本申請(qǐng)涉及人工智能，尤其涉及一種電子部件缺陷的檢測(cè)方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)。

背景技術(shù)：

1、在電子制造業(yè)中，電子部件的缺陷檢測(cè)是確保產(chǎn)品達(dá)到高標(biāo)準(zhǔn)質(zhì)量的重要環(huán)節(jié)。傳統(tǒng)的缺陷檢測(cè)主要依賴(lài)人工，這種方式存在效率低下、錯(cuò)誤率高和成本高等問(wèn)題。隨著計(jì)算機(jī)技術(shù)的不斷發(fā)展，特別是圖像處理和深度學(xué)習(xí)等領(lǐng)域的發(fā)展，基于機(jī)器視覺(jué)的缺陷檢測(cè)技術(shù)開(kāi)始受到學(xué)術(shù)界和工業(yè)界的廣泛關(guān)注。

2、目前基于深度學(xué)習(xí)的缺陷檢測(cè)技術(shù)具有顯著的優(yōu)勢(shì)，例如在復(fù)雜缺陷檢測(cè)，不平衡數(shù)據(jù)下的缺陷檢測(cè)等均能取得較好效果。但同時(shí)也存在一些挑戰(zhàn)，現(xiàn)有的大多數(shù)基于深度學(xué)習(xí)的缺陷檢測(cè)技術(shù)通常依賴(lài)于大量客戶(hù)現(xiàn)場(chǎng)的數(shù)據(jù)進(jìn)行訓(xùn)練，需要花費(fèi)大量的人力物力財(cái)力進(jìn)行新數(shù)據(jù)收集和模型重訓(xùn)練，限制了這類(lèi)設(shè)備的通用性。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本申請(qǐng)實(shí)施例的目的在于提出一種電子部件缺陷的檢測(cè)方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)，以提高電子部件缺陷的檢測(cè)準(zhǔn)確性和通用性，減少缺陷檢測(cè)的成本。

2、為了解決上述技術(shù)問(wèn)題，本申請(qǐng)實(shí)施例提供一種電子部件缺陷的檢測(cè)方法，包括：

3、采集電子部件的圖像數(shù)據(jù)或傳感器數(shù)據(jù)，得到初始數(shù)據(jù)，并對(duì)所述初始數(shù)據(jù)進(jìn)行預(yù)處理，生成基礎(chǔ)數(shù)據(jù)；

4、將所述基礎(chǔ)數(shù)據(jù)輸入至缺陷檢測(cè)模型中，對(duì)所述基礎(chǔ)數(shù)據(jù)中的圖像數(shù)據(jù)和點(diǎn)云數(shù)據(jù)進(jìn)行高層特征提取和特征混合，得到第一混合特征；

5、將所述第一混合特征分別特征聚合和全局特征提取，得到聚合特征和全局特征；

6、將所述聚合特征和所述全局特征經(jīng)過(guò)特征混合后進(jìn)行特征增強(qiáng)，得到增強(qiáng)后特征；

7、對(duì)所述增強(qiáng)后特征進(jìn)行通道注意力和空間注意力計(jì)算，生成注意力特征；

8、對(duì)所述注意力特征進(jìn)行特征變換和特征解碼，得到目標(biāo)檢測(cè)結(jié)果。

9、為了解決上述技術(shù)問(wèn)題，本申請(qǐng)實(shí)施例提供一種電子部件缺陷的檢測(cè)裝置，包括：

10、數(shù)據(jù)采集單元，用于采集電子部件的圖像數(shù)據(jù)或傳感器數(shù)據(jù)，得到初始數(shù)據(jù)，并對(duì)所述初始數(shù)據(jù)進(jìn)行預(yù)處理，生成基礎(chǔ)數(shù)據(jù)；

11、特征混合單元，用于將所述基礎(chǔ)數(shù)據(jù)輸入至缺陷檢測(cè)模型中，對(duì)所述基礎(chǔ)數(shù)據(jù)中的圖像數(shù)據(jù)和點(diǎn)云數(shù)據(jù)進(jìn)行高層特征提取和特征混合，得到第一混合特征；

12、特征提取單元，用于將所述第一混合特征分別特征聚合和全局特征提取，得到聚合特征和全局特征；

13、特征增強(qiáng)單元，用于將所述聚合特征和所述全局特征經(jīng)過(guò)特征混合后進(jìn)行特征增強(qiáng)，得到增強(qiáng)后特征；

14、注意力計(jì)算單元，用于對(duì)所述增強(qiáng)后特征進(jìn)行通道注意力和空間注意力計(jì)算，生成注意力特征；

15、檢測(cè)結(jié)果生成單元，用于對(duì)所述注意力特征進(jìn)行特征變換和特征解碼，得到目標(biāo)檢測(cè)結(jié)果。

16、為解決上述技術(shù)問(wèn)題，本發(fā)明采用的一個(gè)技術(shù)方案是：提供一種電子設(shè)備，包括，一個(gè)或多個(gè)處理器；存儲(chǔ)器，用于存儲(chǔ)一個(gè)或多個(gè)程序，使得一個(gè)或多個(gè)處理器實(shí)現(xiàn)上述任意一項(xiàng)所述的電子部件缺陷的檢測(cè)方法。

17、為解決上述技術(shù)問(wèn)題，本發(fā)明采用的一個(gè)技術(shù)方案是：一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，所述計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)上述任意一項(xiàng)所述的電子部件缺陷的檢測(cè)方法。

