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再現(xiàn)方法和裝置的制作方法

文檔序號:6743209閱讀:119來源:國知局
專利名稱:再現(xiàn)方法和裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種以高密度記錄數(shù)字視頻信息等信息的信息記錄媒體的再現(xiàn),更具體地說,涉及一種從磁道的擺動中包含有信息的高密度光盤媒體來再現(xiàn)該信息的再現(xiàn)方法和裝置。
首先,第一例為局部斷續(xù)形成具有擺動的磁道凹槽,作為所謂的預(yù)凹陷,可以再現(xiàn)的技術(shù)(參照特許文獻1)。根據(jù)該技術(shù),采取在磁道上地址專用區(qū)域和(用于記錄信息的)數(shù)據(jù)專用區(qū)域并存的結(jié)構(gòu)。第二例為把擺動進行調(diào)頻,記錄地址信息(幅信息)的技術(shù)(參照特許文獻2)。根據(jù)該技術(shù),數(shù)據(jù)信息被覆蓋在地址信息上。第三例為在磁道凹槽和與它相鄰的磁道凹槽之間形成預(yù)凹陷,由此形成地址的技術(shù)。
但是,當考慮今后的高密度化時,所述的任意技術(shù)都分別具有要解決的問題。首先,在第一例的結(jié)構(gòu)中,只為確保地址區(qū)域的部分(所謂的間接部分)而削減數(shù)據(jù)區(qū)域,不得不減少這部分的記錄容量。
接著,在第二例中,本來已生成記錄信息的時鐘為主要目的,最好以單一頻率形成凹槽擺動。如果是單一頻率,則通過使用鎖相環(huán)(PhaseLocked Loop;PLL)等對該擺動再現(xiàn)信號進行同步倍增,據(jù)此,就能生成精度高的記錄時鐘信號。但是,凹槽擺動包含多種頻率成分時,為了避免鎖相環(huán)的假鎖,與單一擺動時相比,不得不降低PLL跟蹤頻帶。這樣,鎖相環(huán)無法充分跟蹤由盤電動機的速度偏差和盤偏心所產(chǎn)生的擺動,其結(jié)果,有時擺動殘留在記錄信號中。另外,如果光盤記錄面上形成的記錄膜例如是相變膜,則在重復(fù)改寫時,有時記錄膜的S/N比下降。即使S/N比下降,如果是單一的擺動頻率,也能使用窄頻帶的帶通濾波器除去噪聲部分。但是,當進行調(diào)頻并包含多種頻率時,就必須相應(yīng)地擴大濾波器的頻帶。這樣,噪聲成分混入,進一步使擺動惡化。從越進行高密度記錄,就越應(yīng)該減小擺動界限的觀點出發(fā),不應(yīng)使這樣的擺動增加。
接著,在第三例中,因為預(yù)凹陷當然對相鄰磁道也產(chǎn)生影響,所以很難使預(yù)凹陷的長度足夠長,個數(shù)足夠多。特別是當高密度化時,有時檢測錯誤會增加。
鑒于以上所述問題的存在,本發(fā)明提出了以向內(nèi)周變位陡峭的擺動形狀為“1”,向外周變位陡峭的擺動形狀為“0”來提供信息,并表示地址的光盤媒體。作為檢測所述光盤媒體地址信息的一種手段,有生成擺動頻率的例如2次諧波的載波,與再現(xiàn)信號相乘、相加,根據(jù)其符號來判定“1”、“0”的方法。這是利用上升邊或下降邊的傾斜不同的波形導(dǎo)致偶數(shù)次諧波的相位極性不同,對于再現(xiàn)信號中包含的2次諧波進行外差檢波的技術(shù)。能適用PLL,生成把擺動頻率例如2N倍增(N為有理數(shù))后的時鐘,能通過把該時鐘N分頻,來容易地生成用于乘法的2次諧波。
特開平6-309672號公報[特許文獻3]特開平5-189934號公報[特許文獻3]特開平9-326138號公報但是,如以上所述,當由把擺動頻率倍增的時鐘生成2次諧波的參照波時,基于外差檢波的檢測靈敏度有可能會下降。由于擺動自身與相鄰磁道的擺動的干擾而產(chǎn)生相位偏移,對于應(yīng)該檢測的信號中的2次諧波,相位有時會發(fā)生偏移。
鑒于以上所述問題的存在,本發(fā)明的目的在于當外差檢波時,總是以最佳狀態(tài)來再現(xiàn)信息。更具體地說,本發(fā)明的目的在于生成用于外差檢波的2次諧波載波信號。
本發(fā)明的再現(xiàn)方法是從包含具有確定了信息內(nèi)容的第一擺動形狀的參照擺動塊、接著該參照擺動塊設(shè)置的至少具有所述第一擺動形狀和與所述第一擺動形狀不同的第二擺動形狀的一方的信息擺動塊的信息記錄媒體,讀出相應(yīng)信息的方法。該方法具有讀出所述參照擺動塊的步驟;讀出所述信息擺動塊的步驟;把讀出的所述信息擺動塊的擺動形狀和讀出的所述參照擺動塊的所述第一擺動形狀比較的步驟;當所述信息擺動塊的擺動形狀和所述第一擺動形狀一致時,判斷為在所述信息擺動塊中記錄了與由所述第一擺動形狀表示的所述信息相同的信息,當所述信息擺動塊的擺動形狀和所述第一擺動形狀不同時,判斷為在所述信息擺動塊中記錄了與由所述第一擺動形狀表示的所述信息不同的信息的步驟;按照判斷的結(jié)果,輸出所述第一信息和所述第二信息的一方的步驟。據(jù)此,達成了所述目的。
所述第一擺動形狀用傅里葉級數(shù)的1次基波和2次諧波表示;所述第二擺動形狀至少使用傅里葉級數(shù)的1次基波和2次諧波表示,并且所述2次諧波的極性可以與所述第一擺動模式的2次諧波的極性相反。
所述比較步驟包含根據(jù)所述第一擺動形狀的周期,生成具有相當于所述2次諧波的頻率的2次諧波載波的步驟;從讀出所述參照擺動塊得到的波形抽出所述2次諧波成分的步驟;把所述2次諧波載波的相位和所述2次諧波成分的相位比較,檢測出相位誤差的步驟。另外,所述判斷步驟包含根據(jù)檢測的所述相位誤差,變更所述2次諧波載波的相位的步驟;從讀出所述信息擺動塊得到的波形新抽出2次諧波成分的步驟;對新抽出的2次諧波成分和變更了相位的所述2次諧波載波進行外差檢波,生成檢測信號的步驟;如果所述檢測信號的符號為正,判斷為所述信息擺動塊的擺動形狀與所述第一擺動形狀一致,如果所述檢測信號的符號為負,則判斷為所述信息擺動塊的擺動形狀與所述第一擺動形狀不同。
