤實施甄選的甄選工序。
采用這種構(gòu)成形式，可以通過實施甄選工序，對出現(xiàn)這種粘接劑延展質(zhì)量不良的光盤實施甄選作業(yè)。
本發(fā)明第三十八方面，是一種將由兩個光盤基板粘合而形成的光盤的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域，并且對該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施檢查的粘合型光盤，其利用第二十九至三十五方面所述的任何一種光盤檢查方法對粘接劑延展質(zhì)量實施檢查。
采用這種構(gòu)成形式，可以獲得對檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施高精度檢查的光盤。
本發(fā)明第三十九方面，是一種將由兩個光盤基板粘合而形成的光盤的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域，并且對該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施檢查的粘合型光盤，其利用第二十九至三十五方面所述的任何一種光盤檢查方法對粘接劑延展質(zhì)量實施檢查，并且依據(jù)該檢查結(jié)果，按照粘接劑延展質(zhì)量未出現(xiàn)不良實施甄選。
采用這種構(gòu)成形式，可以對檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施高精度檢查，并且依據(jù)該高精度的檢查結(jié)果得到實施甄選作業(yè)后的光盤。
本發(fā)明第四十方面，是一種將由兩個光盤基板粘合而形成的光盤的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域，并且對該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施檢查的光盤檢查裝置，其具有以位置不動方式對作為檢查對象物的光盤實施支撐的光盤支撐臺；環(huán)狀照明裝置，其具有光源和從光源給出的照射光束實施擴散的擴散板，其光軸按照與支撐在所述光盤支撐臺處的所述光盤中心軸相重合的方式實施配置，并且將由所述擴散板給出的照射光束從上側(cè)呈環(huán)狀對所述光盤的檢查區(qū)域?qū)嵤┱彰鳎徽障嘌b置，其光軸按照與支撐在所述光盤支撐臺處的所述光盤中心軸相重合的方式實施配置，從上側(cè)對該光盤的檢查區(qū)域?qū)嵤┱障唷?br> 而且還具有檢查機構(gòu)，當取檢查區(qū)域內(nèi)側(cè)直徑為S1，檢查區(qū)域外側(cè)直徑為S2，所述環(huán)狀照明裝置的照明部內(nèi)側(cè)直徑為L1，所述環(huán)狀照明裝置的照明部外側(cè)直徑為L2，所述環(huán)狀照明裝置與所述光盤間的距離為LD，所述照相裝置上的第一主點位置HI與所述光盤間的距離為HD時，滿足S2×(1-LD/HD)＜L1＜S1×(1+LD/HD)L2＞S2×(1+LD/HD)；二值化處理裝置，其利用某一閾值對所述照相裝置給出的圖象輸出信號實施白黑二值化處理；良好與否判定裝置，其依據(jù)白黑二值化處理后的、與所述光盤檢查區(qū)域相對應的所述圖象輸出信號對該檢查區(qū)域中的粘接劑是否形狀不良實施判定。
采用這種構(gòu)成形式，可以將由環(huán)狀照明裝置給出的照射光束均勻地投射在光盤的整個檢查區(qū)域上，對檢查區(qū)域?qū)嵤┚鶆虻卣彰?。而且，可以對由照相裝置給出的圖象輸出信號實施白黑二值化處理，使存在有粘接劑的部分由黑色表示，不存在有粘接劑的部分由白色表示，從而可以對表示存在有粘接劑的部分和不存在有粘接劑的部分的信號實施明確分離。通過這種方式，可以依據(jù)與檢查區(qū)域相對應的圖象輸出信號對該檢查區(qū)域的粘接劑是否形狀不良實施高精度的檢查。同時，還可以充分確保在光盤與照相裝置之間的工作距離。
本發(fā)明第四十一方面，是在第四十方面所述的光盤檢查裝置中，所述良好與否判定裝置對位于所述光盤檢查區(qū)域中的圓周軌跡上的所述圖象輸出信號出現(xiàn)急劇變化的邊緣部分實施檢測，當該邊緣部分數(shù)目大于某閾值時，判定所述光盤檢查區(qū)域中的粘接劑為形狀不良。
采用這種構(gòu)成形式，在沿光盤半徑方向長的粘接劑出現(xiàn)不足部分形狀時，可以對這種粘接劑不足實施容易地檢測。
本發(fā)明第四十二方面，是在第四十方面所述的光盤檢查裝置中，所述良好與否判定裝置對位于所述光盤檢查區(qū)域中由白色數(shù)據(jù)構(gòu)成的團塊部分實施檢測，當由白色數(shù)據(jù)構(gòu)成的該團塊部分數(shù)目大于某閾值時，判定所述光盤檢查區(qū)域中的粘接劑為形狀不良。
采用這種構(gòu)成形式，可以在檢查區(qū)域出現(xiàn)氣泡時，容易檢測這種現(xiàn)象。
本發(fā)明第四十三方面，是在第四十方面所述的光盤檢查裝置中，還具有依據(jù)所述良好與否判定裝置的判定結(jié)果實施信息報告的報告裝置。
采用這種構(gòu)成形式，可以依據(jù)報告裝置所報告的判定結(jié)果，使觀察者能夠更容易地對光盤是否良好實施識別。
本發(fā)明第四十四方面，是在第四十三方面所述的光盤檢查裝置中，所述報告裝置將所述良好與否判定裝置的判定結(jié)果顯示輸出至顯示器。
采用這種構(gòu)成形式，可使光盤是否良好一目了然。
本發(fā)明第四十五方面，是在第四十方面所述的光盤檢查裝置中，對所述光盤支撐臺上至少與所述光盤檢查區(qū)域相對應的區(qū)域?qū)嵤┑头瓷涮幚怼?br> 采用這種構(gòu)成形式，可以降低與光盤支撐臺上的光盤檢查區(qū)域相對應的區(qū)域的光反射率，從而可以降低光盤中檢查區(qū)域的光反射率，對檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施更高精度的檢查。
本發(fā)明第四十六方面，是在第四十方面所述的光盤檢查裝置中，用于所述環(huán)狀照明裝置中的所述光源為發(fā)光二極管(LED)。
采用這種構(gòu)成形式，還可以減小環(huán)狀照明裝置的厚度，確保在光盤與照相裝置之間具有更大的工作距離。而且，采用發(fā)光二極管(LED)的環(huán)狀照明裝置具有更高的輝度均勻性，所以可以對光盤上的檢查區(qū)域?qū)嵤└鶆虻恼彰鳌?br> 本發(fā)明第四十七方面，是在第四十六方面所述的光盤檢查裝置中，所述發(fā)光二極管(LED)的光軸朝向所述環(huán)狀照明裝置的內(nèi)周方向。
采用這種構(gòu)成形式，可以減小發(fā)光二極管(LED)由環(huán)狀照明裝置朝向光束照射方向的尺寸，并且可以減小環(huán)狀照明裝置的厚度。因此，可以確保在光盤與照相裝置之間具有更大的工作距離。
本發(fā)明第四十八方面，是在第四十六方面所述的光盤檢查裝置中，用于所述環(huán)狀照明裝置中的光源為彎曲成環(huán)狀的熒光燈。
采用這種構(gòu)成形式，還可以采用價格低廉的照明裝置對光盤上的整個檢查區(qū)域?qū)嵤┐篌w均勻的照明。
本發(fā)明第四十九方面，是在第四十八方面所述的光盤檢查裝置中，還具有對所述照相裝置給出的圖象輸出信號實施用于修正所述環(huán)狀照明裝置的輝度不均勻的陰影修正的陰影修正裝置。
彎曲成環(huán)狀的熒光燈在其電極部分處，輝度會急劇下降，這一部分會使對光盤檢查區(qū)域的照明均勻度下降，產(chǎn)生不均勻現(xiàn)象，進而會使由照相裝置給出的照相圖象也不均勻。針對這種情況，通過對如上所述的照相裝置給出的圖象輸出信號實施陰影修正的方式，可以獲得與對光盤的檢查區(qū)域?qū)嵤┚鶆蛘彰鞯耐瑯咏Y(jié)果，從而可以對檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施高精度的檢查。
本發(fā)明第五十方面，是一種將由兩個光盤基板粘合而形成的光盤的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域，并且對該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施檢查的光盤檢查方法，其具有以位置不動方式將作為檢查對象物的光盤支撐在光盤支撐臺上的工序；對具有光源和從光源給出的照射光束實施擴散的擴散板的、其光軸按照與支撐在所述光盤支撐臺處的所述光盤中心軸相重合的方式實施配置的環(huán)狀照明裝置實施照明，并且將由所述擴散板給出的照射光束從上側(cè)呈環(huán)狀對所述光盤的檢查區(qū)域?qū)嵤┱彰鞯墓ば?；使用其光軸按照與支撐在所述光盤支撐臺處的所述光盤中心軸相重合的方式實施配置的照相裝置，從上側(cè)對該光盤的檢查區(qū)域?qū)嵤┱障嗟墓ば?；利用某一閾值對所述照相裝置給出的圖象輸出信號實施白黑二值化處理的二值化處理工序；依據(jù)白黑二值化處理后的、與所述光盤檢查區(qū)域相對應的所述圖象輸出信號對該檢查區(qū)域中的粘接劑是否形狀不良實施判定的良好與否判定工序；當取檢查區(qū)域內(nèi)側(cè)直徑為S1，檢查區(qū)域外側(cè)直徑為S2，所述環(huán)狀照明裝置的照明部內(nèi)側(cè)直徑為L1，所述環(huán)狀照明裝置的照明部外側(cè)直徑為L2，所述環(huán)狀照明裝置與所述光盤間的距離為LD，所述照相裝置上的第一主點位置HI與所述光盤間的距離為HD時，滿足S2×(1-LD/HD)＜L1＜S1×(1+LD/HD)L2＞S2×(1+LD/HD)。
采用這種構(gòu)成形式，可以將由環(huán)狀照明裝置給出的照射光束均勻地投射在光盤的整個檢查區(qū)域上，對檢查區(qū)域?qū)嵤┚鶆虻卣彰?。而且，可以對由照相裝置給出的圖象輸出信號實施白黑二值化處理，使存在有粘接劑的部分由黑色表示，不存在有粘接劑的部分由白色表示，從而可以對表示存在有粘接劑的部分和不存在有粘接劑的部分的信號實施明確分離。通過這種方式，可以依據(jù)與檢查區(qū)域相對應的圖象輸出信號對該檢查區(qū)域的粘接劑是否形狀不良實施高精度的檢查。同時，還可以充分確保在光盤與照相裝置之間的工作距離。
本發(fā)明提供的第五十一方面，是在第五十方面所述的光盤檢查方法中，所述良好與否判定工序?qū)ξ挥谒龉獗P檢查區(qū)域中的圓周軌跡上的所述圖象輸出信號出現(xiàn)急劇變化的邊緣部分實施檢測，當該邊緣部分數(shù)目大于某閾值時，判定所述光盤檢查區(qū)域中的粘接劑為形狀不良。
采用這種構(gòu)成形式，在沿光盤半徑方向長的粘接劑出現(xiàn)不足部分形狀時，可以對這種粘接劑不足實施容易地檢測。
本發(fā)明提供的第五十二方面，是在第五十方面所述的光盤檢查方法中，所述良好與否判定工序?qū)ξ挥谒龉獗P檢查區(qū)域中由白色數(shù)據(jù)構(gòu)成的團塊部分實施檢測，當由白色數(shù)據(jù)構(gòu)成的該團塊部分數(shù)目大于某閾值時，判定所述光盤檢查區(qū)域中的粘接劑為形狀不良。
采用這種構(gòu)成形式，可以在檢查區(qū)域出現(xiàn)氣泡時，容易檢測這種現(xiàn)象。
本發(fā)明第五十三方面，是一種光盤制造方法，其具有形成粘合型光盤的光盤形成工序，其包含向固定在轉(zhuǎn)動臺處的第一光盤基板上排出粘接劑的階段，將第二光盤基板重合在所述第一光盤基板上的階段，轉(zhuǎn)動驅(qū)動所述轉(zhuǎn)動臺以使位于所述兩個光盤基板間的粘接劑延展的階段，對延展的粘接劑實施硬化處理的階段；檢查工序，其將所述粘合型光盤的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域，并且對該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施檢查。
另外，所述檢查工序使用第五十至五十二方面所述的任何一種光盤檢查方法對粘接劑延展質(zhì)量實施檢查。
采用這種構(gòu)成形式，可以將由環(huán)狀照明裝置給出的照射光束，均勻地投射在通過光盤形成工序形成的光盤的整個檢查區(qū)域上，對檢查區(qū)域?qū)嵤┚鶆虻卣彰鳌６?，可以對由照相裝置給出的圖象輸出信號實施白黑二值化處理，使存在有粘接劑的部分由黑色表示，不存在有粘接劑的部分由白色表示，從而可以對表示存在有粘接劑的部分和不存在有粘接劑的部分的信號實施明確分離。通過這種方式，可以依據(jù)與檢查區(qū)域相對應的圖象輸出信號對該檢查區(qū)域的粘接劑是否形狀不良實施高精度的檢查。同時，還可以充分確保在光盤與照相裝置之間的工作距離。
本發(fā)明第五十四方面，是在第五十三方面所述的光盤制造方法中，還具有依據(jù)由所述照相裝置給出的圖象輸出信號對粘接劑的延展質(zhì)量是否良好實施判定的工序；在依據(jù)對所述粘接劑延展質(zhì)量良好與否實施判定的工序給出的判定結(jié)果為粘接劑延展質(zhì)量出現(xiàn)不良時可以對出現(xiàn)這種不良的所述光盤實施甄選的甄選工序。
采用這種構(gòu)成形式，可以通過實施甄選工序，對粘接劑延展質(zhì)量不良的光盤實施甄選作業(yè)。
本發(fā)明第五十五方面，是一種將由兩個光盤基板粘合而形成的光盤的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域，并且對該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施檢查的粘合型光盤，其利用第五十至五十二方面所述的任何一種光盤檢查方法對粘接劑延展質(zhì)量實施檢查。
采用這種構(gòu)成形式，可以獲得對檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施高精度檢查后的光盤。
本發(fā)明第五十六方面，是一種將由兩個光盤基板粘合而形成的光盤的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域，并且對該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施檢查的粘合型光盤，其利用第五十至五十二方面所述的任何一種光盤檢查方法對粘接劑延展質(zhì)量實施檢查，并且依據(jù)該檢查結(jié)果，按照粘接劑延展質(zhì)量未出現(xiàn)不良實施甄選。
采用這種構(gòu)成形式，可以對檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施高精度檢查，并且依據(jù)該高精度的檢查結(jié)果得到實施甄選作業(yè)后的光盤。
本發(fā)明第五十七方面，是一種將由兩個光盤基板粘合而形成的光盤的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域，并且對該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施檢查的光盤檢查裝置，其具有以位置不動方式對作為檢查對象物的光盤實施支撐的光盤支撐臺；環(huán)狀照明裝置，其具有光源和從光源給出的照射光束實施擴散的擴散板，其光軸按照與支撐在所述光盤支撐臺處的所述光盤中心軸相重合的方式實施配置，并且將由所述擴散板給出的照射光束從上側(cè)呈環(huán)狀對所述光盤的檢查區(qū)域?qū)嵤┱彰?；照相裝置，其光軸按照與支撐在所述光盤支撐臺處的所述光盤中心軸相重合的方式實施配置，從上側(cè)對該光盤的檢查區(qū)域?qū)嵤┱障嗟模欢疫€具有檢查機構(gòu)，當取檢查區(qū)域內(nèi)側(cè)直徑為S1，檢查區(qū)域外側(cè)直徑為S2，所述環(huán)狀照明裝置的照明部內(nèi)側(cè)直徑為L1，所述環(huán)狀照明裝置的照明部外側(cè)直徑為L2，所述環(huán)狀照明裝置與所述光盤間的距離為LD，所述照相裝置上的第一主點位置HI與所述光盤間的距離為HD時，滿足S2×(1-LD/HD)＜L1＜S1×(1+LD/HD)L2＞S2×(1+LD/HD)對各部件的位置關系實施設定；二值化處理裝置，其利用某一閾值對所述照相裝置給出的圖象輸出信號實施白黑二值化處理；良好與否判定裝置；其依據(jù)白黑二值化處理后的、與所述光盤檢查區(qū)域相對應的所述圖象輸出信號對該檢查區(qū)域中的粘接劑是否為過多或不足實施判定；推移判定裝置，其對應所述良好與否判定裝置的判定結(jié)果，對檢查狀態(tài)的推移實施判定。
采用這種構(gòu)成形式，可以將由環(huán)狀照明裝置給出的照射光均勻地投射在光盤的整個檢查區(qū)域上，對檢查區(qū)域?qū)嵤┚鶆虻卣彰鳌６?，可以對由照相裝置給出的圖象輸出信號實施白黑二值化處理，使存在有粘接劑的部分由黑色表示，不存在有粘接劑的部分由白色表示，從而可以對表示存在有粘接劑的部分和不存在有粘接劑的部分的信號實施明確分離?？梢酝ㄟ^使與檢查區(qū)域相對應的圖象輸出信號與某上下閾值進行比較的方式，對檢查區(qū)域中粘接劑是否過多或不足實施高精度的檢查。而且，可以對應這種判定結(jié)果判定檢查狀態(tài)的推移。同時，還可以充分確保在光盤與照相裝置之間的工作距離。
本發(fā)明第五十八方面，是在第五十七方面所述的光盤檢查裝置中，所述推移判定裝置采集某些所述良好與否判定裝置的判定結(jié)果并獲得其平均值，對于該平均值位于相對預測平均值在某一閾值之外時，判定檢查狀態(tài)出現(xiàn)推移。
采用這種構(gòu)成形式，可以參考若干個判定結(jié)果的平均值來判定檢查狀態(tài)的推移，所以可以提高判定精度。
在檢查狀態(tài)相對于理想狀態(tài)朝向偏離方向推移時，可以通過各種設定，促使檢查狀態(tài)復原至理想狀態(tài)。下面第五十九至六十一方面就是與這些設定有關的規(guī)定。
本發(fā)明第五十九方面，是在第五十七方面所述的光盤檢查裝置中，還具有在所述推移判定裝置判定為檢查狀態(tài)出現(xiàn)推移時，按照促使檢查狀態(tài)復原至理想狀態(tài)的方式對所述二值化處理裝置使用的閾值設定實施變更的第一復原裝置。
本發(fā)明第六十方面，是在第五十八方面所述的光盤檢查裝置中，還具有在所述推移判定裝置判定為檢查狀態(tài)出現(xiàn)推移時，按照促使檢查狀態(tài)復原至理想狀態(tài)的方式對所述環(huán)狀照明裝置的輝度設定實施變更的第二復原裝置。
本發(fā)明第六十一方面，是在第五十八方面所述的光盤檢查裝置中，還具有在所述推移判定裝置判定為檢查狀態(tài)出現(xiàn)推移時，按照促使檢查狀態(tài)復原至理想狀態(tài)的方式對所述照相裝置實施靜止照相時的光圈設定實施變更的第三復原裝置。
本發(fā)明第六十二方面，是在第五十八方面所述的光盤檢查裝置中，還具有在所述推移判定裝置判定為檢查狀態(tài)出現(xiàn)推移時，按照促使檢查狀態(tài)復原至理想狀態(tài)的方式對所述照相裝置實施靜止照相時的快門速度設定實施變更的第四復原裝置。
本發(fā)明第六十三方面，是在第五十八方面所述的光盤檢查裝置中，還具有在所述推移判定裝置判定為檢查狀態(tài)出現(xiàn)推移時，按照促使檢查狀態(tài)復原至理想狀態(tài)的方式對所述照相裝置實施靜止照相時的感光度設定實施變更的第五復原裝置。
本發(fā)明第六十四方面，是在第五十七方面所述的光盤檢查裝置中，還具有依據(jù)所述良好與否判定裝置的判定結(jié)果實施信息報告的報告裝置。
采用這種構(gòu)成形式，可以依據(jù)報告裝置報告的判定結(jié)果，使觀察者能夠更容易地對光盤是否良好實施識別。
本發(fā)明第六十五方面，是在第六十四方面所述的光盤檢查裝置中，所述報告裝置將所述良好與否判定裝置的判定結(jié)果顯示輸出至顯示器。
采用這種構(gòu)成形式，可使光盤是否良好一目了然。
本發(fā)明第六十六方面，是在第五十七方面所述的光盤檢查裝置中，對所述光盤支撐臺上至少與所述光盤檢查區(qū)域相對應的區(qū)域?qū)嵤┑头瓷涮幚怼?br> 采用這種構(gòu)成形式，可以降低與光盤支撐臺上的光盤檢查區(qū)域相對應的區(qū)域的光反射率，從而可以降低光盤中檢查區(qū)域的光反射率，對檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施更高精度的檢查。
本發(fā)明第六十七方面，是在第五十七方面所述的光盤檢查裝置中，用于所述環(huán)狀照明裝置中的所述光源為發(fā)光二極管(LED)。
采用這種構(gòu)成形式，還可以減小環(huán)狀照明裝置的厚度，確保在光盤與照相裝置之間具有更大的工作距離。而且，采用發(fā)光二極管(LED)的環(huán)狀照明裝置具有更高的輝度均勻性，所以可以對光盤上的檢查區(qū)域?qū)嵤└鶆虻恼彰鳌?br> 本發(fā)明第六十八方面，是在第六十七方面所述的光盤檢查裝置中，所述發(fā)光二極管(LED)的光軸朝向所述環(huán)狀照明裝置的內(nèi)周方向。
采用這種構(gòu)成形式，可以減小發(fā)光二極管(LED)由環(huán)狀照明裝置朝向光束照射方向的尺寸，并且可以減小環(huán)狀照明裝置的厚度。因此，可以確保在光盤與照相裝置之間具有更大的工作距離。
本發(fā)明第六十九方面，是在第五十七方面所述的光盤檢查裝置中，用于所述環(huán)狀照明裝置中的光源為彎曲成環(huán)狀的熒光燈。
采用這種構(gòu)成形式，還可以采用價格低廉的照明裝置對光盤上的整個檢查區(qū)域?qū)嵤┐篌w均勻的照明。
本發(fā)明第七十方面，是在第六十九方面所述的光盤檢查裝置中，還具有對所述照相裝置給出的圖象輸出信號實施用于修正所述環(huán)狀照明裝置的輝度不均勻的陰影修正的陰影修正裝置。
