檢測終端設備中數(shù)據(jù)線邦定斷路的方法和裝置的制造方法
【技術領域】
[0001]本發(fā)明涉及終端設備生產(chǎn)技術領域，尤其涉及一種檢測終端設備中數(shù)據(jù)線邦定斷路的方法和裝置。
【背景技術】
[0002]隨著終端設備，例如點讀機的應用越來越廣泛，其生產(chǎn)效率的提高則變得至關重要。終端設備中，CPU 一般使用邦定工藝的封裝形式在電路板上植入，以節(jié)省成本。
[0003]然而，邦定封膠后，若發(fā)現(xiàn)其中的數(shù)據(jù)線出現(xiàn)斷路則難以修復，因此，在邦定封膠之前，需要確認其中的數(shù)據(jù)線是否出現(xiàn)斷路的情況，現(xiàn)有的做法一般是通過肉眼進行觀察，但實際上并無法通過肉眼準確觀察到異常，更無法定位哪一根數(shù)據(jù)線出現(xiàn)了斷路。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]此外，有必要提供一種能準確判定邦定的數(shù)據(jù)線中發(fā)生的斷路，并準確定位發(fā)生了斷路的數(shù)據(jù)線的檢測終端設備中數(shù)據(jù)線邦定斷路的方法。
[0005]另外，還有必要提供一種能準確判定邦定的數(shù)據(jù)線中發(fā)生的斷路，并準確定位發(fā)生了斷路的數(shù)據(jù)線的檢測終端設備中數(shù)據(jù)線邦定斷路的裝置。
[0006]一種檢測終端設備中數(shù)據(jù)線邦定斷路的方法，包括:
配置待檢測數(shù)據(jù)線，以輸出高電平；
延遲預設時間后配置所述輸出高電平的待檢測數(shù)據(jù)線，以得到所述待檢測數(shù)據(jù)線中的電平；
判斷所述電平是否與輸出的高電平相匹配，若為是，則判定所述待檢測數(shù)據(jù)線發(fā)生斷路。
[0007]在其中一個實施例中，所述配置待檢測數(shù)據(jù)線，以輸出高電平的步驟包括:
配置所述待檢測數(shù)據(jù)線為輸出；
由所述配置為輸出的待檢測數(shù)據(jù)線輸出高電平。
[0008]在其中一個實施例中，所述延遲預設時間后配置所述輸出高電平的待檢測數(shù)據(jù)線，以得到所述待檢測數(shù)據(jù)線中的電平的步驟包括:
延遲預設時間后配置所述輸出高電平的待檢測數(shù)據(jù)線為輸入；
讀取所述配置為輸入的待檢測數(shù)據(jù)線中的電平。
[0009]在其中一個實施例中，所述待檢測數(shù)據(jù)線為多根，逐根進行所述待檢測數(shù)據(jù)線的配置和高電平的輸出，以得到對每一根待檢測數(shù)據(jù)線的判定。
[0010]在其中一個實施例中，所述方法還包括:
判斷全部待檢測數(shù)據(jù)線是否判定完成，若為是，則將未發(fā)生斷路的全部待檢測數(shù)據(jù)線配置為功能線，以還原所述全部待檢測數(shù)據(jù)線的功能。
[0011]一種檢測終端設備中數(shù)據(jù)線邦定斷路的裝置，包括:
初始配置模塊，用于配置待檢測數(shù)據(jù)線，以輸出高電平； 延遲處理模塊，用于延遲預設時間后配置所述輸出高電平的待檢測數(shù)據(jù)線，以得到所述待檢測數(shù)據(jù)線中的電平；
判斷模塊，用于判斷所述電平是否與輸出的高電平相匹配，若為是，則判定所述待檢測數(shù)據(jù)線發(fā)生斷路。
[0012]在其中一個實施例中，所述初始配置模塊包括:
輸出配置單元，用于配置所述待檢測數(shù)據(jù)線為輸出；
電平輸出單元，用于由所述配置為輸出的待檢測數(shù)據(jù)線輸出高電平。