所述相位誤差可以是所述參照擺動塊的期間中的累計相位誤差的平均值。
所述比較步驟包含根據(jù)所述第一擺動形狀的周期,生成具有相當于所述2次諧波的頻率的2次諧波載波的步驟;從讀出所述參照擺動塊得到的波形抽出所述2次諧波成分的步驟;把所述2次諧波載波的相位和所述2次諧波成分的相位比較,檢測出相位誤差的步驟。所述判斷步驟包含根據(jù)檢測的所述相位誤差,變更所述2次諧波載波的相位的步驟;根據(jù)所述第一擺動形狀的周期,生成具有相當于所述2次諧波的頻率的2次諧波載波的步驟;從讀出所述參照擺動塊得到的波形抽出所述2次諧波成分的步驟;對所述2次諧波成分和所述2次諧波載波進行外差檢波,生成第一檢測信號的步驟;根據(jù)所述第一檢測信號,判定2次諧波載波的相位極性的步驟;根據(jù)判定結(jié)果,進行2次諧波載波的正轉(zhuǎn)處理和反轉(zhuǎn)處理的一方,新生成2次諧波載波的步驟;從讀出所述信息擺動塊得到的波形新抽出2次諧波成分的步驟;對新抽出的所述2次諧波成分和新生成的所述2次諧波載波進行外差檢波,生成第二檢測信號的步驟;按照所述第二檢測信號的符號,判斷所述信息擺動塊的擺動形狀是否與所述第一擺動形狀一致的步驟。
檢測所述相位誤差的步驟可以比較所述2次諧波載波的上升沿以及下降沿的相位和所述2次諧波成分的上升沿以及下降沿的相位,檢測相位誤差。
本發(fā)明的再現(xiàn)裝置是從包含具有確定了信息內(nèi)容的第一擺動形狀的參照擺動塊、接著該參照擺動塊設(shè)置的至少具有所述第一擺動形狀和與所述第一擺動形狀不同的第二擺動形狀的一方的信息擺動塊的信息記錄媒體再現(xiàn)相應(yīng)信息的裝置。該裝置具有讀出所述參照擺動塊和所述信息擺動塊的頭;輸出所述信息擺動塊上記錄的信息的信息檢測電路。該信息檢測電路具有對由頭讀出的所述信息擺動塊的擺動形狀和讀出的所述參照擺動塊的所述第一擺動形狀進行外差檢波的外差檢測器;當所述信息擺動塊的擺動形狀和所述第一擺動形狀一致時,判斷為在所述信息擺動塊上記錄了與由所述第一擺動形狀表示的所述信息相同的第一信息,當所述信息擺動塊的擺動形狀和所述第一擺動形狀不同時,判斷為在所述信息擺動塊中記錄了與由所述第一擺動形狀表示的所述信息不同的第二信息,輸出所述第一信息和所述第二信息的一方的雙穩(wěn)態(tài)電路。據(jù)此,實現(xiàn)了所述目的。
所述第一擺動形狀可以至少使用傅里葉級數(shù)的1次基波和2次諧波來表示;所述第二擺動形狀至少使用傅里葉級數(shù)的1次基波和2次諧波表示,并且所述2次諧波的極性與所述第一擺動模式的2次諧波的極性相反。
所述信息檢測電路還具有根據(jù)所述第一擺動形狀的周期,生成具有相當于所述2次諧波的頻率的2次諧波載波的分頻器;從讀出所述參照擺動塊得到的波形抽出所述2次諧波成分的濾波器;把所述2次諧波載波的相位和所述2次諧波成分的相位比較,檢測出相位誤差的相位比較器;根據(jù)檢測的所述相位誤差,變更所述2次諧波載波的相位的相位控制電路。所述外差檢測器對從讀出所述信息擺動塊得到的波形,通過所述濾波器新抽出的2次諧波成分、以及由相位控制電路變更了相位的所述2次諧波載波進行外差檢波,生成檢測信號。所述雙穩(wěn)態(tài)電路當所述檢測信號的符號為正時,判斷為所述信息擺動塊的擺動形狀與所述第一擺動形狀一致,當所述檢測信號的符號為負時,判斷為所述信息擺動塊的擺動形狀與所述第一擺動形狀不同,可以輸出所述第一信息和所述第二信息的一方。
所述信息檢測電路還具有計算所述參照擺動塊的期間的計數(shù)器;在所述參照擺動塊的期間中累計所述相位比較器檢測出的所述相位誤差的加法器;根據(jù)計數(shù)器的計數(shù)結(jié)果和加法器的累計結(jié)果,計算累計相位誤差的平均值的除法器;所述相位控制電路可以按照由所述除法器計算的所述累計相位誤差的平均值,變更所述2次諧波載波的相位。
所述信息檢測電路還具有根據(jù)所述第一擺動形狀的周期,生成具有相當于所述2次諧波的頻率的2次諧波載波的分頻器;從讀出所述參照擺動塊和所述信息擺動塊的一方得到的波形抽出所述2次諧波成分的濾波器;把所述2次諧波載波的相位和所述2次諧波成分的相位比較,檢測出相位誤差的相位比較器;根據(jù)檢測的所述相位誤差,變更所述2次諧波載波的相位的相位控制電路;根據(jù)外差檢測器輸出的第一檢測信號,判定所述2次諧波的相位極性的極性判定電路,即對來自所述分頻器的所述2次諧波成分、基于所述參照擺動塊的來自所述濾波器的所述2次諧波載波進行外差檢波,輸出了所述第一檢測信號的極性判定電路;根據(jù)所述極性判定電路的判定結(jié)果,進行所述2次諧波載波的正轉(zhuǎn)處理和反轉(zhuǎn)處理的一方,新生成2次諧波的極性控制電路。所述外差檢測器對所述濾波器從讀出所述信息擺動塊得到的波形新抽出的2次諧波成分和所述極性控制電路新生成的2次諧波進行外差檢波,生成第二檢測信號;所述雙穩(wěn)態(tài)電路按照所述第二檢測信號的符號,判斷所述信息擺動塊的擺動形狀是否與所述第一擺動形狀一致。
所述沿相位比較器可以比較所述2次諧波載波的上升沿以及下降沿的相位和所述2次諧波成分的上升沿以及下降沿的相位,來檢測相位誤差。


圖1是信息記錄媒體的俯視圖。
圖2是表示磁道凹槽的主要部分的結(jié)構(gòu)的概要圖。
圖3是表示檢測光盤3上的副信息的檢測部的構(gòu)成的框圖。
圖4是表示副信息檢測電路的結(jié)構(gòu)的框圖。
圖5是表示在副信息檢測電路中利用,生成的各部分的信號波形的圖。