彎曲成環(huán)狀的熒光燈在其電極部分處，輝度會急劇下降，這一部分會使對光盤檢查區(qū)域的照明均勻度下降，產(chǎn)生不均勻現(xiàn)象，進而會使由照相裝置給出的照相圖象也不均勻。針對這種情況，通過對如上所述的照相裝置給出的圖象輸出信號實施陰影修正的方式，可以獲得與對光盤的檢查區(qū)域?qū)嵤┚鶆蛘彰鞯耐瑯咏Y(jié)果，從而可以對檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施高精度的檢查。
本發(fā)明第七十一方面，是一種將由兩個光盤基板粘合而形成的光盤的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域，并且對該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施檢查的光盤檢查方法，其具有以位置不動方式將作為檢查對象物的光盤支撐在光盤支撐臺上的工序；對具有光源和從光源給出的照射光束實施擴散的擴散板的、其光軸按照與支撐在所述光盤支撐臺處的所述光盤中心軸相重合的方式實施配置的環(huán)狀照明裝置實施照明，并且將由所述擴散板給出的照射光束從上側(cè)呈環(huán)狀對所述光盤的檢查區(qū)域?qū)嵤┱彰鞯墓ば?；使用其光軸按照與支撐在所述光盤支撐臺處的所述光盤中心軸相重合的方式實施配置的照相裝置，從上側(cè)對該光盤的檢查區(qū)域?qū)嵤┱障嗟墓ば?；利用某一閾值對所述照相裝置給出的圖象輸出信號實施白黑二值化處理的二值化處理工序；依據(jù)白黑二值化處理后的、與所述光盤檢查區(qū)域相對應的所述圖象輸出信號對該檢查區(qū)域中的粘接劑是否為過多或不足實施判定的良好與否判定工序；對應所述良好與否判定工序的判定結(jié)果，對檢查狀態(tài)的推移實施判定的推移判定工序。當取檢查區(qū)域內(nèi)側(cè)直徑為S1，檢查區(qū)域外側(cè)直徑為S2，所述環(huán)狀照明裝置的照明部內(nèi)側(cè)直徑為L1，所述環(huán)狀照明裝置的照明部外側(cè)直徑為L2，所述環(huán)狀照明裝置與所述光盤間的距離為LD，所述照相裝置上的第一主點位置HI與所述光盤間的距離為HD時，滿足S2×(1-LD/HD)＜L1＜S1×(1+LD/HD)L2＞S2×(1+LD/HD)。
采用這種構(gòu)成形式，可以將由環(huán)狀照明裝置給出的照射光束均勻地投射在光盤的整個檢查區(qū)域上，對檢查區(qū)域?qū)嵤┚鶆虻卣彰?。而且，可以對由照相裝置給出的圖象輸出信號實施白黑二值化處理，使存在有粘接劑的部分由黑色表示，不存在有粘接劑的部分由白色表示，從而可以對表示存在有粘接劑的部分和不存在有粘接劑的部分的信號實施明確分離?？梢酝ㄟ^使與檢查區(qū)域相對應的圖象輸出信號與某上下閾值進行比較的方式，對檢查區(qū)域中粘接劑是否過多或不足實施高精度的檢查。而且，可以對應這種判定結(jié)果判定檢查狀態(tài)的推移。同時，還可以充分確保在光盤與照相裝置之間的工作距離。
本發(fā)明第七十二方面，是在第七十一方面所述的光盤檢查方法中，所述推移判定工序采集某些所述良好與否判定裝置的判定結(jié)果并獲得其平均值，對于該平均值位于相對預測平均值在某一閾值之外時，判定檢查狀態(tài)出現(xiàn)推移。
采用這種構(gòu)成形式，可以參考若干個判定結(jié)果的平均值來判定檢查狀態(tài)的推移，所以可以提高判定精度。
在檢查狀態(tài)相對于理想狀態(tài)朝向偏離方向推移時，可以通過各種設定，促使檢查狀態(tài)復原至理想狀態(tài)。下面第七十三至七十七方面給出的就是與這些設定有關的規(guī)定。
本發(fā)明第七十三方面，是在第七十二方面所述的光盤檢查方法中，還具有在所述推移判定工序判定為檢查狀態(tài)出現(xiàn)推移時，按照促使檢查狀態(tài)復原至理想狀態(tài)的方式對所述二值化處理裝置使用的閾值設定實施變更的第一復原工序。
本發(fā)明第七十四方面，是在第七十二方面所述的光盤檢查方法中，還具有在所述推移判定工序判定為檢查狀態(tài)出現(xiàn)推移時，按照促使檢查狀態(tài)復原至理想狀態(tài)的方式對所述環(huán)狀照明裝置的輝度設定實施變更的第二復原工序。
本發(fā)明第七十五方面，是在第七十二方面所述的光盤檢查方法中，還具有在所述推移判定工序判定為檢查狀態(tài)出現(xiàn)推移時，按照促使檢查狀態(tài)復原至理想狀態(tài)的方式對所述照相裝置實施靜止照相時的光圈設定實施變更的第三復原工序。
本發(fā)明第七十六方面，是在第七十二方面所述的光盤檢查方法中，還具有在所述推移判定工序判定為檢查狀態(tài)出現(xiàn)推移時，按照促使檢查狀態(tài)復原至理想狀態(tài)的方式對所述照相裝置實施靜止照相時的快門速度設定實施變更的第四復原工序。
本發(fā)明第七十七方面，是在第七十二方面所述的光盤檢查方法中，還具有在所述推移判定工序判定為檢查狀態(tài)出現(xiàn)推移時，按照促使檢查狀態(tài)復原至理想狀態(tài)的方式對所述照相裝置實施靜止照相時的感光度設定實施變更的第五復原工序。
本發(fā)明第七十八方面，是一種光盤制造方法，其具有形成粘合型光盤的光盤形成工序，其包含向固定在轉(zhuǎn)動臺處的第一光盤基板上排出粘接劑的階段，將第二光盤基板重合在所述第一光盤基板上的階段，轉(zhuǎn)動驅(qū)動所述轉(zhuǎn)動臺以使位于所述兩個光盤基板間的粘接劑延展的階段，對延展的粘接劑實施硬化處理的階段；檢查工序，其將所述粘合型光盤的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域，并且對該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施檢查。而且所述檢查工序使用第七十一至七十七方面所述的任何一種光盤檢查方法對粘接劑延展質(zhì)量實施檢查。
采用這種構(gòu)成形式，可以將由環(huán)狀照明裝置給出的照射光束均勻地投射在光盤的整個檢查區(qū)域上，對檢查區(qū)域?qū)嵤┚鶆虻卣彰?。而且，可以對由照相裝置給出的圖象輸出信號實施白黑二值化處理，使存在有粘接劑的部分由黑色表示，不存在有粘接劑的部分由白色表示，從而可以對表示存在有粘接劑的部分和不存在有粘接劑的部分的信號實施明確分離。可以通過使與檢查區(qū)域相對應的圖象輸出信號與某上下閾值進行比較，對檢查區(qū)域中粘接劑是否過多或不足實施高精度的檢查。而且，可以對應這種判定結(jié)果判定檢查狀態(tài)是否產(chǎn)生有推移。同時，還可以充分確保在光盤與照相裝置之間的工作距離。
本發(fā)明第七十九方面，是在第七十八方面所述的光盤制造方法中，還具有依據(jù)由所述照相裝置給出的圖象輸出信號對粘接劑的延展質(zhì)量是否良好實施判定的工序；依據(jù)對所述粘接劑延展質(zhì)量良好與否實施判定的工序給出的判定結(jié)果為粘接劑延展質(zhì)量出現(xiàn)不良時可以對出現(xiàn)這種不良的所述光盤實施甄選的甄選工序。
采用這種構(gòu)成形式，可以通過實施甄選工序，對出現(xiàn)這種粘接劑延展質(zhì)量不良的光盤實施甄選作業(yè)。
本發(fā)明第八十方面，是一種將由兩個光盤基板粘合而形成的光盤的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域，并且對該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施檢查的粘合型光盤，其利用第七十一至七十七方面所述的任何一種光盤檢查方法對粘接劑延展質(zhì)量實施檢查。
采用這種構(gòu)成形式，可以獲得對檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施高精度檢查的光盤。
本發(fā)明第八十一方面，是一種將由兩個光盤基板粘合而形成的光盤的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域，并且對該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施檢查的粘合型光盤，其利用第七十一至七十七方面所述的任何一種光盤檢查方法對粘接劑延展質(zhì)量實施檢查，并且依據(jù)該檢查結(jié)果，按照粘接劑延展質(zhì)量未出現(xiàn)不良實施甄選。
采用這種構(gòu)成形式，可以對檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施高精度檢查，并且依據(jù)該高精度的檢查結(jié)果得到實施甄選作業(yè)后的光盤。
本發(fā)明第八十二方面，是一種將由通過旋轉(zhuǎn)涂布裝置供給的粘接劑對兩個光盤基板實施粘合而形成的光盤的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域，并且對該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施檢查的光盤檢查裝置，其具有以位置不動方式對作為檢查對象物的光盤實施支撐的光盤支撐臺；環(huán)狀照明裝置，其具有光源和從光源給出的照射光束實施擴散的擴散板，其光軸按照與支撐在所述光盤支撐臺處的所述光盤中心軸相重合的方式實施配置，并且將由所述擴散板給出的照射光束從上側(cè)呈環(huán)狀對所述光盤的檢查區(qū)域?qū)嵤┱彰鳎徽障嘌b置，其光軸按照與支撐在所述光盤支撐臺處的所述光盤中心軸相重合的方式實施配置，從上側(cè)對該光盤的檢查區(qū)域?qū)嵤┱障唷?br> 而且還具有檢查機構(gòu)，當取檢查區(qū)域內(nèi)側(cè)直徑為S1，檢查區(qū)域外側(cè)直徑為S2，所述環(huán)狀照明裝置的照明部內(nèi)側(cè)直徑為L1，所述環(huán)狀照明裝置的照明部外側(cè)直徑為L2，所述環(huán)狀照明裝置與所述光盤間的距離為LD，所述照相裝置上的第一主點位置HI與所述光盤間的距離為HD時，滿足S2×(1-LD/HD)＜L1＜S1×(1+LD/HD)L2＞S2×(1+LD/HD)；二值化處理裝置，其利用某一閾值對所述照相裝置給出的圖象輸出信號實施白黑二值化處理；良好與否判定裝置，其依據(jù)白黑二值化處理后的、與所述光盤檢查區(qū)域相對應的所述圖象輸出信號對該檢查區(qū)域中的粘接劑是否為過多或不足實施判定；設定值變更裝置，其在所述良好與否判定裝置判定為在所述光盤檢查區(qū)域中出現(xiàn)粘接劑過多或不足的結(jié)果時，按照消除這種過多或不足現(xiàn)象的方式對與所述旋轉(zhuǎn)涂布裝置的驅(qū)動相關的設定值實施變更。
采用這種構(gòu)成形式，可以將由環(huán)狀照明裝置給出的照射光均勻地投射在光盤的整個檢查區(qū)域上，對檢查區(qū)域?qū)嵤┚鶆虻卣彰?。而且，可以對由照相裝置給出的圖象輸出信號實施白黑二值化處理，使存在有粘接劑的部分由黑色表示，不存在有粘接劑的部分由白色表示，從而可以對表示存在有粘接劑的部分和不存在有粘接劑的部分的信號實施明確分離?？梢酝ㄟ^使與檢查區(qū)域相對應的圖象輸出信號與某上下閾值進行比較的方式，對檢查區(qū)域中粘接劑是否過多或不足實施高精度的檢查。對于判定結(jié)果為光盤檢查區(qū)域出現(xiàn)粘接劑過多或不足時，可以按照消除這種過多或不足現(xiàn)象的方式，對與旋轉(zhuǎn)涂布裝置的驅(qū)動相關的設定值實施變更，由此通過這種方式消除粘接劑的過多或不足問題。同時，還可以充分確保在光盤與照相裝置之間的工作距離。
本發(fā)明第八十三方面，是在第八十二方面所述的光盤檢查裝置中，所述良好與否判定裝置采集某些所述良好與否判定裝置的判定結(jié)果并獲得其平均值，對于該平均值位于相對預測平均值在某一閾值之外時，判定所述光盤檢查區(qū)域中的粘接劑出現(xiàn)過多或不足現(xiàn)象。
采用這種構(gòu)成形式，還可以依據(jù)若干個判定結(jié)果的平均值對粘接劑過多或不足實施判定，所以可以提高判定精度。
本發(fā)明第八十四方面，是在第八十二或八十三方面所述的光盤檢查裝置中，所述設定值變更裝置變更的設定值為對所述旋轉(zhuǎn)涂布裝置的粘接劑排出量實施變更的值。
采用這種構(gòu)成形式，可以通過對旋轉(zhuǎn)涂布裝置的粘接劑排出量實施調(diào)節(jié)的方式，消除粘接劑的過多或不足現(xiàn)象。
本發(fā)明第八十五方面，是在第八十二或八十三方面所述的光盤檢查裝置中，所述設定值變更裝置變更的設定值為沿著所述兩個光盤基板的半徑方向?qū)λ鲂D(zhuǎn)涂布裝置的粘接劑排出位置實施變更的值。
采用這種構(gòu)成形式，還可以通過對旋轉(zhuǎn)涂布裝置的粘接劑排出位置實施調(diào)節(jié)的方式，消除粘接劑的過多或不足現(xiàn)象。
本發(fā)明第八十六方面，是在第八十二或八十三方面所述的光盤檢查裝置中，所述設定值變更裝置變更的設定值為對粘接劑涂布之后的所述兩個光盤基板的轉(zhuǎn)動速度實施變更的值。
采用這種構(gòu)成形式，還可以通過對光盤基板的轉(zhuǎn)動速度實施調(diào)節(jié)的方式，消除粘接劑的過多或不足現(xiàn)象。
本發(fā)明第八十七方面，是在第八十二方面所述的光盤檢查裝置中，還具有依據(jù)所述良好與否判定裝置的判定結(jié)果實施信息報告的報告裝置。
采用這種構(gòu)成形式，可以依據(jù)報告裝置所報告的判定結(jié)果，使觀察者能夠更容易地對光盤是否良好實施識別。
本發(fā)明第八十八方面，是在第八十七方面所述的光盤檢查裝置中，所述報告裝置將所述良好與否判定裝置的判定結(jié)果顯示輸出至顯示器。
采用這種構(gòu)成形式，可使光盤是否良好一目了然。
本發(fā)明提供的第八十九方面，是在第八十二方面所述的光盤檢查裝置中，對所述光盤支撐臺上至少與所述光盤檢查區(qū)域相對應的區(qū)域?qū)嵤┑头瓷涮幚怼?br> 采用這種構(gòu)成形式，可以降低與光盤支撐臺上的光盤檢查區(qū)域相對應的區(qū)域的光反射率，從而可以降低光盤中檢查區(qū)域的光反射率，對檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施更高精度的檢查。
本發(fā)明第九十方面，是在第八十二方面所述的光盤檢查裝置中，用于所述環(huán)狀照明裝置中的所述光源為發(fā)光二極管(LED)。
采用這種構(gòu)成形式，還可以減小環(huán)狀照明裝置的厚度，確保在光盤與照相裝置之間具有更大的工作距離。而且，采用發(fā)光二極管(LED)的環(huán)狀照明裝置具有更高的輝度均勻性，所以可以對光盤上的檢查區(qū)域?qū)嵤└鶆虻恼彰鳌?br> 本發(fā)明第九十一方面，是在第九十方面所述的光盤檢查裝置中，所述發(fā)光二極管(LED)的光軸朝向所述環(huán)狀照明裝置的內(nèi)周方向。
采用這種構(gòu)成形式，可以減小發(fā)光二極管(LED)由環(huán)狀照明裝置朝向光束照射方向的尺寸，并且可以減小環(huán)狀照明裝置的厚度。因此，可以確保在光盤與照相裝置之間具有更大的工作距離。
本發(fā)明第九十二方面，是在第八十二方面所述的光盤檢查裝置中，用于所述環(huán)狀照明裝置中的光源為彎曲成環(huán)狀的熒光燈。
采用這種構(gòu)成形式，還可以采用價格低廉的照明裝置對光盤上的整個檢查區(qū)域?qū)嵤┐篌w均勻的照明。
本發(fā)明第九十三方面，是在第九十二方面所述的光盤檢查裝置中，還具有對所述照相裝置給出的圖象輸出信號實施用于修正所述環(huán)狀照明裝置的輝度不均勻的陰影修正的陰影修正裝置。
彎曲成環(huán)狀的熒光燈在其電極部分處，輝度會急劇下降，這一部分會使對光盤檢查區(qū)域的照明均勻度下降，產(chǎn)生不均勻現(xiàn)象，進而會使由照相裝置給出的照相圖象也不均勻。針對這種情況，通過對如上所述的照相裝置給出的圖象輸出信號實施陰影修正的方式，可以獲得與對光盤的檢查區(qū)域?qū)嵤┚鶆蛘彰鞯耐瑯咏Y(jié)果，從而可以對檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施高精度的檢查。
本發(fā)明第九十四方面，是一種將由通過旋轉(zhuǎn)涂布裝置供給的粘接劑對兩個光盤基板實施粘合而形成的光盤的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域，并且對該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施檢查的光盤檢查方法，其具有以位置不動方式將作為檢查對象物的光盤支撐在光盤支撐臺上的工序；對具有光源和從光源給出的照射光束實施擴散的擴散板的、其光軸按照與支撐在所述光盤支撐臺處的所述光盤中心軸相重合的方式實施配置的環(huán)狀照明裝置實施照明，并且將由所述擴散板給出的照射光束從上側(cè)呈環(huán)狀對所述光盤的檢查區(qū)域?qū)嵤┱彰鞯墓ば?；使用其光軸按照與支撐在所述光盤支撐臺處的所述光盤中心軸相重合的方式實施配置的照相裝置，從上側(cè)對該光盤的檢查區(qū)域?qū)嵤┱障嗟墓ば?；利用某一閾值對所述照相裝置給出的圖象輸出信號實施白黑二值化處理的二值化處理工序；依據(jù)白黑二值化處理后的、與所述光盤檢查區(qū)域相對應的所述圖象輸出信號對該檢查區(qū)域中的粘接劑是否為過多或不良實施判定的良好與否判定工序；對于所述良好與否判定裝置判定為在所述光盤檢查區(qū)域中出現(xiàn)粘接劑過多或不足的結(jié)果時，按照消除這種過多或不足現(xiàn)象的方式，對與所述旋轉(zhuǎn)涂布裝置的驅(qū)動相關的設定值實施變更的設定值變更工序。
而且，當取檢查區(qū)域內(nèi)側(cè)直徑為S1，檢查區(qū)域外側(cè)直徑為S2，所述環(huán)狀照明裝置的照明部內(nèi)側(cè)直徑為L1，所述環(huán)狀照明裝置的照明部外側(cè)直徑為L2，所述環(huán)狀照明裝置與所述光盤間的距離為LD，所述照相裝置上的第一主點位置HI與所述光盤間的距離為HD時，滿足S2×(1-LD/HD)＜L1＜S1×(1+LD/HD)L2＞S2×(1+LD/HD)。
采用這種構(gòu)成形式，可以將由環(huán)狀照明裝置給出的照射光均勻地投射在光盤的整個檢查區(qū)域上，對檢查區(qū)域?qū)嵤┚鶆虻卣彰?。而且，可以對由照相裝置給出的圖象輸出信號實施白黑二值化處理，使存在有粘接劑的部分由黑色表示，不存在有粘接劑的部分由白色表示，從而可以對表示存在有粘接劑的部分和不存在有粘接劑的部分的信號實施明確分離。可以通過使與檢查區(qū)域相對應的圖象輸出信號與某上下閾值進行比較，對檢查區(qū)域中粘接劑是否過多或不足實施高精度的檢查。對于判定結(jié)果為光盤檢查區(qū)域出現(xiàn)粘接劑過多或不足時，可以按照消除這種過多或不足現(xiàn)象的方式，對與旋轉(zhuǎn)涂布裝置的驅(qū)動相關的設定值實施變更，進而通過這種方式消除粘接劑的過多或不足問題。同時，還可以充分確保在光盤與照相裝置之間的工作距離。
本發(fā)明第九十五方面，是在第九十四方面所述的光盤檢查方法中，所述良好與否判定工序采集某些判定結(jié)果并獲得其平均值，對于該平均值位于相對預測平均值在某一閾值之外時，判定所述光盤檢查區(qū)域中的粘接劑出現(xiàn)過多或不足現(xiàn)象。
采用這種構(gòu)成形式，還可以依據(jù)若干個判定結(jié)果的平均值對粘接劑過多或不足實施判定，所以可以提高判定精度。
本發(fā)明第九十六方面，是在第九十四或九十五方面所述的光盤檢查方法中，所述設定值變更工序變更的設定值為對所述旋轉(zhuǎn)涂布裝置的粘接劑排出量實施變更的值。
采用這種構(gòu)成形式，還可以通過對旋轉(zhuǎn)涂布裝置的粘接劑排出量實施調(diào)節(jié)的方式，消除粘接劑的過多或不足現(xiàn)象。
本發(fā)明第九十七方面，是在第九十四或九十五方面所述的光盤檢查方法，所述設定值變更工序變更的設定值為沿著所述兩個光盤基板的半徑方向?qū)λ鲂D(zhuǎn)涂布裝置的粘接劑排出位置實施變更的值。
采用這種構(gòu)成形式，可以通過對旋轉(zhuǎn)涂布裝置的粘接劑排出位置實施調(diào)節(jié)的方式，消除粘接劑的過多或不足現(xiàn)象。
本發(fā)明第九十八方面，是在第九十四或九十五方面所述的光盤檢查方法中，所述設定值變更工序變更的設定值為對粘接劑涂布之后的所述兩個光盤基板的轉(zhuǎn)動速度實施變更的值。
采用這種構(gòu)成形式，可以通過對光盤基板的轉(zhuǎn)動速度實施調(diào)節(jié)，消除粘接劑的過多或不足現(xiàn)象。
本發(fā)明第九十九方面，是一種光盤制造方法，其具有形成粘合型光盤的光盤形成工序，其包含向固定在轉(zhuǎn)動臺處的第一光盤基板上排出粘接劑的階段，將第二光盤基板重合在所述第一光盤基板上的階段，轉(zhuǎn)動驅(qū)動所述轉(zhuǎn)動臺以使位于所述兩個光盤基板間的粘接劑延展的階段，對延展的粘接劑實施硬化處理的階段；檢查工序，其將所述粘合型光盤的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域，并且對該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施檢查；而且所述檢查工序使用第九十四至九十八方面所述的任何一種光盤檢查方法對粘接劑延展質(zhì)量實施檢查。
