靈敏度可調的解調電路的制作方法
【技術領域】
[0001 ] 本發(fā)明涉及一種靈敏度可調的解調電路，用于RFID (射頻識別)電路設計中，屬于模擬集成電路中解調電路領域。
【背景技術】
[0002]在射頻識別電路設計中，解調電路是核心模塊之一。解調電路需要將載波中的數(shù)據(jù)信號解調出來，再輸入給數(shù)字模塊作后續(xù)處理。對于射頻識別的標簽而言，信號首先通過電感耦合到卡片，經過整流后輸出給解調電路。解調電路一般由耦合電路，檢波濾波電路，高通電路，放大電路，遲滯比較器以及驅動電路組成，如圖1所示。解調電路中的檢波濾波電路是將經過整流后的電流信號檢出來并轉換成電壓信號，同時對信號中的載波信號進行濾波，盡量衰減其載波信號的幅度。高通電路主要是隔離直流電壓信號，使得數(shù)據(jù)交流信號可以通過且將數(shù)據(jù)信號送入到后續(xù)的放大電路中。放大電路是將檢波出來的信號進一步放大。遲滯比較器是對放大的信號進行比較，從而解調出對應的數(shù)字信號。驅動電路是進一步驅動解調出來的數(shù)字信號，以便送給數(shù)字電路進一步處理。
[0003]由于不同型號的讀卡機發(fā)出來的場強有大有小，發(fā)出來信號的質量也是有好有差，而卡片工作環(huán)境又是復雜多樣的，因此在整個通訊過程中，很可能由于卡片無法解調出信號而導致通訊中止。當卡片工作場強比較小時，信號的包絡就會比較??；當卡片工作距離變大時，信號的包絡也會比較??；當卡片工作在高速通訊速率時，其信號的包絡幅度更加會相應變小。這些變化都容易導致包絡信號無法解調。導致信號無法解調比較常見的原因就是解調電路的靈敏度過低，因此這些情況下就需要增加解調電路的解調靈敏度。但如果將解調電路的靈敏度設置過高，就會大大降低卡片的抗干擾能力，將不該解調出來的信號解調出來。

【發(fā)明內容】

[0004]本發(fā)明要解決的技術問題是提供一種靈敏度可調的解調電路，根據(jù)系統(tǒng)或者根據(jù)讀卡機需求調整解調電路的靈敏度，使得卡片順利完成包絡信號的解調。
[0005]為解決上述技術問題，本發(fā)明的靈敏度可調的解調電路，由耦合電路，檢波濾波電路，高通電路，放大電路，遲滯比較器以及驅動電路組成；上述各組成部分依次相互連接；其中，
[0006]所述放大電路，包括:第七NMOS晶體管麗7，第八NMOS晶體管MN8，第十三NMOS晶體管MN13至第十八NMOS晶體管MN18，第五PMOS晶體管MP5，第六PMOS晶體管MP6，第i^一PMOS管MPll至第十六PMOS晶體管MP16，第三開關K3和第四開關K4 ；
[0007]第五PMOS晶體管MP5的源極和電源電壓端VDD相連接；第五PMOS晶體管MP5和第八NMOS晶體管MN8的柵極與所述高通電路的輸出端相連接；第五PMOS晶體管MP5的漏極與第六PMOS晶體管MP6的源極相連接，第七NMOS晶體管MN7的源極與第八NMOS晶體管MN8的漏極相連接，第八NMOS晶體管MN8的源極接地；第六PMOS晶體管MP6的柵極和漏極與第七NMOS晶體管MN7的柵極和漏極相連接，其連接的節(jié)點設為C ；
[0008]第^^一 PMOS晶體管MPll的源極和電源電壓端VDD相連接；第^^一 PMOS晶體管MPll的漏極與第十二 PMOS晶體管MP12的源極相連接；第十二 PMOS晶體管MP12的漏極與第十三NMOS晶體管麗13的漏極以及所述C端相連接；第十三NMOS晶體管麗13的源極與第十四NMOS晶體管MN14的漏極相連接，第十四NMOS晶體管MN14的源極接地；第^^一 PMOS晶體管MPl1、第十二PMOS晶體管MP12、第十三NMOS晶體管MN13和第十四NMOS晶體管MN14的柵極與所述高通電路的輸出端相連接；
