一種調(diào)試方法、應(yīng)用該方法的電子產(chǎn)品及調(diào)試卡的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及調(diào)試領(lǐng)域，特別是涉及一種調(diào)試方法、應(yīng)用該方法的電子產(chǎn)品及調(diào)試卡。
【背景技術(shù)】
[0002]在常規(guī)電子產(chǎn)品開(kāi)發(fā)流程中，開(kāi)發(fā)人員通過(guò)預(yù)留在電路板上的JTAG接口和UART接口對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行調(diào)試，在產(chǎn)品完成設(shè)計(jì)后，電路板設(shè)計(jì)人員通過(guò)不安裝對(duì)應(yīng)插接件或者直接在電路板設(shè)計(jì)階段直接取消JTAG和UART接口的引出等方式對(duì)這些功能進(jìn)行禁用，并安裝相應(yīng)的設(shè)備外殼。此后設(shè)備可使用接口一般為外置存儲(chǔ)接口、用戶數(shù)據(jù)交互接口(USB等)、電源充電接口等。此時(shí)如果研發(fā)或維修人員想對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行深入調(diào)試和維護(hù)，需要拆掉設(shè)備外殼甚至專門從對(duì)應(yīng)的IC上引出JTAG或者UART接口連線，在電子產(chǎn)品集成度高和小型化的局勢(shì)下，該工作可實(shí)施可行性越來(lái)越低，開(kāi)發(fā)人員和維修人員很難比較方便快捷的使用JTAG和UART接口對(duì)設(shè)備進(jìn)行調(diào)試和維護(hù)，增大了產(chǎn)品的開(kāi)發(fā)和維護(hù)難度。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明的目的是提供一種調(diào)試方法、應(yīng)用該方法的電子產(chǎn)品及調(diào)試卡，將調(diào)試接口和存儲(chǔ)功能接口進(jìn)行復(fù)用，便于相關(guān)人員在設(shè)備的整個(gè)生命周期方便快捷的使用JTAG調(diào)試接口，提高設(shè)備的研發(fā)及維護(hù)效率，降低設(shè)備成本。。
[0004]本發(fā)明提供的技術(shù)方案如下:
[0005]—種電子產(chǎn)品的調(diào)試方法，包括:S10判斷電子產(chǎn)品是否處于正常使用狀態(tài)；當(dāng)電子產(chǎn)品處于正常使用狀態(tài)時(shí)，復(fù)用選擇器將I/O接口與存儲(chǔ)控制器選擇連通；S20當(dāng)電子產(chǎn)品不處于正常使用狀態(tài)時(shí)，判斷電子產(chǎn)品是否處于調(diào)試狀態(tài)；當(dāng)電子產(chǎn)品處于調(diào)試狀態(tài)時(shí)，復(fù)用選擇器將I/O接口與調(diào)試控制器選擇連通;S30通過(guò)與調(diào)試控制器選擇連通的I/O接口，調(diào)試所述電子產(chǎn)品。
[0006]本發(fā)明還公開(kāi)另一種電子產(chǎn)品的調(diào)試方法，還包括SlO判斷電子產(chǎn)品是否處于正常使用狀態(tài)；當(dāng)電子產(chǎn)品處于正常使用狀態(tài)時(shí)，復(fù)用選擇器將I/O接口與存儲(chǔ)控制器選擇連通;S20當(dāng)電子產(chǎn)品不處于正常使用狀態(tài)時(shí)，判斷電子產(chǎn)品是否處于調(diào)試狀態(tài)；當(dāng)電子產(chǎn)品處于調(diào)試狀態(tài)時(shí)，復(fù)用選擇器將I/O接口與調(diào)試控制器選擇連通;S21當(dāng)電子產(chǎn)品不處于調(diào)試狀態(tài)時(shí)，則電子產(chǎn)品處于自動(dòng)復(fù)用狀態(tài)，獲取插入存儲(chǔ)卡的檢測(cè)信號(hào)；S22當(dāng)插入存儲(chǔ)卡的檢測(cè)信號(hào)為有存儲(chǔ)卡插入時(shí)，復(fù)用選擇器自動(dòng)選擇與存儲(chǔ)控制器連通;S23當(dāng)插入存儲(chǔ)卡的檢測(cè)信號(hào)為無(wú)存儲(chǔ)卡插入時(shí)，復(fù)用選擇器自動(dòng)選擇與調(diào)試控制器連通。