采用這種構(gòu)成形式，可以將由環(huán)狀照明裝置給出的照射光束均勻地投射在光盤的整個檢查區(qū)域上，對檢查區(qū)域?qū)嵤┚鶆虻卣彰?。而且，可以對由照相裝置給出的圖象輸出信號實施白黑二值化處理，使存在有粘接劑的部分由黑色表示，不存在有粘接劑的部分由白色表示，從而可以對表示存在有粘接劑的部分和不存在有粘接劑的部分的信號實施明確分離?？梢酝ㄟ^使與檢查區(qū)域相對應的圖象輸出信號與某上下閾值進行比較的方式，對檢查區(qū)域中粘接劑是否過多或不足實施高精度的檢查。對于判定結(jié)果為光盤檢查區(qū)域出現(xiàn)粘接劑過多或不足時，可以按照消除這種過多或不足現(xiàn)象的方式，對旋轉(zhuǎn)涂布裝置的粘接劑供給量實施調(diào)節(jié)，進而通過這種方式消除粘接劑的過多或不足問題。同時，還可以充分確保在光盤與照相裝置之間的工作距離。
本發(fā)明第一百方面，是在第九十九方面所述的光盤制造方法中，還具有依據(jù)由所述照相裝置給出的圖象輸出信號對粘接劑的延展質(zhì)量是否良好實施判定的工序；依據(jù)對所述粘接劑延展質(zhì)量良好與否實施判定的工序給出的判定結(jié)果為粘接劑延展質(zhì)量出現(xiàn)不良時可以對出現(xiàn)這種不良的所述光盤實施甄選的甄選工序。
采用這種構(gòu)成形式，可以通過實施甄選工序，對出現(xiàn)這種粘接劑延展質(zhì)量不良的光盤實施甄選作業(yè)。
本發(fā)明第一百零一方面，是一種將由兩個光盤基板粘合而形成的光盤的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域，并且對該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施檢查的粘合型光盤，其利用第九十四至九十八方面所述的任何一種光盤檢查方法對粘接劑延展質(zhì)量實施檢查。
采用這種構(gòu)成形式，可以獲得對檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施高精度檢查的光盤。
本發(fā)明第一百零二方面，是一種將由兩個光盤基板粘合而形成的光盤的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域，并且對該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施檢查的粘合型光盤，其利用第九十四至九十八方面所述的任何一種光盤檢查方法對粘接劑延展質(zhì)量實施檢查，并且依據(jù)該檢查結(jié)果，按照粘接劑延展質(zhì)量未出現(xiàn)不良實施甄選。
采用這種構(gòu)成形式，可以獲得對檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施高精度檢查，并且依據(jù)該高精度的檢查結(jié)果實施甄選作業(yè)后的光盤。


圖1為表示在將兩個光盤基板粘合而形成粘合型光盤的制造裝置中，通過剖面形式表示轉(zhuǎn)動臺處于彼此離開狀態(tài)時的側(cè)面圖。
圖2為表示在將兩個光盤基板粘合而形成粘合型光盤的制造裝置中，通過剖面形式表示轉(zhuǎn)動臺處于彼此接近狀態(tài)時的側(cè)面圖。
圖3為表示組裝在光盤制造裝置中的旋轉(zhuǎn)涂布裝置的流體回路用的流體回路圖。
圖4A為依次說明將兩個光盤基板粘合而形成粘合型光盤的制造工序用的示意圖(其1)。
圖4B為依次說明將兩個光盤基板粘合而形成粘合型光盤的制造工序用的示意圖(其2)。
圖4C為依次說明將兩個光盤基板粘合而形成粘合型光盤的制造工序用的示意圖(其3)。
圖4D為依次說明將兩個光盤基板粘合而形成粘合型光盤的制造工序用的示意圖(其4)。
圖4E為依次說明將兩個光盤基板粘合而形成粘合型光盤的制造工序用的示意圖(其5)。
圖5為舉例表示粘合型光盤用的平面圖。
圖6為表示對位于粘合型光盤的中央部位置處的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域?qū)嵤┓糯蟛⒆冃伪硎酒浜穸扔玫目v剖側(cè)面圖。
圖7為表示光盤檢查裝置的一個實例用的側(cè)面圖。
圖8為表示作為本實施形式的光盤檢查裝置用的側(cè)面圖。
圖9為表示環(huán)狀照明裝置用的立體圖。
圖10為表示在環(huán)狀照明裝置的外側(cè)周部附近，發(fā)光二極管(LED)處于與擴散板相分離的狀態(tài)時用的縱剖側(cè)面圖。
圖11為表示對各部分實施電氣連接用的方框圖。
圖12為功能方框圖。
圖13為表示儲存在檢查用數(shù)據(jù)儲存部中的檢查用數(shù)據(jù)的一例的圖。
圖14為表示儲存在檢查用數(shù)據(jù)儲存部中的檢查用數(shù)據(jù)的另一例的圖。
圖15為表示儲存在檢查用數(shù)據(jù)儲存部中的檢查用數(shù)據(jù)的再一例的圖。
圖16為表示儲存在檢查用數(shù)據(jù)儲存部中的檢查用數(shù)據(jù)的又一例的圖。
圖17A為舉例表示在光盤的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域出現(xiàn)粘接劑過多或不足現(xiàn)象時的狀態(tài)用的示意圖(其1)。
圖17B為舉例表示在光盤的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域出現(xiàn)粘接劑過多或不足現(xiàn)象時的狀態(tài)用的示意圖(其2)。
圖17C為舉例表示在光盤的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域出現(xiàn)粘接劑過多或不足現(xiàn)象時的狀態(tài)用的示意圖(其3)。
圖18為舉例表示在光盤的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域出現(xiàn)粘接劑形狀不良(氣泡)時的狀態(tài)用的示意圖。
圖19為舉例表示在光盤的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域出現(xiàn)粘接劑形狀不良時的狀態(tài)用的示意圖。
圖20為表示處理流程用的流程圖。
圖21為表示在實驗中使用的光盤檢查裝置的側(cè)面圖。
圖22為說明在使用如圖21所示的光盤檢查裝置時，使位于光盤的檢查區(qū)域內(nèi)徑側(cè)的影象直徑縮小，進而將該影象從光盤的檢查區(qū)域內(nèi)徑側(cè)除去的工序用的側(cè)面圖。
圖23為表示在實驗中使用的另一光盤檢查裝置的側(cè)面圖。
具體實施例方式
下面根據(jù)圖8至圖21，對本發(fā)明的實施例進行說明。此時，與根據(jù)附圖1至附圖7說明過的部分相同的部分用相同的標號表示，省略其說明。
首先，如根據(jù)圖1至圖7所進行過的說明那樣，使用如圖1至圖3所舉例示出的制造裝置，實施下述工序粘合兩個光盤基板103、104(第一光盤基板103，第二光盤基板104)。即如圖4所示，將噴嘴108插入在固定于轉(zhuǎn)動臺101、102上的兩個光盤基板103、104之間，并且使其前端部位于第一光盤基板103的中央部附近。在這種狀態(tài)下，由噴嘴108排出諸如紫外線硬化樹脂120的粘接劑。按照這種方式，實施向固定于轉(zhuǎn)動臺101、102處的第一光盤基板103上排出作為粘接劑的紫外線硬化樹脂120的工序。
然后，在向兩個光盤基板103、104之間排出粘接劑的同時使下側(cè)的轉(zhuǎn)動臺101轉(zhuǎn)動。結(jié)果，可以使紫外線硬化樹脂120呈圓周型涂布(參見圖4A)在位于下側(cè)的第一光盤基板103的中央部附近。隨后，通過上下移動機構(gòu)106使位于上側(cè)的轉(zhuǎn)動臺102下降，將位于上側(cè)的光盤基板104與下側(cè)的光盤基板103重合(參見圖4B)。按照這種方式，實施將第二光盤基板104重合在第一光盤基板103上的工序。
隨后，利用電動機105的驅(qū)動力，轉(zhuǎn)動驅(qū)動下側(cè)的轉(zhuǎn)動臺101，這樣使上側(cè)的轉(zhuǎn)動臺102隨之轉(zhuǎn)動。這時，夾在兩個光盤基板103、104之間的紫外線硬化樹脂120將向外側(cè)周部擴散(參見圖4C)。當該擴散范圍到達規(guī)定位置處時，停止轉(zhuǎn)動臺101、102的轉(zhuǎn)動。在這種狀態(tài)下，待機至由紫外線硬化樹脂120構(gòu)成的粘接劑將一直擴散至兩個光盤基板103、104的外側(cè)周部端面處(參見圖4D)。按照這種方式，轉(zhuǎn)動驅(qū)動下側(cè)的轉(zhuǎn)動臺101，實施使位于兩個光盤基板103、104之間的作為粘接劑的紫外線硬化樹脂120延展的工序。
在由紫外線硬化樹脂120構(gòu)成的粘接劑一直擴散到兩個光盤基板103、104的外側(cè)周部端面處之后，利用紫外線照射燈121實施紫外線照射，使紫外線硬化樹脂120硬化。按照這種方式，實施使延展后的作為粘接劑的紫外線硬化樹脂120硬化的工序。
通過如上所述的各工序，實施對兩個光盤基板103、104粘合以形成粘合型光盤122的光盤形成工序，從而制成粘合型光盤122。
如上說明的如圖1至圖3所舉例示出的裝置，是在對兩個光盤基板103、104實施重合處理后，在將兩個光盤基板103、104分別保持在轉(zhuǎn)動臺101、102上的情況下，使位于下側(cè)的轉(zhuǎn)動臺101轉(zhuǎn)動而對紫外線硬化樹脂120實施延展處理。與此相對，本發(fā)明還可以采用具有如下所述構(gòu)成形式的其他實施方式。即是，還可以在向位于下側(cè)的第一光盤基板103上涂布紫外線硬化樹脂120之后，使另一第二光盤基板104重合在第一光盤基板103上。而且，可以將第二光盤基板104從作為保持部件的轉(zhuǎn)動臺102處取下，在這種狀態(tài)下對下側(cè)的轉(zhuǎn)動臺101實施轉(zhuǎn)動驅(qū)動，并對紫外線硬化樹脂120實施延展處理。
在此，本實施形式還可以在彼此粘合的兩個光盤基板103、104中的至少一個中，對在其單面由諸如相變化材料等等的記錄材料構(gòu)成的記錄層實施成膜處理，或是在基板面形成具有諸如呈凹凸形狀的記錄溝槽等等的信息承載面。而且，通過對這種光盤基板103、104實施粘合而構(gòu)成的光盤122，通過使對所述記錄層實施成膜處理構(gòu)成的記錄面或信息承載面位于內(nèi)側(cè)的方式對兩個光盤基板103、104實施粘合形成作業(yè)。
而且，相對于這種對記錄層實施成膜處理或具有信息承載面的一個光盤基板103或104，也可以使另一個光盤基板104或103對記錄層實施成膜處理或使其具有信息承載面。對于這種場合，可以構(gòu)成為雙面型光盤122。與此相對，對于另一個光盤基板104或103不實施記錄層成膜處理或不設置信息承載面時，可以形成為單面型光盤122。
對于按照這種方式形成的光盤122，可以實施將該光盤122的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域124作為檢查區(qū)域308，并且對在該檢查區(qū)域308的粘接劑延展質(zhì)量實施檢查的檢查工序。下面參考圖8至圖21，對這種檢查工序進行說明。
圖8為表示用于實施所述檢查工序在本實施方式的光盤檢查裝置用的側(cè)面圖。作為本實施形式的光盤檢查裝置，其基本構(gòu)成與參考圖7所說明的裝置相類似，不同點在于使用環(huán)狀照明裝置301取代照明裝置205。
圖9為表示環(huán)狀照明裝置301用的立體圖。圖10為表示環(huán)狀照明裝置301的外側(cè)周部附近的縱剖側(cè)面圖。環(huán)狀照明裝置301作為一個構(gòu)成實例，如圖9和圖10所示，可以由作為光源的若干個發(fā)光二極管(LED)302實現(xiàn)。即是，可以將引導光束擴散的擴散板303形成設置為環(huán)狀形狀，并且在該擴散板303的外側(cè)端面嵌埋設置有若干個發(fā)光二極管(LED)302。而且，在擴散板303上的一面，成膜形成有蓋覆著整個表面的第一反射膜304，在擴散板303上的另一面，成膜形成有僅蓋覆外側(cè)周部附近的第二反射膜305。
舉例來說，環(huán)狀照明裝置301還可以由彎曲成環(huán)狀的擴散板蓋覆著的熒光燈構(gòu)成。即是，環(huán)狀照明裝置301只要具有能夠?qū)⒂晒庠凑丈涑龅墓馐?，通過擴散板擴散成均勻光束的功能即可，對其種類并沒有限制。
在本實施例中，如圖8所示的環(huán)狀照明裝置301，通過照明裝置保持部件306固定在電荷耦合型攝象機(CCD攝象機)203處。在光盤支撐臺201還按照不會對由上側(cè)來的照射光束實施直接反射的方式，對表面實施了諸如“磨沙變黑”等等的低反射處理。而且，定位支撐在光盤支撐臺201處的光盤122的中心軸，電荷耦合型攝象機(CCD攝象機)203的中心軸和環(huán)狀照明裝置301的中心軸，其全部重合在同一軸上。
采用這種構(gòu)成形式，當對光盤122實施檢查時，可以實施將作為檢查對象物的光盤122，按位置不動方式支撐在光盤支撐臺201上的工序；對光軸與支撐在這種光盤支撐臺201上的光盤122的中心軸吻合配置著的環(huán)狀照明裝置301實施照明，并利用由擴散板303給出的照射光束由上側(cè)呈環(huán)狀對光盤122上的檢查區(qū)域308實施照明的工序；以及利用光軸與支撐在這種光盤支撐臺201上的光盤122的中心軸吻合配置的、作為攝象裝置的電荷耦合型攝象機(CCD攝象機)203，由上側(cè)對光盤122上的檢查區(qū)域308實施攝象的工序。
此時，環(huán)狀照明裝置301雖然與如圖7所舉例示出的照明裝置205同樣，也將不發(fā)生變化地進入由電荷耦合型攝象機(CCD攝象機)203攝象獲得的圖象中。然而在本實施例中，環(huán)狀照明裝置301的影象范圍307將完全蓋覆檢查區(qū)域308。因此，在通過電荷耦合型攝象機(CCD攝象機)203攝象獲得的影象中，不會出現(xiàn)局部明暗差異，從而可以獲得均勻的圖象。采用這種方式，可以可靠地檢測出在光盤122的檢查區(qū)域308中是否存在有粘接劑。
在此，為了能夠按照對光盤122中的全部檢查區(qū)域308實施完全覆蓋的方式，將環(huán)狀照明裝置301的光射入，還需要按照特定的位置關系，對電荷耦合型攝象機(CCD攝象機)203和環(huán)狀照明裝置301等實施設定。下面對這種特定的位置關系進行說明。
如果取檢查區(qū)域308的內(nèi)側(cè)直徑為S1，被檢查的檢查區(qū)域308的外側(cè)直徑為S2，射入的環(huán)狀照明裝置301的內(nèi)側(cè)直徑為D1，射入光的環(huán)狀照明裝置301的外側(cè)直徑為D2，環(huán)狀照明裝置301的發(fā)光部內(nèi)側(cè)直徑為L1，環(huán)狀照明裝置301的發(fā)光部外側(cè)直徑為L2，環(huán)狀照明裝置301的下端與光盤122間的距離為LD，電荷耦合型攝象機(CCD攝象機)203上的第一主點位置HI與光盤122間的距離為HD，則實際的環(huán)狀照明裝置301與該環(huán)狀照明裝置301在光盤122圖象中生成出的虛象301a具有相似關系。由此HD∶D1＝(HD+LD)∶L1
HD∶D2＝(HD+LD)∶L2成立。上述等式可以表示為L1＝D1(1+LD/HD)L2＝D2×(1+LD/HD)。
此時，D1＜S1且D2＞S2，所以可以按照對檢查區(qū)域308實施完全覆蓋的方式，將環(huán)狀照明裝置301射入通過電荷耦合型攝象機(CCD攝象機)203攝象獲得的圖象中。因此，當L1＜S1×(1+LD/HD)L2＞S2×(1+LD/HD)時，為可以對是否存在有粘接劑實施良好檢測的條件。
當L1過小時，將不能對光盤122的檢查區(qū)域308中位于外周側(cè)處的圖象進行攝象。因此，需要將L1設定的大于某一值。L1的大小可以通過下一等式進行求解。
(HD-LD)∶L1＝HD∶S2，由此可以有L1＞S2×(1-LD/HD)，因此S2×(1-LD/HD)＜L1＜S1×(1+LD/HD)。
可以按照這種方式，設計如圖8所示的檢查機構(gòu)351。采用這樣設計的檢查機構(gòu)351，不僅可以按照完全覆蓋光盤122中全部檢查區(qū)域308的方式射入環(huán)狀照明裝置301的光，而且可以充分確保光盤122與電荷耦合型攝象機(CCD攝象機)203間的工作距離。
對粘接劑的延展質(zhì)量實施檢查的檢查區(qū)域308，其內(nèi)側(cè)直徑S1通常為15mm左右，外側(cè)直徑S2通常為40mm左右。
圖11為表示這種光盤檢查裝置的電氣連接的方框圖。如圖所示，在這種檢查裝置中設置有微型計算機404，其由實施各種運算處理并控制各部件的中央處理器(CPU)401、儲存控制程序等的固定數(shù)據(jù)的只讀儲存器(ROM)402，以及以可自由改寫方式儲存可變數(shù)據(jù)的隨機存取儲存器(RAM)403構(gòu)成。各部件通過系統(tǒng)總線405與該微型計算機404相連接。連接在微型計算機404處的各部件可以為圖象存儲器406，電荷耦合型攝象機(CCD攝象機)203，環(huán)狀照明裝置301，顯示器407以及在光盤粘合用機器手408中的旋轉(zhuǎn)涂布裝置107等等。如圖所示，電荷耦合型攝象機(CCD攝象機)203通過接口部件409，環(huán)狀照明裝置301通過控制器410，顯示器407通過控制器411，旋轉(zhuǎn)涂布裝置107通過控制器412，分別與微型計算機404相連。
電荷耦合型攝象機(CCD攝象機)203通過接口部件409將攝象獲得的圖象輸出信號送至微型計算機404中。
微型計算機404將由電荷耦合型攝象機(CCD攝象機)203送來的圖象輸出信號保存在圖象存儲器406，并且將顯示信號傳送至顯示器407的控制器411。通過這種方式，該控制器411可以對應由微型計算機404送來的顯示信號，驅(qū)動控制顯示器407，將電荷耦合型攝象機(CCD攝象機)203攝象獲得的圖象在顯示器407顯示。
在這時，微型計算機404還可以依據(jù)某閾值，對由電荷耦合型攝象機(CCD攝象機)203傳送來的圖象輸出信號實施區(qū)分，使其白黑二值化(二值化處理裝置)。因此，顯示器407除了可以顯示電荷耦合型攝象機(CCD攝象機)203攝象獲得的原圖象之外，還可以顯示白黑二值化處理后的圖象。
而且，微型計算機404還可以依據(jù)諸如儲存在只讀儲存器(ROM)402處的控制程序，自由控制電荷耦合型攝象機(CCD攝象機)203的光圈、快門速度、感光度等。
還可以依據(jù)微型計算機404給出的控制信號，通過對控制器410實施驅(qū)動控制，對環(huán)狀照明裝置301的輝度實施調(diào)節(jié)。
旋轉(zhuǎn)涂布裝置107可以依據(jù)微型計算機404給出的控制信號，通過對控制器412實施驅(qū)動控制，對空氣閥118實施控制。這樣，便可以自由改變粘接劑(紫外線硬化樹脂120)的排出量。或者，也可以將通過旋轉(zhuǎn)涂布裝置107對粘接劑(紫外線硬化樹脂120)的排出量實施的控制，替換為對兩個光盤基板103、104的轉(zhuǎn)動速度實施的控制。
還可以依據(jù)微型計算機404給出的控制信號，通過對控制器412實施的驅(qū)動控制，對旋轉(zhuǎn)涂布裝置107的圖中未示出的電動機實施驅(qū)動控制。而且所述電動機，設在對噴嘴108的位置實施調(diào)節(jié)用的移動機構(gòu)裝置中(參見圖1和圖2)。通過上述驅(qū)動控制旋轉(zhuǎn)涂布裝置107可以自由改變相對兩個光盤基板103、104對粘接劑(紫外線硬化樹脂120)的排出位置。
圖12為表示作為上述本發(fā)明實施例的光盤檢查裝置用的功能方框圖。這種功能方框圖中的各種功能，可以依據(jù)儲存在諸如只讀儲存器(ROM)402處的控制程序，參考保存在隨機存取儲存器(RAM)403(比如說為備用電池存儲器和非易失性儲存器等等)處的各種參數(shù)，由基于微型計算機404實施的各種運算處理的控制完成。
首先，圖象解析控制部501讀取電荷耦合型攝象機(CCD攝象機)203給出的圖象輸出信號并儲存在圖象存儲器406處，同時利用存儲在檢查條件儲存部502處的某一閾值對該圖象輸出信號實施白黑二值化處理，并且將二值化處理后的數(shù)據(jù)儲存在二值化數(shù)據(jù)儲存部503處。此時，按照使不存在粘接劑(紫外線硬化樹脂120)的區(qū)域作為白色圖象數(shù)據(jù)，存在粘接劑(紫外線硬化樹脂120)的區(qū)域作為黑色圖象數(shù)據(jù)進行表示。良好與否判定部504參考儲存在二值化數(shù)據(jù)儲存部503處的二值化數(shù)據(jù)，判斷光盤122的檢查區(qū)域308處是否良好(良好與否判定裝置，良好與否判定工序，依據(jù)由作為攝象裝置的電荷耦合型攝象機(CCD攝象機)203給出的圖象輸出信號對粘接劑延展質(zhì)量良好與否實施判定用的工序)。在這時，良好與否判定部504可以依據(jù)儲存在檢查用數(shù)據(jù)儲存部505處的檢查用數(shù)據(jù)，判定光盤122的檢查區(qū)域308是否良好。而且，良好與否判定部504還可以將粘接劑過多或不足的檢查結(jié)果儲存在檢查結(jié)果儲存部506中。
在此，環(huán)狀照明裝置301還可以如前所述采用熒光燈。然而，當采用熒光燈構(gòu)成環(huán)狀照明裝置301時，無論怎樣在電極部分都會產(chǎn)生輝度下降，輝度不均勻的問題。因此，在此時為了解決這一問題，還可以在諸如圖象解析控制部501中，對由電荷耦合型攝象機(CCD攝象機)203給出的圖象輸出信號實施陰影修正，以消除輝度不均勻的問題。
