專利名稱：內(nèi)建式計算機開機存儲器測試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明是有關(guān)一種內(nèi)建式計算機開機存儲器測試方法，尤指一種計算機設(shè)備在開機時，會立即顯示出一工作指令畫面，得依該畫面所提示的指令選擇進入動態(tài)存儲器(DRAM)測試，或選擇進行主機板的基本設(shè)定作業(yè)，或不作選擇而進入OS操作系統(tǒng)以完成一般計算機的開機工作。據(jù)而，本發(fā)明可以在開機時選擇執(zhí)行動態(tài)存儲器(DRAM)測試，以確定該存儲器是否與主機板兼容，及其妥善率與存儲容量是否充足，進而能確保該一計算機系統(tǒng)達到穩(wěn)定操作的目的。
背景技術(shù)：
習(xí)知一般傳統(tǒng)的計算機主機板開機時都會作簡易的動態(tài)存儲器(DRAM)測試，但是無法供一個完整的存儲器測試作業(yè)，尤其是現(xiàn)在計算機的速度越來越快，主機與存儲器的設(shè)計也越來越復(fù)雜，致主機與存儲器的兼容性(匹配性)問題就越大；因此，為讓整個系統(tǒng)能有一穩(wěn)定的工作環(huán)境，僅作上述的存儲器簡易測試一般是不夠的，對使用者而言常會有中途發(fā)生當(dāng)機的事情而造成不便，故對此一問題實有待研究解決的必要性。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的主要目的在提供一種內(nèi)建式計算機開機存儲器測試方法，其是將一存儲器測試程序建入主機板基本輸出入單元(BIOS)中，當(dāng)該計算機開機時會立即顯示出一工作指令畫面以供選擇，進而可對其中的動態(tài)存儲器的全部或局部作完整的測試，以確認(rèn)該存儲器與主機板的兼容性，讓該一系統(tǒng)達到穩(wěn)定效果。
為達上述目的，本發(fā)明主要在主機板基本輸出輸入單元(BIOS)中內(nèi)建有一存儲器測試程序，該存儲器測試程序在開機時會立即顯示出一個工作指令的畫面在屏幕上，該畫面至少包括“Press DEL to enter SETUP”及“Press CTRL to Memory Test”二項指令(亦可以其他功能鍵為之)，以及在存儲器測試程序工作環(huán)境下包含有存儲器區(qū)域設(shè)定、聲音設(shè)定、選擇測試結(jié)果顯示方式、設(shè)定測試方法及離開測試等功能的執(zhí)行程序，而可由所指定的功能鍵設(shè)定與控制。
據(jù)上述，當(dāng)該一計算機開機時，可由屏幕上顯示的工作指令畫面選擇按下“CTRL”鍵后，該一系統(tǒng)即進入上述存儲器測試程序，并依據(jù)各功能鍵的設(shè)定而利用上述的測試程序不斷的自動對該一主機內(nèi)的部分或全部動態(tài)存儲器進行測試，且能將所測得的結(jié)果顯示于屏幕上，直至按下離開測試的功能鍵后，則系統(tǒng)重置并重開機以完成測試工作，以能快速準(zhǔn)確的提供一個可與主機板兼容及高品質(zhì)的動態(tài)存儲器使用(即開機立即檢查DRAM的妥善率)，進而可提升該系統(tǒng)使用時的穩(wěn)定性。


圖1為本發(fā)明的內(nèi)建式計算機開機存儲器測試方法開機時的架構(gòu)方塊圖；圖2為本發(fā)明的內(nèi)建式計算機開機存儲器測試方法進入存儲器測試時的流程圖；圖3為圖2的流程中的檢查功能鍵架構(gòu)方塊圖；圖4為本發(fā)明的一實施例的主畫面圖；
圖5為圖4的測試結(jié)果的另一種形式畫面圖；圖6為圖4的主畫面執(zhí)行F1功能鍵的子畫面圖；圖7為圖4的主畫面執(zhí)行F2功能鍵的子畫面圖；圖8至圖10為圖7的F2子畫面執(zhí)行F1、F2、F3功能鍵的根畫面圖。
具體實施例方式
