專利名稱：使用檢驗(yàn)指示的電路設(shè)計(jì)校驗(yàn)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明通常涉及電路設(shè)計(jì)校驗(yàn)，更具體地說，涉及使用檢驗(yàn)指示的電路 設(shè)計(jì)校驗(yàn)。
背景技術(shù)：
在實(shí)際生產(chǎn)制造之前通常要校驗(yàn)(即測試)所產(chǎn)生的電路設(shè)計(jì)。 一般，通 過在計(jì)算機(jī)(未示出)上運(yùn)行模擬程序來校驗(yàn)電路設(shè)計(jì)，在此期間，將不同的輸 入(稱為激勵(lì))依次施加到電路設(shè)計(jì)上，并收集在電路輸出上和在電路設(shè)計(jì)的不 同結(jié)點(diǎn)上的信號(hào)，并將這些信號(hào)與期望值相比較。如果出現(xiàn)失配，就認(rèn)為電 路設(shè)計(jì)是有缺陷的并且必須重新設(shè)計(jì)。不同激勵(lì)的數(shù)量可以非常大，于是， 用所有可能的激勵(lì)來測試電路設(shè)計(jì)的時(shí)間將會(huì)很長。因而，需要一種比先前 的工藝技術(shù)花費(fèi)更短時(shí)間的校驗(yàn)電路設(shè)計(jì)的方法。發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明提出了電路設(shè)計(jì)的校驗(yàn)方法，該方法包括提出電路設(shè)計(jì)；為電路 設(shè)計(jì)建立激勵(lì)樹圖，其中，激勵(lì)樹圖包括L個(gè)激勵(lì)，在此，L是大于4的整 數(shù)，激勵(lì)樹圖還包括M個(gè)檢查點(diǎn)分叉，在此，M是大于l的整數(shù)，其中激勵(lì) 樹圖還包括N個(gè)非檢驗(yàn)指示分叉，N是非負(fù)數(shù)的整數(shù)；執(zhí)行激勵(lì)樹圖，在此， 所迷執(zhí)行激勵(lì)樹圖的操作包括，在i二l，...，M的情況下，執(zhí)行M個(gè)檢驗(yàn)指示 分叉中的第i個(gè)檢驗(yàn)指示分叉，其中，執(zhí)行第i個(gè)檢驗(yàn)指示分叉包括保存第i 個(gè)激勵(lì)環(huán)境中的第i個(gè)上下文，并在此環(huán)境中執(zhí)行激勵(lì)樹圖；在進(jìn)行了所述 保存第i個(gè)上下文的操作之后，從第i個(gè)上下文開始，沿著從第i個(gè)檢驗(yàn)指示 分叉上分支出來的激勵(lì)樹圖的Pi個(gè)路徑來執(zhí)行，其中，第i個(gè)檢驗(yàn)指示分叉 是Pi路(Pi-way)分叉，Pi是大于l的整數(shù)。本發(fā)明也提供了 一個(gè)方法，此法包括用計(jì)算機(jī)系統(tǒng)處理器來執(zhí)行算法， 該算法由存儲(chǔ)在機(jī)讀介質(zhì)上的計(jì)算機(jī)代碼組成，所述計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)與處理 器相連，所述執(zhí)行所述算法包括執(zhí)行電路設(shè)計(jì)的激勵(lì)樹圖的步驟，其中，激勵(lì)樹圖包括L個(gè)激勵(lì)，L是大于4的整數(shù)，其中，激勵(lì)樹圖還包括M個(gè)沖企-驗(yàn) 指示分叉，其中M是大于1的整數(shù)，其中，激勵(lì)樹圖還包括N個(gè)非檢驗(yàn)指示 分叉，N是非負(fù)數(shù)的整數(shù)，其中，所述執(zhí)行激勵(lì)樹圖的操作包括，在1=1,..., M的情況下，執(zhí)行M個(gè)檢驗(yàn)指示分叉的第i個(gè)檢驗(yàn)指示分叉，其中，執(zhí)行第 i個(gè)沖企驗(yàn)指示分叉包括保存第i個(gè)模擬環(huán)境中的第i個(gè)上下文，在此環(huán)境中進(jìn) 行所述執(zhí)行激勵(lì)樹圖的操作；在進(jìn)行了所述保存第i個(gè)上下文之后，從第i個(gè) 上下文開始，沿著從第i個(gè)4企驗(yàn)指示分叉上分支出來的激勵(lì)樹圖的Pi個(gè)路徑 來執(zhí)行，其中，第i個(gè)才企驗(yàn)指示分叉是Pi路分叉，Pi是大于l的整數(shù)。本發(fā)明也提供了 一個(gè)計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品，該產(chǎn)品包含具有其中嵌埋了機(jī)讀 程序代碼的計(jì)算機(jī)可用介質(zhì)，所述機(jī)讀程序代碼包括適用于執(zhí)行電路設(shè)計(jì)的 校驗(yàn)方法的算法，所述方法包括執(zhí)行電路設(shè)計(jì)激勵(lì)樹圖的步驟，其中，激勵(lì) 樹圖包括L個(gè)激勵(lì)，L是大于4的整數(shù)，其中，激勵(lì)樹圖還包括M個(gè)檢驗(yàn)指 示分叉，其中M是大于1的整數(shù)，其中，激勵(lì)樹圖還包括N個(gè)非檢驗(yàn)指示分 叉，N是非負(fù)數(shù)的整數(shù)，其中，所述執(zhí)行激勵(lì)樹圖的操作包括，在i-l,...,M 的情況下，執(zhí)行M個(gè)檢驗(yàn)指示分叉的第i個(gè)檢驗(yàn)指示分叉，其中，執(zhí)行第i 個(gè)才全驗(yàn)指示分叉包括保存第i個(gè)模擬環(huán)境的第i個(gè)上下文，在此^^莫擬環(huán)境中進(jìn) 行所述執(zhí)行激勵(lì)樹圖的操作；在進(jìn)行了所述保存第i個(gè)上下文之后，從第i個(gè) 上下文開始，沿著從第i個(gè)檢驗(yàn)指示分叉上分支出來的激勵(lì)樹圖的Pi個(gè)路徑 來執(zhí)行，其中，第i個(gè)檢驗(yàn)指示分叉是Pi路分叉，Pi是大于l的整數(shù)。