二值化數(shù)據(jù)儲存部503由諸如幾個或幾十個組成，儲存光盤122檢查時獲得的多次二值化數(shù)據(jù)。檢查條件設定變更部507參考這些數(shù)據(jù)，對檢查狀態(tài)的推移進行判定(推移判定裝置，推移判定工序)。舉例來說，在多次的二值化數(shù)據(jù)均為表示不良產(chǎn)品的數(shù)據(jù)，并且其傾向表示出相同傾向時，可能是由于生產(chǎn)條件變更或材料批量變更所產(chǎn)生的。在此時，儲存在檢查條件儲存部502處的檢查條件沒有適當?shù)男拚６遗e例來說，還可以對儲存在二值化數(shù)據(jù)儲存部503處的多次二值化數(shù)據(jù)實施平均化處理，對于該平均值超過相對預測平均值設定的某一閾值時，可以通過檢查條件設定變更部507改寫儲存在檢查條件儲存部502處的檢查條件。
在檢查條件儲存部502處，儲存著如前所述的對電荷耦合型攝象機(CCD攝象機)203給出的圖象輸出信號實施白黑二值化處理用的閾值，除此之外，還可以儲存環(huán)狀照明裝置301的照度、電荷耦合型攝象機(CCD攝象機)203的快門速度、光圈、感光度等數(shù)據(jù)。在通過檢查條件設定變更部507對儲存在如上所述的檢查條件儲存部502處的檢查條件(如對電荷耦合型攝象機(CCD攝象機)203給出的圖象輸出信號實施白黑二值化處理用的閾值，環(huán)狀照明裝置301的照度、電荷耦合型攝象機(CCD攝象機)203的快門速度、光圈、感光度等)實施變更時，圖象解析控制部501可以由下一次檢查開始，依據(jù)變更后的檢查條件實施檢查操作。
檢查結(jié)果儲存部506由諸如幾個或幾十個組成，儲存光盤122檢查時獲得的多次檢查結(jié)果。此時，儲存的是有關粘接劑(紫外線硬化樹脂120)過多或不足的檢查結(jié)果。在粘接劑(紫外線硬化樹脂120)未出現(xiàn)過多或不足時，其檢查結(jié)果可以不儲存在檢查結(jié)果儲存部506中。
舉例來說，旋轉(zhuǎn)涂布用數(shù)據(jù)設定變更部508參考該檢查結(jié)果，對于多次檢查結(jié)果的平均值超過相對預測平均值設定的某閾值時，改寫儲存在旋轉(zhuǎn)涂布用數(shù)據(jù)儲存部509處的旋轉(zhuǎn)涂布用數(shù)據(jù)(設定值變更裝置，設定值變更工序)。即是，在旋轉(zhuǎn)涂布用數(shù)據(jù)儲存部509儲存著與旋轉(zhuǎn)涂布裝置107的粘接劑排出量和粘接劑排出位置相關的參數(shù)，在驅(qū)動旋轉(zhuǎn)涂布裝置107時，旋轉(zhuǎn)涂布控制部510可根據(jù)這些參數(shù)對旋轉(zhuǎn)涂布裝置107實施驅(qū)動控制。因此，在對儲存在如上所述的旋轉(zhuǎn)涂布用數(shù)據(jù)儲存部509處的旋轉(zhuǎn)涂布用數(shù)據(jù)實施變更時，可以改變旋轉(zhuǎn)涂布裝置107的粘接劑排出量和粘接劑排出位置。
具體地講就是，在光盤122的檢查區(qū)域308處粘接劑(紫外線硬化樹脂120)不足時，可以按照能夠?qū)υ摬蛔懔繉嵤┭a充的方式增加旋轉(zhuǎn)涂布裝置107的粘接劑排出量，或是移動旋轉(zhuǎn)涂布裝置107的粘接劑排出位置。相反，在光盤122的檢查區(qū)域308處粘接劑(紫外線硬化樹脂120)過多時，可以按照能夠消除該過多狀態(tài)的方式減少旋轉(zhuǎn)涂布裝置107的粘接劑排出量，或是移動旋轉(zhuǎn)涂布裝置107的粘接劑排出位置。
此時，可以按照如下所述的方式對旋轉(zhuǎn)涂布裝置107的粘接劑排出量進行調(diào)節(jié)。即依據(jù)由微型計算機404給出的控制信號，利用控制器412實施的驅(qū)動控制對空氣閥118實施控制，進而改變粘接劑(紫外線硬化樹脂120)的排出量，或是控制光盤基板103、104的轉(zhuǎn)動速度。
圖13為表示儲存在檢查用數(shù)據(jù)儲存部505中的檢查用數(shù)據(jù)的一例的圖。正如圖13所示，檢查用數(shù)據(jù)是分別通過透過區(qū)域最小面積551、透過區(qū)域最大面積552、邊緣部分數(shù)目553、團塊部分數(shù)目554的值設定。在光盤122的檢查區(qū)域308中，粘接劑(紫外線硬化樹脂120)過多通過將作為透過區(qū)域最小面積551設定的值與采集的白色圖象數(shù)據(jù)比較實施判定。即是，如果由白色圖象數(shù)據(jù)表示的面積比作為透過區(qū)域最小面積551的設定的面積值小，便可以判定粘接劑(紫外線硬化樹脂120)過多。
與此相對，粘接劑(紫外線硬化樹脂120)不足通過將作為透過區(qū)域最大面積552設定的值與表示采集的白色圖象數(shù)據(jù)的面積進行比較的方式實施判定。即是，如果表示白色圖象數(shù)據(jù)的面積比作為透過區(qū)域最大面積552的設定值大，便可以判定粘接劑(紫外線硬化樹脂120)不足。
在此，如圖13所示的儲存在檢查用數(shù)據(jù)儲存部505中的檢查用數(shù)據(jù)僅是一例，還可以將其他形式的檢查用數(shù)據(jù)儲存在檢查用數(shù)據(jù)儲存部505中。
圖14為表示儲存在檢查用數(shù)據(jù)儲存部505中的檢查用數(shù)據(jù)的另一例的圖。在圖14例示時，檢查用數(shù)據(jù)分別由非透過區(qū)域最小面積561、非透過區(qū)域最大面積562、邊緣部分數(shù)目553、團塊部分數(shù)目554的值而設定。在光盤122的檢查區(qū)域308中，粘接劑(紫外線硬化樹脂120)不足通過將作為非透過區(qū)域最小面積561設定的面積值與表示采集的黑色圖象數(shù)據(jù)表示的面積值進行比較的方式實施判定。即是，如果由黑色圖象數(shù)據(jù)表示的面積值比作為非透過區(qū)域最小面積561的設定值小，便可以判定粘接劑(紫外線硬化樹脂120)不足。
與此相對，粘接劑(紫外線硬化樹脂120)過多通過將作為非透過區(qū)域最大面積562的設定值，與采集的黑色圖象數(shù)據(jù)表示的面積值進行比較的方式實施判定。即是，如果由黑色圖象數(shù)據(jù)表示的面積值比作為非透過區(qū)域最大面積562的設定值大，便可以判定粘接劑(紫外線硬化樹脂120)過多。
圖15為表示儲存在檢查用數(shù)據(jù)儲存部中的檢查用數(shù)據(jù)的再一例的圖。
在圖15例示時，檢查用數(shù)據(jù)分別由透過區(qū)域最小面積551、透過區(qū)域最大面積552、邊緣部分數(shù)目553、團塊部分數(shù)目554的值設定。而且，透過區(qū)域最大面積552被分割成A區(qū)域571和B區(qū)域572，從而可以分別對各區(qū)域?qū)嵤┡卸?。此時光盤122的檢查區(qū)域308中粘接劑(紫外線硬化樹脂120)過多或不足的判定方式，與如圖13例示的檢查用數(shù)據(jù)時相同。
圖16為表示儲存在檢查用數(shù)據(jù)儲存部中的檢查用數(shù)據(jù)的又一例的圖。在圖16例示時，檢查用數(shù)據(jù)分別由非透過區(qū)域最小面積561、非透過區(qū)域最大面積562、邊緣部分數(shù)目553、團塊部分數(shù)目554的值設定。而且，非透過區(qū)域最小面積561被分割成A區(qū)域571和B區(qū)域572，從而可以分別對各區(qū)域?qū)嵤┡卸?。此時，光盤122的檢查區(qū)域308中粘接劑(紫外線硬化樹脂120)過多或不足的判定方式，與如圖13例示出的檢查用數(shù)據(jù)時相同。
下面，對圖13、圖14、圖15、圖16中的邊緣數(shù)目553、團塊數(shù)目554、A區(qū)域571、B區(qū)域572進行說明。
首先參考圖17A至圖17C，對邊緣部分數(shù)目553進行說明。圖17A至圖17C為舉例表示在光盤122的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域124處出現(xiàn)粘接劑(紫外線硬化樹脂120)過多或不足時的狀態(tài)用的示意圖。放大圖17A中矩形面積如圖17B或圖17C所示，分別表示粘接劑(紫外線硬化樹脂120)不同的過多或不足狀態(tài)的示意圖。
如圖17B所示的狀態(tài)，為粘接劑(紫外線硬化樹脂120)已經(jīng)局部出現(xiàn)在模槽區(qū)域126中的狀態(tài)。這時，由于外觀上是不理想的，所以應該判定為粘接劑延展狀態(tài)不良。與此相對，在如圖17C所示的狀態(tài)，粘接劑(紫外線硬化樹脂120)均勻僅僅有一點在模槽區(qū)域126中溢出。這時，與圖17B相比，不論粘接劑(紫外線硬化樹脂120)溢出面積大小，對外觀無妨。因此在此時，應該判定粘接劑的延展狀態(tài)良好。
由此可知，對比參考圖17B與圖17C，可以認為，如果僅僅簡單地考慮面積大小，不一定對粘接劑的延伸狀態(tài)給予適當?shù)呐卸?。即是，還必須對溢出的粘接劑形狀是否良好實施判定。在本實施形式中，還將圖17A至圖17C中的假想圓周軌跡，儲存在檢查數(shù)據(jù)儲存部505中，所以還可以對該圓周軌跡上圖象輸出信號(白黑二值化處理后的信號)中產(chǎn)生有急劇變化的邊緣部分實施檢測。如果這種邊緣部分的數(shù)目比檢查用數(shù)據(jù)儲存部505中的邊緣部分數(shù)目553設定的值(閾值)大，可以判定在光盤122的檢查區(qū)域308的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域124處，粘接劑(紫外線硬化樹脂120)的形狀不良。
這種判定處理方式與表示圖17B和圖17C時相當。在如圖17B所示的狀態(tài)圖示部分中存在有四個邊緣部分(邊緣部分由×表示)。與此相對，在圖17C狀態(tài)下不存在這種邊緣部分。因此，可以將如圖17B所示的狀態(tài)判定為粘接劑延展狀態(tài)“不良”，將如圖17C所示的狀態(tài)判定為“良好”。
下面參考圖18，對圖13至圖16所示的“團塊部分數(shù)目”554進行說明。圖18為舉例表示在光盤122的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域124處出現(xiàn)粘接劑形狀不良(氣泡)狀態(tài)時用的示意圖。在如圖18所示的狀態(tài)下，粘接劑(紫外線硬化樹脂120)中出現(xiàn)氣泡601。氣泡601在粘接劑(紫外線硬化樹脂120)的應延展區(qū)域中，可以認為是局部缺少粘接劑(紫外線硬化樹脂120)的部分。在存在有若干個這種氣泡601時，由于是外觀不理想的形狀不良，所以應該判定為粘接劑延展狀態(tài)不良。
而且在本實施例中，可以參考白黑二值化處理后的圖象輸出信號中的白色圖象數(shù)據(jù)，使用圖象處理方法中的“標簽標注方法”，對呈島狀獨立的白色區(qū)域?qū)嵤z測，并且由上至下依次附加上標號。采用這種標簽標注方法處理后的白色區(qū)域為氣泡601。在圖18所示的實例中，在某局部區(qū)域存在有三個獨立的氣泡601。對采用這種標簽標注方法處理后的區(qū)域數(shù)目實施記數(shù)，如果這一數(shù)值比檢查用數(shù)據(jù)儲存部505中的團塊部分數(shù)目554設定的值大，可以判定在光盤122的檢查區(qū)域308的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域124中，粘接劑(紫外線硬化樹脂120)的形狀不良。
下面參考圖19，對如圖15、圖16所示的“A區(qū)域”571和“B區(qū)域”572進行說明。圖19為舉例表示在光盤122的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域124處出現(xiàn)粘接劑(紫外線硬化樹脂120)形狀不良時的狀態(tài)用的示意圖。如圖19所示，在光盤122的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域124處的粘接劑(紫外線硬化樹脂120)形狀不良指的是粘接劑(紫外線硬化樹脂120)有時沿光盤122的半徑方向延伸不足。在此時，由于在外觀上是不理想的，所以應該判定為粘接劑延展狀態(tài)不良。然而這時，粘接劑(紫外線硬化樹脂120)的延伸不足的面積可能并不大于某一程度，所以僅僅通過簡單的面積比較，有時不可以對這種延伸不足的現(xiàn)象加以判定。
在本實施形式中，成為外周側(cè)的B區(qū)域572的判定閾值是按照比成為光盤122內(nèi)周側(cè)的A區(qū)域571的判定閾值更嚴格的方式設定的。下面對這種更嚴格的設定方式作具體說明。在通過圖15例示的、儲存在檢查用數(shù)據(jù)儲存部505處的檢查用數(shù)據(jù)中，作為透過區(qū)域最大面積552的值，在B區(qū)域572設定的比較小。同樣在通過圖16例示的、儲存在檢查用數(shù)據(jù)儲存部505處的檢查用數(shù)據(jù)中，作為非透過區(qū)域最小面積561的值，在B區(qū)域572設定的比較小。采用這種方式，可以按照比內(nèi)周側(cè)更嚴格的判定方式，判定位于光盤122的外周側(cè)的粘接劑(紫外線硬化樹脂120)延伸不足。舉例來說，采用這種構(gòu)成形式，可以對圖19所例示的、沿著光盤122的半徑方向延伸的粘接劑(紫外線硬化樹脂120)的延伸不足實施適當?shù)呐卸ā?br> 圖20為表示作為上述本發(fā)明實施形式的光盤檢查裝置中的處理流程用的流程圖。微型計算機404由電荷耦合型攝象機(CCD攝象機)203處獲取圖象輸出信號(步驟S101)，依據(jù)設定在檢查條件儲存部502處的閾值對圖象輸出信號實施白黑二值化處理(步驟S102，二值化處理裝置，二值化處理工序)。而且，將這種白黑二值化處理后的數(shù)據(jù)傳送至二值化數(shù)據(jù)儲存部503處(步驟S103)。
依據(jù)數(shù)據(jù)傳送并儲存在二值化數(shù)據(jù)儲存部503中的白黑二值化數(shù)據(jù)，依次對光盤122的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域124處的粘接劑(紫外線硬化樹脂120)是否延展不足實施判定(步驟S104)，延展是否過度實施判定(步驟S105)，邊緣部分數(shù)目是否過多實施判定(步驟S106)，團塊部分數(shù)目是否過多實施判定(步驟S107)。對于通過這些判定結(jié)果檢測到不良時(步驟S104中的判定結(jié)果為Y，步驟S105中的判定結(jié)果為Y，步驟S106中的判定結(jié)果為Y，步驟S107中的判定結(jié)果為Y，良好與否判定裝置，良好與否判定工序，依據(jù)由作為攝象裝置的電荷耦合型攝象機(CCD攝象機)203給出的圖象輸出信號對粘接劑延展質(zhì)量良好與否實施判定用的工序)，報告發(fā)現(xiàn)錯誤(步驟S109)。該發(fā)現(xiàn)錯誤用的報告可以由諸如顯示器407顯示出發(fā)現(xiàn)錯誤信息完成。
在此，在通過良好與否判定工序(依據(jù)由作為攝象裝置的電荷耦合型攝象機(CCD攝象機)203給出的圖象輸出信號對粘接劑延展質(zhì)量良好與否實施判定的工序)獲得的判定結(jié)果為出現(xiàn)粘接劑延展質(zhì)量不良時，還可以實施對這種出現(xiàn)不良的光盤122實施甄選的甄選工序。實施這種甄選工序的其他構(gòu)成形式，可以是用圖中未示出的自動機械裝置等從光盤支撐臺201上對這種出現(xiàn)不良的光盤122實施去除的甄選形式。更具體的講，還可以是用自動機械裝置等將光盤122從光盤支撐臺201上取下，對應良好與否判定工序的判定結(jié)果，對良好產(chǎn)品和不良產(chǎn)品實施區(qū)分并傳送至不同的預定場所的甄選形式。這種利用自動機械裝置等等從光盤支撐臺201處對光盤122實施的傳送移動處理，可以采用現(xiàn)有技術容易實現(xiàn)。
而且，對于判定結(jié)果為延展不足時(步驟S104中的判定結(jié)果為Y)和延展過度時(步驟S105中的判定結(jié)果為Y)，還將表示該檢測結(jié)果的數(shù)據(jù)傳送至檢查結(jié)果儲存部506處(步驟S108)。
如上面說明的那樣，采用本實施例，可以將環(huán)狀照明裝置301給出的照射光束，均勻地照射在光盤122的整個檢查區(qū)域308上。在白黑二值化處理后的圖象輸出信號中，存在有粘接劑的部分由黑色構(gòu)成，不存在的部分由白色構(gòu)成，所以可以對表示粘接劑(紫外線硬化樹脂120)的存在部分和不存在部分的信號實施明確的分離。因此，可以對檢查區(qū)域308中粘接劑(紫外線硬化樹脂120)的過多或不足實施高精度檢測。而且，還可以充分確保光盤122與電荷耦合型攝象機(CCD攝象機)203間的工作距離。
而且在檢測結(jié)束時，可以將兩個光盤基板103、104粘合形成的光盤122的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域124作為檢查區(qū)域308，得到對該檢查區(qū)域308處的粘接劑延展質(zhì)量實施過檢查的粘合型光盤122。在實施所述甄選工序之后，還可以獲得檢查結(jié)果為粘接劑延展質(zhì)量未出現(xiàn)不良的、作為甄選出的良好產(chǎn)品的光盤122。
本發(fā)明的發(fā)明者通過采用如上所述的本發(fā)明實施例，實際實施本發(fā)明的方式驗證了其技術效果。在此僅采用兩個檢查機構(gòu)351進行了實驗。下面對這種性能進行說明。
圖21為表示在該實驗中使用的光盤檢查裝置的側(cè)面圖。如圖21所示的檢查機構(gòu)351，是一種環(huán)狀照明裝置301與光盤122間的攝象距離LD為156mm，使用常規(guī)的C型支架規(guī)格的電荷耦合型攝象機(CCD攝象機)203和透鏡203a實施檢測時的具體實施例。
檢查粘接劑延展質(zhì)量的區(qū)域的內(nèi)側(cè)直徑S1為15mm，外側(cè)直徑S2為40mm。環(huán)狀照明裝置301為附加有壁厚為12mm的擴散板303的環(huán)狀照明裝置301。
首先，為延長工作距離，使電荷耦合型攝象機(CCD攝象機)203的前端部與環(huán)狀照明裝置301的前端部位于相同的位置。此時，LD＝156mm，從所使用的透鏡203a的第一主點位置HI至光盤122間的距離HD＝188mm。該位置關系為S2×(1-LD/HD)＜L1＜S1×(1+LD/HD)L2＞S2×(1+LD/HD)。
通過計算，有
6.8＜L1＜27.4L2＞73.2。
然而，使用C型支架透鏡規(guī)格的電荷耦合型攝象機(CCD攝象機)203和透鏡203a間的安裝螺釘長度為1英寸(25.4mm)，透鏡203a的外徑通常為比它大的30mm左右。因此不可能有L1＜27.4因此，這種設定使得本發(fā)明的上述實施例不能實施。
圖22為說明在使用如圖21所示的光盤檢查裝置(檢查機構(gòu)351)時，使位于光盤122的檢查區(qū)域308的內(nèi)徑側(cè)處的影象直徑縮小，進而將該影象從光盤122的檢查區(qū)域308的內(nèi)徑側(cè)除去的工序用的側(cè)面圖。
如上所述，如圖21所舉例示出的設定條件，即L1＜27.4是難以實現(xiàn)的，所以本發(fā)明的上述實施例不能實施。針對這種情況，可以如圖22例示的那樣，使光盤122彎曲呈凸形，從而可以使光盤122的檢查區(qū)域308的內(nèi)徑側(cè)處產(chǎn)生的影象直徑被縮小。采用這種方式，可以將該影象從光盤122的檢查區(qū)域308的內(nèi)徑側(cè)處去除。而且，對于通過肉眼對在顯示器407處映出的圖象實施檢查時，還可以對光盤122的彎曲程度進行調(diào)節(jié)，將在光盤122的檢查區(qū)域308的內(nèi)徑側(cè)處產(chǎn)生的影象去除，進而可以可靠地使由環(huán)狀照明裝置301給出的照射光束投射到該部分處。通過采用這種方式，可以利用肉眼對光盤122的粘接劑的延展實施檢查。
圖23為表示在實驗中使用的另一光盤檢查裝置的側(cè)面圖。在此與圖21所示的實例不同，是實施將環(huán)狀照明裝置301配置在電荷耦合型攝象機(CCD攝象機)203與光盤122之間的檢查機構(gòu)351的實驗。
在此時，可以將環(huán)狀照明裝置301設置在LD＝156mm的位置處。而且，可以按照在環(huán)狀照明裝置301的上端與電荷耦合型攝象機(CCD攝象機)203的透鏡203a的前端間存在有1mm的間隙的方式，對電荷耦合型攝象機(CCD攝象機)203實施設置。從所使用的透鏡203a的第一主點位置HI至光盤122間的距離HD為201mm。
這種位置關系為S2×(1-LD/HD)＜L1＜S1×(1+LD/HD)L2＞S2×(1+LD/HD)，
通過計算，有9.0＜L1＜26.6L2＞71.0。
而且，可以使環(huán)狀照明裝置301的發(fā)光部內(nèi)側(cè)直徑L1＝20mm，發(fā)光部外側(cè)直徑L2＝80mm，投射到光盤122處的照明裝置內(nèi)側(cè)直徑D1＝約11.3mm，投射到光盤122處的照明裝置外側(cè)直徑D2＝約45mm。采用這種方式，可以使投射到光盤122處的照明光束的內(nèi)側(cè)直徑、外側(cè)直徑，均比檢查區(qū)域308(內(nèi)側(cè)直徑S115mm，外側(cè)直徑S240mm)擴大，所以不會存在有環(huán)狀照明裝置301不能實施光束投射的部分。因此，可以在檢查區(qū)域308的整個區(qū)域中，對粘接劑的延展質(zhì)量實施可靠地檢查。
下面對本發(fā)明各方面技術效果進行說明。
