技術(shù)編號：6634244
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明提供了一種缺陷檢測裝置及偏光片貼附設(shè)備，該缺陷檢測裝置包括激光發(fā)射器、圖像采集裝置；所述激光發(fā)射器用于向待測面板的表面照射激光；所述圖像采集裝置用于根據(jù)所述表面中被照射激光的區(qū)域反射的激光獲取所述被照射激光的區(qū)域中不同位置的高度信息，并將所述高度信息轉(zhuǎn)換為對應(yīng)的灰度信息，得到所述被照射激光的區(qū)域的灰度圖像。本發(fā)明提供的缺陷檢測裝置，首先通過激光發(fā)射器向面板的表面發(fā)射激光，而后通過圖像采集裝置根據(jù)待測面板表面反射的激光得到被照射激光區(qū)域的灰度圖像，在得...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。
請注意，此類技術(shù)沒有源代碼，用于學習研究技術(shù)思路。