本發(fā)明也提供了電路設(shè)計(jì)的校驗(yàn)方法，該方法包括將機(jī)讀代碼集成到計(jì) 算機(jī)系統(tǒng)中，其中，與計(jì)算機(jī)系統(tǒng)相組合的代碼能夠進(jìn)行執(zhí)行電路設(shè)計(jì)的激 勵(lì)樹圖的步驟，其中，激勵(lì)樹圖包括L個(gè)激勵(lì)，L是大于4的整數(shù)，其中， 激勵(lì)樹圖還包括M個(gè)檢驗(yàn)指示分叉，M是大于l的整數(shù)，其中，激勵(lì)樹圖還 包括N個(gè)非檢驗(yàn)指示分叉，N是非負(fù)數(shù)的整數(shù)，其中，所述執(zhí)行激勵(lì)樹圖的 操作包括，在i = 1, ...， M的情況下，執(zhí)行M個(gè)檢驗(yàn)指示分叉中的第i個(gè)檢驗(yàn) 指示分叉，其中，執(zhí)行第i個(gè)檢驗(yàn)指示分叉包括保存第i個(gè)模擬環(huán)境的第i個(gè) 上下文，在此模擬環(huán)境中進(jìn)行所述執(zhí)行激勵(lì)樹圖；在進(jìn)行了所述保存第i個(gè) 上下文之后，從第i個(gè)上下文開始，沿著從第i個(gè)4企驗(yàn)指示分叉上分支出來的 激勵(lì)樹圖的Pi個(gè)路徑來執(zhí)行，其中，第i個(gè)檢驗(yàn)指示分叉是Pi路分叉，Pi 是大于1的整數(shù)。本發(fā)明提供了用并行模擬進(jìn)程來測試集成電路的方法，此方法包括限定集成電路的測試范圍；根據(jù)集成電路的隨機(jī)種子(random seed)配置來產(chǎn)生第 一模擬進(jìn)程；此第一模擬進(jìn)程控制并行模擬進(jìn)程；運(yùn)行第一模擬進(jìn)程到測試 覆蓋范圍的第一檢驗(yàn)指示分叉；和第一模擬進(jìn)程一起并行運(yùn)行第二模擬進(jìn) 程，第二模擬進(jìn)程在第一檢驗(yàn)指示分叉上開始；繼續(xù)運(yùn)行第一模擬進(jìn)程到第 一組檢驗(yàn)指示分叉，直到運(yùn)用了測試覆蓋范圍的覆蓋路徑上的所有的激勵(lì)為 止；繼續(xù)運(yùn)行第二模擬進(jìn)程到第二組檢驗(yàn)指示分叉，直到運(yùn)用了測試覆蓋范 圍的覆蓋路徑上的所有的激勵(lì)為止；將第一組檢驗(yàn)指示分叉和第二組檢驗(yàn)指 示分叉中的每個(gè)分叉的激勵(lì)和位置傳送給第一模擬進(jìn)程。本發(fā)明提供了用比先前的工藝技術(shù)更短的時(shí)間來校驗(yàn)電路設(shè)計(jì)的方法。


圖l根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例示出了測試系統(tǒng)(測試模擬環(huán)境)。 圖2根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例示出了圖1的測試模擬環(huán)境的激勵(lì)產(chǎn)生器的激 勵(lì)樹圖。圖3根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例示出了用于執(zhí)行圖2的激勵(lì)樹圖的激勵(lì)程序。 圖4根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例示出了利用圖1的測試模擬環(huán)境的校驗(yàn)環(huán)境。 圖5根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例示出了用于執(zhí)行圖2的激勵(lì)樹圖的另一個(gè)激勵(lì) 程序。圖6根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例示出了使用圖4的校驗(yàn)環(huán)境的檢驗(yàn)指示的優(yōu)點(diǎn)。 圖7根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例示出了用于模擬圖1的測試模擬環(huán)境的計(jì)算機(jī) 系統(tǒng)。
具體實(shí)施方式
圖1根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例示出了用于校驗(yàn)(即測試)電路100的測試系統(tǒng)。 更具體地說，在一個(gè)實(shí)施例中，按如下方式進(jìn)行電路100的校驗(yàn)。激勵(lì)產(chǎn)生 器110向電路130和監(jiān)控器120產(chǎn)生激勵(lì)。電路130從激勵(lì)產(chǎn)生器110上接 收作為輸入的激勵(lì)并對檢驗(yàn)器140產(chǎn)生輸出信號(hào)。監(jiān)控器120記錄給予電路 130的激勵(lì)。在一個(gè)實(shí)施例中，在將激勵(lì)傳送到^r驗(yàn)器140之前，監(jiān)控器120 先把激勵(lì)轉(zhuǎn)換成有用的形式。檢驗(yàn)器140根據(jù)由監(jiān)控器120提供的信息來計(jì) 算所期望的結(jié)果，并比較來自電路130的輸出信號(hào)和計(jì)算出的期望結(jié)果。來 自電路130的輸出信號(hào)和計(jì)算出的期望結(jié)果之間的差別表明在電路130中的潛在差錯(cuò)。在一個(gè)實(shí)施例中，檢驗(yàn)器140跟蹤檢測電路130是否已用預(yù)先規(guī)定的一 組激勵(lì)(稱為激勵(lì)覆蓋路徑)來測試過，并相應(yīng)地通知覆蓋范圍監(jiān)控器150。覆 蓋范圍監(jiān)控器150保持在電路130上進(jìn)行的激勵(lì)覆蓋路徑的軌跡，并比較所 進(jìn)行的激勵(lì)覆蓋路徑和預(yù)先規(guī)定的一組激勵(lì)覆蓋路徑(稱為激勵(lì)覆蓋目標(biāo))。在 一個(gè)實(shí)施例中，在進(jìn)行了所有的激勵(lì)覆蓋目標(biāo)的激勵(lì)覆蓋路徑之后，覆蓋范 圍監(jiān)控器150就通知校驗(yàn)工程師，以便校驗(yàn)工程師能夠停止校驗(yàn)進(jìn)程。在一個(gè)實(shí)施例中，通過執(zhí)行計(jì)算機(jī)(未示出)中的模擬程序來模擬電路130 的校驗(yàn)。