圖6是表示基于副信息檢測電路的副信息檢測處理的步驟的程序流程圖。
圖7(a)是表示“H”區(qū)間和“L”區(qū)間的長度為非對稱的時鐘波形的圖。(b)是表示抵消時鐘波形的“H” 區(qū)間和“L”區(qū)間長度的非對稱性的時鐘波形的圖。
圖8是表示實施例2的副信息檢測電路的結(jié)構(gòu)的框圖。
圖9是表示在副信息檢測電路中利用、生成的各部分的信號波形的圖。
下面簡要說明附圖符號。
307—副信息檢測電路;401—帶通濾波器;402—2次諧波成分的雙穩(wěn)態(tài)電路;403—相位比較器;404—加法器;405—延遲器;406—除法器;407—相位控制電路;408—分頻器;409—乘法器;410—積分器;411—采樣保持電路;412—副信息的雙穩(wěn)態(tài)電路;413—計數(shù)器;420—外差檢測器。
圖1是信息記錄媒體3的俯視圖。信息記錄媒體3是DVD等光盤。在信息記錄媒體3的記錄面1上,磁道凹槽2形成了螺旋狀。在信息記錄媒體3中,沿著磁道凹槽記錄了信息。須指出的是,在圖中非常大地描畫了磁道2,但是,磁道2的磁道間隔為例如0.32μm。
圖2是表示磁道凹槽2的主要部分的結(jié)構(gòu)的概要圖。磁道凹槽2被分為多個塊,在開頭是塊標記101,接著是參照擺動塊102、副信息擺動塊103。副信息擺動塊103包含多個以給定長度的區(qū)域為一個單位的單位塊104。
由圖可知,磁道凹槽2的大部分周期地擺動。在參照擺動塊102和構(gòu)成副信息擺動塊103的各單位塊104中,連續(xù)設(shè)置了擺動形狀。這些擺動形狀為各塊賦予了特征。下面,具體說明各塊101、102、103。
塊標記101也被稱作識別標記,是確定塊的開始位置的指標。塊標記101的擺動周期比其它的塊的擺動周期短。據(jù)此,能確定檢測的周期短的區(qū)域為塊標記101。參照擺動塊102作為用于決定后續(xù)的單位塊104的擺動形狀表示的信息(“0”或“1”)的基準而使用。
根據(jù)與信息記錄媒體3(圖1)的物理地址相關(guān)的信息,例如在地址中附加了編碼、交錯、錯誤訂正符號的信息,形成了副信息擺動塊103。
構(gòu)成副信息擺動塊103的單位塊104按照擺動形狀,專門表示“0”或“1”的一位信息(以下,稱作“副信息”)。換言之,在單位塊104中形成了表示“0”的擺動形狀或表示“1”的擺動形狀。按照設(shè)置單位塊104的數(shù),能調(diào)整一個副信息擺動塊103表示的信息量(位數(shù))。例如,設(shè)置四個單位塊104,副信息擺動塊103能表示四位信息。另外,也可以連續(xù)設(shè)置多個相同擺動形狀的單位塊104,用(n+1)個以上的單位塊104表示n位信息。根據(jù)該結(jié)構(gòu),即使無法讀取特定的單位塊104時,也能確定與上述的地址相關(guān)的信息。
當一個副信息擺動塊103表示四位信息,并且,與地址關(guān)聯(lián)的信息以60位為一個信息處理單位時,可是設(shè)置15組上述的塊標記101、參照擺動塊102、副信息擺動塊103的組。
下面,更具體地說明表示副信息的擺動形狀。在圖2中,表示了代表副信息“1”的擺動形狀和代表副信息“0”的擺動形狀。從圖可知,代表副信息“1”的擺動形狀和代表副信息“0”的擺動形狀都形成了所謂的鋸齒波狀。代表副信息“1”的擺動形狀中,向信息記錄媒體3的內(nèi)周的變位陡峭并且向外周的變位緩和。而代表副信息“0”的擺動形狀中,向信息記錄媒體3的內(nèi)周的變位緩和,并且向外周的變位陡峭。在此所說的“向內(nèi)周”是表示圖2中,以塊101為左端時的上方向,“向外周”是指它的相反方向。
能按以下方法,形成具有上述的關(guān)系的兩種擺動形狀。即當一方的擺動波形表現(xiàn)為使用了一次基波(sin(ω0t))和n次諧波(sin(nω0t))的傅里葉級數(shù)時,通過使它的偶次諧波的極性反轉(zhuǎn),能形成另一擺動波形?!笆古即沃C波的極性反轉(zhuǎn)”是指使偶次諧波的傅里葉系數(shù)的正負逆轉(zhuǎn),換言之,使偶次諧波自身的正負反轉(zhuǎn),或相位錯開半個周期。
在本說明書中,以與具有副信息“0”的單位塊104的形狀相同的形狀形成了參照擺動塊102的擺動形狀。后述的信息記錄媒體3的再現(xiàn)裝置通過相對地比較參照擺動塊102的擺動形狀和單位區(qū)間104的擺動形狀,如果檢測出單位區(qū)間104的擺動形狀與參照擺動塊為同一形狀,就確定單位塊104表示副信息“0”。同樣,如果檢測出單位區(qū)間104的擺動形狀與參照擺動塊為不同的形狀,就確定單位塊104表示副信息“1”。再現(xiàn)裝置為了進行該處理,預(yù)先設(shè)定了在信息記錄媒體3上,按順序配置了塊標記101、參照擺動塊102、副信息擺動塊103。
須指出的是,在上述的說明中,說明了塊標記101的擺動周期比其它的塊的擺動周期短,但是,也可以是周期相同,使相位相反。或者,可以組合周期短的擺動和反轉(zhuǎn)了相位的擺動。
另外,在上述的說明中,參照擺動塊102和副信息擺動塊103的多個單位塊104中,連續(xù)設(shè)置了擺動形狀,但是如果能確定塊內(nèi)的位置,就沒必要是連續(xù)的。
另外,在磁道凹槽2的開始附近設(shè)置了一個區(qū)間的參照擺動塊102,但是,參照擺動塊102也可以由與單位塊104相同長度的一個單位區(qū)間構(gòu)成,在塊內(nèi)形成多個,使在每五個單位區(qū)間中,開始的一個單位區(qū)間為參照擺動,后續(xù)四個單位區(qū)間為副信息擺動。
下面,參照附圖,說明本發(fā)明的光盤再現(xiàn)裝置。上述的信息記錄媒體3為DVD等光盤。
