本發(fā)明屬于硬件開發(fā)技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種用于芯片操作系統(tǒng)的測試方法。

背景技術(shù)：

隨著智能卡在各個領(lǐng)域的應(yīng)用迅速增長，對其芯片操作系統(tǒng)質(zhì)量的要求也越來越高。軟件測試是軟件生命周期中極為重要的一環(huán)，是軟件質(zhì)量保證的關(guān)鍵階段。是對軟件設(shè)計和編碼的最終檢査。由于軟件產(chǎn)品本身無形態(tài)，它是復(fù)雜的、知識高度密集的邏輯產(chǎn)品，沒有一種軟件方法可以保證在軟件的設(shè)計和實現(xiàn)過程中沒有錯誤，據(jù)統(tǒng)計，目前在軟件開發(fā)總成本中，用在測試上的花銷要占到30％-40％。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明的目的在于提供一種用于芯片操作系統(tǒng)的測試方法，通過提供的芯片測試方法保證了軟件在開發(fā)過程中的質(zhì)量，目的在于發(fā)現(xiàn)程序執(zhí)行過程中出現(xiàn)的錯誤、保證用戶需求開發(fā)過程中的高質(zhì)量，提高軟件開發(fā)的效率，降低開發(fā)周期。

本發(fā)明是通過以下技術(shù)方案實現(xiàn)的：

本發(fā)明為一種用于芯片操作系統(tǒng)的測試方法，包括如下步驟：

步驟一，用戶需求：通過對需求評審，進行驗收測試設(shè)計，進行驗收測試；若驗收測試出現(xiàn)錯誤進行回歸測試，回歸步驟四重復(fù)測試；

步驟二，需求分析與設(shè)計：通過測試需求分析，系統(tǒng)測試設(shè)計，進行系統(tǒng)測試；若系統(tǒng)測試出現(xiàn)錯誤進行回歸測試，回歸步驟四重復(fù)測試；

步驟三，概要設(shè)計：集成測試準(zhǔn)備，進行集成測試；若集成測試出現(xiàn)錯誤進行回歸測試，回歸步驟四重復(fù)測試；

步驟四，詳細設(shè)計：單元測試準(zhǔn)備，進行單元測試；

步驟五，得到編碼。

優(yōu)選地，所述系統(tǒng)測試采用COS測試，所述COS測試包括COS的基本功能測試、恢復(fù)性測試、耐久性測試、性能測試和互操作性測試。

優(yōu)選地，所述COS的基本功能測試包括命令功能測試、文件管理測試、命令響應(yīng)測試和安全管理測試。

優(yōu)選地，所述恢復(fù)性測試用于測試終端與智能卡在通信中止時，驗證系統(tǒng)的自我恢復(fù)能力。

本發(fā)明具有以下有益效果：

本發(fā)明提供的芯片測試方法保證了軟件在開發(fā)過程中的質(zhì)量，目的在于發(fā)現(xiàn)程序執(zhí)行過程中出現(xiàn)的錯誤、保證用戶需求開發(fā)過程中的高質(zhì)量，提高軟件開發(fā)的效率，降低開發(fā)周期。

當(dāng)然，實施本發(fā)明的任一產(chǎn)品并不一定需要同時達到以上所述的所有優(yōu)點。

附圖說明

為了更清楚地說明本發(fā)明實施例的技術(shù)方案，下面將對實施例描述所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。

圖1為本發(fā)明的一種用于芯片操作系統(tǒng)的測試方法的流程圖。

具體實施方式

下面將結(jié)合本發(fā)明實施例中的附圖，對本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發(fā)明一部分實施例，而不是全部的實施例?；诒景l(fā)明中的實施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有作出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其它實施例，都屬于本發(fā)明保護的范圍。

請參閱圖1所示，本發(fā)明為一種用于芯片操作系統(tǒng)的測試方法，包括如下步驟：

步驟一，用戶需求：通過對需求評審，進行驗收測試設(shè)計，進行驗收測試；若驗收測試出現(xiàn)錯誤進行回歸測試，回歸步驟四重復(fù)測試；

步驟二，需求分析與設(shè)計：通過測試需求分析，系統(tǒng)測試設(shè)計，進行系統(tǒng)測試；若系統(tǒng)測試出現(xiàn)錯誤進行回歸測試，回歸步驟四重復(fù)測試；

