專利名稱：輸入檢出裝置、方法、程序及計(jì)算機(jī)可讀取媒體的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明是有關(guān)于輸入檢出裝置、輸入檢出方法、輸入檢出程序及計(jì)算機(jī)可讀取的媒體，且特別有關(guān)于用以檢出觸碰具有配置為矩陣狀的電極的觸控感測(cè)器的輸入面時(shí)的接觸輸入的輸入檢出裝置、輸入檢出方法、輸入檢出程序及計(jì)算機(jī)可讀取媒體。
背景技術(shù)：
過(guò)去，在觸控感測(cè)器中常見(jiàn)一種利用2個(gè)檢出電極的差動(dòng)檢測(cè)方法。所謂差動(dòng)檢測(cè)方法是一種演算法，通過(guò)求出兩檢出數(shù)據(jù)的差值，來(lái)檢出觸控感測(cè)器的輸入面的接觸輸入，其中一檢出數(shù)據(jù)是循序掃描感測(cè)器內(nèi)橫或縱方向平行延伸的復(fù)數(shù)檢出電極時(shí)所獲得， 另一檢出數(shù)據(jù)是從與檢出電極個(gè)別設(shè)置的基準(zhǔn)電極或檢出電極中選出的任一電極所獲得的檢出數(shù)據(jù)(例如，專利文獻(xiàn)1 特開(kāi)平5-6153號(hào)公報(bào)及專利文獻(xiàn)2 美國(guó)專利申請(qǐng)公開(kāi)第 2010/0060610A1號(hào))。根據(jù)此演算法，具有能夠減低輸入檢出時(shí)所受到的周圍噪聲(例如 LCD的驅(qū)動(dòng)噪聲等)的影響。而差動(dòng)檢測(cè)方法也適用于可檢出多點(diǎn)接觸輸入的觸控感測(cè)器。美國(guó)專利申請(qǐng)公開(kāi)第2009/0273579A1號(hào)(專利文獻(xiàn)幻揭露對(duì)平行延伸但不鄰接的每?jī)蓚€(gè)電極以一次平移一條線的方式檢出輸入，再求出這兩個(gè)電極所檢出數(shù)據(jù)的差值。專利文獻(xiàn)1 特開(kāi)平5-6153號(hào)公報(bào)專利文獻(xiàn)2 美國(guó)專利申請(qǐng)公開(kāi)第2010/00606IOAl號(hào)專利文獻(xiàn)3 美國(guó)專利申請(qǐng)公開(kāi)第2009/0273579A1號(hào)然而，將差動(dòng)檢測(cè)使用于可多檢出多點(diǎn)接觸輸入的觸控感測(cè)器時(shí)，當(dāng)作為取得檢出數(shù)據(jù)差值的目標(biāo)對(duì)象的兩個(gè)電極分別具有多點(diǎn)接觸的輸入時(shí)，無(wú)法從這兩個(gè)電極所檢出的數(shù)據(jù)間獲得正確的差動(dòng)值，因此無(wú)法正確地檢測(cè)出多點(diǎn)輸入。另一方面，近年來(lái)智能型手機(jī)等常常會(huì)利用到多點(diǎn)觸控屏幕，若無(wú)法正確地辨識(shí)多點(diǎn)觸碰，就無(wú)法正確地辨識(shí)以2根手指抓取畫面上的操作對(duì)象來(lái)縮小畫面的動(dòng)作(pinch in)、或以2根手指抓取畫面上的操作對(duì)象來(lái)放大畫面的動(dòng)作(pinch out)，而有產(chǎn)生錯(cuò)誤動(dòng)作的可能性。因此，本發(fā)明的目的是提供一種能夠以差動(dòng)檢測(cè)演算法正確地檢測(cè)出多點(diǎn)輸入的輸入檢測(cè)裝置、輸入檢測(cè)方法、輸入檢測(cè)程序及其計(jì)算機(jī)可讀取媒體。

發(fā)明內(nèi)容
為了達(dá)成上述目的，本發(fā)明提供一種輸入檢出裝置，用以檢出接觸具有配置為矩陣狀的電極的觸控感測(cè)器的輸入面時(shí)的輸入，包括讀取部，通過(guò)一連串動(dòng)作來(lái)讀出對(duì)該輸入面的接觸所形成的輸入。該連串動(dòng)作包括同時(shí)掃描2條以上在掃描順序上相鄰的線的該電極，并依序由該輸入面的一端每次移動(dòng)一條線來(lái)掃描直到該輸入面的另一端，求取掃描該2條以上的線中的半數(shù)條連續(xù)的1條以上的線所獲得的檢出數(shù)據(jù)與剩余的半數(shù)條連續(xù)的1條以上的線所獲得的檢出數(shù)據(jù)之間的差值。
藉此，能夠解決現(xiàn)有技術(shù)在多點(diǎn)接觸輸入中有一點(diǎn)在基準(zhǔn)電極上的情況下，與檢出其他接觸輸入的檢出電極之間無(wú)法獲得正確差動(dòng)輸出的問(wèn)題。本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的輸入檢出裝置，更包括計(jì)算處理部，對(duì)該觸控感測(cè)器的輸入面全體積分該差值，計(jì)算出觸控信息。該計(jì)算處理部具有一重置部，當(dāng)該2條以上的線在該觸控感測(cè)器的輸入面上由掃描結(jié)束端跨越到掃描開(kāi)始端時(shí)所獲得的差的積分結(jié)果不滿足既定值時(shí)，將該積分結(jié)果或掃描該掃描結(jié)束端上的線所獲得的檢出數(shù)據(jù)重新設(shè)定為該既定值。藉此，即使觸控感測(cè)器的輸入面任一端部有多點(diǎn)接觸輸入中的一點(diǎn)，也能使用差動(dòng)檢測(cè)演算法正確地檢出多點(diǎn)輸入。本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的輸入檢出裝置，更包括端部接觸檢出部，通過(guò)決定該觸控信息是否具有既定的數(shù)據(jù)系列，來(lái)檢出相當(dāng)于該掃描開(kāi)始端及該掃描結(jié)束端的該觸控感測(cè)器的該輸入面的兩端有接觸輸入；以及修正部，當(dāng)該接觸感測(cè)器的該輸入面兩端有接觸輸入被該端部接觸檢出部檢出時(shí)，將該數(shù)據(jù)系列最小值加到該數(shù)據(jù)系列的各數(shù)據(jù)值，來(lái)修正該接觸數(shù)據(jù)。藉此，即使在觸控感測(cè)器的輸入面兩端同時(shí)有各自的接觸輸入的情況下，也能夠正確地檢出這些多點(diǎn)接觸輸入。本發(fā)明實(shí)施例的輸入檢出裝置中，當(dāng)該2條以上的線中的半數(shù)條連續(xù)的1條以上的線包括2條以上的線的情況下，該計(jì)算處理部分別對(duì)根據(jù)每次掃描的該2條以上的線中的各線位置而劃分的線群做積分，并結(jié)合該觸控感測(cè)器的整個(gè)輸入面掃描后所獲得的該整個(gè)線群的積分結(jié)果，產(chǎn)生該觸控信息。藉此，不管一次掃描的線的數(shù)目為何，也能夠獲得橫跨觸控感測(cè)器的輸入面一整面的正確觸控信息。本發(fā)明實(shí)施例的輸入檢出裝置中，該讀取部包括選擇器，依序選擇該2條以上在掃描順序上相鄰的線上的電極；以及差動(dòng)放大器，輸出掃描該2條以上的線中的半數(shù)條連續(xù)的1條以上的線所獲得的檢出數(shù)據(jù)與掃描剩余的半數(shù)條連續(xù)的1條以上的線所獲得的檢出數(shù)據(jù)之間的差值。本發(fā)明實(shí)施例的輸入檢出裝置，其中該計(jì)算處理部包括積分器，對(duì)該觸控感測(cè)器的整個(gè)輸入面積分該差值；第1存儲(chǔ)裝置，儲(chǔ)存該積分器于每一次掃描所求得的積分結(jié)果； 以及第2存儲(chǔ)裝置，儲(chǔ)存該積分器所求得的觸控感測(cè)器整個(gè)輸入面的積分結(jié)果，并作為觸控信息。本發(fā)明實(shí)施例的輸入檢出裝置，更包括噪聲濾波器，從該觸控信息中除去不滿閾值的低等噪聲。本發(fā)明實(shí)施例的輸入檢出裝置中，該輸入檢出裝置組裝于顯示裝置，該顯示裝置可顯示對(duì)應(yīng)該觸控感測(cè)器的該輸入面的輸入畫面。另外，為了達(dá)成上述目的，本發(fā)明提供一種輸入檢出方法，用以檢出接觸具有配置為矩陣狀的電極的觸控感測(cè)器的輸入面時(shí)的輸入，包括讀取步驟，通過(guò)一連串動(dòng)作來(lái)讀出對(duì)該輸入面的接觸所形成的輸入。該連串動(dòng)作包括同時(shí)掃描2條以上在掃描順序上相鄰的線的該電極，并依序由該輸入面的一端每次移動(dòng)一條線來(lái)掃描直到該輸入面的另一端， 求取掃描該2條以上的線中的半數(shù)條連續(xù)的1條以上的線所獲得的檢出數(shù)據(jù)與掃描剩余的