請參閱圖1至圖3所示，本發(fā)明是一種內(nèi)建式計算機開機存儲器測試方法，其主要在主機板基本輸出輸入單元(BIOS)中內(nèi)建有一動態(tài)存儲器(DRAM)視試程，該存儲器測試程序在開機時會立即顯示出一個工作指令的畫面在屏幕上，該畫面至少包括有“PressDELto enter SETUP”及“PressCTRLto Memory Test”的二項指令，以及在存儲器測試程序工作環(huán)境下包含有存儲器區(qū)域設(shè)定、聲音設(shè)定、選擇測試結(jié)果顯示方式、設(shè)定測試方法及離開測試等功能的執(zhí)行程序，而可由所指定的功能鍵設(shè)定與控制。又，上述指定的“DEL”及“CTRL”鍵亦得以其它功能鍵替代其所執(zhí)行的功能。
如上述的方法，其中“存儲器區(qū)域設(shè)定”是可以設(shè)定由128MB或256MB的存儲容量的動態(tài)存儲器中，選擇某一區(qū)段(如設(shè)定測試范圍在該存儲器的32～64MB的區(qū)域內(nèi))或全部作測試的功能。
“聲音設(shè)定”是可用來開/關(guān)警報器的音量。
“選擇測試結(jié)果顯示方式”是可選擇將測試結(jié)果以文字或圖像的方法顯示。
“設(shè)定測試方法”是可選擇包含隨機數(shù)(RANDOM)測試法、掃瞄(SCAN)測試法、檢驗(CHECK)測試法及MARCHING測試法、WALKING VIT測試法等其中的一種程序?qū)υ撓到y(tǒng)的動態(tài)存儲器(DRAM)進行測試。
“離開測試”是利用一指定功能鍵(如Del或Esc鍵)來結(jié)束該動態(tài)存儲器的測試程序。
如上所述，當(dāng)該一計算機設(shè)備開機時，可于其屏幕上立即顯示一工作指令畫面，再依畫面中的工作指示而選擇按下“CTRL”鍵后，該一系統(tǒng)即進入上述存儲器測試程序；反之，若選擇“DEL”鍵或不按任何鍵，則依該計算機原設(shè)的開機程序直接進入主機板的設(shè)定或進入OS操作系統(tǒng)。
又如上述，當(dāng)系統(tǒng)進入存儲器測試程序時，其測試流程如圖2所示，先偵測主機板的硬件狀態(tài)(包含CPU、存儲器及主機板芯片組等等)，再將主機板中的快寫存儲器設(shè)定為write back模式，其次對動態(tài)存儲器進行速度分析并且顯示其速度，接著執(zhí)行動態(tài)存儲器的測試分析并且記錄，最后將檢查是否按下功能鍵(如圖3所示)；若無，則持續(xù)循環(huán)的回復(fù)到上一步驟的執(zhí)行動態(tài)存儲器測試分析并且記錄的工作；若有，則依據(jù)所設(shè)定或選擇各功能鍵所定義的程序自動的對該一主機內(nèi)的部分或全部動態(tài)存儲器(DRAM)進行其與主機板的兼容性及其存儲容量的測試，且將所測得的結(jié)果顯示于屏幕上；另外，在完成上述測試工作后會再進入上述執(zhí)行動態(tài)存儲器測試分析并且記錄的工作，直至按下離開測試的功能鍵后，則該系統(tǒng)重置并重開機以完成測試工作，以能快速準(zhǔn)確的提供一個得與主機板兼容及容量品質(zhì)的動態(tài)存儲器使用，進而可提升該系統(tǒng)使用時的穩(wěn)定性。
另外請再參閱圖4所示，其是為本發(fā)明的一實施例的存儲器測試程序的主畫面示意圖，其中包括顯示有1.測試程序名稱與版本，其除有軟件名稱及版本外，另登錄有著作權(quán)宣告與制作公司的網(wǎng)址等；2.測試狀態(tài)，包含顯示測試模式與存儲器信道、測試時間、演算方式、存儲器位置與測試循環(huán)數(shù)等；3.硬件信息，包含顯示CPU速度、DMM速度、存儲器容量與測試范圍、存儲器時序…等；4.測試循環(huán)結(jié)果，包含顯示通過存儲器測試的循環(huán)數(shù)及未通過存儲器測試的循環(huán)數(shù)；5.測試算法與狀態(tài)，其中顯示有數(shù)種的測試算法(在本圖例中計有11種算法)，其可供使用者自行點選，且可以不同的顏色代表已被選擇測試算法、未被選擇測試算法，以及顯示選擇測試算法測試中、已測試與在測試演算中發(fā)現(xiàn)問題等；6.測試結(jié)果，如第一列顯示為DIMM1F256MB 00 00 00…，代表在主機板第1插槽的正面存儲器容量為256MB，即在該面各個存儲IC的狀態(tài)；再如第4列顯示為DIMM2B0MB 00 00 00…數(shù)字顯示，其代表在主機板第2插槽的背面存儲器容量為0MB(亦表示為無存儲器)；如上以此類推，可分別顯示在主機板第1至第8插槽(或更多)存儲器的正、背面存儲器容量；另外，該一測試結(jié)果的顯示亦可由屏幕主畫面底部標(biāo)示的功能鍵“F3Form_set”來切換為以存儲器圖形來表示，并以不同顏色來表示其損壞的那一顆存儲IC在什么位置(如圖5)；7.