本發(fā)明提供的第一方面，是一種將由兩個光盤基板粘合而形成的光盤的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域，并且對該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施檢查的光盤檢查裝置，其具有以位置不動方式對作為檢查對象物的光盤實施支撐的光盤支撐臺；環(huán)狀照明裝置，其具有光源和從光源給出的照射光束實施擴散的擴散板，其光軸按照與支撐在所述光盤支撐臺處的所述光盤中心軸相重合的方式實施配置，并且將由所述擴散板給出的照射光束從上側(cè)呈環(huán)狀對所述光盤的檢查區(qū)域?qū)嵤┱彰?；照相裝置，其光軸按照與支撐在所述光盤支撐臺處的所述光盤中心軸相重合的方式實施配置，從上側(cè)對該光盤的檢查區(qū)域?qū)嵤┱障?；當取檢查區(qū)域內(nèi)側(cè)直徑為S1，檢查區(qū)域外側(cè)直徑為S2，所述環(huán)狀照明裝置的照明部內(nèi)側(cè)直徑為L1，所述環(huán)狀照明裝置的照明部外側(cè)直徑為L2，所述環(huán)狀照明裝置與所述光盤間的距離為LD，所述照相裝置上的第一主點位置HI與所述光盤間的距離為HD時，滿足S2×(1-LD/HD)＜L1＜S1×(1+LD/HD)L2＞S2×(1+LD/HD)。
采用這種構(gòu)成形式，可以將由環(huán)狀照明裝置給出的照射光束均勻地投射在光盤的整個檢查區(qū)域上，從而可以對檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施高精度的檢查。同時，還可以充分確保在光盤與照相裝置之間的工作距離。
本發(fā)明提供的第二方面，是在第一方面所述的光盤檢查裝置中，對所述光盤支撐臺上至少與所述光盤檢查區(qū)域相對應的區(qū)域?qū)嵤┑头瓷涮幚恚钥梢詫z查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施更高精度的檢查。
本發(fā)明的第三方面，是在第一方面所述的光盤檢查裝置中，用于所述環(huán)狀照明裝置中的所述光源為發(fā)光二極管(LED)，所以可以減小環(huán)狀照明裝置的厚度，確保在光盤與照相裝置之間具有更大的工作距離。而且，采用發(fā)光二極管(LED)的環(huán)狀照明裝置具有更高的輝度均勻性，所以可以對光盤上的檢查區(qū)域?qū)嵤└鶆虻恼彰鳌?br> 本發(fā)明第四方面，是在第三方面所述的光盤檢查裝置中，所述發(fā)光二極管(LED)的光軸朝向所述環(huán)狀照明裝置的內(nèi)周方向，所以可以減小發(fā)光二極管(LED)由環(huán)狀照明裝置朝向光束照射方向的尺寸，并且可以減小環(huán)狀照明裝置的厚度，進而可以確保在光盤與照相裝置之間具有更大的工作距離。
本發(fā)明第五方面，是在第一方面所述的光盤檢查裝置中，用于所述環(huán)狀照明裝置中的光源為彎曲成環(huán)狀的熒光燈，所以可以采用價格低廉的照明裝置對光盤上的整個檢查區(qū)域?qū)嵤┐篌w均勻的照明。
本發(fā)明第六方面，是在第五方面所述的光盤檢查裝置中，還具有對于所述照相裝置給出的圖象輸出信號實施用于修正所述環(huán)狀照明裝置的輝度不均勻的陰影修正的陰影修正裝置。采用這種構(gòu)成形式，即使彎曲成環(huán)狀的熒光燈在其電極部分處輝度不可避免地產(chǎn)生有急劇下降，也可以通過對照相裝置給出的圖象輸出信號實施陰影修正的方式消除這種不均勻性，獲得與對光盤的檢查區(qū)域?qū)嵤┚鶆蛘彰鞯耐瑯咏Y(jié)果。因此，即使采用價格低廉的熒光燈作為環(huán)狀照明裝置實施照明，也可以對檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施高精度的檢查。
本發(fā)明第七方面，是在第一方面所述的光盤檢查裝置中，還具有將所述照相裝置給出的圖象輸出信號在顯示器上顯示輸出的監(jiān)視裝置。采用這種構(gòu)成形式，還可以通過對顯示器的顯示實施觀察的方式，對光盤上檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施觀察，從而可以使判定其良好與否的作業(yè)容易實施。
本發(fā)明第八方面，是在第七所述的光盤檢查裝置中，還具有利用某一閾值對所述照相裝置給出的圖象輸出信號實施白黑二值化處理的二值化處理裝置，所述監(jiān)視裝置將二值化處理后的所述圖象輸出信號顯示輸出在顯示器上。采用這種構(gòu)成形式，可以使存在有粘接劑的部分由黑色表示，不存在有粘接劑的部分由白色表示，因此可以使光盤檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量一目了然，從而可以更容易實施判定其良好與否的作業(yè)。
本發(fā)明第九方面，是一種將由兩個光盤基板粘合而形成的光盤的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域，并且對該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施檢查的光盤檢查方法，其具有以位置不動方式將作為檢查對象物的光盤支撐在光盤支撐臺上的工序；對具有光源和從光源給出的照射光束實施擴散的擴散板的、其光軸按照與支撐在所述光盤支撐臺處的所述光盤中心軸相重合的方式實施配置的環(huán)狀照明裝置實施照明，并且將由所述擴散板給出的照射光束從上側(cè)呈環(huán)狀對所述光盤的檢查區(qū)域?qū)嵤┱彰鞯墓ば?；使用其光軸按照與支撐在所述光盤支撐臺處的所述光盤中心軸相重合的方式實施配置的照相裝置，從上側(cè)對該光盤的檢查區(qū)域?qū)嵤┱障嗟墓ば?；當取檢查區(qū)域內(nèi)側(cè)直徑為S1，檢查區(qū)域外側(cè)直徑為S2，所述環(huán)狀照明裝置的照明部內(nèi)側(cè)直徑為L1，所述環(huán)狀照明裝置的照明部外側(cè)直徑為L2，所述環(huán)狀照明裝置與所述光盤間的距離為LD，所述照相裝置上的第一主點位置HI與所述光盤間的距離為HD時，按照下述等式對各部件的位置關系實施設定S2×(1-LD/HD)＜L1＜S1×(1+LD/HD)L2＞S2×(1+LD/HD)。
采用這種構(gòu)成形式，可以將由環(huán)狀照明裝置給出的照射光束均勻地投射在光盤的整個檢查區(qū)域上，從而可以對檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施高精度的檢查。同時，還可以充分確保在光盤與照相裝置之間的工作距離。
本發(fā)明第十方面，是一種將由兩個光盤基板粘合而形成的光盤的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域，并且對該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施檢查的光盤檢查方法，其具有以位置不動方式將作為檢查對象物的光盤支撐在光盤支撐臺上的工序；對具有光源和從光源給出的照射光束實施擴散的擴散板的、其光軸按照與支撐在所述光盤支撐臺處的所述光盤中心軸相重合的方式實施配置的環(huán)狀照明裝置實施照明，并且將由所述擴散板給出的照射光束從上側(cè)呈環(huán)狀對所述光盤的檢查區(qū)域?qū)嵤┱彰鞯墓ば?；通過將所述光盤反轉(zhuǎn)成凹形狀，縮小與所述環(huán)狀照明裝置的照明部內(nèi)側(cè)直徑大小相關出現(xiàn)在所述光盤檢查區(qū)域的內(nèi)徑側(cè)處的影象直徑，由此將該影象由所述光盤的檢查區(qū)域內(nèi)徑側(cè)去除的工序；使用其光軸按照與支撐在所述光盤支撐臺處的所述光盤中心軸相重合的方式實施配置的照相裝置，從上側(cè)對該光盤的檢查區(qū)域?qū)嵤┱障嗟墓ば?。采用這種構(gòu)成形式，在光盤的檢查區(qū)域內(nèi)徑側(cè)也可以對粘接劑的延展質(zhì)量實施高精度的檢查。
本發(fā)明第十一方面，是一種光盤制造方法，其具有形成粘合型光盤的光盤形成工序，其包含向固定在轉(zhuǎn)動臺處的第一光盤基板上排出粘接劑的階段，將第二光盤基板重合在所述第一光盤基板上的階段，轉(zhuǎn)動驅(qū)動所述轉(zhuǎn)動臺以使位于所述兩個光盤基板間的粘接劑延展的階段，對延展的粘接劑實施硬化處理的階段；檢查工序，其將所述粘合型光盤的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域，并且對該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施檢查。而且所述檢查工序使用第九或十方面所述的光盤檢查方法對粘接劑延展質(zhì)量實施檢查。采用這種構(gòu)成形式，在采用第九方面所述的光盤檢查方法在對粘接劑延展質(zhì)量實施檢查時，可以將由環(huán)狀照明裝置給出的照射光均勻地投射在由光盤形成工序形成的光盤的整個檢查區(qū)域上。因此，可以對檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施高精度的檢查。同時，還可以充分確保在光盤與照相裝置之間的工作距離。而且，在采用第十方面所述的光盤檢查方法在對粘接劑延展質(zhì)量實施檢查時，在通過光盤形成工序形成的光盤的檢查區(qū)域內(nèi)徑側(cè)也可以對粘接劑的延展質(zhì)量實施高精度的檢查。
本發(fā)明第十二方面，是在第十一方面所述的光盤制造方法中，還具有在由所述照相裝置給出的圖象輸出信號對粘接劑的延展質(zhì)量是否良好實施判定的良好與否判定工序；在依據(jù)所述良好與否判定工序的判定結(jié)果為粘接劑延展質(zhì)量出現(xiàn)不良時可以對出現(xiàn)這種不良的所述光盤實施甄選的甄選工序。采用這種構(gòu)成形式，可以通過實施甄選工序，對出現(xiàn)這種粘接劑延展質(zhì)量不良的光盤實施甄選作業(yè)。
本發(fā)明第十三方面，是一種將由兩個光盤基板粘合而形成的光盤的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域，并且對該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施檢查的粘合型光盤，其利用第九或十方面所述的光盤檢查方法對粘接劑延展質(zhì)量實施檢查。采用這種構(gòu)成形式，可以獲得對檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施高精度檢查的光盤。
本發(fā)明第十四方面，是一種將由兩個光盤基板粘合而形成的光盤的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域，并且對該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施檢查的粘合型光盤，其利用第九或十方面所述的光盤檢查方法對粘接劑延展質(zhì)量實施檢查，并且依據(jù)該檢查結(jié)果，按照粘接劑延展質(zhì)量未出現(xiàn)不良的方式實施甄選。采用這種構(gòu)成形式，可以對檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施高精度檢查，并且獲得依據(jù)該高精度的檢查結(jié)果實施甄選作業(yè)后的光盤。
而且，本發(fā)明第十五方面，是一種將由兩個光盤基板粘合而形成的光盤的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域，并且對該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施檢查的光盤檢查裝置，其具有以位置不動方式對作為檢查對象物的光盤實施支撐的光盤支撐臺；環(huán)狀照明裝置，其具有光源和從光源給出的照射光束實施擴散的擴散板，其光軸按照與支撐在所述光盤支撐臺處的所述光盤中心軸相重合的方式實施配置，并且將由所述擴散板給出的照射光束從上側(cè)呈環(huán)狀對所述光盤的檢查區(qū)域?qū)嵤┱彰?；照相裝置，其光軸按照與支撐在所述光盤支撐臺處的所述光盤中心軸相重合的方式實施配置，從上側(cè)對該光盤的檢查區(qū)域?qū)嵤┱障?；而且還具有檢查機構(gòu)，當取檢查區(qū)域內(nèi)側(cè)直徑為S1，檢查區(qū)域外側(cè)直徑為S2，所述環(huán)狀照明裝置的照明部內(nèi)側(cè)直徑為L1，所述環(huán)狀照明裝置的照明部外側(cè)直徑為L2，所述環(huán)狀照明裝置與所述光盤間的距離為LD，所述照相裝置上的第一主點位置HI與所述光盤間的距離為HD時，其按照下述等式S2×(1-LD/HD)＜L1＜S1×(1+LD/HD)L2＞S2×(1+LD/HD)對各部件的位置關系實施設定；二值化處理裝置，其利用某一閾值對所述照相裝置給出的圖象輸出信號實施白黑二值化處理；良好與否判定裝置，其將白黑二值化處理后的、與所述光盤檢查區(qū)域相對應的所述圖象輸出信號與某上下閾值進行比較，以判定該檢查區(qū)域中粘接劑是否過多或不足。
采用這種構(gòu)成形式，可以將由環(huán)狀照明裝置給出的照射光束均勻地投射在光盤的整個檢查區(qū)域，而且對于實施白黑二值化處理后的圖象輸出信號，可以使存在有粘接劑的部分由黑色表示，不存在有粘接劑的部分由白色表示。因此，可以對表示存在有粘接劑的部分和不存在有粘接劑的部分的信號實施明確的分離，對檢查區(qū)域中粘接劑是否過多或不足實施高精度的檢查。同時，還可以充分確保在光盤與照相裝置之間的工作距離。
本發(fā)明第十六方面，是在第十五方面所述的光盤檢查裝置中，所述良好與否判定裝置在所述圖象輸出信號中的白色圖象數(shù)據(jù)低于某一下閾值時，判定其粘接劑過多，所以可以對檢查區(qū)域的粘接劑過多實施高精度地檢查。
本發(fā)明第十七方面，是在第十五方面所述的光盤檢查裝置中，所述良好與否判定裝置在所述圖象輸出信號中的黑色圖象數(shù)據(jù)高于某一上閾值時，判定其粘接劑過多，所以可以對檢查區(qū)域的粘接劑過多實施高精度地檢查。
本發(fā)明第十八方面，是在第十五方面所述的光盤檢查裝置中，所述良好與否判定裝置在所述圖象輸出信號中的白色圖象數(shù)據(jù)高于某一上閾值時，判定其粘接劑不足，所以可以對檢查區(qū)域的粘接劑不足實施高精度地檢查。
本發(fā)明第十九方面，是在第十八方面所述的光盤檢查裝置中，所述良好與否判定裝置用于獲得對應于將白黑二值化處理后的所述光盤檢查區(qū)域沿該光盤半徑方向分割成若干分割檢查區(qū)域相對應的所述圖象輸出信號，并且將該圖象輸出信號與按照在外周側(cè)的所述分割檢查區(qū)域更低的方式設定的上閾值進行比較，在所述圖象輸出信號中的白色圖象數(shù)據(jù)高于任意一個所述分割檢查區(qū)域的上閾值時，判定其粘接劑不足。采用這種構(gòu)成形式，可以對位于光盤外周側(cè)位置處的分割檢查區(qū)域使用更嚴格的基準對粘接劑的不足實施判定。采用這種方式，在單純實施面積對比中，在檢測不出沿光盤半徑方向的粘接劑不足部分的形狀時，可以對這種粘接劑不足實施更可靠地檢測。
本發(fā)明第二十方面，是在第十五方面所述的光盤檢查裝置中，所述良好與否判定裝置在所述圖象輸出信號中的黑色圖象數(shù)據(jù)低于某一下閾值時，判定其粘接劑不足，所以可以對檢查區(qū)域的粘接劑不足實施高精度地檢查。
本發(fā)明第二十一方面，是在第二十方面所述的光盤檢查裝置中，所述良好與否判定裝置用于獲得對應于將白黑二值化處理后的所述光盤檢查區(qū)域沿該光盤半徑方向分割成若干分割檢查區(qū)域的所述圖象輸出信號，并且將該圖象輸出信號與按照在外周側(cè)的所述分割檢查區(qū)域更低的方式設定的下閾值進行比較，在所述圖象輸出信號中的黑色圖象數(shù)據(jù)低于任意一個所述分割檢查區(qū)域的下閾值時，判定其粘接劑不足。采用這種構(gòu)成形式，可以對位于光盤外周側(cè)位置處的分割檢查區(qū)域使用更嚴格的基準對粘接劑的不足實施判定。采用這種方式，在單純實施面積對比中，在檢測不出沿光盤半徑方向的粘接劑不足部分的形狀時，可以對這種粘接劑不足實施更可靠地檢測。
本發(fā)明第二十二方面，是在第十五方面所述的光盤檢查裝置中，還具有依據(jù)所述良好與否判定裝置的判定結(jié)果實施信息報告的報告裝置。采用這種構(gòu)成形式，可以依據(jù)報告裝置所報告的判定結(jié)果，使觀察者能夠更容易地對光盤是否良好實施識別。
本發(fā)明第二十三方面，是在第二十二方面所述的光盤檢查裝置中，所述報告裝置將所述良好與否判定裝置的判定結(jié)果顯示輸出至顯示器，所以可以使光盤是否良好的結(jié)果更加一目了然。
本發(fā)明第二十四方面，是在第十五方面所述的光盤檢查裝置中，對所述光盤支撐臺上至少與所述光盤檢查區(qū)域的區(qū)域?qū)嵤┑头瓷涮幚?，所以可以對檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施更高精度的檢查。
本發(fā)明第二十五方面，是在第十五方面所述的光盤檢查裝置中，用于所述環(huán)狀照明裝置中的所述光源為發(fā)光二極管(LED)，所以可以減小環(huán)狀照明裝置的厚度，確保在光盤與照相裝置之間具有更大的工作距離。而且，采用發(fā)光二極管(LED)的環(huán)狀照明裝置具有更高的輝度均勻性，所以可以對光盤上的檢查區(qū)域?qū)嵤└鶆虻恼彰鳌?br> 本發(fā)明第二十六方面，是在第25方面所述的光盤檢查裝置中，所述發(fā)光二極管(LED)的光軸朝向所述環(huán)狀照明裝置的內(nèi)周方向。采用這種構(gòu)成形式，可以減小發(fā)光二極管(LED)由環(huán)狀照明裝置朝向光束照射方向的尺寸，并且可以減小環(huán)狀照明裝置的厚度。因此，可以確保在光盤與照相裝置之間具有更大的工作距離。
本發(fā)明第二十七方面，是在第十五方面所述的光盤檢查裝置中，用于所述環(huán)狀照明裝置中的光源為彎曲成環(huán)狀的熒光燈，所以可以采用價格低廉的照明裝置對光盤上的整個檢查區(qū)域?qū)嵤┐篌w均勻的照明。
本發(fā)明第二十八方面，是在第二十七方面所述的光盤檢查裝置中，還具有對于所述照相裝置給出的圖象輸出信號實施對所述環(huán)狀照明裝置的輝度不均勻進行陰影修正用的陰影修正裝置，所以即使彎曲成環(huán)狀的熒光燈在其電極部分處輝度不可避免地產(chǎn)生有急劇下降，也可以通過對照相裝置給出的圖象輸出信號實施陰影修正的方式消除這種不均勻性。因此，可以獲得與對光盤的檢查區(qū)域?qū)嵤┚鶆蛘彰鞯耐瑯咏Y(jié)果，所以即使采用價格低廉的熒光燈作為環(huán)狀照明裝置實施照明，也可以對檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施高精度的檢查。
本發(fā)明第二十九方面，是一種將由兩個光盤基板粘合而形成的光盤的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域，并且對該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施檢查的光盤檢查方法，其具有以位置不動方式將作為檢查對象物的光盤支撐在光盤支撐臺上的工序；對具有光源和從光源給出的照射光束實施擴散的擴散板的、其光軸按照與支撐在所述光盤支撐臺處的所述光盤中心軸相重合的方式實施配置的環(huán)狀照明裝置實施照明，并且將由所述擴散板給出的照射光束從上側(cè)呈環(huán)狀對所述光盤的檢查區(qū)域?qū)嵤┱彰鞯墓ば?；使用其光軸按照與支撐在所述光盤支撐臺處的所述光盤中心軸相重合的方式實施配置的照相裝置，從上側(cè)對該光盤的檢查區(qū)域?qū)嵤┱障嗟墓ば?；利用某一閾值對所述照相裝置給出的圖象輸出信號實施白黑二值化處理的二值化處理工序；將白黑二值化處理后的、與所述光盤檢查區(qū)域相對應的所述圖象輸出信號與某上下閾值進行比較，以判定該檢查區(qū)域中粘接劑是否過多或不足的良好與否判定工序；當取檢查區(qū)域內(nèi)側(cè)直徑為S1，檢查區(qū)域外側(cè)直徑為S2，所述環(huán)狀照明裝置的照明部內(nèi)側(cè)直徑為L1，所述環(huán)狀照明裝置的照明部外側(cè)直徑為L2，所述環(huán)狀照明裝置與所述光盤間的距離為LD，所述照相裝置上的第一主點位置HI與所述光盤間的距離為HD時，按照下述等式對各部件的位置關系實施設定S2×(1-LD/HD)＜L1＜S1×(1+LD/HD)L2＞S2×(1+LD/HD)。
采用這種構(gòu)成形式，可以利用由環(huán)狀照明裝置給出的照射光束對光盤的整個檢查區(qū)域?qū)嵤┚鶆虻卣彰?。而且，對于實施白黑二值化處理后的圖象輸出信號，可以使存在有粘接劑的部分由黑色表示，不存在有粘接劑的部分由白色表示，從而可以對表示存在有粘接劑的部分和不存在有粘接劑的部分的信號實施明確的分離。因此，可以對檢查區(qū)域中粘接劑是否過多或不足實施高精度的檢查。同時，還可以充分確保在光盤與照相裝置之間的工作距離。
本發(fā)明第三十方面，是在第二十九方面所述的光盤檢查方法中，所述良好與否判定工序在所述圖象輸出信號中的白色圖象數(shù)據(jù)低于某一下閾值時，判定其粘接劑過多，所以可以對檢查區(qū)域的粘接劑過多實施高精度地檢查。
本發(fā)明第三十一方面，是在第二十九方面所述的光盤檢查方法中，所述良好與否判定工序在所述圖象輸出信號中的黑色圖象數(shù)據(jù)高于某一上閾值時，判定其粘接劑過多，所以可以對檢查區(qū)域的粘接劑過多實施高精度地檢查。