(實施例1)圖3是表示檢測光盤3上的副信息的檢測部300的構(gòu)成的框圖。檢測部300安裝在光盤再現(xiàn)裝置上,所以圖3所示的結(jié)構(gòu)是光盤再現(xiàn)裝置的一部分。須指出的是,光盤再現(xiàn)裝置的結(jié)構(gòu)中,由檢測部300檢測了副信息后的處理中所必要的部分與本發(fā)明無直接關(guān)系。因此,未在圖中表示光盤再現(xiàn)裝置的全體。
光盤再現(xiàn)裝置的檢測部300包含光頭301、推挽信號生成電路302、帶通濾波器303、時鐘生成電路304、塊標記檢測電路305、定時生成電路306、副信息檢測電路307。為了參考,在圖中記載了光盤3。
檢測部300檢測設(shè)置在上述的信息記錄媒體3的磁道凹槽2(圖2)上的擺動形狀,確定該擺動形狀表示的副信息的內(nèi)容。更具體地說,檢測部300讀出給定數(shù)量的上述的光盤3的塊標記101、參照擺動塊102以及副信息擺動塊103的組,確定塊標記101的位置、參照擺動塊102的開始位置以及結(jié)束位置、單位塊104的位置、單位塊104的主載波的頻率等。然后再讀出它們的塊,確定擺動形狀表示的副信息的內(nèi)容。
下面,具體說明各構(gòu)成要素。光頭301在光盤3上照射激光光點,檢測它的反射光。本說明書的光頭301根據(jù)來自伺服電路(圖中未顯示)的控制,使光點聚焦在光盤3的磁道凹槽上,并且跟蹤它。光頭301由在與磁道正交的方向(半徑方向)分割為二的光敏器件檢測反射光,分別輸出信號。
推挽信號生成電路302對從光頭301輸出的兩個信號進行減法處理,把與磁道凹槽的擺動對應(yīng)的電信號作為推挽信號輸出。推挽信號包含相當于擺動周期的主載波。推挽信號的上升變位與向光盤3的擺動形狀的內(nèi)周的變位對應(yīng),下降變位與向外周的變位對應(yīng)。帶通濾波器303只抽出推挽信號中包含的主載波,輸出到時鐘生成電路304。
時鐘生成電路304包含把主載波雙值化的雙穩(wěn)態(tài)電路、把是周69分頻的分頻電路、PLL電路,生成與主載波的雙值化信號、時鐘的分頻信號同步的時鐘。該時鐘是對于主載波的頻率,分頻電路的分頻即69倍增的時鐘。以下,把該時鐘稱作“擺動時鐘”。擺動時鐘被用作例如用于生成記錄信號的基準時鐘、用于生成定時的基準時鐘。在本實施例中,該擺動時鐘用作在副信息檢測電路307中,檢測副信息的基準時鐘。
塊標記檢測電路305檢測用與主載波不同的頻率頻率表現(xiàn)的塊標記101(圖2),確定塊的開始位置。定時生成電路306通過從塊標記檢測電路305確定的塊的開始位置,計算上述的擺動時鐘,生成必要的各種定時作為門信號。在圖中,表示了后述的2次諧波的校準時使用的校準門信號被輸出到副信息檢測電路307。校準門信號在參照擺動塊102(圖2)的再現(xiàn)開始的定時,變?yōu)楦唠娖?,在該再現(xiàn)結(jié)束的定時,變?yōu)榈碗娖健?br> 副信息檢測電路307根據(jù)推挽信號、時鐘生成電路304生成的擺動時鐘、定時生成電路306生成的門信號,輸出光盤1的各單位塊104表示的副信息。副信息檢測電路307通過后述的處理,在參照擺動塊102(圖2)的期間中,進行校準,能檢測其后的單位塊104的副信息,所以總是以最佳狀態(tài),檢測副信息。
下面,參照圖4~圖6,詳細說明副信息檢測電路307。在副信息檢測電路307中,推挽信號PP的2次諧波成分為主要的處理對象。其理由是因為如以上所述,副信息檢測電路307檢測的副信息“0”和“1”是用單位塊104(圖2)的兩種擺動形狀表示的,該擺動波形的不同能根據(jù)偶次諧波的極性的不同進行判斷。在此,利用了偶次諧波中的2次諧波。
圖4是表示副信息檢測電路307的結(jié)構(gòu)的框圖。圖5是表示在副信息檢測電路307中利用,生成的各部分的信號波形的圖。參照圖4,副信息檢測電路307具有帶通濾波器401、雙穩(wěn)態(tài)電路402、相位比較器403、加法器404、延遲器405、除法器406、相位控制電路407、分頻器408、乘法器409、積分器410、采樣保持電路411、雙穩(wěn)態(tài)電路412、計數(shù)器413。
下面,說明副信息檢測電路307的各構(gòu)成要素。首先,帶通濾波器401從推挽信號抽出2次諧波成分SB。雙穩(wěn)態(tài)電路402把2次諧波成分SB變換為具有2次諧波成分的相位信息的數(shù)字信號,輸出雙值信號SC。即雙穩(wěn)態(tài)電路402輸出與2次諧波成分SB相同相位的雙值信號SC。相位比較器403檢測輸入的兩個信號的相位誤差,輸出相位誤差信息。加法器404把相位誤差信息與此前的相位誤差的累計值相加,輸出新的相位誤差的累計值。延遲器405保持相位誤差的累計值,作為此前的相位誤差的累計值輸出。除法器406把相位誤差的累計值除以表示累計的期間的計數(shù)值,輸出相位誤差的平均值。計數(shù)器413計算時鐘數(shù),作為計數(shù)值保持。
分頻器408把對擺動周期69倍增生成的擺動時鐘34.5分頻,生成具有相當于2次諧波的頻率的信號。相位控制電路407根據(jù)另外輸入的相位值(在此是相位誤差的平均值)變更相當于2次諧波的信號的相位。該處理被稱作校準,相位控制電路407輸出校準的2次諧波載波SP。乘法器409把2次諧波成分SB和2次諧波載波SP相乘,輸出其結(jié)果。積分器410累計輸入值。乘法器409和積分器410被稱作外差檢測器420,該處理就是所謂的外差檢波。積分器410輸出外差檢波的值HD。采樣保持電路411保持外差檢波的值HD。雙穩(wěn)態(tài)電路412判定輸入的值的符號,輸出“0”或“1”的副信息。
