本發(fā)明涉及計算機測試領(lǐng)域，具體的說是一種基于uefi的計算機內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡測試方法和裝置。

背景技術(shù)：

目前對計算機性能和穩(wěn)定性的要求不斷提高，而內(nèi)存是計算機中重要的部件之一，內(nèi)存的運行也決定了計算機的穩(wěn)定運行，是計算機產(chǎn)品性能一個重要衡量標(biāo)準(zhǔn)。對內(nèi)存應(yīng)用的不斷增加，內(nèi)存衍生品的市場需求也不斷增加，比如為了便于產(chǎn)品開發(fā)設(shè)計而出現(xiàn)的內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡。

在計算機產(chǎn)品出廠之前，會進(jìn)行各種部件功能測試，以確保產(chǎn)品性能的穩(wěn)定性和優(yōu)良率。在內(nèi)存使用中增加內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡后，勢必會對內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡傳輸信息的穩(wěn)定性和完整性、有效性等進(jìn)行測試。通常對內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡進(jìn)行測試采用的方法是，在計算機操作系統(tǒng)下進(jìn)行測試，這種方式需要在操作系統(tǒng)中安裝測試工具和相應(yīng)驅(qū)動，并且啟動操作系統(tǒng)耗時較長。當(dāng)大批量計算機內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡需要測試時，逐個進(jìn)行測試，勢必會浪費大量人力和時間，測試效率很低。

因此，開發(fā)一種簡單快捷的計算機內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡測試方法，基于uefi進(jìn)行計算機內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡測試。uefi（unifiedextensiblefirmwareinterface，統(tǒng)一的可擴展固件接口）是intel為pc固件的體系結(jié)構(gòu)、接口和服務(wù)提出的建議標(biāo)準(zhǔn)，用于操作系統(tǒng)自動從預(yù)啟動的操作環(huán)境，加載到一種操作系統(tǒng)上，提供一組在操作系統(tǒng)加載之前（啟動前），在所有平臺上一致的、正確指定的啟動服務(wù)。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明針對目前技術(shù)發(fā)展的需求和不足之處，提供一種基于uefi的計算機內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡測試方法和裝置。

本發(fā)明所述一種基于uefi的計算機內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡測試方法和裝置，解決上述技術(shù)問題采用的技術(shù)方案如下：所述基于uefi的計算機內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡測試方法，通過一測試u盤來測試一計算機內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡，將內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡插接在所述計算機中，內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡連接內(nèi)存，同時將測試u盤插接在所述計算機上，所述測試u盤中含有內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡測試程序和所述計算機的內(nèi)存數(shù)據(jù)信息；所述計算機內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡測試方法主要實現(xiàn)步驟如下：

1）計算機上電；

2）進(jìn)入biossetup，設(shè)置第一啟動項為bootfrombuild-inefishell；

3）接入測試u盤，通過uefi啟動startup.nsh腳本引導(dǎo)進(jìn)入測試u盤；

4）通過測試u盤中測試程序收集所述計算機的內(nèi)存相關(guān)信息；

5）對獲取到的內(nèi)存信息進(jìn)行計算，與測試u盤中包含的內(nèi)存數(shù)據(jù)信息進(jìn)行比較，完成所述計算機中內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡的測試操作。

優(yōu)選的，所述測試u盤中包含的內(nèi)存數(shù)據(jù)信息，有所述計算機硬件平臺支持rank_num，以及與所述計算機硬盤平臺兼容的相應(yīng)內(nèi)存類型對應(yīng)的spd信息，以及計算writeleveling所需的延時數(shù)據(jù)。

優(yōu)選的，對獲取到的內(nèi)存信息進(jìn)行計算，然后將獲取的內(nèi)存信息、writeleveling延時計算值與測試u盤中的內(nèi)存數(shù)據(jù)信息進(jìn)行比較，若計算結(jié)果在內(nèi)存數(shù)據(jù)范圍內(nèi)則內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡測試通過；否則此內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡內(nèi)存設(shè)備測試不通過。

一種基于uefi的計算機內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡測試裝置，其結(jié)構(gòu)主要包括一計算機、內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡和測試u盤，所述內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡插接在所述計算機中，所述內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡上插接有內(nèi)存，所述測試u盤同樣連接在所述計算機上；

對所述計算機設(shè)置biossetup啟動順序，設(shè)置第一啟動項為：bootfrombuild-inefishell；所述測試u盤中含有內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡測試程序，通過該測試程序所述測試u盤能夠收集所述計算機的內(nèi)存相關(guān)信息；同時所述測試u盤中包含所述計算機的內(nèi)存數(shù)據(jù)信息，將測試u盤收集到的內(nèi)存信息與測試u盤中的內(nèi)存數(shù)據(jù)信息進(jìn)行比較，完成計算機內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡測試。