6半數(shù)條連續(xù)的1條以上的線所獲得的檢出數(shù)據(jù)之間的差值。本發(fā)明實(shí)施例的輸入檢出方法，更包括計(jì)算處理步驟，對(duì)該觸控感測(cè)器的輸入面全體積分該差值，計(jì)算出觸控信息，其中該計(jì)算處理步驟具有一重置步驟，當(dāng)該2條以上的線在該觸控感測(cè)器的輸入面上由掃描結(jié)束端跨越到掃描開(kāi)始端時(shí)所獲得的差的積分結(jié)果不滿足既定值時(shí)，將該積分結(jié)果或掃描該掃描結(jié)束端上的線所獲得的檢出數(shù)據(jù)重新設(shè)定為該既定值。另外，為了達(dá)成上述目的，本發(fā)明提供一種計(jì)算機(jī)可讀取的媒體，為了檢出接觸具有配置為矩陣狀的電極的觸控感測(cè)器的輸入面時(shí)的輸入，而紀(jì)錄了讓計(jì)算機(jī)實(shí)行讀取部功能的輸入檢出程序，其中該讀取部同時(shí)掃描2條以上在掃描順序上相鄰的線的該電極，并依序由該輸入面的一端每次移動(dòng)一條線來(lái)掃描直到該輸入面的另一端，求取掃描該2條以上的線中的半數(shù)條連續(xù)的1條以上的線所獲得的檢出數(shù)據(jù)與掃描剩余的半數(shù)條連續(xù)的1條以上的線所獲得的檢出數(shù)據(jù)之間的差值。本發(fā)明實(shí)施例的計(jì)算機(jī)可讀取的媒體，其中該輸入檢出程序更讓計(jì)算機(jī)實(shí)行計(jì)算處理部及重置部的功能，其中該計(jì)算處理部對(duì)該觸控感測(cè)器的輸入面全體積分該差值，計(jì)算出觸控信息；以及該重置部當(dāng)該2條以上的線在該觸控感測(cè)器的輸入面上由掃描結(jié)束端跨越到掃描開(kāi)始端時(shí)所獲得的差的積分結(jié)果不滿足既定值時(shí)，將該積分結(jié)果或掃描該掃描結(jié)束端上的線所獲得的檢出數(shù)據(jù)重新設(shè)定為該既定值。另外，為了達(dá)成上述目的，本發(fā)明提供一種輸入檢出程序，為了檢出接觸具有配置為矩陣狀的電極的觸控感測(cè)器的輸入面時(shí)的輸入，而將計(jì)算機(jī)實(shí)行讀取部的功能，其中該讀取部同時(shí)掃描2條以上在掃描順序上相鄰的線的該電極，并依序由該輸入面的一端每次移動(dòng)一條線來(lái)掃描直到該輸入面的另一端，求取掃描該2條以上的線中的半數(shù)條連續(xù)的1 條以上的線所獲得的檢出數(shù)據(jù)與掃描剩余的半數(shù)條連續(xù)的1條以上的線所獲得的檢出數(shù)據(jù)之間的差值。本發(fā)明實(shí)施例的輸入檢出程序，其中更讓計(jì)算機(jī)實(shí)行計(jì)算處理部及重置部的功能。該計(jì)算處理部對(duì)該觸控感測(cè)器的輸入面全體積分該差值，計(jì)算出觸控信息，該重置部當(dāng)該2條以上的線在該觸控感測(cè)器的輸入面上由掃描結(jié)束端跨越到掃描開(kāi)始端時(shí)所獲得的差的積分結(jié)果不滿足既定值時(shí)，將該積分結(jié)果或掃描該掃描結(jié)束端上的線所獲得的檢出數(shù)據(jù)重新設(shè)定為該既定值。根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例，提供了一種輸入檢出裝置、輸入檢出方法、輸入檢出程序及計(jì)算機(jī)可讀取的媒體，即使觸控感測(cè)器的輸入面端部有接觸輸入，也能夠使用差動(dòng)檢測(cè)演算法正確地檢出多點(diǎn)輸入。


圖1是顯示本發(fā)明實(shí)施例1的輸入檢出裝置的全體構(gòu)造例的機(jī)能方塊圖。圖2是本發(fā)明實(shí)施例1的輸入檢出裝置的觸控感測(cè)器構(gòu)造一例的平面圖。圖3是顯示本發(fā)明實(shí)施例1的輸入檢出方法的全體處理流程的一例。圖4是顯示輸入觸控感測(cè)器的數(shù)據(jù)輸入序列的一列。圖5是用來(lái)說(shuō)明實(shí)施例1的輸入檢出方法的差動(dòng)檢測(cè)演算法的表格。圖6A及圖6B是顯示根據(jù)實(shí)施例1的輸入檢出方法的差動(dòng)檢測(cè)演算法所得的觸控信息，其中圖6A表示沒(méi)有重置時(shí)的觸控感測(cè)器的輸入面一整面的觸控信息；圖6B表示有重置時(shí)的觸控感測(cè)器的輸入面一整面的觸控信息。圖7A及圖7B是顯示根據(jù)實(shí)施例1的輸入檢出方法的觸控信息修正演算法所得的觸控信息，其中圖7A表示沒(méi)有修正時(shí)的觸控感測(cè)器的輸入面一整面的觸控信息；圖7B表示有修正時(shí)的觸控感測(cè)器的輸入面一整面的觸控信息。圖8是用來(lái)說(shuō)明實(shí)施例2的輸入檢出方法的差動(dòng)檢測(cè)演算法的表格。圖9A及圖9B是顯示本發(fā)明實(shí)施例3的輸入檢出裝置的電極組成的一例，其中圖 9A是Y電極的一例的平面圖；圖9B是X電極的一例的平面圖。圖IOA及圖IOB是顯示重迭圖9所示X電極與Y電極的后所構(gòu)成的觸控感測(cè)器電極部組成的一例，其中圖IOA是顯示重迭X電極與Y電極后的觸控感測(cè)器電極部的平面圖； 圖IOB是顯示包括玻璃外殼的觸控感測(cè)器全體的立體圖。圖11是顯示本發(fā)明實(shí)施例4的輸入檢出裝置的一例。圖12是顯示本發(fā)明實(shí)施例5的輸入檢出裝置的一例。圖13是顯示本發(fā)明實(shí)施例6的電子機(jī)器的一例。附圖標(biāo)號(hào)10 觸控感測(cè)器；11 X 電極；12 Y 電極；20 觸控信息檢出部；21 X 電極；22 Y 電極；30 讀取部；31 選擇器；32 差動(dòng)放大器；40 計(jì)算處理部；41 積分器；42 第1存儲(chǔ)裝置(線存儲(chǔ)體)；43 第2存儲(chǔ)裝置(圖框緩沖器)；44 重置部；50 判定部；51 端部接觸檢出部；52 第3存儲(chǔ)裝置(單值存儲(chǔ)體)；53 加法器；60 噪聲過(guò)濾器；70 觸控感測(cè)器；71 觸控感測(cè)器電極部；72 玻璃外殼；80 觸控感測(cè)器；90 觸控感測(cè)器；
91 感測(cè)器玻璃；110 觸控感測(cè)器控制器；120 彩色濾光片基板；130 薄膜晶體管陣列基板；140 顯示器驅(qū)動(dòng)電路。