下面,說明由上述的各要素進行的副信息檢測電路307的處理。圖6是表示基于副信息檢測電路307的副信息檢測處理的步驟的程序流程圖。首先,作為前提,推挽信號生成電路302(圖3)從光盤3的反射光生成推挽信號PP(步驟S601)。另外,根據(jù)推挽信號PP,時鐘信號生成電路304(圖3)生成擺動時鐘,定時生成電路306(圖3)生成校準門信號(步驟S602)。
首先,根據(jù)向副信息檢測電路307輸入的擺動時鐘,分頻器408生成具相當于2次諧波的頻率的信號。然后,相位控制電路407為生成的信號提供給定的相位,輸出2次諧波載波SP(步驟S603)。作為提供的相位的初始值,例如與上述的時鐘信號生成電路304(圖3)內(nèi)具有的擺動時鐘的分頻信號相同的相位。
如果到達參照擺動塊102(圖2)的再現(xiàn)開始的定時,由定時生成電路306(圖3)生成的校準門GC就上升,開始2次諧波載波SP的相位校準。
帶通濾波器401根據(jù)輸入到副信息檢測電路307的推挽信號PP,抽出2次諧波成分SB(步驟S604)。然后,雙穩(wěn)態(tài)電路402把帶通濾波器401抽出的2次諧波成分SB變換為具有相位信息的雙值信號SC后輸出。
相位比較器403檢測雙值信號SC和2次諧波載波SP的相位誤差,輸出相位誤差信息。加法器404由相位誤差信息表示的相位誤差和來自延遲器405的此前的相位誤差的累計值在各時鐘的沿上累計相加,輸出相位誤差累計值SI(S605)。把該相位誤差累計值SI保持在延遲器405中。繼續(xù)該處理,直到校準門GC從高電平狀態(tài)變?yōu)榈碗娖綘顟B(tài)(步驟S606)。如圖5所示,校準門GC在參照擺動塊102的再現(xiàn)中為高電平。校準門GC為高電平時,相位誤差累計值SI被累計,漸漸變大。
再參照圖6,如果校準門GC下降,變?yōu)榈碗娖?步驟S606的“YES”),就結(jié)束累計加法處理。除法器406把相位誤差累計值SI除以計數(shù)器413保持的計數(shù)值,計算相位誤差的平均值,輸出(步驟S607)。
相位控制電路407根據(jù)從除法器406輸出的相位誤差的平均值(平均相位誤差),更新2次諧波載波SP的相位。例如,如果平均相位誤差為+3時鐘,則相位控制電路407使2次諧波載波SP的相位前進3時鐘。通過該處理,能使再次輸入到相位比較器403的2次諧波載波SP的相位和雙值信號SC的相位一致。須指出的是,“相位一致”是指例如兩個信號的上升沿的相位一致。因此,2次諧波載波SP和雙值信號SC變?yōu)橥嗷蚍聪唷H缫陨纤?,雙值信號SC與根據(jù)推挽信號PP抽出的2次諧波成分SB同相。因此,根據(jù)平均相位誤差更新了相位的2次諧波載波SP與2次諧波成分SB的相位一致。
接著,進行對以上得到的2次諧波載波SP和2次諧波成分SB的外差檢波。具體而言,乘法器409把2次諧波載波SP和2次諧波成分SB相乘。成為乘法的對象的是包含副信息的擺動信號。這是因為在兩個信號的相位一致的時刻,參照擺動塊102(圖2)的讀出期間結(jié)束,副信息擺動塊103(圖2)的單位塊104的讀出期間開始。積分器410累計乘法的結(jié)果,作為外差檢測信號HD輸出(步驟S609)。如果參照圖5更具體地說明該處理,則在第一單位塊104的再現(xiàn)時,2次諧波成分SB和2次諧波載波SP是反相的,所以其乘法值為負。因此,隨著第一單位塊104的再現(xiàn)的進展,外差檢測信號HD偏向負方向。如果該塊的再現(xiàn)結(jié)束,則外差檢測信號HD被復(fù)位。須指出的是,在第二單位塊104的再現(xiàn)時,因為2次諧波成分SB和2次諧波載波SP是同相的,所以其乘法值為正。因此,外差檢測信號HD偏向正方向。
再參照圖6,采樣保持電路411保持外差檢測信號HD,通過雙穩(wěn)態(tài)電路412判定其符號,輸出0或1的值。例如雙穩(wěn)態(tài)電路412當保持的外差檢測信號HD為正是,輸出0,為負時,輸出1(步驟S610)。
符號和輸出值的對應(yīng)關(guān)系利用了參照擺動塊102的再現(xiàn)波形。即當單位塊104的再現(xiàn)波形與參照擺動塊102的再現(xiàn)波形一致時,采樣保持電路411保持的值為正。因此,這時,使雙穩(wěn)態(tài)電路412與參照擺動塊102表示的值相同的值“0”對應(yīng),進行處理。相反,當單位塊104的再現(xiàn)波形與參照擺動塊102的再現(xiàn)波形不同時(不一致),采樣保持電路411保持的值變?yōu)樨?。該處理與通過相對地比較參照擺動塊102的擺動形狀和單位塊104的擺動形狀,如果檢測到單位塊104的擺動形狀與參照擺動為同一形狀,單位塊104就表示“0”,如果檢測到單位塊104的擺動形狀與參照擺動為不同形狀,單位塊104就表示“1”的處理實質(zhì)上是相同的。這樣,通過使用參照擺動,檢測副信息擺動中的副信息,即使在串擾等導(dǎo)致的擺動時鐘的相位偏移存在時,也總能以最佳狀態(tài)進行副信息的檢測。
須指出的是,在本實施例中,采用了原封不動地使用檢測的相位信息,進行副信息的檢測的結(jié)構(gòu),但是,也可以使用現(xiàn)狀的相位和用參照擺動檢測的相位的一定的比相加的值,在檢測結(jié)果中加上低通濾波器的效果。
在此,說明分頻器408(圖4)的處理。當時鐘生成電路304(圖3)生成的擺動時鐘正好相當于擺動頻率的4的倍數(shù)時,分頻器408通過分頻生成2次諧波時不會有任何問題。但是,當不是這樣時,例如69倍時,就產(chǎn)生了問題。圖7(a)是表示“H”區(qū)間和“L”區(qū)間的長度為非對稱的時鐘波形的圖。如果分頻器408使用擺動時鐘生成2次諧波,則如圖7(a)所示,象17T(T為擺動時鐘周期)區(qū)間“H”17T區(qū)間“L”、17T區(qū)間“H”、18T區(qū)間“L”那樣,“H”區(qū)間和“L”區(qū)間的長度不同。當使用這樣的非對稱波形,進行相位比較和外差檢波時,產(chǎn)生檢測誤差。但是,擺動時鐘也用作通常記錄時鐘,所以擺動時鐘的倍增比無法為4的倍數(shù)。