本發(fā)明所述一種基于uefi的計算機內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡測試方法和裝置，與現(xiàn)有技術(shù)相比具有的有益效果是：本發(fā)明基于uefi進(jìn)行計算機內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡測試，不需要計算機操作系統(tǒng)支持即可實現(xiàn)，克服了現(xiàn)有計算機操作系統(tǒng)下進(jìn)行內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡測試所有的缺陷，簡單快捷，維護(hù)方便，極大提高了測試效率，節(jié)省了測試成本，提高了內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡測試準(zhǔn)確性。

附圖說明

附圖1為基于uefi進(jìn)行計算機內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡測試的流程圖。

具體實施方式

為使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點更加清楚明白，以下結(jié)合具體實施例，對本發(fā)明所述一種基于uefi的計算機內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡測試方法進(jìn)一步詳細(xì)說明。

實施例：

本實施例所述基于uefi的計算機內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡測試裝置，主要包括一計算機、內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡和測試u盤，所述內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡插接在該計算機中，所述轉(zhuǎn)接卡上插接有內(nèi)存，所述測試u盤同樣連接在該計算機上；

對所述計算機設(shè)置biossetup啟動順序，設(shè)置第一啟動項：bootfrombuild-inefishell；所述測試u盤中含有相應(yīng)測試程序，通過該測試程序所述測試u盤能夠收集內(nèi)存設(shè)備的相關(guān)信息；同時所述測試u盤中包含該計算機的內(nèi)存數(shù)據(jù)信息，將測試u盤收集到的內(nèi)存設(shè)備信息與測試u盤中的內(nèi)存數(shù)據(jù)信息進(jìn)行比較，進(jìn)行計算機內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡測試。

通過所述測試u盤收集內(nèi)存設(shè)備相關(guān)信息，并對獲取的內(nèi)存設(shè)備相關(guān)信息進(jìn)行計算，將獲取的內(nèi)存設(shè)備信息、計算結(jié)果與所述測試u盤中的內(nèi)存數(shù)據(jù)信息進(jìn)行比較，若計算結(jié)果在內(nèi)存數(shù)據(jù)范圍內(nèi)則表明該內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡測試通過，否則表明該內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡測試不通過。

所述測試u盤中包含有所述計算機硬盤平臺支持的rank_num，以及與本平臺兼容的相應(yīng)內(nèi)存設(shè)備類型對應(yīng)的spd信息，如內(nèi)存容量等，以及計算writeleveling所需的延時數(shù)據(jù)。

內(nèi)存spd信息是內(nèi)存模組上面的一個可擦寫的rom，里面記錄了該內(nèi)存的許多重要信息，諸如內(nèi)存的芯片及模組廠商、工作頻率、工作電壓、速度、容量、電壓與行、列地址帶寬等參數(shù)。

采用本實施例所述基于uefi的計算機內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡測試裝置，實現(xiàn)了一種計算機內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡測試方法，如附圖1所示，其具體實現(xiàn)步驟如下：

1）計算機上電；

2）進(jìn)入biossetup，設(shè)置第一啟動項為bootfrombuild-inefishell；

3）接入測試u盤，uefi啟動startup.nsh腳本引導(dǎo)進(jìn)入測試u盤；

4）通過測試u盤中測試程序收集該計算機的內(nèi)存設(shè)備相關(guān)信息；

5）對獲取到的內(nèi)存信息進(jìn)行計算，與測試u盤中包含的內(nèi)存數(shù)據(jù)信息進(jìn)行比較，完成該計算機中內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡的測試操作。

步驟5）中，所述測試u盤中包含的內(nèi)存數(shù)據(jù)信息，有所述計算機硬件平臺支持rank_num，以及與該平臺兼容的相應(yīng)內(nèi)存設(shè)備類型對應(yīng)的spd信息，以及計算writeleveling所需的延時數(shù)據(jù)。

步驟5）中，將獲取到的內(nèi)存信息進(jìn)行計算，然后將獲取的內(nèi)存信息、writeleveling延時計算值與測試u盤中的內(nèi)存數(shù)據(jù)信息進(jìn)行比較，若計算結(jié)果在內(nèi)存數(shù)據(jù)范圍內(nèi)則內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡測試通過；否則此內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡內(nèi)存設(shè)備測試不通過。

具體實施方式僅是本發(fā)明的具體個案，本發(fā)明的專利保護(hù)范圍包括但不限于上述具體實施方式，任何符合本發(fā)明的權(quán)利要求書的且任何所屬技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員對其所做的適當(dāng)變化或替換，皆應(yīng)落入本發(fā)明的專利保護(hù)范圍。