更具體地說，通過執(zhí)行在計(jì)算機(jī)中的模擬程序來模擬所有的激勵(lì)發(fā) 生器110、監(jiān)控器120、電路130、檢驗(yàn)器140和覆蓋監(jiān)控器150。結(jié)果，在 計(jì)算機(jī)模擬的上下文中，就能夠?qū)㈦娐?30當(dāng)作為電路設(shè)計(jì)130，就能將測 試系統(tǒng)100當(dāng)作為測試模擬環(huán)境100。此外，在計(jì)算機(jī)模擬上下文中，可將 激勵(lì)發(fā)生器110、監(jiān)控器120、檢驗(yàn)器140和覆蓋范圍監(jiān)控器150分別當(dāng)作為 激勵(lì)產(chǎn)生器進(jìn)程110、監(jiān)控器進(jìn)程120、檢驗(yàn)器進(jìn)程140和覆蓋監(jiān)控器進(jìn)程 150。應(yīng)當(dāng)說明的是，通過執(zhí)行在計(jì)算機(jī)中的模擬程序能夠順序地或同時(shí)地模 擬與測試才莫擬環(huán)境100相似的多個(gè)測試^^擬環(huán)境。圖2根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例示出了圖1的激勵(lì)產(chǎn)生器進(jìn)程110的激勵(lì)樹圖 200。能夠產(chǎn)生激勵(lì)樹圖200來校驗(yàn)電路設(shè)計(jì)130。如圖所示，激勵(lì)樹圖200 包括代表15個(gè)激勵(lì)(即激勵(lì)S, A, B， C，…,N)的15個(gè)環(huán)。例如，假設(shè)電路設(shè)計(jì)130是順序數(shù)字電路，該電路有兩個(gè)二進(jìn)制的輸入 X和Y(未示出)和一個(gè)二進(jìn)制輸出Z(未示出)。于是，例如，根激勵(lì)S可以 是能夠分別加到輸入X和Y上的(l, 1),(即X=1,Y=1)。激勵(lì)A(yù)可以是能夠分 別加到輸入X和Y上的(l, 0),(即X=1,Y=0)。激勵(lì)B可以是能夠分別加到輸 入X和Y上的(O, 0),(即X=0，Y=0)。激勵(lì)C可以是能夠分別加到輸入X和Y 上的(1,0)，(即與激勵(lì)A(yù)相同)，如此等等。從激勵(lì)A(yù)到激勵(lì)B的箭頭表明在激勵(lì)B之前將激勵(lì)A(yù)施加到電路設(shè)計(jì) 130上。同樣地，從激勵(lì)A(yù)到激勵(lì)F的箭頭表明在激勵(lì)F之前將激勵(lì)A(yù)施加 到電路設(shè)計(jì)130上，在激勵(lì)樹圖200中的其它箭頭也是如此。如果將所有的六個(gè)激勵(lì)S， A, B， C, D和E都依照其順序加到了電路設(shè)計(jì)130上，這就表明，已執(zhí)行了激勵(lì)覆蓋路徑S-A-B-C-D-E并已進(jìn)行了測試運(yùn) 行。同樣地，如果將所有的五個(gè)激勵(lì)S， A， F， H和J依照此順序加到了電路設(shè) 計(jì)130上，這就表明，已執(zhí)行了激勵(lì)覆蓋路徑S-A-F-H-J并已進(jìn)行了測試運(yùn) 行，等等。激勵(lì)樹圖200包括五個(gè)不同的激勵(lì)覆蓋路徑S-A-B-C-D-E, S-A-F-G-I-L, S-A-F-G-I-M, S-A-F-H-J， S-A-F-H-K-N。如果進(jìn)行了所有的五個(gè)激勵(lì)覆蓋路 徑，就完成了電路設(shè)計(jì)130的校驗(yàn)的激勵(lì)覆蓋目標(biāo)。因此，必須進(jìn)行至少5 個(gè)測試運(yùn)作才能完成激勵(lì)覆蓋目標(biāo)。由此可見，五個(gè)激勵(lì)覆蓋路徑的每一個(gè) 都從序列S-A開始。因此，將序列S-A稱為初始化序列。應(yīng)當(dāng)說明的是，激勵(lì)樹圖200可以正好是大得多的激勵(lì)覆蓋空間的一部 分。例如，激勵(lì)序列S-A-A和S-A-B-A(未示出)是激勵(lì)覆蓋空間的兩個(gè)可能 的激勵(lì)覆蓋路徑，但是并不屬于激勵(lì)樹圖200。這可能是因?yàn)樾ｒ?yàn)工程師選 捧不沿著這兩個(gè)激勵(lì)覆蓋路徑來測試電路設(shè)計(jì)130。校驗(yàn)工程師這樣做的原因可能是因?yàn)殡娐吩O(shè)計(jì)130不是設(shè)計(jì)來沿著這兩個(gè)激勵(lì)覆蓋路徑執(zhí)行的。換 句話說，在上述的實(shí)施例中，激勵(lì)樹圖200只包含激勵(lì)覆蓋空間的一部分。 在另一個(gè)可供選擇的實(shí)施例中，激勵(lì)樹圖200包含了全部的激勵(lì)覆蓋空間。圖3根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例示出了用于執(zhí)行圖2的激勵(lì)樹圖200的激勵(lì)程 序。在一個(gè)實(shí)施例中，激勵(lì)程序300可以包含在用以建立圖1的測試模擬環(huán) 境100的模擬程序300中。在激勵(lì)程序300中，";"前面的字符"A"代表計(jì) 算機(jī)指令A(yù)，在執(zhí)行時(shí)，此指令模擬對電路設(shè)計(jì)130的激勵(lì)A(yù)的產(chǎn)生(圖1)。 隨后是測試模擬環(huán)境IOO (圖1)的操作，以響應(yīng)所產(chǎn)生的、并被施加到電路 設(shè)計(jì)130(圖1)上的激勵(lì)A(yù)(圖1)。更具體地說，這個(gè)操:作包括在響應(yīng)激勵(lì) A時(shí)電路設(shè)計(jì)130模擬輸出信號(hào)的產(chǎn)生；在將激勵(lì)A(yù)轉(zhuǎn)發(fā)給檢驗(yàn)器130時(shí)， 模擬監(jiān)控器120的操作；模擬檢驗(yàn)器140的操作，以便比較在響應(yīng)激勵(lì)A(yù)時(shí) 所產(chǎn)生的電路設(shè)計(jì)130的輸出值和期望值，等等。