圖7(b)是表示抵消時鐘波形的“H”區(qū)間和“L”區(qū)間長度的非對稱性的時鐘波形的圖。為了避免檢測誤差,生成四個周期的2次諧波,可以使前兩個周期和后兩個周期抵消所述非對稱性。據(jù)此,能總體地排除相位檢測和外差檢波的誤差。
如以上所述,根據(jù)本實施例的光盤再現(xiàn)裝置,即使發(fā)生相鄰磁道的干擾導(dǎo)致的擺動時鐘的相位偏移,也能以最佳狀態(tài)進行外差檢波,再現(xiàn)副信息。
(實施例2)下面,說明實施例2的光盤再現(xiàn)裝置。實施例2的光盤再現(xiàn)裝置的結(jié)構(gòu)及其動作除了代替副信息檢測電路307,設(shè)置了圖8所示的副信息檢測電路807,與實施例1光盤再現(xiàn)裝置(圖3)的結(jié)構(gòu)及其動作相同。因此,以下主要說明副信息檢測電路807的構(gòu)成要素及其動作。
圖8是表示實施例2的副信息檢測電路807的結(jié)構(gòu)的框圖。圖9是表示在副信息檢測電路中利用,生成的各部分的信號波形的圖。參照圖8,副信息檢測電路807具有帶通濾波器401、雙穩(wěn)態(tài)電路402、沿相位比較器801、積分器802、相位誤差判定電路803、相位極性判定電路804、相位極性控制電路805、相位控制電路407、分頻器408、乘法器409、積分器410、采樣保持電路411、雙穩(wěn)態(tài)電路412。其中,帶通濾波器401、雙穩(wěn)態(tài)電路402、相位控制電路407、分頻器408、乘法器409、積分器410、采樣保持電路411、雙穩(wěn)態(tài)電路412在實施例1中說明過了,所以在此省略。
沿相位比較器801根據(jù)相位控制門信號,輸出輸入的兩個信號的相位誤差。積分器802隨時把輸入值即相位誤差累計相加。相位誤差判定電路803根據(jù)相位誤差,輸出用于使相位時鐘前進或延遲的相位值。相位極性判定電路804根據(jù)外差檢測信號HD,判定2次諧波分頻是收斂于0o還是收斂于180o。相位極性控制電路805根據(jù)相位極性的判定值,使相位控制電路407的輸出正轉(zhuǎn)或反轉(zhuǎn)。然后相位極性控制電路805輸出2次諧波載波SP。
下面,說明由上述的各要素進行的副信息檢測電路807的處理。做為前提,推挽信號生成電路302(圖3)從光盤3的反射光生成推挽信號PP。另外,根據(jù)推挽信號PP,時鐘信號生成電路304(圖3)生成擺動時鐘。
與實施例1同樣,分頻器408根據(jù)擺動時鐘,生成具相當于2次諧波的頻率的信號,相位控制電路407為生成的信號提供給定的相位,輸出2次諧波載波SP1。帶通濾波器401根據(jù)輸入到副信息檢測電路807的推挽信號PP,抽出2次諧波成分SB。然后,雙穩(wěn)態(tài)電路402把帶通濾波器401抽出的2次諧波成分SB變換為具有相位信息的雙值信號SC后輸出。
接著,進行使雙值信號SC與2次諧波載波SP1的沿一致的處理。沿相位比較器801根據(jù)相位控制門信號,輸出雙值信號SC的上升以及下降沿與相位控制電路407輸出的2次諧波載波SP1的上升以及下降沿的相位誤差。如圖9所示,相位控制門信號是指在副信息擺動塊103的單位塊104再現(xiàn)中,變?yōu)楦唠娖?,非再現(xiàn)時,變?yōu)榈碗娖降男盘?。積分器802隨時把沿相位比較器801輸出的相位誤差累計相加。
相位誤差判定電路803如果由積分器802累計的相位誤差達到正的給定值,就使相位控制電路407的相位前進一個時鐘,把積分器802的值清零。另外,相反,如果相位誤差達到負的給定值,就使相位控制電路407的相位延遲一個時鐘,把積分器802的值清零。這些動作在相位控制門為“H”的區(qū)間即副信息擺動的再現(xiàn)中,隨時進行,在相位控制門為“L”的區(qū)間,保持積分器802的值。
下面,說明進行以上的處理的理由。副信息擺動的2次諧波成分SB根據(jù)副信息的“0”、“1”,相位極性反轉(zhuǎn),所以相位是不確定的。因此,無法進行通常的通常相位誤差檢測例如上升沿彼此的相位誤差檢測。在此,使用上升沿以及下降沿,通過比較相位,無論副信息的“0”、“1”,能檢測-90o到+90o,或+90o到-90o(經(jīng)過±180o)的相位,能使兩信號的相位一致。據(jù)此,能使兩信號的相位收斂在0o或180o。
但是,即使雙值信號SC和2次諧波載波SP1的相位一致,也無法判斷該相位是收斂于0o(正轉(zhuǎn))還是收斂于180o(反轉(zhuǎn))。即無法判斷雙值信號SC和2次諧波載波SP1是同相還是反相。在此,在本實施例中,通過預(yù)先使用參照擺動塊102(圖2),檢測相位極性,判斷兩個信號是同相還是偏移180o。
使用了參照擺動塊102的相位極性的檢測處理如下所述。如果參照擺動的再現(xiàn)開始,則相位極性判定門上升,在現(xiàn)狀的2次諧波載波SP1的相位狀態(tài)下,進行外差檢波。這時,2次諧波載波SP1經(jīng)過相位極性控制電路,變?yōu)?次諧波載波SP2,輸入到乘法器409中。乘法器409和積分器410的外差檢波的結(jié)果是輸出了外差檢測信號HD,被輸入到相位極性判定電路804。相位極性判定電路804根據(jù)外差檢測信號HD,判定由分頻得到的2次諧波載波SP1是收斂于0o還是收斂于180o。相位極性控制電路805根據(jù)給判定結(jié)果,如果判定為2次諧波載波SP1是收斂于0o,就對2次諧波載波SP1進行正轉(zhuǎn)處理,如果判定為收斂于180o,就進行反轉(zhuǎn)處理,生成2次諧波載波SP2。把2次諧波載波SP2再輸入乘法器409中,用它的相位極性進行外差檢波。然后,根據(jù)實施例1中說明了的處理,從雙穩(wěn)態(tài)電路412輸出了副信息。