18、本發(fā)明實(shí)施例提供了一種電子部件缺陷的檢測(cè)方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)。其中，方法包括：采集電子部件的圖像數(shù)據(jù)或傳感器數(shù)據(jù)，得到初始數(shù)據(jù)，并對(duì)所述初始數(shù)據(jù)進(jìn)行預(yù)處理，生成基礎(chǔ)數(shù)據(jù)；將所述基礎(chǔ)數(shù)據(jù)輸入至缺陷檢測(cè)模型中，對(duì)所述基礎(chǔ)數(shù)據(jù)中的圖像數(shù)據(jù)和點(diǎn)云數(shù)據(jù)進(jìn)行高層特征提取和特征混合，得到第一混合特征；將所述第一混合特征分別特征聚合和全局特征提取，得到聚合特征和全局特征；將所述聚合特征和所述全局特征經(jīng)過(guò)特征混合后進(jìn)行特征增強(qiáng)，得到增強(qiáng)后特征；對(duì)所述增強(qiáng)后特征進(jìn)行通道注意力和空間注意力計(jì)算，生成注意力特征；對(duì)所述注意力特征進(jìn)行特征變換和特征解碼，得到目標(biāo)檢測(cè)結(jié)果。本發(fā)明實(shí)施例對(duì)所采集的電子部件數(shù)據(jù)不同層次特征的提取，并且將所特征的特征進(jìn)行混合、增強(qiáng)和注意力計(jì)算，能夠精準(zhǔn)識(shí)別到電子部件的相關(guān)特征，同時(shí)本申請(qǐng)無(wú)需大量現(xiàn)場(chǎng)數(shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)據(jù)采集和重訓(xùn)練，有利于提高電子部件缺陷的檢測(cè)準(zhǔn)確性和通用性，減少缺陷檢測(cè)的成本。

技術(shù)特征：

1.一種電子部件缺陷的檢測(cè)方法，其特征在于，包括：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子部件缺陷的檢測(cè)方法，其特征在于，所述將所述基礎(chǔ)數(shù)據(jù)輸入至缺陷檢測(cè)模型中，對(duì)所述基礎(chǔ)數(shù)據(jù)中的圖像數(shù)據(jù)和點(diǎn)云數(shù)據(jù)進(jìn)行高層特征提取和特征混合，得到第一混合特征，包括：

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子部件缺陷的檢測(cè)方法，其特征在于，所述將所述第一混合特征分別特征聚合和全局特征提取，得到聚合特征和全局特征，包括：

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子部件缺陷的檢測(cè)方法，其特征在于，所述將所述聚合特征和所述全局特征經(jīng)過(guò)特征混合后進(jìn)行特征增強(qiáng)，得到增強(qiáng)后特征，包括：

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子部件缺陷的檢測(cè)方法，其特征在于，所述對(duì)所述增強(qiáng)后特征進(jìn)行通道注意力和空間注意力計(jì)算，生成注意力特征，包括：

6.根據(jù)權(quán)利要求1至5任一項(xiàng)所述的電子部件缺陷的檢測(cè)方法，其特征在于，所述對(duì)所述注意力特征進(jìn)行特征變換和特征解碼，得到目標(biāo)檢測(cè)結(jié)果，包括：

7.根據(jù)權(quán)利要求1至5任一項(xiàng)所述的電子部件缺陷的檢測(cè)方法，其特征在于，所述將所述基礎(chǔ)數(shù)據(jù)輸入至缺陷檢測(cè)模型中，對(duì)所述基礎(chǔ)數(shù)據(jù)中的圖像數(shù)據(jù)和點(diǎn)云數(shù)據(jù)進(jìn)行高層特征提取和特征混合，得到第一混合特征之前，所述方法還包括：

8.一種電子部件缺陷的檢測(cè)裝置，其特征在于，包括：

9.一種電子設(shè)備，其特征在于，包括存儲(chǔ)器和處理器，所述存儲(chǔ)器中存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，所述處理器執(zhí)行所述計(jì)算機(jī)程序時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1至7中任一項(xiàng)所述的電子部件缺陷的檢測(cè)方法。

10.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其特征在于，所述計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1至7中任一項(xiàng)所述的電子部件缺陷的檢測(cè)方法。

技術(shù)總結(jié)
本申請(qǐng)涉及一種電子部件缺陷的檢測(cè)方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)，其中方法包括：采集電子部件的圖像數(shù)據(jù)或傳感器數(shù)據(jù)，得到初始數(shù)據(jù)，并對(duì)初始數(shù)據(jù)進(jìn)行預(yù)處理，生成基礎(chǔ)數(shù)據(jù)；將基礎(chǔ)數(shù)據(jù)輸入至缺陷檢測(cè)模型中，對(duì)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)中的圖像數(shù)據(jù)和點(diǎn)云數(shù)據(jù)進(jìn)行高層特征提取和特征混合，得到第一混合特征；將第一混合特征分別特征聚合和全局特征提取，得到聚合特征和全局特征；將聚合特征和全局特征經(jīng)過(guò)特征混合后進(jìn)行特征增強(qiáng)，得到增強(qiáng)后特征；對(duì)增強(qiáng)后特征進(jìn)行通道注意力和空間注意力計(jì)算，生成注意力特征；對(duì)注意力特征進(jìn)行特征變換和特征解碼，得到目標(biāo)檢測(cè)結(jié)果。本申請(qǐng)?zhí)岣吡穗娮硬考毕莸臋z測(cè)準(zhǔn)確性和通用性，減少缺陷檢測(cè)的成本。

技術(shù)研發(fā)人員：張小虎,趙盛宇,黃健宏
受保護(hù)的技術(shù)使用者：海目星激光科技集團(tuán)股份有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2025/1/6