[0009]第十三PMOS晶體管MP13的源極和電源電壓端VDD相連接；第十三PMOS晶體管MP13的漏極與第十四PMOS晶體管MP14的源極相連接；第十四PMOS晶體管MP14的漏極與第十五NMOS晶體管MN15的漏極以及第三開關K3的一端相連接，第三開關K3的另一端與所述C端相連接；第十五NMOS晶體管MN15的源極與第十六NMOS晶體管MN16的漏極相連接，第十六NMOS晶體管MN16的源極接地；第十三PMOS晶體管MP13、第十四PMOS晶體管MP14、第十五NMOS晶體管麗15和第十六NMOS晶體管麗16的柵極與所述高通電路的輸出端相連接；
[0010]第十五PMOS晶體管MP15的源極和電源電壓端VDD相連接；第十五PMOS晶體管MP15的漏極與第十六PMOS晶體管MP16的源極相連接；第十六PMOS晶體管MP16的漏極與第十七NMOS晶體管MN17的漏極以及第四開關K4的一端相連接，第四開關K4的另一端與所述C端相連接；第十七NMOS晶體管MN17的源極與第十八NMOS晶體管MN18的漏極相連接，第十八NMOS晶體管MN18的源極接地；第十五PMOS晶體管MP15、第十六PMOS晶體管MP16、第十七NMOS晶體管麗17和第十八NMOS晶體管麗18的柵極與所述高通電路的輸出端相連接。
[0011 ] 所述放大電路中，第H^一 PMOS晶體管，第十二 PMOS晶體管，第十三NMOS晶體管和第十四NMOS晶體管組成第一組放大電路；第十三PMOS晶體管，第十四PMOS晶體管，第十五NMOS晶體管和第十六NMOS晶體管組成第二組放大電路；第十五PMOS晶體管，第十六PMOS晶體管，第十七NMOS晶體管和第十八NMOS晶體管組成第三組放大電路；第一組放大電路中MOS晶體管的尺寸和第二組放大電路中MOS晶體管的尺寸相同，第三組放大電路中MOS晶體管的尺寸是第二組放大電路中MOS晶體管尺寸的2倍。
[0012]所述放大電路中，第五PMOS晶體管，第六PMOS晶體管，第七NMOS晶體管和第八NMOS晶體管組成低增益線性放大電路，具有和所述第一組放大電路相同的電路尺寸。
[0013]所述高通電路，包括第三NMOS晶體管至第六NMOS晶體管，第一 PMOS晶體管至PMOS晶體管，第三電容，第五電容和第二開關；
[0014]第一 PMOS晶體管和第三PMOS晶體管的源極和電源電壓端VDD相連接；第一 PMOS晶體管的漏極和第二 PMOS晶體管的源極相連接；第三NMOS晶體管的源極與第四NMOS晶體管的漏極相連接；第四NMOS晶體管的源極接地；第三PMOS晶體管的漏極和第四PMOS晶體管的源極相連接；第五NMOS晶體管的源極與第六NMOS晶體管的漏極相連接；第六NMOS晶體管的源極接地；第一 PMOS晶體管、第二 PMOS晶體管、第三PMOS晶體管、第三NMOS晶體管、第四NMOS晶體管和第六NMOS晶體管的柵極與第二 PMOS晶體管的漏極和第三NMOS晶體管的漏極相連接；第四PMOS晶體管和第五NMOS晶體管的柵極以及第四PMOS晶體管的漏極和第五NMOS晶體管的漏極相連接，其連接的節(jié)點記為B ;第三電容的一端與第五電容的一端相連接，并與所述檢波濾波電路的A端相連接；第五電容的另一端和第二開關的一端相連接，第二開關的另一端和第三電容的另一端相連接，并與所述B端相連接；
[0015]所述高通電路中，第一 PMOS晶體管，第二 PMOS晶體管，第三NMOS晶體管和第四NMOS晶體管組成分壓電路，具有和所述第一組放大電路相同的電路尺寸；第三PMOS晶體管，第四PMOS晶體管,第五NMOS晶體管和第六NMOS晶體管組成偏置電路,也具有和所述第一組放大電路相同的電路尺寸。
[0016]由于傳統(tǒng)的解調電路靈敏度是固定不變的，而卡片面臨的工作環(huán)境又是復雜多樣的，還要面臨高速通訊速率下包絡幅度明顯減小的情況。因此，本發(fā)明在傳統(tǒng)的解調電路基礎上，在放大電路中采用兩路開關控制解調靈敏度。需要的時候就將開關控制信號打開，不需要的時候就關閉。具體來說，與圖1所示的現(xiàn)有的解調電路相比，在放大電路中由開關K3和K4控制，直接影響放大后包絡的幅度；信號包絡的幅度大小也直接影響著遲滯比較器的比較結果。這兩路開關的開和關就會直接影響解調電路的解調靈敏度。