[0013]在其中一個實施例中，所述延遲處理模塊包括:
輸入配置單元，用于延遲預設時間后配置輸出高電平的待檢測數(shù)據(jù)線為輸入；
讀取單元，用于讀取所述配置為輸入的待檢測數(shù)據(jù)線中的電平。
[0014]在其中一個實施例中，所述待檢測數(shù)據(jù)線為多根，所述初始配置模塊逐根進行所述待檢測數(shù)據(jù)線的配置和高電平的輸出，以得到對每一根待檢測數(shù)據(jù)線的判定。
[0015]在其中一個實施例中，所述裝置還包括:
完成判斷模塊，用于判斷全部待檢測數(shù)據(jù)線是否判定完成，若為是，則通知功能還原模塊；
所述功能還原模塊用于將未發(fā)生斷路的全部待檢測數(shù)據(jù)線配置為功能線，以還原所述全部待檢測數(shù)據(jù)線的功能。
[0016]與現(xiàn)有技術相比，本發(fā)明具有如下有益效果:
終端設備的生產(chǎn)中，對數(shù)據(jù)線邦定封膠之前，將對該數(shù)據(jù)線進行檢測，配置待檢測數(shù)據(jù)線，以輸出高電平，輸出高電平的待檢測數(shù)據(jù)線中，延遲預設時間后再次進行配置以得到其中的電平，若該電平與輸出的高電平并不相匹配，則判定該待檢測數(shù)據(jù)發(fā)生了斷路，進而通過該過程準確發(fā)現(xiàn)邦定的數(shù)據(jù)線中發(fā)生的斷路，并準確地定位了發(fā)生斷路的數(shù)據(jù)線，準確率尚，且判定速度快，有助于提尚所在終端設備的生廣效率。
【附圖說明】
[0017]圖1是為一個實施例中檢測終端設備中數(shù)據(jù)線邦定斷路的方法流程圖；
圖2為圖1中配置待檢測數(shù)據(jù)線，以輸出高電平的方法流程圖；
圖3為圖1中延遲預設時間后配置輸出高電平的待檢測數(shù)據(jù)線，以得到待檢測數(shù)據(jù)線中的電平的方法流程圖；
圖4為另一個實施例中檢測終端設備中數(shù)據(jù)線邦定斷路的方法流程圖；
圖5為一個實施例檢測終端設備中數(shù)據(jù)線邦定斷路的裝置的結構框圖；
圖6為圖5中初始配置模塊的結構框圖；
圖7為圖5中延遲處理模塊的結構框圖；
圖8是另一個實施例中檢測終端設備中數(shù)據(jù)線邦定斷路的裝置的結構框圖。
【具體實施方式】
[0018]體現(xiàn)本發(fā)明特征與優(yōu)點的典型實施方式將在以下的說明中詳細敘述。應理解的是本發(fā)明能夠在不同的實施方式上具有各種的變化，其皆不脫離本發(fā)明的范圍，且其中的說明及圖示在本質(zhì)上是當作說明之用，而非用以限制本發(fā)明。
[0019]如前所述，終端設備的生產(chǎn)中，需將cpu植入電路板板中，以完成cpu的封裝，因此，將在cpu的邦定封膠之前確認cpu的數(shù)據(jù)線是否存在斷路的情況，以避免邦定封膠之后數(shù)據(jù)線斷開的情況發(fā)生。
[0020]例如，該數(shù)據(jù)線為led數(shù)據(jù)線，則將終端設備開機，并顯示若干幅圖片，技術人員通過肉眼觀察led色彩是否有異常，該種方式的缺點在于:
Cl)肉眼觀察色彩效率低下；
(2)使用RGB模式的led數(shù)據(jù)線有16根，某一根led數(shù)據(jù)線斷路時，往往色彩差異較小，難以通過肉眼觀察出來，經(jīng)常會出現(xiàn)漏網(wǎng)之魚；
(3)即便觀察發(fā)現(xiàn)色彩有異常，也很難定位是哪一根led數(shù)據(jù)線出現(xiàn)了斷路。
[0021]因此，特提出一種檢測終端設備中數(shù)據(jù)線邦定斷路的方法。
[0022]在一個實施例中，具體的，該檢測終端設備中數(shù)據(jù)線邦定斷路的方法如圖1所示，包括:
步驟110，配置待檢測數(shù)據(jù)線，以輸出高電平。
[0023]終端設備中，為減少干擾，數(shù)據(jù)線，如led數(shù)據(jù)線一般會在電路板上接入下拉電阻，其下拉電阻的電阻阻值可為10k。待檢測數(shù)據(jù)線為該終端設備CPU中的led數(shù)據(jù)線。
[0024]具體的，如圖2所示，該步驟110包括:
步驟111，配置待檢測數(shù)據(jù)線為輸出。
[0025]將待檢測數(shù)據(jù)線配置成普通的輸出，進而提供了輸出口。
[0026]步驟113，由配置為輸出的待檢測數(shù)據(jù)線輸出高電平。
[0027]通過配置為輸出的待檢測數(shù)據(jù)線中提供的輸出口，輸出高電平，此時，由于待檢測數(shù)據(jù)線接入了下拉電阻，因此，在下拉電阻的作用下快速放電，很快地變成低電平，而在延遲了一定時間之后無法由輸出口輸出高電平。
[0028]步驟130，延遲預設時間后配置輸出高電平的待檢測數(shù)據(jù)線，以得到待檢測數(shù)據(jù)線中的電平。
[0029]如上所述，將預先設置一定的時間，以在延遲該預設的時間之后，才進行待檢測數(shù)據(jù)線中電平的檢測。
[0030]具體的，在配置為輸出的待檢測數(shù)據(jù)線輸出高電平之后，將進行計時，以待達到預設時間時觸發(fā)進行該待檢測數(shù)據(jù)線中電平的獲取。
[0031]步驟150，判斷該電平是否與輸出的高電平相匹配，若為是，則進入步驟170，若為否，則進入步驟190。
[0032]延遲預設時間后將得到的電平與高電平進行大小匹配，若該電平的電阻阻值與高電平所對應的電阻阻值要適應，例如，該電平的電阻阻值與高電平所對應的電阻阻值相同或者相接近。
[0033]若延遲預設時間所得到的電平是與高電平不相匹配的，即該電平為低電平，則說明該待檢測數(shù)據(jù)線接了下拉電阻而快速放電。
[0034]若延遲預設時間所得到的電平與高電平相匹配，則說明該待檢測數(shù)據(jù)線斷開，也就是說，該待檢測數(shù)據(jù)線中的輸出口懸空，其中的高電平將保持一定時間，因此，可判定得到這一待檢測數(shù)據(jù)線并未發(fā)生斷路，進而輸出相應的判定結果。
[0035]步驟170，判定待檢測數(shù)據(jù)線發(fā)生斷路。
[0036]步驟190，判定待檢測數(shù)據(jù)線未發(fā)生斷路。
[0037]通過如上所述的過程，將實現(xiàn)了終端設備生產(chǎn)時數(shù)據(jù)線斷路的快速判斷，大大提高判斷效率和準確率，并可快速定位是哪一根數(shù)據(jù)線出現(xiàn)斷路。
[0038]進一步的，如圖3所示，該步驟130包括:
步驟131，延遲預設時間后配置輸出高電平的待檢測數(shù)據(jù)線為輸入。
[0039]等待預設時間之后，將當前配置為輸出的待檢測數(shù)據(jù)線配置為輸入，以便于進行該待檢測數(shù)據(jù)線中電平的讀取。
[0040]步驟133，讀取配置為輸入的待檢測數(shù)據(jù)線中的電平。
[0041]該讀取得到的電平可能為高電平，也可能為低電平，其將由所在待檢測數(shù)據(jù)線是否存在斷路決定。
[0042]在一個實施例中，終端設備中待檢測數(shù)據(jù)線為多根，與之相對應的，上述步驟110中，將逐根進行待檢測數(shù)據(jù)線的配置和高電平的輸出，以得到對每一根待檢測數(shù)據(jù)線的判定。
[0043]也就是說，對于終端設備中的多根待檢測數(shù)據(jù)線而言，將逐根進行是否斷路的檢測，以