具體實(shí)施例方式以下，參照?qǐng)D式說(shuō)明本發(fā)明的實(shí)施例。實(shí)施例1 圖1是顯示本發(fā)明實(shí)施例1的輸入檢出裝置的全體構(gòu)造例的機(jī)能方塊圖。圖1中， 僅顯示實(shí)現(xiàn)機(jī)能所必要的構(gòu)成要素。圖1中，實(shí)施例1的輸入檢出裝置具有觸控感測(cè)器10及觸控信息檢出部20。觸控感測(cè)器10是一種輸入檢出裝置，具有玻璃等透明材料覆蓋的輸入面，并通過(guò)手指或具有導(dǎo)電性的物體接觸輸入面來(lái)檢測(cè)輸入。觸控感測(cè)器10內(nèi)部具有配置為互相縱的矩陣狀的X電極11與Y電極12。觸控感測(cè)器10在可以多點(diǎn)檢測(cè)的前提下，可以采用多種的觸控感測(cè)器，例如，可以使用投影型相互靜電容量式觸控感測(cè)器。投影型相互容量式觸控感測(cè)器是將X電極11或Y電極12的其中一者作為驅(qū)動(dòng)電極，另一者作為收訊電極的構(gòu)造。由驅(qū)動(dòng)電極供給驅(qū)動(dòng)脈沖，并從手指等導(dǎo)體接觸輸入面時(shí)流動(dòng)的電流測(cè)量相互電容量檢測(cè)出往輸入面的接觸。X電極11是用來(lái)檢測(cè)橫方向的接觸輸入位置的電極，沿著輸入面的鉛直方向(縱方向)平行地配置。Y電極12是用來(lái)檢測(cè)鉛直方向的接觸輸入位置的電極，沿著輸入面的橫方向(橫方向)平行地配置。在圖1中，雖顯示出線條狀的電極，但只要在鉛直方向與橫方向上直線配置的電極彼此正交，配置成矩陣狀的話，X電極11與Y電極12可以是各種形狀。例如，可以是用像角角相連的正方形連續(xù)地配置在鉛直方向與橫方向上的構(gòu)造。觸控感測(cè)器10的輸入面設(shè)定有既定的坐標(biāo)以作為檢出單位。坐標(biāo)可設(shè)定在X電極11與Y電極12的交叉點(diǎn)，在進(jìn)行采取多條電極的靜電容量平均的方式檢測(cè)時(shí)，也可以將坐標(biāo)設(shè)定在X電極11與Y電極12的交叉點(diǎn)以外的位置。圖2是本發(fā)明實(shí)施例1的輸入檢出裝置的觸控感測(cè)器10的構(gòu)造一例的平面圖。觸控感測(cè)器10的具有在鉛直方向延伸X電極11，作為在鉛直方向延伸的電極線，以及Y電極 12，作為在橫方向延伸的電極線。X電極線11與Y電極線12配置為互相縱的矩陣狀。圖2 中，X電極11有M條，Y電極12有N條，配置成MXN(M行N列)的矩陣狀。接著將配置成矩陣的X電極11與Y電極12設(shè)定對(duì)應(yīng)坐標(biāo)系，使觸控感測(cè)器10左下角(X，Y) = (1，1)，右上角(X，Y) = (M，N)。而圖2雖以平面圖來(lái)表示，但X電極11與 Y電極12為上下具有間隔的對(duì)向配置。當(dāng)觸控感測(cè)器10的輸入面有手指或筆等導(dǎo)體接觸時(shí)，若是靜電容量型觸控感測(cè)器的話，X電極11與Y電極12之間靜電容量會(huì)產(chǎn)生變化，若是阻抗膜型觸控感測(cè)器的話，則通過(guò)檢出導(dǎo)通與否，來(lái)檢出接觸位置。 本實(shí)施例中，舉出靜電容量式觸控感測(cè)器為例來(lái)說(shuō)明。在靜電容量式觸控感測(cè)器中，按(1,1) — (2,1)—…(M，l) — (1,2)—…(M-LN) — (M，N)的順序掃描每個(gè)坐標(biāo)點(diǎn)， 讀取出每個(gè)坐標(biāo)點(diǎn)觸控信息。以一條線掃描結(jié)束后換下一條線掃描的方式，依序掃描各線，最后全部的電極線的全部的坐標(biāo)的觸控信息都被檢出，也是觸控感測(cè)器10的輸入面(接觸面)一整面的觸控信息被檢出。觸控信息包括含顯示接觸有無(wú)的二值信息的接觸強(qiáng)度數(shù)據(jù)以及從檢出坐標(biāo)特定出接觸位置的接觸位置數(shù)據(jù)?；氐綀D1，觸控信息檢出部20為用以檢出觸控感測(cè)器輸入面上的接觸的裝置，包括讀取部30、計(jì)算處理部40、判定部50、噪聲過(guò)濾器60。讀取部30是用來(lái)讀取觸控感測(cè)器10的輸入面接觸輸入的裝置。如圖2的說(shuō)明，讀取部30沿著Y電極12或X電極11進(jìn)行掃描，逐個(gè)讀出各坐標(biāo)點(diǎn)的接觸輸入。具體來(lái)說(shuō)， 讀取部30對(duì)橫方向或縱方向上2個(gè)以上鄰接的掃描線進(jìn)行差動(dòng)檢測(cè)，并輸出差動(dòng)信號(hào)。因此，讀取部30具有選擇器31及差動(dòng)放大器32。例如，沿著橫方向由下往上逐線掃描的情況下，選擇器31選擇作為掃描對(duì)象的第i列Y電極12 [i]，也選擇作為基準(zhǔn)電極的鄰接第 (i-Ι)列Y電極12[i-1]，并將這些電極連接至差動(dòng)放大器32的輸入部。接著，差動(dòng)放大器 32取出掃描而得的Y電極12[i]與12[i-1]的檢出數(shù)據(jù)的差值，并作為差動(dòng)信號(hào)輸出。如此一來(lái)，本實(shí)施例的輸入檢出裝置中，觸控感測(cè)器10的輸入面整面的掃描并不會(huì)一直以同一電極作為基準(zhǔn)電極，而在每次掃描中把鄰接掃描對(duì)象電極的電極作為基準(zhǔn)電極，解決了過(guò)去當(dāng)多點(diǎn)接觸輸入之一在基準(zhǔn)電極上時(shí)，與檢出其他接觸輸入的檢出電極之間無(wú)法獲得正確差動(dòng)輸出的問(wèn)題。計(jì)算處理部40是用來(lái)計(jì)算觸控信息的手段，接收讀取部30的差動(dòng)信號(hào)后將其積分，算出觸控感測(cè)器10輸入面一整面的觸控信息。為此，計(jì)算處理部40具有積分器41、第 1存儲(chǔ)裝置42、第2存儲(chǔ)裝置43。第1存儲(chǔ)裝置42儲(chǔ)存積分器41在每一次掃描時(shí)所求得的積分值。第2存儲(chǔ)裝置43儲(chǔ)存積分器41積分求得的觸控感測(cè)器10的輸入面一整面的觸控信息。積分器41將儲(chǔ)存于第1存儲(chǔ)裝置42的積分值加上從讀取部30收到的差動(dòng)信號(hào)，算出新的積分值，并將此新的積分值同時(shí)儲(chǔ)存于第1存儲(chǔ)裝置42與第2存儲(chǔ)裝置43。 第1存儲(chǔ)裝置42可以被積分器41積分計(jì)算時(shí)所算出的新積分值覆寫原存儲(chǔ)內(nèi)容，因此第 1存儲(chǔ)裝置42只要是能儲(chǔ)存至少1條線的積分值的線存儲(chǔ)體就足夠了。不過(guò)，第1存儲(chǔ)裝置42也可因應(yīng)需要而采用可儲(chǔ)存復(fù)數(shù)線積分值的構(gòu)造。另外，第2存儲(chǔ)裝置43具有圖框緩沖器，可以儲(chǔ)存至少觸控感測(cè)器10的一個(gè)檢出面，也就是一個(gè)圖框的積分值。而第2存儲(chǔ)裝置43在1個(gè)圖框要取得復(fù)數(shù)觸控信息時(shí)，也可以是能儲(chǔ)存更多觸控信息的構(gòu)造。計(jì)算處理部40將儲(chǔ)存于圖框緩沖器43的積分值作為觸控感測(cè)器10的輸入面一整面的觸控信息輸出。積分器41更具有重置部44，在作為掃描對(duì)象的線與作為基準(zhǔn)的線從掃描的結(jié)束端跨越到開(kāi)始端的情況下，若所獲得的積分值不滿既定值(例如0)時(shí)，將該積分值重置為既定值。例如，考慮橫方向逐線由下往上的掃描。依序掃描中，讀取部30最初沿著最下方的第1列Y電極12[1]進(jìn)行掃描。而讀取部30將掃描順序上鄰接第1列Y電極12[1]的第N列Y電極12[N]作為基準(zhǔn)電極，并對(duì)掃描所獲得的Y電極12[1]及12[N]的檢出數(shù)據(jù)求出差值。此時(shí)，若觸控感測(cè)器10的上端有一個(gè)多點(diǎn)輸入，盡管觸控感測(cè)器10的下端沒(méi)有輸入，第1列的Y電極12[1]在掃描時(shí)也會(huì)求出與第N列的Y電極12[N]的檢出數(shù)據(jù)的差值，而會(huì)產(chǎn)生觸控感測(cè)器10的下端似乎有輸入的錯(cuò)誤觸控信息。在這種出現(xiàn)錯(cuò)誤觸控信息的狀況下使用重置部44，將利用Y電極12 [1]及12 [N]的檢出數(shù)據(jù)差值所獲得的積分值重置為既定值(例如0)后再對(duì)后面的電極列進(jìn)行積分。結(jié)果回避了觸控感測(cè)器10上方的輸入對(duì)觸控感測(cè)器10下方的掃描造成影響。而在本例，重置部44是安裝于積分器41內(nèi)，但也可以配置于積分器41的外部。而作為變形例，重置部44也可以只將依序掃描時(shí)位于結(jié)束端的基準(zhǔn)線所獲得的檢出數(shù)據(jù)重置為既定值。