缺陷檢測裝置及偏光片貼附設備的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明提供了一種缺陷檢測裝置及偏光片貼附設備，該缺陷檢測裝置包括激光發(fā)射器、圖像采集裝置；所述激光發(fā)射器用于向待測面板的表面照射激光；所述圖像采集裝置用于根據(jù)所述表面中被照射激光的區(qū)域反射的激光獲取所述被照射激光的區(qū)域中不同位置的高度信息，并將所述高度信息轉(zhuǎn)換為對應的灰度信息，得到所述被照射激光的區(qū)域的灰度圖像。本發(fā)明提供的缺陷檢測裝置，首先通過激光發(fā)射器向面板的表面發(fā)射激光，而后通過圖像采集裝置根據(jù)待測面板表面反射的激光得到被照射激光區(qū)域的灰度圖像，在得到的灰度圖像中，不同位置的高度通過不同的灰度顯示，從而能夠更加直觀的反映出被照射區(qū)域中的缺陷信息，提高面板表面缺陷檢測的可靠性。
【專利說明】缺陷檢測裝置及偏光片貼附設備

【技術領域】
[0001]本發(fā)明涉及顯示領域，尤其涉及一種缺陷檢測裝置及偏光片貼附設備。

【背景技術】
[0002]薄膜晶體管液晶顯不器(ThinFilm Transistor-Liquid Crystal Display,簡稱TFT-LCD)是當前主流的平板顯示器，其基本結(jié)構(gòu)包括彩膜基板、液晶層、陣列基板、偏光片等結(jié)構(gòu)。
[0003]在液晶顯示器的制作工藝中，當Single Panel在Sliming后，由于打磨緣故容易使面板的表面出現(xiàn)凹凸缺陷點，因此，需要在貼附偏光片(Pol)之前對面板的表面進行檢測，目前，通常是以人眼觀察的方式判斷面板上是否存在缺陷點，然而，對于面板上較小的凹凸點，其不易被人眼識別，容易造成漏檢，從而造成面板表面缺陷檢測可靠性不高的問題。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0004](一 )要解決的技術問題
[0005]本發(fā)明要解決的技術問題是提供一種缺陷檢測裝置及偏光片貼附設備，能夠提高面板表面缺陷檢測的可靠性。
[0006]( 二 )技術方案
[0007]為解決上述技術問題，本發(fā)明提供了一種缺陷檢測裝置，包括激光發(fā)射器、圖像采集裝置；
[0008]所述激光發(fā)射器用于向待測面板的表面照射激光；
[0009]所述圖像采集裝置用于根據(jù)所述表面中被照射激光的區(qū)域反射的激光獲取所述被照射激光的區(qū)域中不同位置的高度信息，并將所述高度信息轉(zhuǎn)換為對應的灰度信息，得到所述被照射激光的區(qū)域的灰度圖像。
[0010]進一步地，所述圖像采集裝置包括:
[0011]光線接收模塊，用于采集所述表面中被照射激光的區(qū)域反射的激光；
[0012]轉(zhuǎn)換模塊，用于根據(jù)所述反射的激光獲取所述被照射激光的區(qū)域中不同位置的高度信息，并將所述高度信息轉(zhuǎn)換為對應的灰度信息，得到所述被照射激光的區(qū)域的灰度圖像。
[0013]進一步地，所述缺陷檢測裝置還包括傳送裝置，所述激光發(fā)射器為固定在所述傳送裝置上方的線性激光發(fā)射器，通過所述傳送裝置控制所述待測面板在預設的方向移動得到多個對應所述表面不同區(qū)域的灰度圖像。
[0014]進一步地，所述待測面板的移動方向與所述線性發(fā)射器發(fā)射的線性激光垂直。
[0015]進一步地，所述激光發(fā)射器以及所述光線接收模塊均位于所述傳送裝置的正上方。
[0016]進一步地，所述圖像采集裝置還包括拼接模塊，用于將得到的多個灰度圖像進行拼接，得到所述待測面板的表面的整體灰度圖像。
[0017]進一步地，還包括顯示裝置，用于顯示所述圖像采集裝置得到的灰度圖像。
[0018]為解決上述技術問題，本發(fā)明還提供了一種偏光片貼附設備，包括上述任一的缺陷檢測裝置。