如圖所示，激勵(lì)程序300有四個(gè)分支一隨機(jī)一布爾指令，在計(jì)算機(jī)執(zhí)行這 些指令時(shí)，每個(gè)指令都引起一個(gè)檢驗(yàn)指示事件(以下將詳細(xì)說明)。在激勵(lì)樹圖 200之中，恰好分別在激勵(lì)A(yù)、 F、 I和H之后，有四個(gè)分支210、 220、 230 和240，并且還有分別與四個(gè)分支210、 220、 230和240相應(yīng)的分支—隨機(jī)— 布爾指令310、 320、 330和340(圖2)。下面將詳細(xì)說明激勵(lì)程序300的執(zhí)行。圖4根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例示出了利用圖1的測試模擬環(huán)境100的校驗(yàn)環(huán) 境400。更具體地說，校驗(yàn)環(huán)境400包括測試管理器410、 ^r^r點(diǎn)管理器420、 檢驗(yàn)點(diǎn)隊(duì)列430和N個(gè)測試模擬環(huán)境440.1,...,440.N,其中，N是正整數(shù)。N 個(gè)測試才莫擬環(huán)境440.1,...,440.N中的每一個(gè)都與圖1中的測試才莫擬環(huán)境相似。在一個(gè)實(shí)施例中，通過由計(jì)算機(jī)執(zhí)行模擬程序來產(chǎn)生校驗(yàn)環(huán)境400。這 就表示，測試管理器410和4t瞼點(diǎn)管理器420也是計(jì)算機(jī)進(jìn)程。參照圖1 - 4,在一個(gè)實(shí)施例中，在校驗(yàn)環(huán)境400中使用激勵(lì)程序300進(jìn) 行電路設(shè)計(jì)130的校驗(yàn)(稱為執(zhí)行激勵(lì)程序300)如下。首先，測試管理器410 執(zhí)行模擬程序直到緊接在激勵(lì)程序300前面的點(diǎn)上。然后，測試管理器410 將控制傳送到4企驗(yàn)點(diǎn)管理器420。在響應(yīng)時(shí)，4企驗(yàn)點(diǎn)管理器420分支(即產(chǎn)生) 第一測試模擬環(huán)境440.1(圖4)，該測試模擬環(huán)境正好在激勵(lì)程序300(圖3)的 起始位置上開始執(zhí)行。更具體地說，測試模擬環(huán)境440.1執(zhí)行指令S,然后執(zhí) 行指令A(yù)和分支—隨機(jī)_布爾指令310。在一個(gè)實(shí)施例中，在執(zhí)行指令分支—隨機(jī)—布爾指令310時(shí)(稱為執(zhí)行圖2 的檢驗(yàn)指示分叉210)，測試模擬環(huán)境440.1進(jìn)行如下的操作。首先，測試模 擬環(huán)境440.1通知4全-瞼點(diǎn)管理器420，測試模擬環(huán)境440.1正在分支—隨機(jī)—布 爾指令310上進(jìn)行檢驗(yàn)指示。然后，測試模擬環(huán)境440.1給4企驗(yàn)點(diǎn)管理器420 提供分支—隨機(jī)—布爾指令310的兩個(gè)可能的結(jié)果，即TRUE (正確的)和 FALSE (錯(cuò)誤的)(這兩個(gè)結(jié)果被列入在分支—隨機(jī)_布爾指令310中)。然后， 測試纟莫擬環(huán)境440.1保存它的上下文并結(jié)束。在一個(gè)實(shí)施例中，在響應(yīng)從測試模擬環(huán)境440.1中接收分支—隨機(jī)—布爾 指令310的TRUE (正確的)和FALSE (錯(cuò)誤的)這兩個(gè)可能的結(jié)果時(shí)，檢驗(yàn) 點(diǎn)管理器420分別保存TRUE (正確的)和FALSE (錯(cuò)誤的)這兩個(gè)可能的結(jié) 果，以作為在4企驗(yàn)點(diǎn)隊(duì)列430中的第一項(xiàng)和第二項(xiàng)。如圖例所示，第一頂可 能是"TRUE-指令A(yù)",第二頂可能是"FALSE-指令A(yù)"。在一個(gè)實(shí)施例中，檢驗(yàn)點(diǎn)管理器420持續(xù)檢驗(yàn)可以利用的項(xiàng)目的檢驗(yàn)點(diǎn) 隊(duì)列430，并發(fā)現(xiàn)檢驗(yàn)點(diǎn)隊(duì)列430包含第一和第二項(xiàng)。然后，檢驗(yàn)點(diǎn)管理器 420分叉第二測試沖莫擬環(huán)境440.2,并將檢驗(yàn)點(diǎn)隊(duì)列430的第一項(xiàng)(即"TRUE-指令A(yù)")發(fā)送給測試模擬環(huán)境440.2。在此，假設(shè)根據(jù)FIFO(先進(jìn)先出)的原則 來操作檢驗(yàn)點(diǎn)隊(duì)列430。這就是說，將第一項(xiàng)放在檢驗(yàn)點(diǎn)隊(duì)列430中的第二 項(xiàng)之前，因此，在第二項(xiàng)之前先對第一項(xiàng)起作用。然后，在響應(yīng)時(shí)，測試模擬環(huán)境440.2從由測試模擬環(huán)境440.1保存的上 下文開始，并執(zhí)行指令B、 C、 D和E,然后結(jié)束(即沿著TRUE路徑)。在此 點(diǎn)上，已執(zhí)行了激勵(lì)覆蓋路徑S-A-B-C-D-E并結(jié)束測試運(yùn)作。下面，在一個(gè)實(shí)施例中，檢驗(yàn)點(diǎn)管理器420檢驗(yàn)片企驗(yàn)點(diǎn)隊(duì)列430并發(fā)現(xiàn) 檢驗(yàn)點(diǎn)隊(duì)列430仍然包含第二項(xiàng)(即"FALSE-指令A(yù)")。然后，檢驗(yàn)點(diǎn)管理器 420分叉第三測試模擬環(huán)境440.3,并將檢驗(yàn)點(diǎn)隊(duì)列430中的第二項(xiàng)發(fā)送給測 試才莫擬環(huán)境440.3。然后，在響應(yīng)時(shí)，測試模擬環(huán)境440.3從由測試模擬環(huán)境440.1保存的上 下文開始，并執(zhí)行指令F和分支—隨機(jī)—布爾指令320 (即沿著FALSE路徑)， 然后結(jié)束。