在Y電極12 [1]及12 [N]的檢出數(shù)據(jù)的差值不滿足既定值的情況下，也就是，若既定值為0但差值為負(fù)值的情況，重置部44將第N列的Y電極12 [N]的檢出數(shù)據(jù)重置為0。藉此，若觸控感測(cè)器10的下端沒(méi)有輸入，第1列的Y電極12[1]的檢出數(shù)據(jù)會(huì)是0，所以Y電極12[1]與12[N]的檢出數(shù)據(jù)差值也會(huì)是0。判定部50根據(jù)計(jì)算處理部40算出的觸控感測(cè)器10的輸入面一整面的觸控信息， 判定相當(dāng)于逐線掃描下開(kāi)始端及結(jié)束端的觸控感測(cè)器10輸入面兩端是否有接觸輸入，并依判定的結(jié)果修正觸控信息。為此，判定部50具有端部接觸檢出部51、第3存儲(chǔ)裝置52、 加法器53。端部接觸檢出部51決定計(jì)算處理部40算出的觸控感測(cè)器10的輸入面一整面的觸控信息是否具有既定的數(shù)據(jù)系列，藉此檢出相當(dāng)于逐線掃描下開(kāi)始端及結(jié)束端的觸控感測(cè)器10輸入面兩端的接觸輸入。第3存儲(chǔ)裝置52為單值存儲(chǔ)體，在觸控感測(cè)器10的輸入面一整面的觸控信息具有既定的數(shù)據(jù)系列的情況下，也就是相當(dāng)于逐線掃描下開(kāi)始端及結(jié)束端的觸控感測(cè)器10輸入面兩端有接觸輸入的情況下，儲(chǔ)存數(shù)據(jù)系列的最小值。加法器 53通過(guò)加上儲(chǔ)存于單值存儲(chǔ)體52的值來(lái)修正觸控信息。噪聲過(guò)濾器60去除觸控信息中不滿門檻值(閥值，Threshold Value)的低位準(zhǔn)噪聲。圖3是顯示本發(fā)明實(shí)施例1的輸入檢出方法的全體處理流程的一例。其中，與目前為止所說(shuō)明的組成要素相同的要素會(huì)標(biāo)示相同的參考符號(hào)，而省略說(shuō)明。最初，在步驟100，在電源輸入且沒(méi)有接觸輸入的狀態(tài)下掃描觸控感測(cè)器10的輸入面全體。接著，在步驟110，輸入檢出裝置使用步驟100的掃描下獲得的數(shù)據(jù)來(lái)進(jìn)行校正。接著，在步驟120，數(shù)據(jù)輸入觸控感測(cè)器10。關(guān)于此步驟120，將參照?qǐng)D4來(lái)說(shuō)明。 圖4是顯示輸入觸控感測(cè)器10的數(shù)據(jù)輸入序列的一列。圖4中，在步驟210，沿著Y電極12或X電極11進(jìn)行逐線掃描。例如，考慮橫方向逐線由下往上掃描的情況。在1次掃描中，沿著第i列的Y電極12[i]依序掃描X電極 11 [1] 11 [M]。此時(shí)，為了之后步驟220的差動(dòng)計(jì)算，在掃描順序上與第i列Y電極12 [i] 鄰接的第i_l列Y電極12[i_l]也會(huì)被掃描。在步驟220進(jìn)行差動(dòng)計(jì)算。具體來(lái)說(shuō)，讀取部30使用差動(dòng)放大器32求出作為掃描對(duì)象的第i列Y電極12 [i]掃描而得的檢出數(shù)據(jù)與鄰接的第i_l列Y電極12[i-l]掃描而得的檢出數(shù)據(jù)間的差值，并將此差值作為第i列的Y電極12[i]的檢出數(shù)據(jù)輸出。在步驟230，進(jìn)行積分。具體來(lái)說(shuō)，計(jì)算處理部40每一次掃描就從讀取部30取得檢出數(shù)據(jù)，使用積分器40與線存儲(chǔ)體42進(jìn)行積分。最終算出觸控感測(cè)器10的輸入面一整面的觸控信息。當(dāng)依序掃描中最初被掃描的電極線所求得的積分值不滿足既定值(例如0) 的情況下，此積分值被重置為既定值(例如0)。所謂依序掃描中最初被掃描的電極線所求得的積分值不滿足既定值的情況是指相當(dāng)于依序掃描的結(jié)束端的觸控感測(cè)器10的上端有多點(diǎn)輸入中的1個(gè)的情況。此時(shí)能通過(guò)重置，使此輸入不會(huì)影響到觸控感測(cè)器10的下端。在步驟M0，判斷是否已對(duì)全部的線進(jìn)行掃描。當(dāng)還有沒(méi)掃描的線時(shí)，會(huì)重復(fù)步驟 210 230直到全部的線掃描完畢。當(dāng)全部的線掃描完畢時(shí)，在步驟250，將橫跨全部的線
11的積分結(jié)果作為觸控感測(cè)器10的輸入面一整面的觸控信息輸出。回到圖3，在步驟130，判定相當(dāng)于逐線掃描下開(kāi)始端及結(jié)束端的觸控感測(cè)器10輸入面兩端是否有接觸輸入。具體來(lái)說(shuō)，判定部50使用端部接觸檢出部51決定步驟120算出的觸控感測(cè)器10的輸入面一整面的觸控信息是否有既定的數(shù)據(jù)系列，藉此檢出觸控感測(cè)器10的輸入面兩端有接觸輸入的情況。觸控感測(cè)器10的輸入面兩端有接觸輸入時(shí)，在步驟140，檢出構(gòu)成觸控感測(cè)器10 的輸入面一整面的觸控信息的數(shù)據(jù)系列的最小值。接著，在步驟150進(jìn)行觸控信息修正。具體來(lái)說(shuō)，通過(guò)加法器53加上步驟140檢出的最小值來(lái)修正觸控信息。觸控信息修正后，或者是觸控感測(cè)器10的輸入面兩端沒(méi)有接觸輸入時(shí)，在步驟 160，噪聲過(guò)濾器60被用來(lái)去除噪聲。如此一來(lái)，在本實(shí)施例的輸入檢出裝置中，能夠正確地檢出手指等導(dǎo)體的接觸輸入位置，并根據(jù)檢出的位置進(jìn)行因應(yīng)導(dǎo)體動(dòng)作的適當(dāng)操作輸入處理。圖5是用來(lái)說(shuō)明實(shí)施例1的輸入檢出方法的差動(dòng)檢測(cè)演算法的表格。在圖5中， 舉出橫方向逐線由下往上掃描的例子。在圖5的表中，橫方向表示掃描時(shí)間與掃描順序1 N，縱方向表示Y電極12的列編號(hào)1 N。在每個(gè)圖框的依序掃描中，最初由下方的第1列Y電極12[1]開(kāi)始掃描。 此時(shí)，差動(dòng)檢測(cè)的基準(zhǔn)電極是在掃描順序上與第1列Y電極12 [1]相鄰的最后一列Y電極 12 [N] 0然后，沿著第1列Y電極12[1]依序掃描X電極11 [1] 11 [M]的同時(shí)，也沿著第N 列Y電極12 [N]依序掃描X電極11 [1] 11[M]。第1列及第N列的Y電極12 [1]、12 [N] 的掃描結(jié)束后，接著掃描第2列的Y電極12 [2]。此時(shí)，差動(dòng)檢測(cè)的基準(zhǔn)電極是與第2列Y 電極12 [2]相鄰的第1列Y電極12 [1]。然后，沿著第2列Y電極12 [2]依序掃描X電極 11 [1] 11 [M]的同時(shí)，也沿著第1列Y電極12[1]依序掃描X電極11 [1] 11 [M]。相同的處理進(jìn)行到最后一列的Y電極12[N]的掃描結(jié)束為止。本實(shí)施例的輸入檢出方法中，將差動(dòng)檢測(cè)演算法使用于可檢出多點(diǎn)輸入的觸控感測(cè)器的情況下，如圖5的說(shuō)明，原則上會(huì)選擇鄰接掃描對(duì)象電極的電極為基準(zhǔn)電極。但是在依序掃描中，選擇給最初掃描的電極的基準(zhǔn)電極雖在掃描順序上是鄰接掃描對(duì)象的電極， 但在物理上并未鄰接，因此會(huì)發(fā)生無(wú)法正確地檢出多點(diǎn)輸入的情況。具體來(lái)說(shuō)，若觸控感測(cè)器10的上端具有多點(diǎn)輸入中的一者，觸控感測(cè)器10的下端盡管沒(méi)有輸入，掃描第1列Y電極12[1]時(shí)會(huì)求出與第N列Y電極12[N]的檢出數(shù)據(jù)之間的差值，造成觸控感測(cè)器10的下端好像有輸入的錯(cuò)誤觸控信息產(chǎn)生。因此，積分時(shí)對(duì)依序掃描中最初掃描的電極的積分值不滿足既定值(例如0)的情況下，該積分值必須重置為既定值(例如0)。