本發(fā)明第三十二方面，是在第二十九方面所述的光盤檢查方法中，所述良好與否判定工序在所述圖象輸出信號中的白色圖象數(shù)據(jù)高于某一上閾值時，判定其粘接劑不足，所以可以對檢查區(qū)域的粘接劑不足實施高精度地檢查。
本發(fā)明第三十三方面，是在第三十二方面所述的光盤檢查方法中，所述良好與否判定工序用于獲得對應于將白黑二值化處理后的所述光盤檢查區(qū)域沿該光盤半徑方向分割成若干分割檢查區(qū)域相對應的所述圖象輸出信號，并且將該圖象輸出信號與按照在外周側(cè)的所述分割檢查區(qū)域更低的方式設定的上閾值進行比較，在所述圖象輸出信號中的白色圖象數(shù)據(jù)高于任意一個所述分割檢查區(qū)域的上閾值時，判定其粘接劑不足。采用這種構(gòu)成形式，可以對位于光盤外周側(cè)位置處的分割檢查區(qū)域使用更嚴格的基準對粘接劑的不足實施判定。采用這種方式，在單純實施面積對比中，在檢測不出沿光盤半徑方向的粘接劑不足部分的形狀時，可以對這種粘接劑不足實施更可靠地檢查。
本發(fā)明第三十四方面，是在第二十九方面所述的光盤檢查方法中，所述良好與否判定工序在所述圖象輸出信號中的黑色圖象數(shù)據(jù)低于某一下閾值時，判定其粘接劑不足，所以可以對檢查區(qū)域的粘接劑不足實施高精度地檢查。
本發(fā)明第三十五方面，是在第三十四方面所述的光盤檢查方法中，所述良好與否判定工序用于獲得對應于將白黑二值化處理后的所述光盤檢查區(qū)域沿該光盤半徑方向分割成若干分割檢查區(qū)域相對應的所述圖象輸出信號，并且將該圖象輸出信號與按照在外周側(cè)的所述分割檢查區(qū)域更低的方式設定的下閾值進行比較，在所述圖象輸出信號中的黑色圖象數(shù)據(jù)低于任意一個所述分割檢查區(qū)域的下閾值時，判定其粘接劑不足。采用這種構(gòu)成形式，可以對位于光盤外周側(cè)位置處的分割檢查區(qū)域使用更嚴格的基準對粘接劑的不足實施判定。采用這種方式，在單純實施面積對比中，在檢測不出沿光盤半徑方向的粘接劑不足部分的形狀時，可以對這種粘接劑不足實施更可靠地檢查。
本發(fā)明第三十六方面，是一種光盤制造方法，其具有形成粘合型光盤的光盤形成工序，其包括向固定在轉(zhuǎn)動臺處的第一光盤基板上排出粘接劑的階段，將第二光盤基板重合在所述第一光盤基板上的階段，轉(zhuǎn)動驅(qū)動所述轉(zhuǎn)動臺以使位于所述兩個光盤基板間的粘接劑延展的階段，對延展的粘接劑實施硬化處理的階段；檢查工序，其將所述粘合型光盤的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域，并且對該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施檢查。而且所述檢查工序使用第二十九至三十五方面所述的任何一種光盤檢查方法對粘接劑延展質(zhì)量實施檢查。采用這種構(gòu)成形式，可以將由環(huán)狀照明裝置給出的照射光束均勻地投射在通過光盤形成工序形成的光盤的整個檢查區(qū)域上。而且，對于實施白黑二值化處理后的圖象輸出信號，可以使存在有粘接劑的部分由黑色表示，不存在有粘接劑的部分由白色表示。因此，可以對表示存在有粘接劑的部分和不存在有粘接劑的部分的信號實施明確的分離，對檢查區(qū)域中粘接劑是否過多或不足實施高精度的檢查。同時，還可以充分確保在光盤與照相裝置之間的工作距離。
本發(fā)明第三十七方面，是在第三十六方面所述的光盤制造方法中，還具有依據(jù)由所述照相裝置給出的圖象輸出信號對粘接劑的延展質(zhì)量是否良好實施判定的良好與否判定工序；在依據(jù)所述良好與否判定工序的判定結(jié)果為粘接劑延展質(zhì)量出現(xiàn)不良時可以對出現(xiàn)這種不良的所述光盤實施甄選的甄選工序。采用這種構(gòu)成形式，可以通過實施甄選工序，對出現(xiàn)這種粘接劑延展質(zhì)量不良的光盤實施甄選作業(yè)。
本發(fā)明第三十八方面，是一種將由兩個光盤基板粘合而形成的光盤的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域，并且對該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施檢查的粘合型光盤，其利用第二十九至三十五方面所述的任何一種光盤檢查方法對粘接劑延展質(zhì)量實施檢查。采用這種構(gòu)成形式，可以獲得對檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施高精度檢查后的光盤。
本發(fā)明第三十九方面，是一種將由兩個光盤基板粘合而形成的光盤的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域，并且對該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施檢查的粘合型光盤，其利用第二十九至三十五方面所述的任何一種光盤檢查方法對粘接劑延展質(zhì)量實施檢查，并且依據(jù)該檢查結(jié)果，按照粘接劑延展質(zhì)量未出現(xiàn)不良的方式實施甄選。采用這種構(gòu)成形式，可以對檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施高精度檢查，并且依據(jù)該高精度的檢查結(jié)果獲得實施甄選作業(yè)后的光盤。
本發(fā)明第四十方面，是一種將由兩個光盤基板粘合而形成的光盤的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域，并且對該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施檢查的光盤檢查裝置，其具有以位置不動方式對作為檢查對象物的光盤實施支撐的光盤支撐臺；環(huán)狀照明裝置，其具有光源和從光源給出的照射光束實施擴散的擴散板，其光軸按照與支撐在所述光盤支撐臺處的所述光盤中心軸相重合的方式實施配置，并且將由所述擴散板給出的照射光束從上側(cè)呈環(huán)狀對所述光盤的檢查區(qū)域?qū)嵤┱彰?；照相裝置，其光軸按照與支撐在所述光盤支撐臺處的所述光盤中心軸相重合的方式實施配置，從上側(cè)對該光盤的檢查區(qū)域?qū)嵤┱障?；而且還具有檢查機構(gòu)，當取檢查區(qū)域內(nèi)側(cè)直徑為S1，檢查區(qū)域外側(cè)直徑為S2，所述環(huán)狀照明裝置的照明部內(nèi)側(cè)直徑為L1，所述環(huán)狀照明裝置的照明部外側(cè)直徑為L2，所述環(huán)狀照明裝置與所述光盤間的距離為LD，所述照相裝置上的第一主點位置HI與所述光盤間的距離為HD時，其按照下述等式S2×(1-LD/HD)＜L1＜S1×(1+LD/HD)L2＞S2×(1+LD/HD)對各部件的位置關系實施設定；二值化處理裝置，其利用某一閾值對所述照相裝置給出的圖象輸出信號實施白黑二值化處理；良好與否判定裝置，其依據(jù)白黑二值化處理后的、與所述光盤檢查區(qū)域相對應的所述圖象輸出信號對該檢查區(qū)域中的粘接劑是否形狀不良實施判定。采用這種構(gòu)成形式，可以將由環(huán)狀照明裝置給出的照射光束均勻地投射在光盤的整個檢查區(qū)域上。而且，對于實施白黑二值化處理后的圖象輸出信號，可以使存在有粘接劑的部分由黑色表示，不存在有粘接劑的部分由白色表示。因此，可以對表示存在有粘接劑的部分和不存在有粘接劑的部分的信號實施明確的分離。通過這種方式，可以對該檢查區(qū)域的粘接劑是否形狀不良實施高精度的檢查。同時，還可以充分確保在光盤與照相裝置之間的工作距離。
本發(fā)明第四十一方面，是在第四十方面所述的光盤檢查裝置中，所述良好與否判定裝置對位于所述光盤檢查區(qū)域中的圓周軌跡上的所述圖象輸出信號出現(xiàn)急劇變化的邊緣部分實施檢測，當該邊緣部分數(shù)目大于某閾值時，判定所述光盤檢查區(qū)域中的粘接劑為形狀不良。采用這種構(gòu)成形式，對于沿光盤半徑方向粘接劑出現(xiàn)不足部分形狀時，可以對這種粘接劑不足實施可靠地檢測。
本發(fā)明第四十二方面，是在第四十方面所述的光盤檢查裝置中，所述良好與否判定裝置對位于所述光盤檢查區(qū)域中由白色數(shù)據(jù)構(gòu)成的團塊部分實施檢測，當由白色數(shù)據(jù)構(gòu)成的該團塊部分數(shù)目大于某閾值時，判定所述光盤檢查區(qū)域中的粘接劑為形狀不良。采用這種構(gòu)成形式，可以對于在檢查區(qū)域出現(xiàn)氣泡時，對這種現(xiàn)象實施可靠地檢測。
本發(fā)明第四十三方面，是在第四十方面所述的光盤檢查裝置中，還具有依據(jù)所述良好與否判定裝置的判定結(jié)果實施信息報告的報告裝置，所以可以依據(jù)報告裝置所報告的判定結(jié)果，使觀察者能夠更容易地對光盤是否良好實施識別。
本發(fā)明第四十四方面，是在第四十三方面所述的光盤檢查裝置中，所述報告裝置將所述良好與否判定裝置的判定結(jié)果顯示輸出至顯示器，所以可以使光盤是否良好一目了然。
本發(fā)明第四十五方面，是在第四十方面所述的光盤檢查裝置中，對所述光盤支撐臺上至少與所述光盤檢查區(qū)域相對應的區(qū)域?qū)嵤┑头瓷涮幚?，所以可以對檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施更高精度的檢查。
本發(fā)明第四十六方面，是在第四十方面所述的光盤檢查裝置中，用于所述環(huán)狀照明裝置中的所述光源為發(fā)光二極管(LED)，所以可以減小環(huán)狀照明裝置的厚度，確保在光盤與照相裝置之間具有更大的工作距離。而且，采用發(fā)光二極管(LED)的環(huán)狀照明裝置具有更高的輝度均勻性，所以可以對光盤上的檢查區(qū)域?qū)嵤└鶆虻恼彰鳌?br> 本發(fā)明第四十七方面，是在第四十六方面所述的光盤檢查裝置中，所述發(fā)光二極管(LED)的光軸朝向所述環(huán)狀照明裝置的內(nèi)周方向，所以可以減小發(fā)光二極管(LED)由環(huán)狀照明裝置朝向光束照射方向的尺寸，并且可以減小環(huán)狀照明裝置的厚度。因此，可以確保在光盤與照相裝置之間具有更大的工作距離。
本發(fā)明第四十八方面，是在第四十六方面所述的光盤檢查裝置中，用于所述環(huán)狀照明裝置中的光源為彎曲成環(huán)狀的熒光燈，所以可以采用價格低廉的照明裝置對光盤上的整個檢查區(qū)域?qū)嵤┐篌w均勻的照明。
本發(fā)明第四十九方面，是在第四十八方面所述的光盤檢查裝置中，還具有對于所述照相裝置給出的圖象輸出信號實施用于修正所述環(huán)狀照明裝置的輝度不均勻的陰影修正的陰影修正裝置，所以即使彎曲成環(huán)狀的熒光燈在其電極部分處輝度不可避免地產(chǎn)生有急劇下降，也可以通過對照相裝置給出的圖象輸出信號實施陰影修正的方式消除這種不均勻性。因此，可以獲得與對光盤的檢查區(qū)域?qū)嵤┚鶆蛘彰鞯耐瑯咏Y(jié)果，所以即使采用價格低廉的熒光燈作為環(huán)狀照明裝置實施照明，也可以對檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施高精度的檢查。
本發(fā)明第五十方面，是一種將由兩個光盤基板粘合而形成的光盤的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域，并且對該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施檢查的光盤檢查方法，其具有以位置不動方式將作為檢查對象物的光盤支撐在光盤支撐臺上的工序；對具有光源和從光源給出的照射光束實施擴散的擴散板的、其光軸按照與支撐在所述光盤支撐臺處的所述光盤中心軸相重合的方式實施配置的環(huán)狀照明裝置實施照明，并且將由所述擴散板給出的照射光束從上側(cè)呈環(huán)狀對所述光盤的檢查區(qū)域?qū)嵤┱彰鞯墓ば颍皇褂闷涔廨S按照與支撐在所述光盤支撐臺處的所述光盤中心軸相重合的方式實施配置的照相裝置，從上側(cè)對該光盤的檢查區(qū)域?qū)嵤┱障嗟墓ば?；利用某一閾值對所述照相裝置給出的圖象輸出信號實施白黑二值化處理的二值化處理工序；依據(jù)白黑二值化處理后的、與所述光盤檢查區(qū)域相對應的所述圖象輸出信號對該檢查區(qū)域中的粘接劑是否形狀不良實施判定的良好與否判定工序；當取檢查區(qū)域內(nèi)側(cè)直徑為S1，檢查區(qū)域外側(cè)直徑為S2，所述環(huán)狀照明裝置的照明部內(nèi)側(cè)直徑為L1，所述環(huán)狀照明裝置的照明部外側(cè)直徑為L2，所述環(huán)狀照明裝置與所述光盤間的距離為LD，所述照相裝置上的第一主點位置HI與所述光盤間的距離為HD時，按照下述等式對各部件的位置關系實施設定S2×(1-LD/HD)＜L1＜S1×(1+LD/HD)L2＞S2×(1+LD/HD)。
采用這種構(gòu)成形式，可以將由環(huán)狀照明裝置給出的照射光束均勻地投射在光盤的整個檢查區(qū)域上。而且，對于實施白黑二值化處理后的圖象輸出信號，可以使存在有粘接劑的部分由黑色表示，不存在有粘接劑的部分由白色表示，從而可以對表示存在有粘接劑的部分和不存在有粘接劑的部分的信號實施明確的分離。通過這種方式，可以對該檢查區(qū)域的粘接劑是否形狀不良實施高精度的檢查。同時，還可以充分確保在光盤與照相裝置之間的工作距離。
本發(fā)明提供的第五十一方面，是在第五十方面所述的光盤檢查方法中，所述良好與否判定工序?qū)ξ挥谒龉獗P檢查區(qū)域中的圓周軌跡上的所述圖象輸出信號出現(xiàn)急劇變化的邊緣部分實施檢測，當該邊緣部分數(shù)目大于某閾值時，判定所述光盤檢查區(qū)域中的粘接劑為形狀不良。采用這種構(gòu)成形式，對于沿光盤半徑方向粘接劑出現(xiàn)不足部分形狀時，可以對這種粘接劑不足實施可靠地檢測。
本發(fā)明提供的第五十二方面，是在第五十方面所述的光盤檢查方法中，所述良好與否判定工序?qū)ξ挥谒龉獗P檢查區(qū)域中由白色數(shù)據(jù)構(gòu)成的團塊部分實施檢測，當由白色數(shù)據(jù)構(gòu)成的該團塊部分數(shù)目大于某閾值時，判定所述光盤檢查區(qū)域中的粘接劑為形狀不良。采用這種構(gòu)成形式，可以對于在檢查區(qū)域出現(xiàn)氣泡時，對這種現(xiàn)象實施可靠地檢測。
本發(fā)明提供的第五十三方面，是一種光盤制造方法，其具有形成粘合型光盤的光盤形成工序，其包括向固定在轉(zhuǎn)動臺處的第一光盤基板上排出粘接劑的階段，將第二光盤基板重合在所述第一光盤基板上的階段，轉(zhuǎn)動驅(qū)動所述轉(zhuǎn)動臺以使位于所述兩個光盤基板間的粘接劑延展的階段，對延展的粘接劑實施硬化處理的階段；檢查工序，其將所述粘合型光盤的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域，并且對該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施檢查。而且所述檢查工序使用第五十至五十二方面所述的任何一種光盤檢查方法對粘接劑延展質(zhì)量實施檢查。
采用這種構(gòu)成形式，可以將由環(huán)狀照明裝置給出的照射光束對通過光盤形成工序形成的光盤的整個檢查區(qū)域?qū)嵤┚鶆虻卣彰?。而且，對于實施白黑二值化處理后的圖象輸出信號，可以使存在有粘接劑的部分由黑色表示，不存在有粘接劑的部分由白色表示，從而可以對表示存在有粘接劑的部分和不存在有粘接劑的部分的信號實施明確的分離。通過這種方式，可以對該檢查區(qū)域的粘接劑是否形狀不良實施高精度的檢查。同時，還可以充分確保在光盤與照相裝置之間的工作距離。
本發(fā)明提供的第五十四方面，是在第五十三方面所述的光盤制造方法中，還具有依據(jù)由所述照相裝置給出的圖象輸出信號對粘接劑的延展質(zhì)量是否良好實施判定的工序；在依據(jù)對所述粘接劑延展質(zhì)量良好與否實施判定的工序給出的判定結(jié)果為粘接劑延展質(zhì)量出現(xiàn)不良時可以對出現(xiàn)這種不良的所述光盤實施甄選的甄選工序，所以可以通過實施甄選工序，對出現(xiàn)這種粘接劑延展質(zhì)量不良的光盤實施甄選作業(yè)。
本發(fā)明提供的第五十五方面，是一種將由兩個光盤基板粘合而形成的光盤的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域，并且對該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施檢查的粘合型光盤，其利用第五十至五十二方面所述的任何一種光盤檢查方法對粘接劑延展質(zhì)量實施檢查。采用這種構(gòu)成形式，可以獲得對檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施高精度檢查后的光盤。
本發(fā)明提供的第五十六方面，是一種將由兩個光盤基板粘合而形成的光盤的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域，并且對該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施檢查的粘合型光盤，其利用第五十至五十二方面所述的任何一種光盤檢查方法對粘接劑延展質(zhì)量實施檢查，并且依據(jù)該檢查結(jié)果，按照粘接劑延展質(zhì)量未出現(xiàn)不良的方式實施甄選。采用這種構(gòu)成形式，可以獲得對檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施高精度檢查，并且依據(jù)該高精度的檢查結(jié)果實施甄選作業(yè)后的光盤。
本發(fā)明提供的第五十七方面，是一種將由兩個光盤基板粘合而形成的光盤的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域，并且對該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施檢查的光盤檢查裝置，其具有以位置不動方式對作為檢查對象物的光盤實施支撐的光盤支撐臺；環(huán)狀照明裝置，其具有光源和從光源給出的照射光束實施擴散的擴散板，其光軸按照與支撐在所述光盤支撐臺處的所述光盤中心軸相重合的方式實施配置，并且將由所述擴散板給出的照射光束從上側(cè)呈環(huán)狀對所述光盤的檢查區(qū)域?qū)嵤┱彰?；照相裝置，其光軸按照與支撐在所述光盤支撐臺處的所述光盤中心軸相重合的方式實施配置，從上側(cè)對該光盤的檢查區(qū)域?qū)嵤┱障?；而且還具有檢查機構(gòu)，當取檢查區(qū)域內(nèi)側(cè)直徑為S1，檢查區(qū)域外側(cè)直徑為S2，所述環(huán)狀照明裝置的照明部內(nèi)側(cè)直徑為L1，所述環(huán)狀照明裝置的照明部外側(cè)直徑為L2，所述環(huán)狀照明裝置與所述光盤間的距離為LD，所述照相裝置上的第一主點位置HI與所述光盤間的距離為HD時，其按照下述等式S2×(1-LD/HD)＜L1＜S1×(1+LD/HD)L2＞S2×(1+LD/HD)對各部件的位置關系實施設定；二值化處理裝置，其利用某一閾值對所述照相裝置給出的圖象輸出信號實施白黑二值化處理；良好與否判定裝置，其依據(jù)白黑二值化處理后的、與所述光盤檢查區(qū)域相對應的所述圖象輸出信號對該檢查區(qū)域中的粘接劑是否為過多或不足實施判定；推移判定裝置，其對應所述良好與否判定裝置的判定結(jié)果，對檢查狀態(tài)的推移實施判定。
采用這種構(gòu)成形式，可以將由環(huán)狀照明裝置給出的照射光均勻地投射在光盤的整個檢查區(qū)域上。而且，對于實施白黑二值化處理后的圖象輸出信號，可以使存在有粘接劑的部分由黑色表示，不存在有粘接劑的部分由白色表示。因此，可以對表示存在有粘接劑的部分和不存在有粘接劑的部分的信號實施明確的分離。通過這種方式，可以對檢查區(qū)域中粘接劑是否過多或不足實施高精度的檢查。而且，可以對應這種判定結(jié)果判定檢查狀態(tài)的推移。同時，還可以充分確保在光盤與照相裝置之間的工作距離。
本發(fā)明提供的第五十八方面，是在第五十七方面所述的光盤檢查裝置中，所述推移判定裝置采集某些所述良好與否判定裝置的判定結(jié)果并獲得其平均值，對于該平均值位于相對預測平均值設定的某一閾值之外時，判定檢查狀態(tài)出現(xiàn)推移。采用這種構(gòu)成形式，可以參考若干個判定結(jié)果的平均值來判定檢查狀態(tài)的推移，所以可以提高判定精度。
本發(fā)明提供的第五十九方面，是在第五十七方面所述的光盤檢查裝置中，還具有對于所述推移判定裝置判定為檢查狀態(tài)出現(xiàn)推移時，按照促使檢查狀態(tài)復原至理想狀態(tài)的方式對所述二值化處理裝置使用的閾值設定實施變更的第一復原裝置，所以可以容易地由檢查狀態(tài)復原至理想狀態(tài)。
本發(fā)明提供的第六十方面，是在第五十八方面所述的光盤檢查裝置中，還具有對于所述推移判定裝置判定為檢查狀態(tài)出現(xiàn)推移時，按照促使檢查狀態(tài)復原至理想狀態(tài)的方式對所述環(huán)狀照明裝置的輝度設定實施變更的第二復原裝置，所以可以容易地由檢查狀態(tài)復原至理想狀態(tài)。
本發(fā)明提供的第六十一方面，是在第五十八方面所述的光盤檢查裝置中，還具有對于所述推移判定裝置判定為檢查狀態(tài)出現(xiàn)推移時，按照促使檢查狀態(tài)復原至理想狀態(tài)的方式對所述照相裝置實施靜止照相時的光圈設定實施變更的第三復原裝置。采用這種構(gòu)成形式，可以容易地由檢查狀態(tài)復原至理想狀態(tài)。