在一個(gè)實(shí)施例中，測試模擬環(huán)境440.3按照與測試模擬環(huán)境440.1執(zhí)行"分 支—隨機(jī)_布爾"指令310的方式相同的方式來執(zhí)行"分支—隨機(jī)—布爾"指令 320。結(jié)果，檢驗(yàn)點(diǎn)隊(duì)列430又分別有了第三和第四項(xiàng)"TRUE-指令P，和 "FALSE-指令F"。然后，在響應(yīng)發(fā)現(xiàn)在檢驗(yàn)點(diǎn)隊(duì)列430中的第三和第四項(xiàng)時(shí)，檢驗(yàn)點(diǎn)管理 器"0分叉(i)第四測試模擬環(huán)境440.4以執(zhí)行指令G (即沿著TRUE路徑) 和(ii)第五測試模擬環(huán)境440.5以執(zhí)行指令H(即沿著FALSE路徑)，等等，直 到測試了所有的五個(gè)激勵(lì)覆蓋路徑S-A-B-C-D-E, S-A-F-G-I-L， S-A-F-G-I-M， S-A-F-H-J, S-A-F-H-K-N為止。在一個(gè)實(shí)施例中，在背景中運(yùn)作的測試管理器 410識(shí)別這個(gè)情況(即測試了激勵(lì)覆蓋目標(biāo)的所有的五個(gè)激勵(lì)覆蓋路徑)，然 后表明完成了校驗(yàn)進(jìn)程。在上述的實(shí)施例中，檢驗(yàn)點(diǎn)管理器420只在前面產(chǎn)生的全部測試模擬環(huán) 境結(jié)束了之后才分叉新的測試模擬環(huán)境(即順序地)。例如，檢驗(yàn)點(diǎn)管理器420 在第二測試才莫擬環(huán)境440.2結(jié)束之后才分叉第三測試才莫擬環(huán)境440.3。在另一 個(gè)可供選擇的實(shí)施例中，即使以前產(chǎn)生的其它測試模擬環(huán)境還在執(zhí)行之中， 檢驗(yàn)點(diǎn)管理器420也能夠分叉新的測試模擬環(huán)境。例如，盡管第二測試模擬 環(huán)境4W2正在沿著TRUE路徑(即激勵(lì)覆蓋路徑S-A-B-C-D-E)執(zhí)行，檢驗(yàn) 點(diǎn)管理器420也能分叉第三模擬測試環(huán)境440.3，以便沿著FALSE路徑(即 指令F)執(zhí)行。在另一個(gè)例子中，盡管第二測試模擬環(huán)境440.2正在沿著TRUE 路徑(即激勵(lì)覆蓋路徑S-A-B-C-D-E)執(zhí)行，但是在第三測試模擬環(huán)境440.3 結(jié)束后，檢驗(yàn)點(diǎn)管理器420也能分叉第四和第五模擬測試環(huán)境440.4和440.5,以便分別沿著TRUE路徑(即指令G)和FALSE路徑(即指令H)執(zhí)行。在上述的實(shí)施例中，將一個(gè)分支一隨機(jī)—布爾指令用于激勵(lì)樹圖200中的 每個(gè)分叉上。更具體地說，四個(gè)"分支—隨機(jī)—布爾，，指令310、 320、 330和340 (圖4)分別用于四個(gè)分支210、 220、 230和240上(圖2)。換句話說，在激勵(lì) 樹圖200中的所有分叉都是檢驗(yàn)指示分叉。另外，并非在激勵(lì)樹圖200中的 所有的分叉都是^:驗(yàn)指示分叉(即在激勵(lì)樹圖200中能夠只有一個(gè)、兩個(gè)或 三個(gè)檢驗(yàn)點(diǎn))。例如，在分叉220(稱為非檢驗(yàn)指示的分叉220)上只能有一個(gè) 檢驗(yàn)點(diǎn)。這相當(dāng)于用激勵(lì)程序300中的三個(gè)"是否—隨機(jī)—布爾()-TRUE，，指 令來代替三個(gè)"分支_隨機(jī)_布爾"指令310、 330和340,并產(chǎn)生了激勵(lì)程序 500 (圖5)。參見圖1 -5,在一個(gè)實(shí)施例中，除了以下幾方面以外，使用激勵(lì)圖500(稱 為執(zhí)行激勵(lì)程序500)的電路設(shè)計(jì)130的校驗(yàn)與執(zhí)行激勵(lì)程序300相似。在這 些方面之一中，在執(zhí)行激勵(lì)程序500 (圖5)的"是否—隨機(jī)_布爾()=TRUE" 指令510、 530和540中的任何一個(gè)的時(shí)候，測試模擬環(huán)境進(jìn)行如下操作。首 先，測試模擬環(huán)境產(chǎn)生TRUE或FALSE 二者之一的隨機(jī)布爾值。然后，根據(jù) 隨機(jī)產(chǎn)生的值，測試模擬環(huán)境將沿著相應(yīng)的路徑執(zhí)行。例如，假設(shè)測試模擬環(huán)境正在執(zhí)行"是否—隨機(jī)_布爾()=TRUE"指令510 (圖5)。如果由測試模擬環(huán)境產(chǎn)生的隨機(jī)生成值是TRUE，那么，測試模擬環(huán) 境將沿TRUE路徑(即激勵(lì)覆蓋路徑B-C-D-E)來執(zhí)行。如果由測試模擬環(huán)境 產(chǎn)生的隨機(jī)生成值是FALSE,那么，測試模擬環(huán)境將執(zhí)行FALSE路徑(即 執(zhí)行指令F,然后執(zhí)行"分支—隨機(jī)—布爾"指令320)。測試模擬環(huán)境將按照與 測試模擬環(huán)境440.1執(zhí)行上述的"分支—隨機(jī)—布爾"指令310 (圖3)的方式相 似的方式來執(zhí)行激勵(lì)程序500(圖5)的"分支—隨機(jī)—布爾"指令320。在一個(gè)實(shí)施例中，多個(gè)測試模擬環(huán)境可以沿著激勵(lì)樹圖200 (圖2)的相 同的或不同的激勵(lì)覆蓋路徑來順序地或非順序地執(zhí)行激勵(lì)程序500 (圖5)。作 為非順序執(zhí)行的一個(gè)例子，々H殳在某個(gè)時(shí)刻，由測試管理器410產(chǎn)生的、并 從指令S上開始的一個(gè)測試模擬環(huán)境執(zhí)行指令C(這個(gè)測試模擬環(huán)境在執(zhí)行緊 接在指令A(yù)后面的"是否—隨機(jī)一布爾()=TRUE"指令510的時(shí)候產(chǎn)生TRUE 值，因此，遵循TRUE ^各徑拍^亍)。