步驟三，概要設(shè)計：集成測試準(zhǔn)備，進行集成測試；若集成測試出現(xiàn)錯誤進行回歸測試，回歸步驟四重復(fù)測試；

步驟四，詳細設(shè)計：單元測試準(zhǔn)備，進行單元測試；

步驟五，得到編碼。

其中，系統(tǒng)測試采用COS測試，所述COS測試包括COS的基本功能測試、恢復(fù)性測試、耐久性測試、性能測試和互操作性測試。

其中，COS的基本功能測試包括命令功能測試、文件管理測試、命令響應(yīng)測試和安全管理測試。命令功能測試的對象是IS07816所定義的基本命令以及與行業(yè)相關(guān)的命令，驗證命令的功能能否滿足需求。文件管理測試包括了文件選擇方法測試、文件表示測試、專有文件測試、基本文件以及基本文件的性測試。命令響應(yīng)測試由對錯誤命令的吶應(yīng)測試、卡返回的狀態(tài)字節(jié)測試兩方面構(gòu)成。安全管理測試的主要內(nèi)容有鑒權(quán)功能以及安全訪問機制測試。

其中，恢復(fù)性測試用于測試終端與智能卡在通信中止時，驗證系統(tǒng)的自我恢復(fù)能力。

若cos對指令的處理時間過長，則容易會導(dǎo)致其交易功能出現(xiàn)非預(yù)期錯誤,cos的性能測試主要關(guān)注的是cos對終端所發(fā)出指令的響應(yīng)時間。

互操作性測試，也稱兼容性測試，主要檢測智能卡與不同終銷的互操作能力，以常用的S1M卡為例，互操作性指的就是SIM卡在不同品牌的手機中能否正常使用。

對芯片的物理結(jié)構(gòu)進行性能檢測后再進行系統(tǒng)檢測。

物體特性測試主要是指在不同工作環(huán)境下卡的工作狀態(tài)是否能和相關(guān)協(xié)議保持一致性，主要包括以下幾個方面：

物理特性：包括卡外觀(如卡的大小，觸點尺寸等)、紫外線輻射、X射線輻射、觸電表面斷面、卡與芯片以及芯片與觸點的機械強度、觸點電阻、電磁場、靜電、熱耗、卡加電次數(shù)等是否滿足1S07816對其的規(guī)定。

電氣特性：芯片正常工作的Vcc值及Icc值、正常工作狀態(tài)下，對Vcc、I/O、CLK、RST測試點的測試、在空閑、全頻率空閑、時鐘停等狀態(tài)下，對Icc的測試。

操作過程：接口設(shè)備連接和觸點激活、卡復(fù)位、觸點的釋放是否滿足相關(guān)協(xié)議。

復(fù)位應(yīng)答：異步傳輸中的S位應(yīng)答ATR是否與相應(yīng)協(xié)議一致。

傳輸協(xié)議：智能卡與終端進循相同的協(xié)議是保證兩者進行正常通信的前提。傳輸協(xié)議測試也是必不可少的。

值得注意的是，上述系統(tǒng)實施例中，所包括的各個單元只是按照功能邏輯進行劃分的，但并不局限于上述的劃分，只要能夠?qū)崿F(xiàn)相應(yīng)的功能即可；另外，各功能單元的具體名稱也只是為了便于相互區(qū)分，并不用于限制本發(fā)明的保護范圍。

另外，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解實現(xiàn)上述各實施例方法中的全部或部分步驟是可以通過程序來指令相關(guān)的硬件來完成，相應(yīng)的程序可以存儲于一計算機可讀取存儲介質(zhì)中，所述的存儲介質(zhì)，如ROM/RAM、磁盤或光盤等。

以上公開的本發(fā)明優(yōu)選實施例只是用于幫助闡述本發(fā)明。優(yōu)選實施例并沒有詳盡敘述所有的細節(jié)，也不限制該發(fā)明僅為所述的具體實施方式。顯然，根據(jù)本說明書的內(nèi)容，可作很多的修改和變化。本說明書選取并具體描述這些實施例，是為了更好地解釋本發(fā)明的原理和實際應(yīng)用，從而使所屬技術(shù)領(lǐng)域技術(shù)人員能很好地理解和利用本發(fā)明。本發(fā)明僅受權(quán)利要求書及其全部范圍和等效物的限制。