本發(fā)明提供的第六十二方面，是在第五十八方面所述的光盤檢查裝置中，還具有對于所述推移判定裝置判定為檢查狀態(tài)出現(xiàn)推移時，按照促使檢查狀態(tài)復原至理想狀態(tài)的方式對所述照相裝置實施靜止照相時的快門速度設定實施變更的第四復原裝置。采用這種構(gòu)成形式，可以容易地由檢查狀態(tài)復原至理想狀態(tài)。
本發(fā)明提供的第六十三方面，是在第五十八方面所述的光盤檢查裝置中，還具有對于所述推移判定裝置判定為檢查狀態(tài)出現(xiàn)推移時，按照促使檢查狀態(tài)復原至理想狀態(tài)的方式對所述照相裝置實施靜止照相時的感光度設定實施變更的第五復原裝置，所以可以容易地由檢查狀態(tài)復原至理想狀態(tài)。
本發(fā)明提供的第六十四方面，是在第五十七方面所述的光盤檢查裝置中，還具有依據(jù)所述良好與否判定裝置的判定結(jié)果實施信息報告的報告裝置，所以可以依據(jù)報告裝置所報告的判定結(jié)果，使觀察者能夠更容易地對光盤是否良好實施識別。
本發(fā)明提供的第六十五方面，是在第六十四方面所述的光盤檢查裝置中，所述報告裝置將所述良好與否判定裝置的判定結(jié)果顯示輸出至顯示器，所以可以使光盤是否良好一目了然。
本發(fā)明提供的第六十六方面，是在第五十七方面所述的光盤檢查裝置中，對所述光盤支撐臺上至少與所述光盤檢查區(qū)域相對應的區(qū)域?qū)嵤┑头瓷涮幚恚钥梢詫z查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施更高精度的檢查。
本發(fā)明提供的第六十七方面，是在第五十七方面所述的光盤檢查裝置中，用于所述環(huán)狀照明裝置中的所述光源為發(fā)光二極管(LED)，所以可以減小環(huán)狀照明裝置的厚度，確保在光盤與照相裝置之間具有更大的工作距離。而且，采用發(fā)光二極管(LED)的環(huán)狀照明裝置具有更高的輝度均勻性，所以可以對光盤上的檢查區(qū)域?qū)嵤└鶆虻恼彰鳌?br> 本發(fā)明提供的第六十八方面，是在第六十七方面所述的光盤檢查裝置中，所述發(fā)光二極管(LED)的光軸朝向所述環(huán)狀照明裝置的內(nèi)周方向，所以可以減小發(fā)光二極管(LED)由環(huán)狀照明裝置朝向光束照射方向的尺寸，并且可以減小環(huán)狀照明裝置的厚度。因此，可以確保在光盤與照相裝置之間具有更大的工作距離。
本發(fā)明提供的第六十九方面，是在第五十七方面所述的光盤檢查裝置中，用于所述環(huán)狀照明裝置中的光源為彎曲成環(huán)狀的熒光燈。采用這種構(gòu)成形式，還可以采用價格低廉的照明裝置對光盤上的整個檢查區(qū)域?qū)嵤┐篌w均勻的照明。
本發(fā)明提供的第七十方面，是在第六十九方面所述的光盤檢查裝置中，還具有對于所述照相裝置給出的圖象輸出信號實施用于修正所述環(huán)狀照明裝置的輝度不均勻的陰影修正的陰影修正裝置。采用這種構(gòu)成形式，即使彎曲成環(huán)狀的熒光燈在其電極部分處輝度不可避免地產(chǎn)生有急劇下降，也可以通過對照相裝置給出的圖象輸出信號實施陰影修正的方式消除這種不均勻性。因此，可以獲得與對光盤的檢查區(qū)域?qū)嵤┚鶆蛘彰鞯耐瑯咏Y(jié)果。因此，即使采用價格低廉的熒光燈作為環(huán)狀照明裝置實施照明，也可以對檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施高精度的檢查。
本發(fā)明提供的第七十一方面，是一種將由兩個光盤基板粘合而形成的光盤的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域，并且對該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施檢查的光盤檢查方法，其具有以位置不動方式將作為檢查對象物的光盤支撐在光盤支撐臺上的工序；對具有光源和從光源給出的照射光束實施擴散的擴散板的、其光軸按照與支撐在所述光盤支撐臺處的所述光盤中心軸相重合的方式實施配置的環(huán)狀照明裝置實施照明，并且將由所述擴散板給出的照射光束從上側(cè)呈環(huán)狀對所述光盤的檢查區(qū)域?qū)嵤┱彰鞯墓ば?；使用其光軸按照與支撐在所述光盤支撐臺處的所述光盤中心軸相重合的方式實施配置的照相裝置，從上側(cè)對該光盤的檢查區(qū)域?qū)嵤┱障嗟墓ば?；利用某一閾值對所述照相裝置給出的圖象輸出信號實施白黑二值化處理的二值化處理工序；依據(jù)白黑二值化處理后的、與所述光盤檢查區(qū)域相對應的所述圖象輸出信號對該檢查區(qū)域中的粘接劑是否為過多或不良實施判定的良好與否判定工序；對應所述良好與否判定工序的判定結(jié)果，對檢查狀態(tài)的推移實施判定的推移判定工序；當取檢查區(qū)域內(nèi)側(cè)直徑為S1，檢查區(qū)域外側(cè)直徑為S2，所述環(huán)狀照明裝置的照明部內(nèi)側(cè)直徑為L1，所述環(huán)狀照明裝置的照明部外側(cè)直徑為L2，所述環(huán)狀照明裝置與所述光盤間的距離為LD，所述照相裝置上的第一主點位置HI與所述光盤間的距離為HD時，按照下述等式對各部件的位置關系實施設定S2×(1-LD/HD)＜L1＜S1×(1+LD/HD)L2＞S2×(1+LD/HD)。
采用這種構(gòu)成形式，可以將由環(huán)狀照明裝置給出的照射光束均勻地投射在光盤的整個檢查區(qū)域上。而且，對于實施白黑二值化處理后的圖象輸出信號，可以使存在有粘接劑的部分由黑色表示，不存在有粘接劑的部分由白色表示，從而可以對表示存在有粘接劑的部分和不存在有粘接劑的部分的信號實施明確的分離。通過這種方式，可以對檢查區(qū)域中粘接劑是否過多或不足實施高精度的檢查。而且，可以對應這種判定結(jié)果判定檢查狀態(tài)的推移。同時，還可以充分確保在光盤與照相裝置之間的工作距離。
本發(fā)明提供的第七十二方面，是在第七十一方面所述的光盤檢查方法中，所述推移判定工序采集某些所述良好與否判定裝置的判定結(jié)果并獲得其平均值，對于該平均值位于相對預測平均值在某一閾值之外時，判定檢查狀態(tài)出現(xiàn)推移。采用這種構(gòu)成形式，可以參考若干個判定結(jié)果的平均值來判定檢查狀態(tài)的推移，所以可以提高判定精度。
本發(fā)明提供的第七十三方面，是在第七十二方面所述的光盤檢查方法中，還具有對于所述推移判定工序判定為檢查狀態(tài)出現(xiàn)推移時，按照促使檢查狀態(tài)復原至理想狀態(tài)的方式對所述二值化處理裝置使用的閾值設定實施變更的第一復原工序。采用這種構(gòu)成形式，可以容易地由檢查狀態(tài)復原至理想狀態(tài)。
本發(fā)明提供的第七十四方面，是在第七十二方面所述的光盤檢查方法中，還具有在所述推移判定工序判定為檢查狀態(tài)出現(xiàn)推移時，按照促使檢查狀態(tài)復原至理想狀態(tài)的方式對所述環(huán)狀照明裝置的輝度設定實施變更的第二復原工序，所以可以容易地由檢查狀態(tài)復原至理想狀態(tài)。
本發(fā)明提供的第七十五方面，是在第七十二方面所述的光盤檢查方法中，還具有對于所述推移判定工序判定為檢查狀態(tài)出現(xiàn)推移時，按照促使檢查狀態(tài)復原至理想狀態(tài)的方式對所述照相裝置實施靜止照相時的光圈設定實施變更的第三復原工序，所以可以容易地由檢查狀態(tài)復原至理想狀態(tài)。
本發(fā)明提供的第七十六方面，是在第七十二方面所述的光盤檢查方法中，還具有對于所述推移判定工序判定為檢查狀態(tài)出現(xiàn)推移時，按照促使檢查狀態(tài)復原至理想狀態(tài)的方式對所述照相裝置實施靜止照相時的快門速度設定實施變更的第四復原工序，所以可以容易地由檢查狀態(tài)復原至理想狀態(tài)。
本發(fā)明提供的第七十七方面，是在第七十二方面所述的光盤檢查方法中，還具有對于所述推移判定工序判定為檢查狀態(tài)出現(xiàn)推移時，按照促使檢查狀態(tài)復原至理想狀態(tài)的方式對所述照相裝置實施靜止照相時的感光度設定實施變更的第五復原工序，所以可以容易地由檢查狀態(tài)復原至理想狀態(tài)。
本發(fā)明提供的第七十八方面，是一種光盤制造方法，其具有形成粘合型光盤的光盤形成工序，其包括向固定在轉(zhuǎn)動臺處的第一光盤基板上排出粘接劑的階段，將第二光盤基板重合在所述第一光盤基板上的階段，轉(zhuǎn)動驅(qū)動所述轉(zhuǎn)動臺以使位于所述兩個光盤基板間的粘接劑延展的階段，對延展的粘接劑實施硬化處理的階段；檢查工序，其將所述粘合型光盤的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域，并且對該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施檢查。而且所述檢查工序使用第七十一至七十七方面所述的任何一種光盤檢查方法對粘接劑延展質(zhì)量實施檢查。
采用這種構(gòu)成形式，可以將由環(huán)狀照明裝置給出的照射光束均勻地投射在光盤的整個檢查區(qū)域上，而且，對于實施白黑二值化處理后的圖象輸出信號，可以使存在有粘接劑的部分由黑色表示，不存在有粘接劑的部分由白色表示，從而可以對表示存在有粘接劑的部分和不存在有粘接劑的部分的信號實施明確的分離。通過這種方式，可以對檢查區(qū)域中粘接劑是否過多或不足實施高精度的檢查。而且，可以對應這種判定結(jié)果判定檢查狀態(tài)的推移。同時，還可以充分確保在光盤與照相裝置之間的工作距離。
本發(fā)明提供的第七十九方面，是在第七十八方面所述的光盤制造方法中，還具有依據(jù)由所述照相裝置給出的圖象輸出信號對粘接劑的延展質(zhì)量是否良好實施判定的工序；在依據(jù)對所述粘接劑延展質(zhì)量良好與否實施判定的工序給出的判定結(jié)果為粘接劑延展質(zhì)量出現(xiàn)不良時可以對出現(xiàn)這種不良的所述光盤實施甄選的甄選工序。采用這種構(gòu)成形式，可以通過實施甄選工序，對出現(xiàn)這種粘接劑延展質(zhì)量不良的光盤實施甄選作業(yè)。
本發(fā)明提供的第八十方面，是一種將由兩個光盤基板粘合而形成的光盤的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域，并且對該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施檢查的粘合型光盤，其利用第七十一至七十七方面所述的任何一種光盤檢查方法對粘接劑延展質(zhì)量實施檢查。采用這種構(gòu)成形式，可以獲得對檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施高精度檢查后的光盤。
本發(fā)明提供的第八十一方面，是一種將由兩個光盤基板粘合而形成的光盤的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域，并且對該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施檢查的粘合型光盤，其利用第七十一至七十七方面所述的任何一種光盤檢查方法對粘接劑延展質(zhì)量實施檢查，并且依據(jù)該檢查結(jié)果，按照粘接劑延展質(zhì)量未出現(xiàn)不良的方式實施甄選。采用這種構(gòu)成形式，可以獲得對檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施高精度檢查，并且依據(jù)該高精度的檢查結(jié)果實施甄選作業(yè)后的光盤。
本發(fā)明提供的第八十二方面，是一種將由通過旋轉(zhuǎn)涂布裝置供給的粘接劑對兩個光盤基板實施粘合而形成的光盤的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域，并且對該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施檢查的光盤檢查裝置，其具有以位置不動方式對作為檢查對象物的光盤實施支撐的光盤支撐臺；環(huán)狀照明裝置，其具有光源和從光源給出的照射光束實施擴散的擴散板，其光軸按照與支撐在所述光盤支撐臺處的所述光盤中心軸相重合的方式實施配置，并且將由所述擴散板給出的照射光束從上側(cè)呈環(huán)狀對所述光盤的檢查區(qū)域?qū)嵤┱彰?；照相裝置，其光軸按照與支撐在所述光盤支撐臺處的所述光盤中心軸相重合的方式實施配置，從上側(cè)對該光盤的檢查區(qū)域?qū)嵤┱障?；而且還具有檢查機構(gòu)，當取檢查區(qū)域內(nèi)側(cè)直徑為S1，檢查區(qū)域外側(cè)直徑為S2，所述環(huán)狀照明裝置的照明部內(nèi)側(cè)直徑為L1，所述環(huán)狀照明裝置的照明部外側(cè)直徑為L2，所述環(huán)狀照明裝置與所述光盤間的距離為LD，所述照相裝置上的第一主點位置HI與所述光盤間的距離為HD時，按照下述等式S2×(1-LD/HD)＜L1＜S1×(1+LD/HD)L2＞S2×(1+LD/HD)對各部件的位置關系實施設定；二值化處理裝置，其利用某一閾值對所述照相裝置給出的圖象輸出信號實施白黑二值化處理；良好與否判定裝置，其依據(jù)白黑二值化處理后的、與所述光盤檢查區(qū)域相對應的所述圖象輸出信號對該檢查區(qū)域中的粘接劑是否為過多或不足實施判定；設定值變更裝置，其在所述良好與否判定裝置判定為在所述光盤檢查區(qū)域中出現(xiàn)粘接劑過多或不足的結(jié)果時，按照消除這種過多或不足現(xiàn)象的方式對與所述旋轉(zhuǎn)涂布裝置的驅(qū)動相關的設定值實施變更。采用這種構(gòu)成形式，可以將由環(huán)狀照明裝置給出的照射光束均勻地投射在光盤的整個檢查區(qū)域上，而且對于實施白黑二值化處理后的圖象輸出信號，可以使存在有粘接劑的部分由黑色表示，不存在有粘接劑的部分由白色表示，從而可以對表示存在有粘接劑的部分和不存在有粘接劑的部分的信號實施明確的分離。通過這種方式，可以對檢查區(qū)域中粘接劑是否過多或不足實施高精度的檢查。而且，對于判定結(jié)果為光盤檢查區(qū)域出現(xiàn)粘接劑過多或不足時，可以按照消除這種過多或不足現(xiàn)象的方式，對與旋轉(zhuǎn)涂布裝置的驅(qū)動相關的設定值實施變更，由此通過這種方式消除粘接劑的過多或不足問題。同時，還可以充分確保在光盤與照相裝置之間的工作距離。
本發(fā)明提供的第八十三方面，是在第八十二方面所述的光盤檢查裝置中，所述良好與否判定裝置采集某些所述良好與否判定裝置的判定結(jié)果并獲得其平均值，對于該平均值位于相對預測平均值在某一閾值之外時，判定所述光盤檢查區(qū)域中的粘接劑出現(xiàn)過多或不足現(xiàn)象。采用這種構(gòu)成形式，還可以依據(jù)若干個判定結(jié)果的平均值對粘接劑過多或不足實施判定，所以可以提高判定精度。
本發(fā)明提供的第八十四方面，是在第八十二或八十三方面所述的光盤檢查裝置中，所述設定值變更裝置變更的設定值為對所述旋轉(zhuǎn)涂布裝置的粘接劑排出量實施變更的值，所以可以通過對旋轉(zhuǎn)涂布裝置的粘接劑排出量實施調(diào)節(jié)的方式，消除粘接劑的過多或不足現(xiàn)象。
本發(fā)明提供的第八十五方面，是在第八十二或八十三方面所述的光盤檢查裝置中，所述設定值變更裝置變更的設定值為沿著所述兩個光盤基板的半徑方向?qū)λ鲂D(zhuǎn)涂布裝置的粘接劑排出位置實施變更的值，所以可以通過對旋轉(zhuǎn)涂布裝置的粘接劑排出位置實施調(diào)節(jié)的方式，消除粘接劑的過多或不足現(xiàn)象。
本發(fā)明提供的第八十六方面，是在第八十二或八十三方面所述的光盤檢查裝置中，所述設定值變更裝置變更的設定值為對粘接劑涂布之后的所述兩個光盤基板的轉(zhuǎn)動速度實施變更的值，所以可以通過對光盤基板的轉(zhuǎn)動速度實施調(diào)節(jié)的方式，消除粘接劑的過多或不足現(xiàn)象。
本發(fā)明提供的第八十七方面，是在第八十二方面所述的光盤檢查裝置中，還具有依據(jù)所述良好與否判定裝置的判定結(jié)果實施信息報告的報告裝置，所以可以依據(jù)報告裝置所報告的判定結(jié)果，使觀察者能夠更容易地對光盤是否良好實施識別。
本發(fā)明提供的第八十八方面，是在第八十七方面所述的光盤檢查裝置中，所述報告裝置將所述良好與否判定裝置的判定結(jié)果顯示輸出至顯示器，所以可以使光盤是否良好一目了然。
本發(fā)明提供的第八十九方面，是在第八十二方面所述的光盤檢查裝置中，對所述光盤支撐臺上至少與所述光盤檢查區(qū)域相對應的區(qū)域?qū)嵤┑头瓷涮幚恚钥梢詫z查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施更高精度的檢查。
本發(fā)明提供的第九十方面，是在第八十二方面所述的光盤檢查裝置中，用于所述環(huán)狀照明裝置中的所述光源為發(fā)光二極管(LED)，所以可以減小環(huán)狀照明裝置的厚度，確保在光盤與照相裝置之間具有更大的工作距離。而且，采用發(fā)光二極管(LED)的環(huán)狀照明裝置具有更高的輝度均勻性，所以可以對光盤上的檢查區(qū)域?qū)嵤└鶆虻恼彰鳌?br> 本發(fā)明提供的第九十一方面，是在第九十方面所述的光盤檢查裝置中，所述發(fā)光二極管(LED)的光軸朝向所述環(huán)狀照明裝置的內(nèi)周方向，所以可以減小發(fā)光二極管(LED)由環(huán)狀照明裝置朝向光束照射方向的尺寸，并且可以減小環(huán)狀照明裝置的厚度。因此，可以確保在光盤與照相裝置之間具有更大的工作距離。
本發(fā)明提供的第九十二方面，是在第八十二方面所述的光盤檢查裝置中，用于所述環(huán)狀照明裝置中的光源為彎曲成環(huán)狀的熒光燈，所以可以采用價格低廉的照明裝置對光盤上的整個檢查區(qū)域?qū)嵤┐篌w均勻的照明。
本發(fā)明提供的第九十三方面，是在第九十二方面所述的光盤檢查裝置中，還具有對于所述照相裝置給出的圖象輸出信號實施用于修正所述環(huán)狀照明裝置的輝度不均勻的陰影修正的陰影修正裝置。采用這種構(gòu)成形式，即使彎曲成環(huán)狀的熒光燈在其電極部分處輝度不可避免地產(chǎn)生有急劇下降，也可以通過對照相裝置給出的圖象輸出信號實施陰影修正的方式消除這種不均勻性，從而可以獲得與對光盤的檢查區(qū)域?qū)嵤┚鶆蛘彰鞯耐瑯咏Y(jié)果。因此，即使采用價格低廉的熒光燈作為環(huán)狀照明裝置實施照明，也可以對檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施高精度的檢查。
本發(fā)明提供的第九十四方面，是一種將由通過旋轉(zhuǎn)涂布裝置供給的粘接劑對兩個光盤基板實施粘合而形成的光盤的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域，并且對該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施檢查的光盤檢查方法，其具有以位置不動方式將作為檢查對象物的光盤支撐在光盤支撐臺上的工序；對具有光源和從光源給出的照射光束實施擴散的擴散板的、其光軸按照與支撐在所述光盤支撐臺處的所述光盤中心軸相重合的方式實施配置的環(huán)狀照明裝置實施照明，并且將由所述擴散板給出的照射光束從上側(cè)呈環(huán)狀對所述光盤的檢查區(qū)域?qū)嵤┱彰鞯墓ば?；使用其光軸按照與支撐在所述光盤支撐臺處的所述光盤中心軸相重合的方式實施配置的照相裝置，從上側(cè)對該光盤的檢查區(qū)域?qū)嵤┱障嗟墓ば?；利用某一閾值對所述照相裝置給出的圖象輸出信號實施白黑二值化處理的二值化處理工序；依據(jù)白黑二值化處理后的、與所述光盤檢查區(qū)域相對應的所述圖象輸出信號對該檢查區(qū)域中的粘接劑是否為過多或不良實施判定的良好與否判定工序；對于所述良好與否判定裝置判定為在所述光盤檢查區(qū)域中出現(xiàn)粘接劑過多或不足的結(jié)果時，按照消除這種過多或不足現(xiàn)象的方式對與所述旋轉(zhuǎn)涂布裝置的驅(qū)動相關的設定值實施變更的設定值變更工序；當取檢查區(qū)域內(nèi)側(cè)直徑為S1，檢查區(qū)域外側(cè)直徑為S2，所述環(huán)狀照明裝置的照明部內(nèi)側(cè)直徑為L1，所述環(huán)狀照明裝置的照明部外側(cè)直徑為L2，所述環(huán)狀照明裝置與所述光盤間的距離為LD，所述照相裝置上的第一主點位置HI與所述光盤間的距離為HD時，按照下述等式對各部件的位置關系實施設定S2×(1-LD/HD)＜L1＜S1×(1+LD/HD)
L2＞S2×(1+LD/HD)。
采用這種構(gòu)成形式，可以將由環(huán)狀照明裝置給出的照射光束均勻地投射在光盤的整個檢查區(qū)域上。而且，對實施白黑二值化處理后的圖象輸出信號，可以使存在有粘接劑的部分由黑色表示，不存在有粘接劑的部分由白色表示，從而可以對表示存在有粘接劑的部分和不存在有粘接劑的部分的信號實施明確的分離，進而可以對檢查區(qū)域中粘接劑是否過多或不足實施高精度的檢查。而且，對于判定結(jié)果為光盤檢查區(qū)域出現(xiàn)粘接劑過多或不足時，按照消除這種過多或不足現(xiàn)象的方式，對與旋轉(zhuǎn)涂布裝置的驅(qū)動相關的設定值實施變更，由此通過這種方式消除粘接劑的過多或不足問題。同時，還可以充分確保在光盤與照相裝置之間的工作距離。