須指出的是,在所述相位極性的檢測中,當檢波結(jié)果的絕對值小時,能判定為上述的副信息擺動的相位控制不確定,或參照擺動中有某些缺陷,所以可以與所述結(jié)果無關(guān),保持狀態(tài)。另外,當基于相位控制的收斂結(jié)束,連續(xù)地掃描磁道凹槽時,檢測結(jié)果應(yīng)該是不變的。在此,可以根據(jù)檢測結(jié)果的連續(xù)性進行判定,或把多個檢測結(jié)果相加,或使其通過低通濾波器,根據(jù)多個檢測結(jié)果,判定相位極性。
如以上所述,實施例2的光盤再現(xiàn)裝置使用參照擺動來判定0o或180o的相位極性,使用副信息擺動自身,使詳細的±90o的相位自我同步。據(jù)此,就能使用多個信息來進行比實施例1更精密的控制,能進一步提高性能。
根據(jù)本發(fā)明,當從諧波的相位中具有副信息的光盤來再現(xiàn)相應(yīng)副信息時,以預(yù)先確定的參照擺動期間中的相位狀態(tài)來生成諧波載波,并在檢波中使用。據(jù)此,即使發(fā)生相鄰磁道的干擾導(dǎo)致的擺動時鐘的相位偏移,也總能以最佳狀態(tài)進行外差檢波,再現(xiàn)副信息。
權(quán)利要求
1.一種再現(xiàn)方法,從包含具有確定了信息內(nèi)容的第一擺動形狀的參照擺動塊,和接著該參照擺動塊設(shè)置的至少具有所述第一擺動形狀和與所述第一擺動形狀不同的第二擺動形狀的一方的信息擺動塊的信息記錄媒體來再現(xiàn)該信息;其特征在于具有讀出所述參照擺動塊的步驟;讀出所述信息擺動塊的步驟;比較讀出的所述信息擺動塊的擺動形狀和讀出的所述參照擺動塊的所述第一擺動形狀的步驟;當所述信息擺動塊的擺動形狀與所述第一擺動形狀一致時,判斷為在所述信息擺動塊中記錄有與由所述第一擺動形狀表示的所述信息相同的信息;當所述信息擺動塊的擺動形狀與所述第一擺動形狀不同時,判斷為在所述信息擺動塊中記錄有與由所述第一擺動形狀表示的所述信息不同的信息的步驟;按照判斷的結(jié)果,來輸出所述第一信息和所述第二信息的一方的步驟。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的再現(xiàn)方法,其特征在于所述第一擺動形狀至少使用傅里葉級數(shù)的1次基波和2次諧波來表示;所述第二擺動形狀至少使用傅里葉級數(shù)的1次基波和2次諧波表示,并且,所述2次諧波的極性與所述第一擺動模式的2次諧波的極性相反。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的再現(xiàn)方法,其特征在于所述比較步驟包含根據(jù)所述第一擺動形狀的周期,來生成具有相當于所述2次諧波的頻率的2次諧波載波的步驟;從讀出所述參照擺動塊而得到的波形抽出所述2次諧波成分的步驟;把所述2次諧波載波的相位和所述2次諧波成分的相位進行比較,檢測出相位誤差的步驟;所述判斷步驟包含根據(jù)檢測的所述相位誤差,來變更所述2次諧波載波的相位的步驟;從讀出所述信息擺動塊得到的波形新抽出2次諧波成分的步驟;對新抽出的2次諧波成分,和變更了相位的所述2次諧波載波進行外差檢波,來生成檢測信號的步驟;如果所述檢測信號的符號為正,則判斷為所述信息擺動塊的擺動形狀與所述第一擺動形狀一致,如果所述檢測信號的符號為負,則判斷為所述信息擺動塊的擺動形狀與所述第一擺動形狀不同。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的再現(xiàn)方法,其特征在于所述相位誤差是所述參照擺動塊的期間中的累計相位誤差的平均值。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的再現(xiàn)方法,其特征在于所述比較步驟包含根據(jù)所述第一擺動形狀的周期,來生成具有相當于所述2次諧波的頻率的2次諧波載波的步驟;從讀出所述參照擺動塊而得到的波形抽出所述2次諧波成分的步驟;把所述2次諧波載波的相位和所述2次諧波成分的相位進行比較,來檢測出相位誤差的步驟;所述判斷步驟包含根據(jù)檢測的所述相位誤差,來變更所述2次諧波載波的相位的步驟;根據(jù)所述第一擺動形狀的周期,來生成具有相當于所述2次諧波的頻率的2次諧波載波的步驟;從讀出所述參照擺動塊而得到的波形抽出所述2次諧波成分的步驟;對所述2次諧波成分和所述2次諧波載波進行外差檢波,來生成第一檢測信號的步驟;根據(jù)所述第一檢測信號,來判定2次諧波載波的相位極性的步驟;根據(jù)判定結(jié)果,來進行2次諧波載波的正轉(zhuǎn)處理和反轉(zhuǎn)處理的一方,新生成2次諧波載波的步驟;從讀出所述信息擺動塊得到的波形新抽出2次諧波成分的步驟;對新抽出的所述2次諧波成分和新生成的所述2次諧波載波進行外差檢波,來生成第二檢測信號的步驟;按照所述第二檢測信號的符號,來判斷所述信息擺動塊的擺動形狀是否與所述第一擺動形狀一致的步驟。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的再現(xiàn)方法,其特征在于檢測所述相位誤差的步驟比較所述2次諧波載波的上升沿以及下降沿的相位和所述2次諧波成分的上升沿以及下降沿的相位,來檢測相位誤差。