[0019](三)有益效果
[0020]本發(fā)明提供的缺陷檢測裝置，首先通過激光發(fā)射器向面板的表面發(fā)射激光，而后通過圖像采集裝置根據(jù)待測面板表面反射的激光得到被照射激光區(qū)域的灰度圖像，在得到的灰度圖像中，不同位置的高度通過不同的灰度顯示，從而能夠更加直觀的反映出被照射區(qū)域中的缺陷信息，提高面板表面缺陷檢測的可靠性。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0021]圖1是本發(fā)明實施方式提供的一種缺陷檢測裝置的示意圖；
[0022]圖2是本發(fā)明實施方式提供的另一種缺陷檢測裝置的示意圖。

【具體實施方式】
[0023]下面結(jié)合附圖和實施例，對本發(fā)明的【具體實施方式】作進一步詳細描述。以下實施例用于說明本發(fā)明，但不用來限制本發(fā)明的范圍。
[0024]圖1是本發(fā)明實施方式提供的一種缺陷檢測裝置的示意圖，該缺陷檢測裝置包括激光發(fā)射器1、圖像采集裝置2;
[0025]所述激光發(fā)射器I用于向待測面板3的表面照射激光；
[0026]所述圖像采集裝置2用于根據(jù)所述表面中被照射激光的區(qū)域31反射的激光獲取所述被照射激光的區(qū)域31中不同位置的高度信息，并將所述高度信息轉(zhuǎn)換為對應的灰度信息，得到所述被照射激光的區(qū)域31的灰度圖像。
[0027]具體地，圖像采集裝置可采用激光三角法獲取被照射激光的區(qū)域中不同位置的高度信息，其中，該圖像采集裝置包括:
[0028]光線接收模塊，用于采集所述表面中被照射激光的區(qū)域反射的激光；
[0029]轉(zhuǎn)換模塊，用于根據(jù)所述反射的激光獲取所述被照射激光的區(qū)域中不同位置的高度信息，并將所述高度信息轉(zhuǎn)換為對應的灰度信息，得到所述被照射激光的區(qū)域的灰度圖像。
[0030]本發(fā)明實施方式提供的缺陷檢測裝置，首先通過激光發(fā)射器向面板的表面發(fā)射激光，而后通過圖像采集裝置根據(jù)待測面板表面反射的激光得到被照射激光區(qū)域的灰度圖像，在得到的灰度圖像中，不同位置的高度通過不同的灰度顯示，從而能夠更加直觀的反映出被照射區(qū)域中的缺陷信息，提高面板表面缺陷檢測的可靠性。
[0031]參見圖2，圖2是本發(fā)明實施方式提供的另一種缺陷檢測裝置的示意圖，該缺陷檢測裝置包括激光發(fā)射器1、圖像采集裝置、傳送裝置4 ；
[0032]其中，激光發(fā)射器I為線性激光發(fā)射器，圖像采集裝置包括光線接收模塊21和轉(zhuǎn)換模塊22，激光發(fā)射器I和光線接收模塊21均固定在傳送裝置4的上方，通過所述傳送裝置控制所述待測面板3在預設的方向移動從而能夠得到多個對應于待測面板3表面上不同區(qū)域的灰度圖像。優(yōu)選地，上述激光發(fā)射器I以及光線接收模塊21可均設置于傳送裝置4的正上方。
[0033]本發(fā)明實施方式中，圖像采集裝置可采用激光三角法獲取待測面板表面各個位置的高度信息，具體地，激光發(fā)射器I以預設的發(fā)射角度對待測面板的表面進行激光照射，在待測面板表面的寬方向上產(chǎn)生一條線性激光束，光線接收模塊可采用面陣CCD圖像傳感器，對待測面板表面的激光束進行掃描，其掃描的方向垂直于待測面板表面，從而得到被照射區(qū)域在寬方向上各個位置的高度信息，在被照射區(qū)域中，其寬方向上的各個位置得到各自的高度信息，而后通過轉(zhuǎn)換模塊將各個位置的高度信息轉(zhuǎn)換為對應的灰度信息，從而得到被照射區(qū)域的灰度圖像，而后，通過傳送裝置4控制待測面板3在預設的方向移動，其移動方向可與所述線性發(fā)射器發(fā)射的線性激光術相垂直(即待測面板的移動方向與待測面板4的寬方向垂直)，從而改變待測面板表面被照射激光區(qū)域的位置，光線接收模塊再次對待測面板表面的激光束進行掃描，從而得到改變后的激光照射區(qū)域中寬方向上各個位置的高度信息，進而得到對應的灰度圖像，通過控制傳送裝置的移動速度和光線接收模塊的掃描頻率，從而能夠得到待測面板表面在長方向上(即移動方向)各個區(qū)域的灰度圖像。優(yōu)選地，上述圖像采集裝置還包括拼接模塊，通過該拼接模塊將得到的多個灰度圖像進行拼接，從而能夠得到待測面板的表面的整體灰度圖像。