圖6A及圖6B是顯示根據(jù)實(shí)施例1的輸入檢出方法的差動(dòng)檢測(cè)演算法所得的觸控信息。圖6A及圖6B中，假設(shè)在橫方向逐線由下往上掃描的情況下，多點(diǎn)輸入中有一點(diǎn)在觸控感測(cè)器10的上端。在這個(gè)情況下，圖6A表示沒(méi)有重置時(shí)的觸控感測(cè)器10的輸入面一整面的觸控信息，圖6B表示有重置時(shí)的觸控感測(cè)器10的輸入面一整面的觸控信息。沒(méi)有重置的情況下，因?yàn)榈?列Y電極12 [1]掃描時(shí)第N列Y電極12 [N]會(huì)作為基準(zhǔn)，所以觸控感測(cè)器10上端的輸入會(huì)影響觸控感測(cè)器10的下端掃描。然后，透過(guò)積分得到的第1列Y電極12[1]的檢出數(shù)據(jù)會(huì)如圖6A所示，具有一般動(dòng)作下不會(huì)產(chǎn)生的負(fù)值。具體來(lái)說(shuō)，第1列Y電極12[1]的檢出數(shù)據(jù)因?yàn)闆](méi)有接觸所以實(shí)際應(yīng)該為0，但因?yàn)榕c掃描第N列Y電極12[N]時(shí)所得到的檢出數(shù)據(jù)a之間求出差值_a，因此第1列Y電極[1]的檢出數(shù)據(jù)就被當(dāng)成_a，接著橫跨整個(gè)觸控感測(cè)器10的輸入面，繼續(xù)對(duì)之后的列電極積分。最后的結(jié)果，因?yàn)榈?列Y電極12[1]的檢出數(shù)據(jù)錯(cuò)誤而影響了橫跨整個(gè)觸控感測(cè)器10的輸入面所算出的全體接觸數(shù)據(jù)。另一方面，有重置的情況下，在跨過(guò)觸控感測(cè)器10的輸入面兩端的電極差動(dòng)檢測(cè)中，依序掃描的開(kāi)始端，也就是位于輸入面端部的第1列電極所求得的積分值為負(fù)值時(shí)會(huì)被重置為0。如此一來(lái)，使用本發(fā)明的輸入檢出方法，就算是依序掃描的結(jié)束端，也就是觸控感測(cè)器10的輸入面上端有輸入，也如圖6B所示，能夠獲得橫跨整個(gè)觸控感測(cè)器10的輸入面的正確觸控信息。作為變形例，若依序掃描的開(kāi)始端電極所求得的積分值會(huì)變?yōu)樨?fù)值時(shí)，可以不重置此積分值，而重置依序掃描的結(jié)束端基準(zhǔn)電極的檢出數(shù)據(jù)。圖7A及圖7B是顯示根據(jù)實(shí)施例1的輸入檢出方法的觸控信息修正演算法所得的觸控信息。圖7A表示沒(méi)有修正時(shí)的觸控感測(cè)器10的輸入面一整面的觸控信息，圖7B表示有修正時(shí)的觸控感測(cè)器10的輸入面一整面的觸控信息。例如，當(dāng)相當(dāng)于依序掃描的開(kāi)始端及結(jié)束端的觸控感測(cè)器10輸入面兩端有多點(diǎn)輸入時(shí)，使用本發(fā)明的差動(dòng)檢測(cè)演算法積分后所求得的橫跨整個(gè)觸控感測(cè)器10的輸入面的觸控信息具有如圖7A所是的凹形狀的3維數(shù)據(jù)。當(dāng)具有表示這種3維形狀的數(shù)據(jù)系列時(shí)，本發(fā)明的輸入檢出方法檢出此數(shù)據(jù)系列的最小值，并將此值加到數(shù)據(jù)系列的各數(shù)據(jù)值來(lái)修正觸控信息。如此一來(lái)，本發(fā)明的輸入檢測(cè)方法即使在相當(dāng)相當(dāng)于依序掃描的開(kāi)始端及結(jié)束端的觸控感測(cè)器10輸入面兩端有多點(diǎn)輸入時(shí)，如圖7B所示，能夠獲得橫跨整個(gè)觸控感測(cè)器10的輸入面的正確觸控信息。實(shí)施例2:圖8是用來(lái)說(shuō)明實(shí)施例2的輸入檢出方法的差動(dòng)檢測(cè)演算法的表格。實(shí)施例1的輸入檢出方法中，以橫方向逐線由下往上掃描的情況為例來(lái)說(shuō)明。實(shí)施例2的輸入檢出方法中，以橫方向每?jī)删€由下往上依序掃描的情況為例來(lái)說(shuō)明。在圖8的表中，橫方向表示掃描時(shí)間與掃描順序1 N，縱方向表示Y電極12的列編號(hào)1 N。在每個(gè)圖框的依序掃描中，最初由下方的第1列及第2列Y電極12 [1]、12 [2] 開(kāi)始掃描。此時(shí)，差動(dòng)檢測(cè)的基準(zhǔn)電極是在掃描順序上與第1列及第2列Y電極12 [1]、 12 [2]相鄰的第(N-I)列及第N列Y電極12 [N-1]、12 [N]。然后，沿著第1列及第2列Y電極12[1]、12[2]依序掃描X電極11 [1] 11 [M]的同時(shí)，也沿著第(N-I)列及第N列Y電極 12[N-1]、12[N]依序掃描X電極11 [1] 11[M]。第1列及第2列Y電極12 [1]、12 [2]的掃描結(jié)束后，接著掃描第2列及第3列Y電極12 [2]、12 [3]。此時(shí)，差動(dòng)檢測(cè)的基準(zhǔn)電極是在掃描順序上與第2列及第3列Y電極12 [2]、12 [3]相鄰的第N列及第1列Y電極12 [N]、 12[1]。然后，沿著第2列及第3列Y電極12[2]、12[3]依序掃描X電極11[1] 11[M]的同時(shí)，也沿著第N列及第1列Y電極12[N]、12[1]依序掃描X電極11[1] 11[M]。相同的處理進(jìn)行到最后一列的Y電極12[N]的掃描結(jié)束為止。雖然一次掃描的線數(shù)增加，但基本上與圖5所說(shuō)明的本發(fā)明差動(dòng)檢測(cè)演算法所進(jìn)行的處理相同。然而，盡管一次掃描的線數(shù)增加，因?yàn)槊恳淮螔呙杵揭埔粭l線，所以必須對(duì)根據(jù)每次掃描的線的位置而分出來(lái)的線群個(gè)別積分。具體來(lái)說(shuō)，在圖8的例子中，掃描順序奇數(shù)的線群與偶數(shù)的線群各自積分。在每個(gè)圖框的依序線掃描中，最初第1列及第2列Y電極12[1]、12[2]被掃描，而第(N-I)列及第N列Y電極12[N-1]、12[N]是差動(dòng)檢測(cè)的基準(zhǔn)電極。此時(shí)，若將第1列及第2列Y電極12 [1]、12 [2]與第(N-I)列及第N列Y電極12 [N-1]、12 [N]個(gè)別獲得的檢出數(shù)據(jù)以R1、R2、Rn-” Rn來(lái)表示，差動(dòng)檢測(cè)的輸出ClR1可由式子ClR1 = (R^R2)-(RnWRn)求得。 而奇數(shù)的線群的積分結(jié)果al^因?yàn)橥航M內(nèi)其他的線還沒(méi)有求出差動(dòng)檢測(cè)輸出，所以等于吼。在下一次掃描中，掃描的線在縱方向上平移一條，第2列及第3列Y電極12[2]、 12 [3]被掃描，而第N列及第1列Y電極12 [N]、12 [1]是差動(dòng)檢測(cè)的基準(zhǔn)電極。此時(shí)，若將第1列、第2列及第3列Y電極12 [1]、12 [2]、12 [3]與第N列Y電極12 [N]個(gè)別獲得的檢出數(shù)據(jù)以禮、&、R3、Rn來(lái)表示，差動(dòng)檢測(cè)的輸出dR2可由式子dR2 = (R2+R3)-(Rn+R1)求得。 而偶數(shù)的線群的積分結(jié)果因?yàn)橥航M內(nèi)其他的線還沒(méi)有求出差動(dòng)檢測(cè)輸出，所以等于 dl 2。在下一次掃描中，掃描的線在縱方向上平移一條，第3列及第4列Y電極12 [3]、 12[4]被掃描，而第1及第2列電極12[1]、12[2]是差動(dòng)檢測(cè)的基準(zhǔn)電極。此時(shí)，若將第1 至4列Y電極12 [1]、12 [2]、12 [3]、12 W]個(gè)別獲得的檢出數(shù)據(jù)以禮為馮術(shù)來(lái)表示，差動(dòng)檢測(cè)的輸出(！