7.一種再現(xiàn)裝置,從包含具有確定了信息內(nèi)容的第一擺動形狀的參照擺動塊、接著該參照擺動塊設(shè)置的至少具有所述第一擺動形狀和與所述第一擺動形狀不同的第二擺動形狀的一方的信息擺動塊的信息記錄媒體來再現(xiàn)相應(yīng)信息;其特征在于具有讀出所述參照擺動塊和所述信息擺動塊的頭;輸出所述信息擺動塊上記錄的信息的信息檢測電路;該信息檢測電路具有對由頭讀出的所述信息擺動塊的擺動形狀和讀出的所述參照擺動塊的所述第一擺動形狀進行外差檢波的外差檢測器;當所述信息擺動塊的擺動形狀和所述第一擺動形狀一致時,判斷為在所述信息擺動塊上記錄有與由所述第一擺動形狀表示的所述信息相同的第一信息,當所述信息擺動塊的擺動形狀與所述第一擺動形狀不同時,判斷為在所述信息擺動塊中記錄有與由所述第一擺動形狀表示的所述信息不同的第二信息,從而輸出所述第一信息和所述第二信息的一方的雙穩(wěn)態(tài)電路。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的再現(xiàn)裝置,其特征在于所述第一擺動形狀至少使用傅里葉級數(shù)的1次基波和2次諧波來表示;所述第二擺動形狀至少使用傅里葉級數(shù)的1次基波和2次諧波來表示,并且所述2次諧波的極性與所述第一擺動模式的2次諧波的極性相反。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的再現(xiàn)裝置,其特征在于所述信息檢測電路還具有根據(jù)所述第一擺動形狀的周期,來生成具有相當于所述2次諧波的頻率的2次諧波載波的分頻器;從讀出所述參照擺動塊得到的波形抽出所述2次諧波成分的濾波器;把所述2次諧波載波的相位和所述2次諧波成分的相位比較,來檢測出相位誤差的相位比較器;根據(jù)檢測的所述相位誤差,來變更所述2次諧波載波的相位的相位控制電路;所述外差檢測器對從讀出所述信息擺動塊而得到的波形,通過所述濾波器新抽出的2次諧波成分、以及由相位控制電路變更了相位的所述2次諧波載波進行外差檢波,來生成檢測信號;所述雙穩(wěn)態(tài)電路,當所述檢測信號的符號為正時,判斷為所述信息擺動塊的擺動形狀與所述第一擺動形狀一致;當所述檢測信號的符號為負時,則判斷為所述信息擺動塊的擺動形狀與所述第一擺動形狀不同,輸出所述第一信息和所述第二信息的一方。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的再現(xiàn)裝置,其特征在于所述信息檢測電路還具有計算所述參照擺動塊的期間的計數(shù)器;在所述參照擺動塊的期間中累計所述相位比較器檢測出的所述相位誤差的加法器;根據(jù)計數(shù)器的計數(shù)結(jié)果和加法器的累計結(jié)果,計算累計相位誤差的平均值的除法器;所述相位控制電路按照由所述除法器計算的所述累計相位誤差的平均值,來變更所述2次諧波載波的相位。
11.根據(jù)權(quán)利要求8所述的再現(xiàn)裝置,其特征在于所述信息檢測電路還具有根據(jù)所述第一擺動形狀的周期,來生成具有相當于所述2次諧波的頻率的2次諧波載波的分頻器;從讀出所述參照擺動塊和所述信息擺動塊的一方而得到的波形抽出所述2次諧波成分的濾波器;把所述2次諧波載波的相位和所述2次諧波成分的相位進行比較,檢測出相位誤差的相位比較器;根據(jù)所檢測的所述相位誤差,來變更所述2次諧波載波的相位的相位控制電路;根據(jù)外差檢測器輸出的第一檢測信號,來判定所述2次諧波的相位極性的極性判定電路,即對來自所述分頻器的所述2次諧波成分、以及基于所述參照擺動塊的來自所述濾波器的所述2次諧波載波進行外差檢波,輸出所述第一檢測信號的極性判定電路;根據(jù)所述極性判定電路的判定結(jié)果,來進行所述2次諧波載波的正轉(zhuǎn)處理和反轉(zhuǎn)處理的一方,新生成2次諧波的極性控制電路;所述外差檢測器對所述濾波器從讀出所述信息擺動塊而得到的波形中新抽出的2次諧波成分和所述極性控制電路新生成的2次諧波進行外差檢波,來生成第二檢測信號;所述雙穩(wěn)態(tài)電路按照所述第二檢測信號的符號,來判斷所述信息擺動塊的擺動形狀是否與所述第一擺動形狀一致。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的再現(xiàn)裝置,其特征在于所述沿相位比較器比較所述2次諧波載波的上升沿以及下降沿的相位和所述2次諧波成分的上升沿以及下降沿的相位,來檢測相位誤差。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種再現(xiàn)方法,從包含具有確定了信息內(nèi)容的第一擺動形狀的參照擺動塊、接著該參照擺動塊設(shè)置的至少具有所述第一擺動形狀和與所述第一擺動形狀不同的第二擺動形狀的一方的信息擺動塊的信息記錄媒體來再現(xiàn)相應(yīng)信息。比較讀出的信息擺動塊的擺動形狀和參照擺動塊的第一擺動形狀,當信息擺動塊的擺動形狀與第一擺動形狀一致時,判斷為在信息擺動塊中記錄有與第一擺動形狀的信息相同的信息。當信息擺動塊的擺動形狀與參照擺動塊的第一擺動形狀不同時,則判斷為在信息擺動塊中記錄有與第一擺動形狀的信息不同的信息。在進行外差檢波時,總能以最佳狀態(tài)來再現(xiàn)信息。
文檔編號G11B20/18GK1420493SQ0215133
公開日2003年5月28日 申請日期2002年11月18日 優(yōu)先權(quán)日2001年11月21日
發(fā)明者南野順一, 中尾政仁, 古宮成, 石橋廣通 申請人:松下電器產(chǎn)業(yè)株式會社
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