在相同的時(shí)刻，由測試管理器410產(chǎn)生的、并從指令S上開始的另一個(gè) 測試模擬環(huán)境執(zhí)行指令E (這個(gè)測試模擬環(huán)境在執(zhí)行緊跟在指令A(yù)后面的"是否—隨機(jī)—布爾(一TRUE"指令510的時(shí)候也產(chǎn)生TRUE值，因此，遵循相同的 TRUE路徑執(zhí)行)。在相同的時(shí)刻，由檢驗(yàn)點(diǎn)管理器420產(chǎn)生的、并從指令G上開始的另一 個(gè)測試模擬環(huán)境執(zhí)行指令I(lǐng) (由檢驗(yàn)點(diǎn)管理器420從檢驗(yàn)點(diǎn)隊(duì)列430 (圖4)中 將TRUE項(xiàng)發(fā)送給這個(gè)測試模擬環(huán)境，因此，沿著TRUE路徑到指令I(lǐng))。。在相同的時(shí)刻，由檢驗(yàn)點(diǎn)管理器420產(chǎn)生的、并從指令H上開始的另一 個(gè)測試模擬環(huán)境執(zhí)行指令K (由檢驗(yàn)點(diǎn)管理器420從4企驗(yàn)點(diǎn)隊(duì)列430中將 FALSE項(xiàng)發(fā)送給這個(gè)測試模擬環(huán)境，因此，遵循FALSE路徑執(zhí)行，然后， 在執(zhí)行緊接在指令H后面的"是否—隨機(jī)_布爾("TRUE"指令540的時(shí)候產(chǎn) 生FALSE值，因此，遵循FALSE路徑到指令K)。在一個(gè)實(shí)施例中，如果沒有達(dá)到激勵(lì)覆蓋目標(biāo)，測試管理器410就繼續(xù) 產(chǎn)生從激勵(lì)程序500 (圖5)的指令S開始執(zhí)行的新的測試模擬環(huán)境。圖6根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例示出了曲線圖600,該圖說明了使用圖4的校 驗(yàn)環(huán)境400的斥企驗(yàn)指示的優(yōu)點(diǎn)。更具體地說，線條610表示這樣的情況，在 此情況下，在激勵(lì)樹圖200(圖2)中不使用檢驗(yàn)點(diǎn)。換句話說，在此情況下， 除了用四個(gè)"是否—隨機(jī)一布爾()二TRUE，，指令來替換所有的四個(gè)"分支—隨 機(jī)—布爾"指令310、 320、 330和340而外，所-使用的激勵(lì)程序類似于激勵(lì)程 序300 (圖3)。線條6M表示這樣的情況，在此情況下，在激勵(lì)樹圖200 (圖 2)中的分叉220上只存在一個(gè)檢驗(yàn)點(diǎn)。換句話說，使用了激勵(lì)程序500 (圖 5)。線條630表示這樣的情況，在此情況下，在激勵(lì)樹圖200 (圖2)中的所 有的四個(gè)分叉210、 220、 230和240上都存在才企驗(yàn)點(diǎn)。換句話說，使用了激 勵(lì)程序300 (圖3)。從圖6的曲線圖600可知，在激勵(lì)樹圖200 (圖2)中的所有的四個(gè)分叉 210、 220、 BO和240上的4企驗(yàn)指示有助于在最短的時(shí)間(約4000毫秒)內(nèi) 完成激勵(lì)覆蓋目標(biāo)，與此同時(shí)，檢驗(yàn)指示完全不需要用最長的時(shí)間(約35000 毫秒)來完成相同的激勵(lì)覆蓋目標(biāo)。在此，假設(shè)用同樣的計(jì)算機(jī)(未示出)來 運(yùn)行三個(gè)不同的激勵(lì)程序(其中兩個(gè)是激勵(lì)程序300和500)。在一個(gè)實(shí)施例中，圖2的激勵(lì)S， A,...,和J中的每一個(gè)都能夠包括一個(gè) 輸入序列(而不只是在上面的實(shí)施例中所述一個(gè)輸入)。在上述的實(shí)施例中，參見圖2，分叉210、220、 230和240是兩^各分叉(即 分裂成兩個(gè)路徑)。通常，激勵(lì)樹圖200的每個(gè)分叉都可以是M路分叉，在此，M是大于l的整數(shù)。在上述的實(shí)施例中，對于所有的分叉而言，M=2。 通常，激勵(lì)樹圖200的分叉不一定都具有相同的M值。例如，如上所述，分 叉210能夠是兩路分叉，但是分叉240可以是三路分叉。假設(shè)檢驗(yàn)點(diǎn)位于三路分叉240上(即分叉240是檢驗(yàn)指示分叉)，然后， 就要用一個(gè)指令(在執(zhí)行時(shí)它將三個(gè)項(xiàng)放到檢驗(yàn)點(diǎn)隊(duì)列430 (圖4)之中)來 替換指令340 (圖3)。在響應(yīng)時(shí)，檢驗(yàn)點(diǎn)管理器420將產(chǎn)生三個(gè)測試模擬環(huán)境， 以便沿著從上述的三路分叉240分支出來三個(gè)路徑來執(zhí)行。另外的辦法是，假設(shè)在三路分叉240上沒有放置一企驗(yàn)點(diǎn)(即分叉240是 非檢驗(yàn)指示分叉)，然后，就應(yīng)當(dāng)用一個(gè)指令(在執(zhí)行時(shí)此指令會(huì)隨機(jī)產(chǎn)生三 個(gè)可能的值(即1， 2， 3)之一)來代替指令340,然后遵循與隨機(jī)產(chǎn)生的值 相應(yīng)的三個(gè)^各徑之一來^M亍。圖7根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例示出了用于校驗(yàn)電路設(shè)計(jì)130 (圖1)的計(jì)算機(jī) 系統(tǒng)90。計(jì)算機(jī)系統(tǒng)90包括處理器91、與處理器91相連的輸入器件92、 與處理器91相連的輸出器件93、每一個(gè)都與處理器91相連的存儲(chǔ)器件94 和95。輸入器件92尤其可以是鍵盤、鼠標(biāo)等。輸出器件93尤其可以是打印 機(jī)、繪圖儀、計(jì)算機(jī)屏、磁帶、可拆卸的硬盤、軟盤等。