[0034]優(yōu)選地，參見圖2，上述的缺陷檢測裝置還包括顯示裝置5，通過顯示裝置5可實時地顯示圖像采集裝置得到的灰度圖像，從而方便用戶查看檢測結(jié)果。
[0035]本發(fā)明實施方式提供的缺陷檢測裝置，通過激光發(fā)射器在待測面板的表面照射線性激光，并通過傳送裝置改變待測面板表面被照射激光的區(qū)域，使得圖像采集模塊能夠得到待測面板表面在移動方向上各個區(qū)域的灰度圖像，而后將得到的各個區(qū)域的灰度圖像拼接得到待測面板的表面的整體灰度圖像，通過該待測面板的整體灰度圖像能夠直觀地反映出待測面板表面的缺陷信息，避免人為因素對面板表面缺陷檢測的影響，提高面板表面缺陷檢測的可靠性。
[0036]此外，本發(fā)明實施方式還提供了一種偏光片貼附設備，包括上述的缺陷檢測裝置。
[0037]以上實施方式僅用于說明本發(fā)明，而并非對本發(fā)明的限制，有關【技術領域】的普通技術人員，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍的情況下，還可以做出各種變化和變型，因此所有等同的技術方案也屬于本發(fā)明的范疇，本發(fā)明的專利保護范圍應由權利要求限定。
【權利要求】
1.一種缺陷檢測裝置，其特征在于，包括激光發(fā)射器、圖像采集裝置； 所述激光發(fā)射器用于向待測面板的表面照射激光； 所述圖像采集裝置用于根據(jù)所述表面中被照射激光的區(qū)域反射的激光獲取所述被照射激光的區(qū)域中不同位置的高度信息，并將所述高度信息轉(zhuǎn)換為對應的灰度信息，得到所述被照射激光的區(qū)域的灰度圖像。
2.根據(jù)權利要求1所述的缺陷檢測裝置，其特征在于，所述圖像采集裝置包括: 光線接收模塊，用于采集所述表面中被照射激光的區(qū)域反射的激光； 轉(zhuǎn)換模塊，用于根據(jù)所述反射的激光獲取所述被照射激光的區(qū)域中不同位置的高度信息，并將所述高度信息轉(zhuǎn)換為對應的灰度信息，得到所述被照射激光的區(qū)域的灰度圖像。
3.根據(jù)權利要求2所述的缺陷檢測裝置，其特征在于，所述缺陷檢測裝置還包括傳送裝置，所述激光發(fā)射器為固定在所述傳送裝置上方的線性激光發(fā)射器，通過所述傳送裝置控制所述待測面板在預設的方向移動得到多個對應所述表面不同區(qū)域的灰度圖像。
4.根據(jù)權利要求3所述的缺陷檢測裝置，其特征在于，所述待測面板的移動方向與所述線性發(fā)射器發(fā)射的線性激光垂直。
5.根據(jù)權利要求3所述的缺陷檢測裝置，其特征在于，所述激光發(fā)射器以及所述光線接收模塊均位于所述傳送裝置的正上方。
6.根據(jù)權利要求3所述的缺陷檢測裝置，其特征在于，所述圖像采集裝置還包括拼接模塊，用于將得到的多個灰度圖像進行拼接，得到所述待測面板的表面的整體灰度圖像。
7.根據(jù)權利要求1至6任一所述的缺陷檢測裝置，其特征在于，還包括顯示裝置，用于顯示所述圖像采集裝置得到的灰度圖像。
8.一種偏光片貼附設備，其特征在于，包括如權利要求1-7任一所述的缺陷檢測裝置。
【文檔編號】G06T5/50GK104316541SQ201410645979
【公開日】2015年1月28日 申請日期:2014年11月12日 優(yōu)先權日:2014年11月12日
【發(fā)明者】孫琦, 馬彬, 趙秀強 申請人:京東方科技集團股份有限公司, 北京京東方光電科技有限公司