技術(shù)編號：40610096
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本申請涉及人工智能，尤其涉及一種電子部件缺陷的檢測方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì)。背景技術(shù)、在電子制造業(yè)中，電子部件的缺陷檢測是確保產(chǎn)品達到高標(biāo)準(zhǔn)質(zhì)量的重要環(huán)節(jié)。傳統(tǒng)的缺陷檢測主要依賴人工，這種方式存在效率低下、錯誤率高和成本高等問題。隨著計算機技術(shù)的不斷發(fā)展，特別是圖像處理和深度學(xué)習(xí)等領(lǐng)域的發(fā)展，基于機器視覺的缺陷檢測技術(shù)開始受到學(xué)術(shù)界和工業(yè)界的廣泛關(guān)注。、目前基于深度學(xué)習(xí)的缺陷檢測技術(shù)具有顯著的優(yōu)勢，例如在復(fù)雜缺陷檢測，不平衡數(shù)據(jù)下的缺陷檢測等均能取得較好效果。但同時也存在一些挑戰(zhàn)，現(xiàn)有的大...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。
請注意，此類技術(shù)沒有源代碼，用于學(xué)習(xí)研究技術(shù)思路。