民可由式子dR3= (R3+R4)-(R1+R2)求得。而奇數(shù)的線群的積分結(jié)果aR3為本次求得的差動(dòng)檢測(cè)輸出dR3加到先前的積分結(jié)果aR1;也就是aRAa^ = {( + ) - (Rn-JRn) } + {(R3+R4) - (Ri+R2)丨=(R3+R4) - (Rn-I+Rn)。在之后的掃描中，也進(jìn)行相同的計(jì)算。最后，奇數(shù)的線群與偶數(shù)的線群個(gè)別獲得以下的積分結(jié)果。奇數(shù)的線群BR1 = ClR1 = (I^2)Un)aR3 = aR1+dR3= (R3+R4)-(Rn_1+Rn)aR5 = aR3+dR5 = (R5+R6) - (RN_!+RN)aRN_! = a^^+dR^! = ( ^+ ) - (RN_!+RN)偶數(shù)的線群aR2 = dR2 = (R2+R3) - (R^R1)aR4 = aR2+dR4 = (^+^)-( + )aR6 = aR4+dR6 = (^+^)-( + )aRN = aRN_2+dRN = (RjR1) - (R^R1)在此，考慮觸控感測(cè)器10的上端具有多點(diǎn)輸入之一的情況。此時(shí)，假設(shè)在沒(méi)有接觸輸入的狀態(tài)下的觸控感測(cè)器10輸入面為0，奇數(shù)的線群及偶數(shù)的線群最初的掃描所獲得的積分值aRi與會(huì)是一般動(dòng)作時(shí)不會(huì)發(fā)生的負(fù)值。這個(gè)值會(huì)影響之后線掃描的計(jì)算，最后，橫跨整個(gè)觸控感測(cè)器10輸入面的觸控信息會(huì)不正確。本發(fā)明在掃描對(duì)象的線與基準(zhǔn)線所構(gòu)成的群組橫跨依序掃描的結(jié)束端至開(kāi)始端的情況下所獲得的積分值不滿足既定值時(shí)，將此積分值重置為既定值后再對(duì)后續(xù)的線掃描進(jìn)行積分。在上述的例子中，奇數(shù)的線群及偶數(shù)的線群最初的掃描所獲得的積分值BR1與 3&被重置為0。藉此，獲得以下的積分結(jié)果。
奇數(shù)的線群BR1 = ClR1 = 0aR3 = BR^dR3 = (R3+R4) “ (R^R2)aR5 = aR3+dR5 = (R5+R6) - (R^R2)aRN_! = aRH+dlVi = (Rn^1+Rn) - (R1+R2)偶數(shù)的線群aR2=dR2 = 0
aR4=aR2+dR4 =(R4+R5)-(R2+R3)
aR6=aR4+dR6 =(r6+r7)-(r2+R3)
aRN=aRN_2+dRN ==(R^R1)-(r2+R3)最后，結(jié)合奇數(shù)的線群及偶數(shù)的線群所獲得的積分結(jié)果，產(chǎn)生橫跨觸控感測(cè)器10 輸入面一整面的觸控信息。而在橫方向每3線由下往上依序掃描的情況下，第3n+l、3n+2、3n+3(n彡0 ;n為整數(shù))的線群所獲得的積分結(jié)果如下第3n+l的線群BR1 =ClR1 =
aR4 =BR1+dR
aR7 =aR4+dR.
aRN_2 ==aRN_5+
M lv5VlvN-2 lvN-I
…—義N-2 = (RN-2+Rn-1+RN) “ (RN-2+RN-1+RN) 第3n+2的線群aR2 =dR2 = (R2+R3+R4)-(Rn_1+Rn+R1)
aR5 =aR2+dR5 = (^+^+^)-( ^+ + )
aR8 =aR5+dR8 = ( + +!^)-^^+ + )
a^N-I ==aRH+dlVi = (^^+^+^)-( ^+ + )
第3n+3的線群
aR3 =dR3 = (R3+R4+R5)-(Rn+R1+R2)
aR6 =aR3+dR6 = (^+^+^)-( + +R2)
aR9 =aR6+dR9 = (^+^0+^^-( + +R2)
aRN =aRN_3+dRN = (^+^+^)-( + +R2)如此一來(lái)，本發(fā)明的輸入檢出方法不管一次掃描的線數(shù)，即使依序掃描的結(jié)束端， 也就是觸控感測(cè)器10的輸入面端部有輸入，也能夠正確地獲得橫跨觸控感測(cè)器10的輸入面一整面的觸控信息。作為變形例，可以不重置積分值本身，而重置掃描結(jié)束端的基準(zhǔn)線的檢出數(shù)據(jù)為既定值。實(shí)施例3:圖9A及圖9B是顯示本發(fā)明實(shí)施例3的輸入檢出裝置的電極組成的一例。實(shí)施例 1及2中雖使用線狀的X電極11、Y電極12來(lái)說(shuō)明構(gòu)成輸入檢出裝置的型態(tài)，但實(shí)施例3中使用其他形狀的檢出電極來(lái)說(shuō)明構(gòu)成輸入檢出裝置的型態(tài)。圖9Α是Y電極22的一例的平面圖。如圖9Α所示，實(shí)施例3的輸入檢出裝置具備由排列于橫方向的四角形而成的Y電極22。四角形在橫方向上串刺連接，就全體的配置而言，復(fù)數(shù)的Y電極22在橫方向上平行地配置。也就是說(shuō)，整體而言，與圖2的Y電極12配置相同。圖9B是X電極21的一例的平面圖。如圖9B所示，實(shí)施例3的輸入檢出裝置具備由排列于縱方向的四角形而成的X電極21。四角形在縱方向上串刺連接，就全體的配置而言，復(fù)數(shù)的X電極21在縱方向上平行地配置。也就是說(shuō)，整體而言，與圖2的X電極11配置相同。圖IOA及圖IOB是顯示重迭X電極21與Y電極22的狀態(tài)。圖IOA是顯示重迭X 電極21與Y電極22后的觸控感測(cè)器電極部71的平面圖。圖IOB是顯示包括玻璃外殼72 的觸控感測(cè)器70全體的立體圖。圖IOA中，X電極21與Y電極22的配置使四角形的電極不互相重迭。X電極21 與Y電極22矩陣狀地配置，構(gòu)成觸控感測(cè)器電極部71。在圖IOB中，顯示了 X電極21及Y電極22的上方配置了玻璃外殼72的例子。像這樣將玻璃外殼72覆蓋到內(nèi)部的觸控感測(cè)器電極部71上構(gòu)成觸控感測(cè)器70。例如，可以使用上述構(gòu)造的觸控感測(cè)器電極部71以及圖1所示的觸控信息檢出部 20來(lái)構(gòu)成輸入檢出裝置。再采用實(shí)施例1及2所示的輸入檢測(cè)方法，能夠適當(dāng)?shù)貦z測(cè)出多點(diǎn)接觸。如上述，觸控感測(cè)器10、70的電極構(gòu)造不論是內(nèi)部電極或外部電極都能夠因應(yīng)用途而做成多種構(gòu)造，使用各種觸控感測(cè)器10、70能夠適當(dāng)?shù)貦z測(cè)出多點(diǎn)接觸。實(shí)施例4:圖11是顯示本發(fā)明實(shí)施例4的輸入檢出裝置的一例。實(shí)施例4的輸入檢出裝置的構(gòu)造是內(nèi)嵌(in-cell)式觸控面板，實(shí)施例4的輸入檢出裝置具備觸控感測(cè)器80、彩色濾光片基板120、薄膜晶體管陣列基板130、觸控感測(cè)器控制器110、顯示器驅(qū)動(dòng)電路140。實(shí)施例4的輸入檢測(cè)裝置是將觸控感測(cè)器模塊組裝在顯示器模塊內(nèi)的構(gòu)造。在圖 11中，觸控感測(cè)器80及觸控感測(cè)器控制器110構(gòu)成觸控感測(cè)器模塊，彩色濾光片基板120、 薄膜晶體管陣列基板130、顯示器驅(qū)動(dòng)電路140構(gòu)成顯示器模塊。彩色濾光片基板120與薄膜晶體管陣列基板130之間夾有觸控感測(cè)器80，因此才會(huì)說(shuō)觸控感測(cè)器模塊是組裝在顯示器模塊內(nèi)來(lái)構(gòu)成輸入檢出裝置。本實(shí)施例的輸入檢出裝置可以用這樣的內(nèi)嵌式觸碰面板構(gòu)成。而其中的觸控感測(cè)器80可以使用包括實(shí)施例1中說(shuō)明的觸控感測(cè)器10、實(shí)施例3中說(shuō)明的觸控感測(cè)器70等各種電極構(gòu)造的觸控感測(cè)器。觸控感測(cè)器10例如以氧化銦錫(ITOJndium Tin Oxide)等透明電極層所構(gòu)成，而透明電極層形成于彩色濾光片基板120的下方。這種內(nèi)嵌式觸碰面板因?yàn)闆](méi)有觸控感測(cè)器80專用的玻璃基板，所以具有較薄、透過(guò)率較高、成本較低等優(yōu)點(diǎn)。薄膜晶體管陣列基板130上形成薄膜晶體管(TFT，Thin Film Transistor)，通過(guò)顯示器驅(qū)動(dòng)電路的驅(qū)動(dòng)得以顯示影像。觸控感測(cè)器控制器110用來(lái)驅(qū)動(dòng)及控制觸控感測(cè)器80，搭載了圖1所說(shuō)明的觸控信息檢出部20。根據(jù)實(shí)施例4的輸入檢出裝置，能夠薄型化輸入檢出裝置、精密地檢出多點(diǎn)輸入、 構(gòu)成錯(cuò)誤動(dòng)作少的可檢出多點(diǎn)輸入的觸控面板。