存儲(chǔ)器件94和95 尤其可以是硬盤、軟盤、磁帶、如像小型高密度光盤(CD)或數(shù)字視頻光盤 (DVD)之類的光存儲(chǔ)器、動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(DRAM)、只讀存儲(chǔ)器(ROM) 等。存儲(chǔ)器件95包括計(jì)算機(jī)代碼97。計(jì)算機(jī)代碼97包括用于校驗(yàn)電路設(shè)計(jì) 130的算法(圖1)。計(jì)算機(jī)處理器91執(zhí)行計(jì)算機(jī)代碼97。存儲(chǔ)器件94包括 輸入數(shù)據(jù)96。輸入數(shù)據(jù)96包括計(jì)算機(jī)代碼97所需要的輸入。輸出器件93 顯示來自計(jì)算機(jī)代碼97的輸出?？蓪⒋鎯?chǔ)器件94和95兩者或二者之一 (或 圖7中未示出的一個(gè)或多個(gè)附加的存儲(chǔ)器件)用作為計(jì)算機(jī)可用的介質(zhì)(或計(jì) 算機(jī)可讀的介質(zhì)或程序存儲(chǔ)介質(zhì))，這類介質(zhì)具有嵌埋于其中的計(jì)算機(jī)可讀的 程序代碼和/或具有存儲(chǔ)于其中的其它數(shù)據(jù)，其中，計(jì)算機(jī)可讀的程序代碼 包括計(jì)算機(jī)代碼97。通常，計(jì)算機(jī)系統(tǒng)90的計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品(或者是生產(chǎn)制 品)包括所述計(jì)算機(jī)可用的介質(zhì)(或者是所述程序存儲(chǔ)器件)。本發(fā)明揭示了用于部署計(jì)算基本結(jié)構(gòu)的進(jìn)程，其中包括將計(jì)算機(jī)可讀的 代碼集成到計(jì)算機(jī)系統(tǒng)90中，其中，與計(jì)算機(jī)系統(tǒng)90相組合的代碼能夠執(zhí) 行用于校驗(yàn)電路設(shè)計(jì)130 (圖1)的方法。盡管圖7示出了具有特定的軟件和硬件配置的計(jì)算機(jī)系統(tǒng)90,但是如像普通熟悉工藝技術(shù)的人所知道的那樣，任何硬件和軟件配置都可以被用于與前面結(jié)合圖7的特定的計(jì)算機(jī)系統(tǒng)90所描述的目的。例如，存儲(chǔ)器件94和 95可以是單個(gè)的存儲(chǔ)器件的某些部分而不是分離的存儲(chǔ)器件。在上達(dá)述的實(shí)施例中，可將第一測試模擬環(huán)境440.1 (它執(zhí)行S-A)和第 二測試模擬環(huán)境440.2 (它執(zhí)行B-C-D-E)當(dāng)作是執(zhí)行模擬覆蓋路徑 S-A-B-C-D-E的第一模擬進(jìn)程。同樣地，可將第三測試模擬環(huán)境440.3 (它執(zhí) 行F)和第四測試才莫擬環(huán)境440.4 (它執(zhí)行G-I)以及另一個(gè)測試模擬環(huán)境(它 執(zhí)行M)當(dāng)作是執(zhí)行模擬覆蓋路徑F-G-I-M(即從A開始的路徑)的第二模擬 進(jìn)程。應(yīng)當(dāng)說明的是，第二模擬進(jìn)程遇到了兩個(gè)緊接在F和I后面的檢驗(yàn)指示 分叉。第二模擬進(jìn)程交會(huì)在每個(gè)檢驗(yàn)指示分叉上，第二模擬進(jìn)程與上述的檢 驗(yàn)點(diǎn)管理器420 (圖4)相互通信，以便能夠產(chǎn)生用以探查檢驗(yàn)指示分叉的其 它路徑的新的進(jìn)程。例如，緊接在F之后，第二模擬進(jìn)程繼續(xù)進(jìn)行到G。根 據(jù)第二模擬進(jìn)程提供的信息，檢驗(yàn)點(diǎn)管理器420產(chǎn)生另 一個(gè)進(jìn)行到H的進(jìn)程 (即上述的第五個(gè)測試模擬環(huán)境440.5)。例如，緊接在F之后，第二模擬進(jìn)程提供給檢驗(yàn)點(diǎn)管理器420的信息包 括檢驗(yàn)指示分叉所在之處(即檢驗(yàn)指示分叉的位置，這就是F)的指令以及其 余路徑的值(即檢驗(yàn)指示分叉的狀態(tài)，這就是FALSE)。第一模擬進(jìn)程的表現(xiàn)與第二模擬進(jìn)程相似。它恰好發(fā)生在A之后，第一 模擬進(jìn)程不遇到任何檢驗(yàn)指示分叉。在一個(gè)實(shí)施例中，檢驗(yàn)點(diǎn)管理器420是 第一模擬進(jìn)程的一個(gè)部分。在此情況下，第二模擬進(jìn)程給第一模擬進(jìn)程提供 關(guān)于每個(gè)檢驗(yàn)指示分叉的信息，在此，所述檢驗(yàn)指示分叉是第二模擬進(jìn)程在 它的路徑上遇到的。換句話說，第一模擬進(jìn)程控制所有的可以順序地或同時(shí) 地運(yùn)行的模擬進(jìn)程。應(yīng)當(dāng)說明的是，在此將激勵(lì)S看做是電路設(shè)計(jì)130(圖1)的隨機(jī)種子配置。為了說明起見，盡管在此用圖描述了本發(fā)明的特定的實(shí)施例，顯然，那 些熟悉工藝技術(shù)的人可以進(jìn)行各種變更和修改。因此，在不脫離本發(fā)明的精 神和范圍的情況下，附后的權(quán)利要求是要涵蓋所有這樣的變更和修改的。
權(quán)利要求
1. 一種設(shè)計(jì)的校驗(yàn)方法，包括提供電路設(shè)計(jì)；產(chǎn)生電路設(shè)計(jì)的激勵(lì)樹圖，其中，激勵(lì)樹圖包含L個(gè)激勵(lì)，L是大于4的整數(shù)，其中，激勵(lì)樹圖還包含M個(gè)檢驗(yàn)指示分叉，M是大于1的整數(shù)，執(zhí)行激勵(lì)樹圖，其中，所述執(zhí)行激勵(lì)樹圖包括，對i＝1，...，M，執(zhí)行M個(gè)檢驗(yàn)指示分叉中的第i個(gè)檢驗(yàn)指示分叉，其中，所述執(zhí)行第i個(gè)檢驗(yàn)指示分叉又包括保存第i個(gè)模擬環(huán)境中的第i個(gè)上下文，在此模擬環(huán)境中進(jìn)行所述執(zhí)行激勵(lì)樹圖的操作；在進(jìn)行了所述保存第i個(gè)上下文的操作之后，從第i個(gè)上下文開始，沿著從第i個(gè)檢驗(yàn)指示分叉上分支出來的激勵(lì)樹圖的Pi個(gè)路徑來執(zhí)行，其中，第i個(gè)檢驗(yàn)指示分叉是Pi路分叉，Pi是大于1的整數(shù)。