S30通過(guò)與調(diào)試控制器選擇連通的I/O接口，調(diào)試所述電子產(chǎn)品。
[0007]進(jìn)一步優(yōu)選的，其中插入存儲(chǔ)卡的檢測(cè)信號(hào)是指:I/0接口連接的SD_ra的檢測(cè)信號(hào);有存儲(chǔ)卡插入的檢測(cè)信號(hào)為SD_CD的低電平時(shí)，無(wú)存儲(chǔ)卡插入的檢測(cè)信號(hào)為SD_CD的高電平時(shí)。
[0008]本發(fā)明還公開(kāi)另一種電子產(chǎn)品的調(diào)試方法，還包括SlO判斷電子產(chǎn)品是否處于正常使用狀態(tài)；當(dāng)電子產(chǎn)品處于正常使用狀態(tài)時(shí)，復(fù)用選擇器將來(lái)自I/O接口的SD_⑶、SDI/0_CMD/RXD、SDI/0_CLK/TXD、SD_D3/TCK、SD_D2/TMS、SD_D1/TDI 和 SD_DO/TDO 與存儲(chǔ)控制器的SD_CD、SDI/0_CMD、SDI/0_CLK、SD_D3、SD_D2、SD_D I 和 SD_DO 選擇連通；S20 當(dāng)電子產(chǎn)品不處于正常使用狀態(tài)時(shí)，判斷電子產(chǎn)品是否處于調(diào)試狀態(tài)；當(dāng)電子產(chǎn)品處于調(diào)試狀態(tài)時(shí)，復(fù)用選擇器將來(lái)自 I/0接口的 SDI/0_CMD/RXD、SDI/0_CLK/TXD、SD_D3/TCK、SD_D2/TMS、SD_DI/TDI和SD_DO/TDO與調(diào)試控制器的RXD、TXD、TCK、TMS、TDI和TDO選擇連通;S21當(dāng)電子產(chǎn)品不處于調(diào)試狀態(tài)時(shí)，則電子產(chǎn)品處于自動(dòng)復(fù)用狀態(tài)，獲取插入存儲(chǔ)卡的檢測(cè)信號(hào)；S22當(dāng)插入存儲(chǔ)卡的檢測(cè)信號(hào)為有存儲(chǔ)卡插入時(shí)，復(fù)用選擇器自動(dòng)將來(lái)自I/O接口的SD_CD、SDI/0_CMD/RXD、SDI/0_CLK/TXD、SD_D3/TCK、SD_D2/TMS、SD_D1/TDI 和 SD_DO/TDO 與存儲(chǔ)控制器的 SD_CD、SDI/0_CMD、SDI/0_CLK、SD_D3、SD_D2、SD_D1 和 SD_DO 選擇連通;S23 當(dāng)插入存儲(chǔ)卡的檢測(cè)信號(hào)為無(wú)存儲(chǔ)卡插入時(shí)，復(fù)用選擇器自動(dòng)將來(lái)自I/O接口的SDI/0_CMD/RXD、SDI/0_CLK/TXD、SD_D3/TCK、SD_D2/TMS、SD_D I/TDI 和 SD_DO/TDO 與調(diào)試控制器的 RXD、TXD、TCK、TMS、TDI和TDO選擇連通;S30通過(guò)與調(diào)試控制器選擇連通的I/O接口，調(diào)試所述電子產(chǎn)品。