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實(shí)施例5:圖12是顯示本發(fā)明實(shí)施例5的輸入檢出裝置的一例。實(shí)施例5的輸入檢出裝置是觸控感測(cè)器模塊與顯示器模塊彼此獨(dú)立設(shè)置的觸控面板所構(gòu)成。實(shí)施例5的輸入檢出裝置具備觸控感測(cè)器90、感測(cè)器玻璃91、觸控感測(cè)器控制器 110、彩色濾光片基板120、薄膜晶體管陣列基板130、顯示器驅(qū)動(dòng)電路140。觸控感測(cè)器90、 感測(cè)器玻璃91及觸控感測(cè)器控制器110構(gòu)成觸控感測(cè)器模塊，彩色濾光片基板120、薄膜晶體管陣列基板130及顯示器驅(qū)動(dòng)電路140構(gòu)成顯示器模塊。觸控感測(cè)器90可以使用包括實(shí)施例1中說(shuō)明的觸控感測(cè)器10、實(shí)施例3中說(shuō)明的觸控感測(cè)器70等各種電極構(gòu)造的觸控感測(cè)器。觸控感測(cè)器10例如以ITO等透明電極層所構(gòu)成，與實(shí)施例4所說(shuō)明的內(nèi)嵌式觸控面板不同，為獨(dú)立單品的觸控感測(cè)器模塊設(shè)置于顯示器模塊的上方。根據(jù)實(shí)施例4的輸入檢出裝置，輸入檢出裝置的全體厚度雖然稍微變厚，但不容易受到顯示器模塊所產(chǎn)生的噪聲影響，能更確實(shí)地檢測(cè)出多點(diǎn)接觸輸入。而作為實(shí)施例5的變形例，可以在圖12中除去感測(cè)器玻璃91，采用外嵌 (on-cell)式的構(gòu)造將觸控感測(cè)器90直接設(shè)置在彩色濾光片基板120上。即使在外嵌式的觸控面板中，也能夠通過(guò)使用搭載了圖1所說(shuō)明的觸控信息檢出部20的觸控感測(cè)器控制器 110，來(lái)精密地檢測(cè)多點(diǎn)接觸輸入。實(shí)施例6:圖13是表示本發(fā)明實(shí)施例6的電子裝置的例子。圖13的電子裝置100雖以移動(dòng)電話來(lái)表示，但也可以是例如電視機(jī)、手表、個(gè)人數(shù)字助理(PDA)、平板計(jì)算機(jī)、筆記型計(jì)算機(jī)、桌上型計(jì)算機(jī)、車上導(dǎo)航裝置或攜帶型游戲機(jī)等其他的電子裝置。移動(dòng)電話100具有組裝于實(shí)施例1至5的輸入檢出裝置內(nèi)的顯示裝置200。顯示裝置200能夠顯示對(duì)應(yīng)觸控感測(cè)器輸入面的輸入畫面，除了顯示電波強(qiáng)度、電池殘量等移動(dòng)電話100的狀態(tài)及時(shí)間等信息外，也可以顯示數(shù)字鍵等按鍵，讓使用者能夠透過(guò)觸摸面板的表面來(lái)操作移動(dòng)電話100。顯示裝置200可包括液晶顯示器、OLED顯示器、3D顯示器等各種顯示裝置。近年來(lái)，移動(dòng)電話等攜帶型電子機(jī)器的機(jī)器本體一方面朝小型化發(fā)展，一方面希望顯示畫面能盡可能地增大。因此，要在觸控感測(cè)器輸入面周圍設(shè)置多出來(lái)的邊框領(lǐng)域越來(lái)越困難，在成品時(shí)會(huì)隱藏于機(jī)器框體內(nèi)的邊框領(lǐng)域不足用來(lái)設(shè)置差動(dòng)檢測(cè)用的基準(zhǔn)電極的情況下，本發(fā)明的輸入檢出方法及輸入檢出裝置特別有用。而實(shí)施例1至6雖然說(shuō)明了將本發(fā)明的輸入檢出方法及輸入檢出裝置應(yīng)用于搭載至顯示裝置的觸控感測(cè)模塊的例子，但本發(fā)明也可以是實(shí)行輸入檢出方法及輸入檢出裝置的功能的輸入檢出程序，或是記錄了該輸入檢出程序的計(jì)算機(jī)可讀取媒體。而目前為止雖以具有矩陣狀電極的投影型相互電容式觸控感測(cè)器為基礎(chǔ)來(lái)說(shuō)明， 但即使是矩陣狀配置的獨(dú)立按鈕型的投影型自我電容式觸控感測(cè)器，只要按鈕尺寸十分小且精細(xì)的話，也可以適用本發(fā)明。以上雖然說(shuō)明實(shí)施本發(fā)明的最佳實(shí)施例，但本發(fā)明并不限于此最佳實(shí)施例。本發(fā)明可在不違反主旨的范圍內(nèi)做適當(dāng)?shù)刈兏?br> 權(quán)利要求
1.一種輸入檢出裝置，用以檢出接觸具有配置為矩陣狀的電極的觸控感測(cè)器的輸入面時(shí)的輸入，其特征在于，所述的輸入檢出裝置包括讀取部，通過(guò)一連串動(dòng)作來(lái)讀出對(duì)所述輸入面的接觸所形成的輸入， 其中所述連串動(dòng)作包括同時(shí)掃描2條以上在掃描順序上相鄰的線的所述電極，并依序由所述輸入面的一端每次移動(dòng)一條線來(lái)掃描直到所述輸入面的另一端，求取掃描所述2 條以上的線中的半數(shù)條連續(xù)的1條以上的線所獲得的檢出數(shù)據(jù)與剩余的半數(shù)條連續(xù)的1條以上的線所獲得的檢出數(shù)據(jù)之間的差值。
2.如權(quán)利要求1所述的輸入檢出裝置，其特征在于，所述的輸入檢出裝置更包括 計(jì)算處理部，對(duì)所述觸控感測(cè)器的輸入面全體積分所述差值，計(jì)算出觸控信息，其中所述計(jì)算處理部具有一重置部，當(dāng)所述2條以上的線在所述觸控感測(cè)器的輸入面上由掃描結(jié)束端跨越到掃描開(kāi)始端時(shí)所獲得的差的積分結(jié)果不滿足既定值時(shí)，將所述積分結(jié)果或掃描所述掃描結(jié)束端上的線所獲得的檢出數(shù)據(jù)重新設(shè)定為所述既定值。
3.如權(quán)利要求2所述的輸入檢出裝置，其特征在于，所述的輸入檢出裝置更包括端部接觸檢出部，通過(guò)決定所述觸控信息是否具有既定的數(shù)據(jù)系列，來(lái)檢出相當(dāng)于所述掃描開(kāi)始端及所述掃描結(jié)束端的所述觸控感測(cè)器的所述輸入面的兩端有接觸輸入；以及修正部，當(dāng)所述接觸感測(cè)器的所述輸入面兩端有接觸輸入被所述端部接觸檢出部檢出時(shí)，將所述數(shù)據(jù)系列最小值加到所述數(shù)據(jù)系列的各數(shù)據(jù)值，來(lái)修正所述接觸數(shù)據(jù)。
4.如權(quán)利要求2所述的輸入檢出裝置，其特征在于，當(dāng)所述2條以上的線中的半數(shù)條連續(xù)的1條以上的線包括2條以上的線的情況下，所述計(jì)算處理部分別對(duì)根據(jù)每次掃描的所述2條以上的線中的各線位置而劃分的線群做積分，并結(jié)合所述觸控感測(cè)器的整個(gè)輸入面掃描后所獲得的所述整個(gè)線群的積分結(jié)果，產(chǎn)生所述觸控信息。