2. 如權(quán)利要求1的方法，其中，激勵(lì)樹圖還包含N個(gè)非檢驗(yàn)指示分 叉，N是非負(fù)數(shù)的整數(shù);并且其中，所述執(zhí)行激勵(lì)樹圖還包括，對h:l，...，N,執(zhí)行N個(gè)非檢驗(yàn)指示 分叉中的第h個(gè)非檢驗(yàn)指示分叉，其中，所述執(zhí)行第h個(gè)非檢驗(yàn)指示分叉的 操作包括隨^L產(chǎn)生Qh個(gè)可能值中的一個(gè)值，其中，第h個(gè)非才企驗(yàn)指示分 叉是Qh路分叉，Qh是大于l的整數(shù)。沿著從第h個(gè)非檢驗(yàn)指示分叉上分支出來的激勵(lì)樹圖的Qh個(gè)路 徑中的一個(gè)路徑繼續(xù)執(zhí)行，其中，所述一個(gè)路徑與隨機(jī)產(chǎn)生的值相關(guān)聯(lián)。
3. 如權(quán)利要求1的方法，其中，所述執(zhí)行激勵(lì)樹圖的操作還包括，對j二 l，...,L，執(zhí)行第j項(xiàng)工作，所述執(zhí)行第j項(xiàng)工作的操作包括產(chǎn)生L個(gè)激勵(lì)中的第j個(gè)激勵(lì)； 將所述第j個(gè)激勵(lì)施加到電路設(shè)計(jì)上；響應(yīng)被施加到電路設(shè)計(jì)上的所述第j個(gè)激勵(lì)，產(chǎn)生電路設(shè)計(jì)的第j個(gè)輸出；產(chǎn)生所述第j個(gè)激勵(lì)的第j個(gè)期望值；比較所述第j個(gè)輸出和所述第j個(gè)激勵(lì)的第j個(gè)期望值；如果所述第j個(gè)輸出和所述第j個(gè)激勵(lì)的第j個(gè)期望值彼此不同，就將 電路設(shè)計(jì)是有缺陷的指示作為所述比較的結(jié)果。
4. 如權(quán)利要求3的方法，其中，順序地進(jìn)行所述執(zhí)行第1至第L項(xiàng)的工 作。
5. 如權(quán)利要求3的方法，其中，非順序地進(jìn)行所述執(zhí)行第l至第L項(xiàng)的 工作。
6. 如權(quán)利要求l的方法，其中，N = 0。
7. 如權(quán)利要求1的方法，其中，N>0。
8. 如權(quán)利要求1的方法，其中，所述執(zhí)行第i個(gè)4全驗(yàn)指示分叉還包括在;^—驗(yàn)點(diǎn)隊(duì)列中放置Pi個(gè)項(xiàng)，并且其中，所述從第i個(gè)上下文開始沿著Pi個(gè)路徑的執(zhí)行包括，對k=l,...， Pi, 根據(jù)在檢驗(yàn)點(diǎn)隊(duì)列中Pi個(gè)項(xiàng)中的第k項(xiàng)，從第i個(gè)上下文開始沿著Pi個(gè)路徑 中的第k個(gè)路徑來執(zhí)行。
9. 如權(quán)利要求8的方法，其中，順序地進(jìn)行所述從第i個(gè)上下文開始沿 著第1到第Pi個(gè)路徑的執(zhí)行。
10. 如權(quán)利要求8的方法，其中，非順序地進(jìn)行所述從第i個(gè)上下文開始 沿著第1到第Pi個(gè)路徑的執(zhí)行。
11. 如權(quán)利要求8的方法，其中，在4企驗(yàn)點(diǎn)隊(duì)列中Pi個(gè)項(xiàng)的每一項(xiàng)都一 對一地與Pi個(gè)路徑中的路徑相關(guān)聯(lián)。
12. 如權(quán)利要求8的方法，其中，在檢驗(yàn)點(diǎn)隊(duì)列中Pi個(gè)項(xiàng)的每一項(xiàng)都與 第i個(gè)模擬環(huán)境的第i個(gè)上下文相關(guān)聯(lián)。
13. 如權(quán)利要求1的方法，其中，通過計(jì)算機(jī)模擬來進(jìn)行所述執(zhí)行激勵(lì) 樹圖的操作。
14. 如權(quán)利要求1的方法，還包括響應(yīng)于已經(jīng)進(jìn)行的激勵(lì)樹圖的所有 激勵(lì)覆蓋路徑，指示電路設(shè)計(jì)校驗(yàn)的完成。
15. —種系統(tǒng)，包括適于按照任何前述方法權(quán)利要求實(shí)施所述方法的所 有步驟的裝置。
16. —種計(jì)算機(jī)程序，包括所述計(jì)算機(jī)程序在計(jì)算機(jī)系統(tǒng)上執(zhí)行時(shí)， 按照任何前述方法權(quán)利要求實(shí)施所述方法的所有步驟的指令。
全文摘要
本設(shè)計(jì)校驗(yàn)方法包括提供電路設(shè)計(jì)；為電路設(shè)計(jì)產(chǎn)生激勵(lì)樹圖，其中，激勵(lì)樹圖包括L個(gè)激勵(lì)、M個(gè)檢驗(yàn)指示分叉和N個(gè)非檢驗(yàn)指示分叉；執(zhí)行激勵(lì)樹圖，其中，所述執(zhí)行激勵(lì)樹圖包括，在i＝1，...，M的情況下，執(zhí)行M個(gè)檢驗(yàn)指示分叉中的第i個(gè)檢驗(yàn)指示分叉，其中，執(zhí)行第i個(gè)檢驗(yàn)指示分叉又包括(a)保存第i個(gè)模擬環(huán)境中的第i個(gè)上下文，在此模擬環(huán)境中進(jìn)行所述執(zhí)行激勵(lì)樹圖的操作；(b)在進(jìn)行了所述保存第i個(gè)上下文的操作之后，從第i個(gè)上下文開始，沿著從第i個(gè)檢驗(yàn)指示分叉分支出來的、共有15個(gè)激勵(lì)的激勵(lì)樹圖的Pi個(gè)路徑來執(zhí)行，其中，第i個(gè)檢驗(yàn)指示分叉是Pi路分叉，在此，Pi是大于1的整數(shù)。
文檔編號(hào)G06F17/50GK101273359SQ200680035587
公開日2008年9月24日 申請日期2006年9月6日 優(yōu)先權(quán)日2005年9月26日
發(fā)明者杰西·E·克雷格, 賈森·M·諾曼 申請人:國際商業(yè)機(jī)器公司