[0009]本發(fā)明還公開(kāi)另一種電子產(chǎn)品的調(diào)試方法，還包括SlO判斷電子產(chǎn)品是否處于正常使用狀態(tài)；當(dāng)電子產(chǎn)品處于正常使用狀態(tài)時(shí)，復(fù)用選擇器將來(lái)自I/o接口的SD_⑶、SDI/0_CMD/RXD、SDI/0_CLK/TXD、SD_D3/TCK、SD_D2/TMS、SD_D1/TDI 和 SD_DO/TDO 與存儲(chǔ)控制器的SD_CD、SDI/0_CMD、SDI/0_CLK、SD_D3、SD_D2、SD_D I 和 SD_DO 選擇連通；S20 當(dāng)電子產(chǎn)品不處于正常使用狀態(tài)時(shí)，判斷電子產(chǎn)品是否處于調(diào)試狀態(tài)；當(dāng)電子產(chǎn)品處于調(diào)試狀態(tài)時(shí)，當(dāng)電子產(chǎn)品處于UART調(diào)試狀態(tài)時(shí)，復(fù)用選擇器將RXD和TXD與UART控制器選擇連通；當(dāng)電子產(chǎn)品處于JTAG調(diào)試狀態(tài)時(shí)，復(fù)用選擇器將TCK、TMS、TDI和TDO與JTAG控制器選擇連通;S21當(dāng)電子產(chǎn)品不處于調(diào)試狀態(tài)時(shí)，則電子產(chǎn)品處于自動(dòng)復(fù)用狀態(tài)，獲取插入存儲(chǔ)卡的檢測(cè)信號(hào)；S22當(dāng)插入存儲(chǔ)卡的檢測(cè)信號(hào)為有存儲(chǔ)卡插入時(shí)，復(fù)用選擇器自動(dòng)將來(lái)自I/O接口的SD_CD、SDI/0_CMD/RXD、SDI/0_CLK/TXD、SD_D3/TCK、SD_D2/TMS、SD_D1/TDI 和 SD_DO/TDO 與存儲(chǔ)控制器的 SD_CD、SDI/0_CMD、SDI/0_CLK、SD_D3、SD_D2、SD_D1 和 SD_DO 選擇連通；S23 當(dāng)插入存儲(chǔ)卡的檢測(cè)信號(hào)為無(wú)存儲(chǔ)卡插入時(shí)，當(dāng)電子產(chǎn)品處于UART調(diào)試狀態(tài)時(shí)，復(fù)用選擇器將RXD和TXD與UART控制器選擇連通；當(dāng)電子產(chǎn)品處于JTAG調(diào)試狀態(tài)時(shí)，復(fù)用選擇器將TCK、TMS、TDI和TDO與JTAG控制器選擇連通；S30通過(guò)與調(diào)試控制器選擇連通的I/O接口，調(diào)試所述電子產(chǎn)品O
[0010]本發(fā)明還公開(kāi)一種應(yīng)用上述調(diào)試方法的電子產(chǎn)品，包括:1/0接口、與I/0接口電連接的復(fù)用選擇器、分別與復(fù)用選擇器電連接的存儲(chǔ)控制器和調(diào)試控制器。
[0011]本發(fā)明還公開(kāi)另一種電子產(chǎn)品，包括:1/0接口、與I/O接口電連接的復(fù)用選擇器、分別與復(fù)用選擇器電連接的存儲(chǔ)控制器和調(diào)試控制器;所述調(diào)試控制器包括分別與復(fù)用選擇器電連接的UART控制器和JTAG控制器;其中，所述復(fù)用選擇器用于當(dāng)電子產(chǎn)品處于UART調(diào)試狀態(tài)時(shí)，將I/O接口與UART控制器選擇連通;所述復(fù)用選擇器還用于當(dāng)電子產(chǎn)品處于JTAG調(diào)試狀態(tài)時(shí)，將I/O接口與JTAG控制器選擇連通。
[0012]本發(fā)明還公開(kāi)另一種電子產(chǎn)品，包括:1/0接口、與I/O接口電連接的復(fù)用選擇器、分別與復(fù)用選擇器電連接的存儲(chǔ)控制器和調(diào)試控制器;所述調(diào)試控制器包括分別與復(fù)用選擇器電連接的UART控制器和JTAG控制器;其中，所述復(fù)用選擇器用于當(dāng)電子產(chǎn)品處于UART調(diào)試狀態(tài)時(shí)，將I/O接口與UART控制器選擇連通;所述復(fù)用選擇器還用于當(dāng)電子產(chǎn)品處于JTAG調(diào)試狀態(tài)時(shí)，將I/O接口與JTAG控制器選擇連通;CPU內(nèi)核;所述CPU內(nèi)核分別與所述存儲(chǔ)控制器、所述UART控制器和JTAG控制器電連接，以傳輸存儲(chǔ)數(shù)據(jù)、UART數(shù)據(jù)和JTAG數(shù)據(jù)；所述CPU內(nèi)核還