5.如權(quán)利要求1所述的輸入檢出裝置，其特征在于，所述讀取部包括 選擇器，依序選擇所述2條以上在掃描順序上相鄰的線上的電極；以及差動(dòng)放大器，輸出掃描所述2條以上的線中的半數(shù)條連續(xù)的1條以上的線所獲得的檢出數(shù)據(jù)與掃描剩余的半數(shù)條連續(xù)的1條以上的線所獲得的檢出數(shù)據(jù)之間的差值。
6.如權(quán)利要求1所述的輸入檢出裝置，其特征在于，所述計(jì)算處理部包括 積分器，對(duì)所述觸控感測(cè)器的整個(gè)輸入面積分所述差值；第1存儲(chǔ)裝置，儲(chǔ)存所述積分器于每一次掃描所求得的積分結(jié)果；以及第2存儲(chǔ)裝置，儲(chǔ)存所述積分器所求得的觸控感測(cè)器整個(gè)輸入面的積分結(jié)果，并作為觸控信息。
7.如權(quán)利要求1所述的輸入檢出裝置，其特征在于，所述的輸入檢出裝置更包括 噪聲濾波器，從所述觸控信息中除去不滿閾值的低等噪聲。
8.如權(quán)利要求1所述的輸入檢出裝置，其中所述輸入檢出裝置組裝于顯示裝置，所述顯示裝置可顯示對(duì)應(yīng)所述觸控感測(cè)器的所述輸入面的輸入畫面。
9.一種輸入檢出方法，用以檢出接觸具有配置為矩陣狀的電極的觸控感測(cè)器的輸入面時(shí)的輸入，其特征在于，所述的輸入檢出方法包括讀取步驟，通過(guò)一連串動(dòng)作來(lái)讀出對(duì)所述輸入面的接觸所形成的輸入， 其中所述連串動(dòng)作包括同時(shí)掃描2條以上在掃描順序上相鄰的線的所述電極，并依序由所述輸入面的一端每次移動(dòng)一條線來(lái)掃描直到所述輸入面的另一端，求取掃描所述2條以上的線中的半數(shù)條連續(xù)的1條以上的線所獲得的檢出數(shù)據(jù)與掃描剩余的半數(shù)條連續(xù)的1條以上的線所獲得的檢出數(shù)據(jù)之間的差值。
10.如權(quán)利要求9所述的輸入檢出方法，其特征在于，所述的輸入檢出方法更包括 計(jì)算處理步驟，對(duì)所述觸控感測(cè)器的輸入面全體積分所述差值，計(jì)算出觸控信息， 其中所述計(jì)算處理步驟具有一重置步驟，當(dāng)所述2條以上的線在所述觸控感測(cè)器的輸入面上由掃描結(jié)束端跨越到掃描開(kāi)始端時(shí)所獲得的差的積分結(jié)果不滿足既定值時(shí)，將所述積分結(jié)果或掃描所述掃描結(jié)束端上的線所獲得的檢出數(shù)據(jù)重新設(shè)定為所述既定值。
11.如權(quán)利要求10所述的輸入檢出方法，其特征在于，所述的輸入檢出方法更包括 端部接觸檢出步驟，通過(guò)決定所述觸控信息是否具有既定的數(shù)據(jù)系列，來(lái)檢出相當(dāng)于所述掃描開(kāi)始端及所述掃描結(jié)束端的所述觸控感測(cè)器的所述輸入面的兩端有接觸輸入；以及修正步驟，當(dāng)所述接觸感測(cè)器的所述輸入面兩端有接觸輸入被檢出時(shí)，將所述數(shù)據(jù)系列最小值加到所述數(shù)據(jù)系列的各數(shù)據(jù)值，來(lái)修正所述接觸數(shù)據(jù)。
12.如權(quán)利要求10所述的輸入檢出方法，其特征在于，當(dāng)所述2條以上的線中的半數(shù)條連續(xù)的1條以上的線包括2條以上的線的情況下，所述計(jì)算處理步驟分別對(duì)根據(jù)每次掃描的所述2條以上的線中的各線位置而劃分的線群做積分，并結(jié)合所述觸控感測(cè)器的整個(gè)輸入面掃描后所獲得的該整個(gè)線群的積分結(jié)果，產(chǎn)生該觸控信息。
13.如權(quán)利要求9所述的輸入檢出方法，特征在于，所述讀取步驟包括 選擇步驟，依序選擇所述2條以上在掃描順序上相鄰的線上的電極；以及輸出步驟，輸出掃描所述2條以上的線中的半數(shù)條連續(xù)的1條以上的線所獲得的檢出數(shù)據(jù)與掃描剩余的半數(shù)條連續(xù)的1條以上的線所獲得的檢出數(shù)據(jù)之間的差值。
14.如權(quán)利要求9所述的輸入檢出方法，其特征在于，所述的輸入檢出方法更包括 噪聲去除步驟，從所述觸控信息中除去不滿閾值的低等噪聲。
15.一種計(jì)算機(jī)可讀取的媒體，其特征在于，為了檢出接觸具有配置為矩陣狀的電極的觸控感測(cè)器的輸入面時(shí)的輸入，而紀(jì)錄了讓計(jì)算機(jī)實(shí)行讀取部功能的輸入檢出程序，其中所述讀取部同時(shí)掃描2條以上在掃描順序上相鄰的線的所述電極，并依序由所述輸入面的一端每次移動(dòng)一條線來(lái)掃描直到所述輸入面的另一端，求取掃描所述2條以上的線中的半數(shù)條連續(xù)的1條以上的線所獲得的檢出數(shù)據(jù)與掃描剩余的半數(shù)條連續(xù)的1條以上的線所獲得的檢出數(shù)據(jù)之間的差值。
16.如權(quán)利要求15所述的計(jì)算機(jī)可讀取的媒體，其特征在于，所述輸入檢出程序更讓計(jì)算機(jī)實(shí)行計(jì)算處理部及重置部的功能，其中所述計(jì)算處理部對(duì)所述觸控感測(cè)器的輸入面全體積分所述差值，計(jì)算出觸控信息；以及所述重置部當(dāng)所述2條以上的線在所述觸控感測(cè)器的輸入面上由掃描結(jié)束端跨越到掃描開(kāi)始端時(shí)所獲得的差的積分結(jié)果不滿足既定值時(shí)，將所述積分結(jié)果或掃描所述掃描結(jié)束端上的線所獲得的檢出數(shù)據(jù)重新設(shè)定為所述既定值。
17.一種輸入檢出程序，其特征在于，為了檢出接觸具有配置為矩陣狀的電極的觸控感測(cè)器的輸入面時(shí)的輸入，而將計(jì)算機(jī)實(shí)行讀取部的功能，其中所述讀取部同時(shí)掃描2條以上在掃描順序上相鄰的線的所述電極，并依序由所述輸入面的一端每次移動(dòng)一條線來(lái)掃描直到所述輸入面的另一端，求取掃描所述2條以上的線中的半數(shù)條連續(xù)的1條以上的線所獲得的檢出數(shù)據(jù)與掃描剩余的半數(shù)條連續(xù)的1條以上的線所獲得的檢出數(shù)據(jù)之間的差值。
18.如權(quán)利要求17所述的輸入檢出程序，其特征在于，更讓計(jì)算機(jī)實(shí)行計(jì)算處理部及重置部的功能，其中，所述計(jì)算處理部對(duì)所述觸控感測(cè)器的輸入面全體積分所述差值，計(jì)算出觸控信息， 所述重置部當(dāng)所述2條以上的線在所述觸控感測(cè)器的輸入面上由掃描結(jié)束端跨越到掃描開(kāi)始端時(shí)所獲得的差的積分結(jié)果不滿足既定值時(shí)，將所述積分結(jié)果或掃描所述掃描結(jié)束端上的線所獲得的檢出數(shù)據(jù)重新設(shè)定為所述既定值。
全文摘要
本發(fā)明提供一種輸入檢出裝置、方法、程序及計(jì)算機(jī)可讀取媒體，能夠使用差動(dòng)檢測(cè)演算法正確地檢出多點(diǎn)輸入。為了檢出具有矩陣狀電極的觸控感測(cè)器的輸入面的接觸輸入，輸入檢出裝置包括讀取部，同時(shí)掃描2條以上在掃描順序上相鄰的電極線，并依序由輸入面的一端逐線掃描至另一端，求取掃描的線中的半數(shù)條連續(xù)的線與剩余的半數(shù)條連續(xù)的線所獲得的檢出數(shù)據(jù)之間的差值；以及計(jì)算處理部，對(duì)觸控感測(cè)器的輸入面全體積分差值，計(jì)算出觸控信息，當(dāng)2條以上的線由掃描結(jié)束端跨越到掃描開(kāi)始端的情況下所獲得的積分結(jié)果不滿足既定值時(shí)，重置掃描結(jié)束端上的線所獲得的檢出數(shù)據(jù)。
文檔編號(hào)G06F3/041GK102411447SQ20111028343
公開(kāi)日2012年4月11日 申請(qǐng)日期2011年9月22日 優(yōu)先權(quán)日2010年9月23日
發(fā)明者住尚樹(shù), 松井義和, 橋本和幸 申請(qǐng)人:奇美電子股份有限公司, 群康科技(深圳)有限公司