具有背光測試功能的電子裝置及其方法
【專利摘要】本發(fā)明提供了一種具有背光測試功能的電子裝置，所述背光測試功能具有防呆機(jī)制。該電子裝置包括一顯示屏、一處理器以及在操作上與該處理器連接的存儲(chǔ)模塊，該顯示屏用于顯示一測試窗口，該處理器用于執(zhí)行所述存儲(chǔ)模塊中的多個(gè)命令模塊，該存儲(chǔ)模塊包括一測試模塊、一背光控制模塊、一顯示控制模塊、一判斷模塊以及一計(jì)數(shù)模塊。該測試模塊預(yù)先設(shè)置有多種背光變化模式，測試時(shí)，隨機(jī)選定一種背光變化模式，并通過所述背光控制模塊控制所述顯示屏的背光亮度調(diào)節(jié)，然后由所述判斷模塊和計(jì)數(shù)模塊對(duì)背光的變化模式進(jìn)行檢測。本發(fā)明還提供了一種電子裝置的背光測試方法。
【專利說明】具有背光測試功能的電子裝置及其方法

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及一種具有背光測試功能的電子裝置及其方法，尤其涉及一種具有防呆 機(jī)制的電子裝置及其方法。

【背景技術(shù)】
[0002] 隨著電子顯示技術(shù)的飛速發(fā)展，具有顯示功能的電子裝置已經(jīng)越來越被人們所接 受。顯示技術(shù)中又以IXD顯示技術(shù)為代表，具有IXD顯示屏的電子裝置因其顯示效果好、安 全穩(wěn)定的特點(diǎn)占據(jù)顯示裝置領(lǐng)域的絕大部分市場。在具有LCD顯示屏的電子裝置的生產(chǎn)過 程中，一個(gè)必須進(jìn)行的步驟就是LCD背光測試，LCD背光測試是確保LCD背光亮暗調(diào)節(jié)功能 是否正常的重要保證。LCD背光測試是使用測試程序改變LCD背光的亮暗程度，測試人員通 過雙眼去觀測IXD背光是否發(fā)生改變，進(jìn)而判斷背光是否正常。
[0003] 在現(xiàn)有技術(shù)中，如圖1所示，在背光測試過程中，電子裝置100的顯示屏10上顯示 一窗口 13,該窗口 13中有一對(duì)話框131，該對(duì)話框131在固定位置顯示兩選項(xiàng)"是"和"否"。 在測試中，測試人員往往會(huì)在沒有注意到LCD背光是否發(fā)生變化的情況下就點(diǎn)擊"是"，從 而通過了測試。這將會(huì)導(dǎo)致不良產(chǎn)品的流出，甚至遭到客戶的投訴，不利于產(chǎn)品的銷售。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0004] 有鑒于此，有必要提供一種具有防呆機(jī)制的電子裝置背光測試方法。
[0005] 本發(fā)明提供了一種具有背光測試功能的電子裝置，所述電子裝置的背光測試功能 具有防呆機(jī)制，該電子裝置包括一顯示屏、一處理器以及在操作上與該處理器連接的存儲(chǔ) 單元，所述顯示屏用于顯示一測試窗口，所述處理器用于執(zhí)行存儲(chǔ)單元中的多個(gè)指令模塊， 該存儲(chǔ)單元包括： 一測試模塊，用于隨機(jī)選定一種背光變化模式； 一背光控制模塊，用于根據(jù)所述測試模塊選定的背光變化模式控制所述顯示屏的背光 亮度調(diào)節(jié)； 一判斷模塊，用于判斷測試人員選擇的一變化模式是否與測試模塊選定的背光變化模 式相同，以及 一顯示控制模塊，用于在所述判斷模塊確定測試人員選擇的變化模式與測試模塊選定 的背光變化模式相同時(shí)，控制所述顯示屏在測試窗口中顯示一測試通過對(duì)話框。
[0006] 本發(fā)明還提供了一種電子裝置的背光測試方法，該方法包括步驟： a) ，從預(yù)設(shè)的多種背光變化模式中隨機(jī)選定一種背光變化模式； b) ，根據(jù)所述選定的背光變化模式控制所述顯示屏的背光亮度調(diào)節(jié)； c) ，顯示一測試窗口，其中，該測試窗口包括一顯示有所述預(yù)設(shè)的多種背光變化模式的 對(duì)話框，供測試人員選擇； d) ，判斷對(duì)話框中被選擇的背光變化模式是否與所述測試模塊選定的背光變化模式相 同，若相同，進(jìn)入步驟e ; e)，顯示一測試通過對(duì)話框，背光測試結(jié)束。
[0007] 本發(fā)明之一種電子裝置的背光測試方法，使用一顯示屏在隨機(jī)位置顯示測試人員 需要點(diǎn)擊的選項(xiàng)，防止測試人員在沒有注意到顯示屏的背光變化情況就通過測試，降低了 測試人員的誤操作概率，同時(shí)提高了測試結(jié)果的可信度，在工業(yè)生產(chǎn)中有很大的應(yīng)用價(jià)值。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0008] 圖1為現(xiàn)有技術(shù)中背光測試時(shí)顯示屏顯示的窗口。
[0009] 圖2為本發(fā)明一實(shí)施方式中的功能模塊圖。
[0010] 圖3為圖2的顯示屏顯示的測試窗口以及選擇對(duì)話框。
[0011] 圖4為圖2的顯示屏顯示的測試通過對(duì)話框。
[0012] 圖5為圖2的顯示屏顯示的背光失效對(duì)話框。
[0013] 圖6為利用圖2的系統(tǒng)執(zhí)行的方法步驟流程圖。
[0014] 主要元件符號(hào)說明

