技術(shù)總結(jié)
獲得與材料表面上的反射關(guān)聯(lián)的多個被測樣本數(shù)據(jù)點。使用所獲得的樣本數(shù)據(jù)點來生成用于微面元模型中的多個因子的非參數(shù)密集制表的一維表示。

技術(shù)研發(fā)人員：M·穆罕默德巴格;D·諾勞澤扎賴;J·M·斯尼德
受保護的技術(shù)使用者：微軟技術(shù)許可有限責(zé)任公司
文檔號碼：201580033901
技術(shù)研發(fā)日：2015.06.25
技術(shù)公布日：2017.05.10