本發(fā)明提供的第九十五方面，是在第九十四方面所述的光盤檢查方法中，所述良好與否判定工序采集某些判定結(jié)果并獲得其平均值，該平均值相對于預測平均值位于某一閾值之外時，判定所述光盤檢查區(qū)域中的粘接劑出現(xiàn)過多或不足現(xiàn)象。采用這種構(gòu)成形式，還可以依據(jù)若干個判定結(jié)果的平均值對粘接劑過多或不足實施判定，所以可以提高判定精度。
本發(fā)明提供的第九十六方面，是在第九十四或九十五方面所述的光盤檢查方法中，所述設定值變更工序變更的設定值為對所述旋轉(zhuǎn)涂布裝置的粘接劑排出量實施變更的值，所以可以通過對旋轉(zhuǎn)涂布裝置的粘接劑排出量實施調(diào)節(jié)的方式，消除粘接劑的過多或不足現(xiàn)象。
本發(fā)明提供的第九十七方面，是在第九十四或九十五方面所述的光盤檢查方法，所述設定值變更工序變更的設定值為沿著所述兩個光盤基板的半徑方向?qū)λ鲂D(zhuǎn)涂布裝置的粘接劑排出位置實施變更的值，所以可以通過對旋轉(zhuǎn)涂布裝置的粘接劑排出位置實施調(diào)節(jié)的方式，消除粘接劑的過多或不足現(xiàn)象。
本發(fā)明提供的第九十八方面，是在第九十四或九十五方面所述的光盤檢查方法中，所述設定值變更工序變更的設定值為對粘接劑涂布之后的所述兩個光盤基板的轉(zhuǎn)動速度實施變更的值，所以可以通過對光盤基板的轉(zhuǎn)動速度實施調(diào)節(jié)的方式，消除粘接劑的過多或不足現(xiàn)象。
本發(fā)明提供的第九十九方面，是一種光盤制造方法，其具有形成粘合型光盤的光盤形成工序，其包括向固定在轉(zhuǎn)動臺處的第一光盤基板上排出粘接劑的階段，將第二光盤基板重合在所述第一光盤基板上的階段，轉(zhuǎn)動驅(qū)動所述轉(zhuǎn)動臺以使位于所述兩個光盤基板間的粘接劑延展的階段，對延展的粘接劑實施硬化處理的階段；檢查工序，其將所述粘合型光盤的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域，并且對該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施檢查。而且所述檢查工序使用第九十四至九十八方面所述的任何一種光盤檢查方法對粘接劑延展質(zhì)量實施檢查，所以可以將由環(huán)狀照明裝置給出的照射光束均勻地投射在光盤的整個檢查區(qū)域上。而且，對于實施白黑二值化處理后的圖象輸出信號，可以使存在有粘接劑的部分由黑色表示，不存在有粘接劑的部分由白色表示，從而可以對表示存在有粘接劑的部分和不存在有粘接劑的部分的信號實施明確的分離。通過這種方式，可以對檢查區(qū)域中粘接劑是否過多或不足實施高精度的檢查。而且，對于判定結(jié)果為光盤檢查區(qū)域出現(xiàn)粘接劑過多或不足時，可以按照消除這種過多或不足現(xiàn)象的方式，對與旋轉(zhuǎn)涂布裝置的粘接劑供給量實施調(diào)節(jié)，進而通過這種方式消除粘接劑的過多或不足問題。同時，還可以充分確保在光盤與照相裝置之間的工作距離。
本發(fā)明提供的第一百方面，是在第九十九方面所述的光盤制造方法中，還具有依據(jù)由所述照相裝置給出的圖象輸出信號對粘接劑的延展質(zhì)量是否良好實施判定的工序；在依據(jù)對所述粘接劑延展質(zhì)量良好與否實施判定的工序給出的判定結(jié)果為粘接劑延展質(zhì)量出現(xiàn)不良時可以對出現(xiàn)這種不良的所述光盤實施甄選的甄選工序。所以可以通過實施甄選工序，對出現(xiàn)這種粘接劑延展質(zhì)量不良的光盤實施甄選作業(yè)。
本發(fā)明提供的第一百零一方面，是一種將由兩個光盤基板粘合而形成的光盤的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域，并且對該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施檢查的粘合型光盤，其利用第九十四至九十八方面所述的任何一種光盤檢查方法對粘接劑延展質(zhì)量實施檢查，所以可以獲得對檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施高精度檢查后的光盤。
本發(fā)明提供的第一百零二方面，是一種將由兩個光盤基板粘合而形成的光盤的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域，并且對該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施檢查的粘合型光盤，其利用第九十四至九十八方面所述的任何一種光盤檢查方法對粘接劑延展質(zhì)量實施檢查，并且依據(jù)該檢查結(jié)果，按照粘接劑延展質(zhì)量未出現(xiàn)不良的方式實施甄選，所以可以獲得對檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施高精度檢查，并且依據(jù)該高精度的檢查結(jié)果實施甄選作業(yè)后的光盤。
而且，本發(fā)明的實施方式并不僅限于如上所述的形式，通過如下所述的權利要求保護范圍所記載的內(nèi)容，還可以導出其它許多形式的實施形式。
本申請是以下述申請為基礎的，這些申請中的內(nèi)容以引用的形式引入在本發(fā)明中日本特愿2002-224855號，日本特愿2002-224889號，日本特愿2002-225016號，日本特愿2002-225017號，日本特愿2002-225018號，日本特愿2002-289561號，日本特愿2002-289562號，日本特愿2002-289600號，日本特愿2002-289609號，日本特愿2002-303245號，日本特愿2003-174796號，日本特愿2003-174797號，日本特愿2003-174798號，日本特愿2003-174799號，日本特愿2003-174800號，這些申請的申請日分別為2002年8月1日，2002年8月1日，2002年8月1日，2002年8月1日，2002年8月1日，2002年10月2日，2002年10月2日，2002年10月2日，2002年10月2日，2002年10月17日，2003年6月19日，2003年6月19日，2003年6月19日，2003年6月19日，2003年6月19日。
權利要求
1.一種光盤制造方法，其特征在于，具有形成粘合型光盤的光盤形成工序，其包括向固定在轉(zhuǎn)動臺處的第一光盤基板上排出粘接劑的階段，將第二光盤基板重合在所述第一光盤基板上的階段，轉(zhuǎn)動驅(qū)動所述轉(zhuǎn)動臺以使位于所述兩個光盤基板間的粘接劑延展的階段，對延展的粘接劑實施硬化處理的階段；檢查工序，其將所述粘合型光盤的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域，并且對該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施檢查；而且所述檢查工序使用如下的光盤檢查方法，對粘接劑延展質(zhì)量實施檢查，即，該光盤檢查方法，具有以位置不動方式將作為檢查對象物的光盤支撐在光盤支撐臺上用的步驟；對具有光源和從光源給出的照射光束實施擴散的擴散板的、其光軸按照與支撐在所述光盤支撐臺處的所述光盤中心軸相重合的方式實施配置的環(huán)狀照明裝置實施照明，并且將由所述擴散板給出的照射光束從上側(cè)呈環(huán)狀對所述光盤的檢查區(qū)域?qū)嵤┱彰鞯牟襟E；使用其光軸按照與支撐在所述光盤支撐臺處的所述光盤中心軸相重合的方式實施配置的照相裝置，從上側(cè)對該光盤的檢查區(qū)域?qū)嵤┱障嗟牟襟E；當取檢查區(qū)域內(nèi)側(cè)直徑為S1，檢查區(qū)域外側(cè)直徑為S2，所述環(huán)狀照明裝置的照明部內(nèi)側(cè)直徑為L1，所述環(huán)狀照明裝置的照明部外側(cè)直徑為L2，所述環(huán)狀照明裝置與所述光盤間的距離為LD，所述照相裝置上的第一主點位置HI與所述光盤間的距離為HD時，滿足S2×(1-LD/HD)＜L1＜S1×(1+LD/HD)L2＞S2×(1+LD/HD)。
2.一種光盤制造方法，其特征在于，具有形成粘合型光盤的光盤形成工序，其包括向固定在轉(zhuǎn)動臺處的第一光盤基板上排出粘接劑的階段，將第二光盤基板重合在所述第一光盤基板上的階段，轉(zhuǎn)動驅(qū)動所述轉(zhuǎn)動臺以使位于所述兩個光盤基板間的粘接劑延展的階段，對延展的粘接劑實施硬化處理的階段；檢查工序，其將所述粘合型光盤的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域，并且對該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施檢查；而且所述檢查工序使用如下的光盤檢查方法，對粘接劑延展質(zhì)量實施檢查，即，該光盤檢查方法，具有以位置不動方式將作為檢查對象物的光盤支撐在光盤支撐臺上用的步驟；對具有光源和從光源給出的照射光束實施擴散的擴散板的、其光軸按照與支撐在所述光盤支撐臺處的所述光盤中心軸相重合的方式實施配置的環(huán)狀照明裝置實施照明，并且將由所述擴散板給出的照射光束從上側(cè)呈環(huán)狀對所述光盤的檢查區(qū)域?qū)嵤┱彰鞯牟襟E；通過將所述光盤反轉(zhuǎn)成凹形狀，縮小與所述環(huán)狀照明裝置的照明部內(nèi)側(cè)直徑大小相關出現(xiàn)在所述光盤檢查區(qū)域的內(nèi)徑側(cè)處的影象直徑，由此將該影象由所述光盤的檢查區(qū)域內(nèi)徑側(cè)去除的步驟；使用其光軸按照與支撐在所述光盤支撐臺處的所述光盤中心軸相重合的方式實施配置的照相裝置，從上側(cè)對該光盤的檢查區(qū)域?qū)嵤┱障嗟牟襟E。
3.如權利要求1或2所述的光盤制造方法，其特征在于，還具有依據(jù)由所述照相裝置給出的圖象輸出信號對粘接劑的延展質(zhì)量是否良好實施判定的良好與否判定工序；在依據(jù)所述良好與否判定工序的判定結(jié)果為粘接劑延展質(zhì)量出現(xiàn)不良時可以對出現(xiàn)這種不良的所述光盤實施甄選的甄選工序。
4.一種光盤制造方法，其特征在于，具有形成粘合型光盤的光盤形成工序，其包括向固定在轉(zhuǎn)動臺處的第一光盤基板上排出粘接劑的階段，將第二光盤基板重合在所述第一光盤基板上的階段，轉(zhuǎn)動驅(qū)動所述轉(zhuǎn)動臺以使位于所述兩個光盤基板間的粘接劑延展的階段，對延展的粘接劑實施硬化處理的階段；檢查工序，其將所述粘合型光盤的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域，并且對該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施檢查；而且所述檢查工序使用如下的光盤檢查方法對粘接劑延展質(zhì)量實施檢查，該光盤檢查方法具有以位置不動方式將作為檢查對象物的光盤支撐在光盤支撐臺上的步驟；對具有光源和從光源給出的照射光束實施擴散的擴散板的、其光軸按照與支撐在所述光盤支撐臺處的所述光盤中心軸相重合的方式實施配置的環(huán)狀照明裝置實施照明，并且將由所述擴散板給出的照射光束從上側(cè)呈環(huán)狀對所述光盤的檢查區(qū)域?qū)嵤┱彰鞯牟襟E；使用其光軸按照與支撐在所述光盤支撐臺處的所述光盤中心軸相重合的方式實施配置的攝象裝置，從上側(cè)對該光盤的檢查區(qū)域?qū)嵤z象的步驟；利用某一閾值對所述攝象裝置給出的圖象輸出信號實施白黑二值化處理的二值化處理步驟；將白黑二值化處理后的、與所述光盤檢查區(qū)域相對應的所述圖象輸出信號與某上下閾值進行比較，以判定該檢查區(qū)域中粘接劑是否過多或不足的良好與否判定步驟；當取檢查區(qū)域內(nèi)側(cè)直徑為S1，檢查區(qū)域外側(cè)直徑為S2，所述環(huán)狀照明裝置的照明部內(nèi)側(cè)直徑為L1，所述環(huán)狀照明裝置的照明部外側(cè)直徑為L2，所述環(huán)狀照明裝置與所述光盤間的距離為LD，所述攝象裝置上的第一主點位置HI與所述光盤間的距離為HD時，滿足S2×(1-LD/HD)＜L1＜S1×(1+LD/HD)L2＞S2×(1+LD/HD)。
5.如權利要求4所述的光盤制造方法，其特征在于，還具有依據(jù)由所述照相裝置給出的圖象輸出信號對粘接劑的延展質(zhì)量是否良好實施判定的工序；在依據(jù)所述良好與否判定工序的判定結(jié)果為粘接劑延展質(zhì)量出現(xiàn)不良時可以對出現(xiàn)這種不良的所述光盤實施甄選的甄選工序。
6.一種光盤制造方法，其特征在于，具有形成粘合型光盤的光盤形成工序，其包括向固定在轉(zhuǎn)動臺處的第一光盤基板上排出粘接劑的階段，將第二光盤基板重合在所述第一光盤基板上的階段，轉(zhuǎn)動驅(qū)動所述轉(zhuǎn)動臺以使位于所述兩個光盤基板間的粘接劑延展的階段，對延展的粘接劑實施硬化處理的階段；檢查工序，其將所述粘合型光盤的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域，并且對該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施檢查；而且所述檢查工序使用如下的光盤檢查方法對粘接劑延展質(zhì)量實施檢查，該光盤檢查方法，具有以位置不動方式將作為檢查對象物的光盤支撐在光盤支撐臺上的步驟；對具有光源和從光源給出的照射光束實施擴散的擴散板的、其光軸按照與支撐在所述光盤支撐臺處的所述光盤中心軸相重合的方式實施配置的環(huán)狀照明裝置實施照明，并且將由所述擴散板給出的照射光束從上側(cè)呈環(huán)狀對所述光盤的檢查區(qū)域?qū)嵤┱彰鞯牟襟E；使用其光軸按照與支撐在所述光盤支撐臺處的所述光盤中心軸相重合的方式實施配置的攝象裝置，從上側(cè)對該光盤的檢查區(qū)域?qū)嵤z象的步驟；利用某一閾值對所述攝象裝置給出的圖象輸出信號實施白黑二值化處理的二值化處理步驟；依據(jù)白黑二值化處理后的、與所述光盤檢查區(qū)域相對應的所述圖象輸出信號對該檢查區(qū)域中的粘接劑是否形狀不良實施判定的良好與否判定步驟；當取檢查區(qū)域內(nèi)側(cè)直徑為S1，檢查區(qū)域外側(cè)直徑為S2，所述環(huán)狀照明裝置的照明部內(nèi)側(cè)直徑為L1，所述環(huán)狀照明裝置的照明部外側(cè)直徑為L2，所述環(huán)狀照明裝置與所述光盤間的距離為LD，所述攝象裝置上的第一主點位置HI與所述光盤間的距離為HD時，滿足S2×(1-LD/HD)＜L1＜S1×(1+LD/HD)L2＞S2×(1+LD/HD)。
7.如權利要求6所述的光盤制造方法，其特征在于，還具有依據(jù)由所述照相裝置給出的圖象輸出信號對粘接劑的延展質(zhì)量是否良好實施判定的工序；在依據(jù)對所述粘接劑延展質(zhì)量良好與否實施判定的工序給出的判定結(jié)果為粘接劑延展質(zhì)量出現(xiàn)不良時可以對出現(xiàn)這種不良的所述光盤實施甄選的甄選工序。
8.一種光盤制造方法，其特征在于，具有形成粘合型光盤的光盤形成工序，其包括向固定在轉(zhuǎn)動臺處的第一光盤基板上排出粘接劑的階段，將第二光盤基板重合在所述第一光盤基板上的階段，轉(zhuǎn)動驅(qū)動所述轉(zhuǎn)動臺以使位于所述兩個光盤基板間的粘接劑延展的階段，對延展的粘接劑實施硬化處理的階段；檢查工序，其將所述粘合型光盤的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域，并且對該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施檢查；而且所述檢查工序使用如下的光盤檢查方法對粘接劑延展質(zhì)量實施檢查，該光盤檢查方法具有以位置不動方式將作為檢查對象物的光盤支撐在光盤支撐臺上的步驟；對具有光源和從光源給出的照射光束實施擴散的擴散板的、其光軸按照與支撐在所述光盤支撐臺處的所述光盤中心軸相重合的方式實施配置的環(huán)狀照明裝置實施照明，并且將由所述擴散板給出的照射光束從上側(cè)呈環(huán)狀對所述光盤的檢查區(qū)域?qū)嵤┱彰鞯牟襟E；使用其光軸按照與支撐在所述光盤支撐臺處的所述光盤中心軸相重合的方式實施配置的攝象裝置，從上側(cè)對該光盤的檢查區(qū)域?qū)嵤z象的步驟；利用某一閾值對所述攝象裝置給出的圖象輸出信號實施白黑二值化處理的二值化處理步驟；依據(jù)白黑二值化處理后的、與所述光盤檢查區(qū)域相對應的所述圖象輸出信號對該檢查區(qū)域中的粘接劑是否為過多或不良實施判定的良好與否判定步驟；響應所述良好與否判定工序的判定結(jié)果，對檢查狀態(tài)的推移實施判定的推移判定步驟；當取檢查區(qū)域內(nèi)側(cè)直徑為S1，檢查區(qū)域外側(cè)直徑為S2，所述環(huán)狀照明裝置的照明部內(nèi)側(cè)直徑為L1，所述環(huán)狀照明裝置的照明部外側(cè)直徑為L2，所述環(huán)狀照明裝置與所述光盤間的距離為LD，所述攝象裝置上的第一主點位置HI與所述光盤間的距離為HD時，滿足S2×(1-LD/HD)＜L1＜S1×(1+LD/HD)L2＞S2×(1+LD/HD)。
9.如權利要求8所述的光盤制造方法，其特征在于，還具有依據(jù)由所述照相裝置給出的圖象輸出信號對粘接劑的延展質(zhì)量是否良好實施判定的工序；在依據(jù)對所述粘接劑延展質(zhì)量良好與否實施判定的工序給出的判定結(jié)果為粘接劑延展質(zhì)量出現(xiàn)不良時可以對出現(xiàn)這種不良的所述光盤實施甄選的甄選工序。
10.一種光盤制造方法，其特征在于，具有形成粘合型光盤的光盤形成工序，其包括向固定在轉(zhuǎn)動臺處的第一光盤基板上排出粘接劑的階段，將第二光盤基板重合在所述第一光盤基板上的階段，轉(zhuǎn)動驅(qū)動所述轉(zhuǎn)動臺以使位于所述兩個光盤基板間的粘接劑延展的階段，對延展的粘接劑實施硬化處理的階段；檢查工序，其將所述粘合型光盤的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域，并且對該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實施檢查；而且所述檢查工序使用如下的光盤檢查方法對粘接劑延展質(zhì)量實施檢查，該光盤檢查方法具有以位置不動方式將作為檢查對象物的光盤支撐在光盤支撐臺上的步驟；對具有光源和從光源給出的照射光束實施擴散的擴散板的、其光軸按照與支撐在所述光盤支撐臺處的所述光盤中心軸相重合的方式實施配置的環(huán)狀照明裝置實施照明，并且將由所述擴散板給出的照射光束從上側(cè)呈環(huán)狀對所述光盤的檢查區(qū)域?qū)嵤┱彰鞯牟襟E；使用其光軸按照與支撐在所述光盤支撐臺處的所述光盤中心軸相重合的方式實施配置的攝象裝置，從上側(cè)對該光盤的檢查區(qū)域?qū)嵤z象的步驟；利用某一閾值對所述攝象裝置給出的圖象輸出信號實施白黑二值化處理的二值化處理步驟；依據(jù)白黑二值化處理后的、與所述光盤檢查區(qū)域相對應的所述圖象輸出信號對該檢查區(qū)域中的粘接劑是否為過多或不良實施判定的良好與否判定步驟；對于所述良好與否判定裝置判定為在所述光盤檢查區(qū)域中出現(xiàn)粘接劑過多或不足的結(jié)果時，按照消除這種過多或不足現(xiàn)象的方式對與所述旋轉(zhuǎn)涂布裝置的驅(qū)動相關的設定值實施變更的設定值變更步驟；當取檢查區(qū)域內(nèi)側(cè)直徑為S1，檢查區(qū)域外側(cè)直徑為S2，所述環(huán)狀照明裝置的照明部內(nèi)側(cè)直徑為L1，所述環(huán)狀照明裝置的照明部外側(cè)直徑為L2，所述環(huán)狀照明裝置與所述光盤間的距離為LD，所述攝象裝置上的第一主點位置HI與所述光盤間的距離為HD時，滿足S2×(1-LD/HD)＜L1＜S1×(1+LD/HD)L2＞S2×(1+LD/KD)。
11.如權利要求10所述的光盤制造方法，其特征在于，還具有依據(jù)由所述照相裝置給出的圖象輸出信號對粘接劑的延展質(zhì)量是否良好實施判定的工序；在依據(jù)對所述粘接劑延展質(zhì)量良好與否實施判定的工序給出的判定結(jié)果為粘接劑延展質(zhì)量出現(xiàn)不良時可以對出現(xiàn)這種不良的所述光盤實施甄選的甄選工序。
全文摘要
一種光盤制造方法。當用環(huán)狀照明裝置(301)對粘合型光盤(122)的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域照明，用照相裝置(203)照相，并檢查該檢查區(qū)域(308)的粘接劑延展質(zhì)量時，當檢查區(qū)域內(nèi)側(cè)直徑為S1，檢查區(qū)域外側(cè)直徑為S2，所述環(huán)狀照明裝置(301)的照明部內(nèi)側(cè)直徑為L1，所述環(huán)狀照明裝置(301)的照明部外側(cè)直徑為L2，所述環(huán)狀照明裝置(301)與所述光盤(122)間的距離為LD，所述照相裝置上的第一主點位置HI與所述光盤間的距離為HD時，利用S2×(1－LD/HD)＜L1＜S1×(1+LD/HD)，L2＞S2×(1+LD/HD)對各部件的位置關系實施設定，可以使環(huán)狀照明裝置(308)的影象不出現(xiàn)在檢查區(qū)域(308)中，從而可以對其整體實施均勻的照明。
文檔編號G11B7/26GK1822153SQ20061000454
公開日2006年8月23日 申請日期2003年8月1日 優(yōu)先權日2002年8月1日
發(fā)明者青木慎司, 村山升, 宇佐美仁 申請人:株式會社理光