【權(quán)利要求】
1. 一種具有背光測試功能的電子裝置，所述電子裝置的背光測試功能具有防呆機(jī)制， 該電子裝置包括一顯示屏、一處理器以及在操作上與該處理器連接的存儲(chǔ)單元，所述顯示 屏用于顯示一測試窗口，所述處理器用于執(zhí)行存儲(chǔ)單元中的多個(gè)指令模塊，其特征在于，該 存儲(chǔ)單元包括： 一測試模塊，用于隨機(jī)選定一種背光變化模式； 一背光控制模塊，用于根據(jù)所述測試模塊選定的背光變化模式控制所述顯示屏的背光 亮度調(diào)節(jié)； 一判斷模塊，用于判斷測試人員選擇的一變化模式是否與測試模塊選定的背光變化模 式相同，以及 一顯示控制模塊，用于在所述判斷模塊確定測試人員選擇的變化模式與測試模塊選定 的背光變化模式相同時(shí)，控制所述顯示屏在測試窗口中顯示一測試通過對(duì)話框。
2. 如權(quán)利要求1所述的電子裝置，其特征在于，所述電子裝置還包括： 一計(jì)數(shù)模塊，用于在所述判斷模塊確定測試人員選擇的變化模式與測試模塊選定的背 光變化模式不同時(shí)在原有的計(jì)數(shù)值上累加，并判斷計(jì)數(shù)后的值是否達(dá)到一預(yù)設(shè)值。
3. 如權(quán)利要求1所述的電子裝置，其特征在于，所述測試模塊預(yù)先設(shè)置有多種背光變 化模式。
4. 如權(quán)利要求1所述的電子裝置，其特征在于，所述顯示控制模塊還用于在所述背光 控制模塊控制顯示屏的背光亮度調(diào)節(jié)完成后，控制所述顯示屏在測試窗口中顯示一選擇對(duì) 話框，該選擇對(duì)話框包含一選項(xiàng)區(qū)域，該選項(xiàng)區(qū)域顯示有多個(gè)變化模式供用戶選擇，該多個(gè) 變化模式對(duì)應(yīng)于所述測試模塊中的多種背光變化模式，且該多個(gè)變化模式的位置是在該選 項(xiàng)區(qū)域中隨機(jī)顯示的。
5. -種電子裝置的背光測試裝置，所述測試裝置與一電子裝置相連，該電子裝置包括 一顯示屏，所述測試裝置用于測試該電子裝置顯示屏的背光亮度是否正常，其特征在于，所 述測試裝置包括： 一測試模塊，用于隨機(jī)選定一種背光變化模式； 一背光控制模塊，用于用于根據(jù)所述測試模塊選定的背光變化模式控制所述電子裝置 的顯示屏的背光亮度調(diào)節(jié)； 一判斷模塊，用于判斷測試人員選擇的一變化模式是否與測試模塊選定的背光變化模 式相同，以及 一顯示控制模塊，用于在所述判斷模塊確定測試人員選擇的變化模式與測試模塊選定 的背光變化模式相同時(shí)，控制所述顯示屏在測試窗口中顯示一測試通過對(duì)話框。
6. 如權(quán)利要求5所述的測試裝置，其特征在于，所述測試裝置還包括： 一計(jì)數(shù)模塊，用于在所述判斷模塊確定測試人員選擇的變化模式與測試模塊選定的背 光變化模式不同時(shí)在原有的計(jì)數(shù)值上累加，并判斷計(jì)數(shù)后的值是否達(dá)到一預(yù)設(shè)值。
7. 如權(quán)利要求5所述的測試裝置，其特征在于，所述測試裝置通過線纜或者其他連接 裝置與所述電子裝置連接。
8. -種電子裝置的背光測試方法，其特征在于，該方法包括步驟： a) ，從預(yù)設(shè)的多種背光變化模式中隨機(jī)選定一種背光變化模式； b) ，根據(jù)所述選定的背光變化模式控制所述顯示屏的背光亮度調(diào)節(jié)； C)，顯示一測試窗口，其中，該測試窗口包括一顯示有所述預(yù)設(shè)的多種背光變化模式的 對(duì)話框，供測試人員選擇； d) ，判斷對(duì)話框中被選擇的背光變化模式是否與所述測試模塊選定的背光變化模式相 同，若相同，進(jìn)入步驟e ; e) ，顯示一測試通過對(duì)話框，背光測試結(jié)束。
9. 如權(quán)利要求8所述的測試方法，其特征在于，所述步驟d還包括步驟：若對(duì)話框中被 選擇的背光變化模式與所述測試模塊選定的背光變化模式不相同，進(jìn)入步驟f ; f) ，進(jìn)行計(jì)數(shù)操作，在原有的計(jì)數(shù)值上累加并判斷計(jì)數(shù)后的值是否達(dá)到一預(yù)設(shè)值，若未 達(dá)到，返回步驟a。
10. 如權(quán)利要求9所述的測試方法，其特征在于，所述步驟f還包括步驟：若計(jì)數(shù)后的 值達(dá)到所述預(yù)設(shè)值，進(jìn)入步驟g ; g) ，顯不一背光失效對(duì)話框，背光測試結(jié)束。
【文檔編號(hào)】G06F9/44GK104239016SQ201310242454
【公開日】2014年12月24日 申請(qǐng)日期:2013年6月19日 優(yōu)先權(quán)日:2013年6月19日
【發(fā)明者】孫健, 劉來君 申請(qǐng)人:鴻富錦精密工業(yè)（深圳）有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司