功能選擇，其包含F(xiàn)1info(硬件信息)、F2Setup(設(shè)定)…，可依據(jù)該畫面底部表列的F1～F(x)所代表的功能，而由計算機鍵盤的F1～F12的功能鍵快速選擇執(zhí)行工作項；使用時，當(dāng)處于圖4的主畫面按下F1鍵，畫面即進入Info(硬件信息)的子畫面(如圖6)，以顯示包括CPU及其它存儲器的信息狀態(tài)內(nèi)容，其后可再依據(jù)該畫面底部所指示，按下任意鍵即可回主畫面繼續(xù)執(zhí)行；當(dāng)處于主畫面按下F2鍵，畫面即進入Setup(設(shè)定)的子畫面(如圖7)，在該畫面仍可依據(jù)其底部功能鍵的指示而選擇F1(測試模式設(shè)定)或F2Memory(被測試存儲器范圍設(shè)定)、F3Pattern(測試方法設(shè)定)等的根畫面(如圖8至圖10)，進而可再依據(jù)該等根畫面底部所提示的功能鍵選擇執(zhí)行后續(xù)的工作，直至完成所有欲執(zhí)行的測試，能簡易的操作，及讓使用者能快速找出不良存儲器的目的。
綜上所述，本發(fā)明的內(nèi)建式計算機開機存儲器測試方法。確實能達到完整測試動態(tài)存儲器與主機板間的兼容性與其存儲容量品質(zhì)的功效，確保系統(tǒng)運用時的穩(wěn)定性，而可便于消費者使用計算機，以及提升該計算機系統(tǒng)的實用性。
權(quán)利要求
1.一種內(nèi)建式計算機開機存儲器測試方法，其主要在主機板基本輸出輸入單元中內(nèi)建有一存儲器測試程序，該存儲器測試程序在開機時會立即顯示出一個工作指令的畫面在屏幕上，該畫面至少包括“Press DELto enter SETUP”及“Press CTRL to Memory Test”二項指令，以及在存儲器測試程序工作環(huán)境下包含有存儲器區(qū)域設(shè)定、聲音設(shè)定、選擇測試結(jié)果顯示方式、設(shè)定測試方法及離開測試功能的執(zhí)行程序，而可由所指定的功能鍵設(shè)定與控制；當(dāng)在該一計算機設(shè)備開機時，可由屏幕上顯示的工作指令畫面選擇按下“CTRL”鍵后，該一系統(tǒng)即進入上述存儲器測試程序，并依據(jù)各功能鍵所設(shè)定的程序自動的對該一主機內(nèi)的部分或全部動態(tài)存儲器進行測試，且將所測得的結(jié)果顯示于屏幕上，直至按下離開測試的功能鍵后，則系統(tǒng)重置并重開機以完成測試工作，以能快速且準(zhǔn)確的提供一個可與主機板兼容及容量足夠的動態(tài)存儲器使用，進而可提升該系統(tǒng)使用時的穩(wěn)定性。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的內(nèi)建式計算機開機存儲器測試方法，其中“Press DEL to enter SETUP”及“Press CTRL to Memory Test”的指令，亦可指定其它功能鍵為之。
全文摘要
本發(fā)明是一種內(nèi)建式計算機開機存儲器測試方法，其主要是在計算機主機板基本輸出輸入單元(BIOS)中內(nèi)建有動態(tài)存儲器測試程序；當(dāng)在該一計算機設(shè)備開機時，在屏幕上立即顯示出一工作指令畫面，該畫面至少包括“Press DEL to enter SETUP”及“Press CTRL to Memory Test”二項指令，使用者再按下“CTRL”鍵后，該一系統(tǒng)則利用上述的程序而自動對該一主機內(nèi)的動態(tài)存儲器(DRAM)進行測試，以能快速準(zhǔn)確的提供一個得與主機板兼容以及高品質(zhì)的動態(tài)存儲器使用，進而可提升該系統(tǒng)使用時的穩(wěn)定性。
文檔編號G06F9/44GK1707429SQ20041004810
公開日2005年12月14日 申請日期2004年6月11日 優(yōu)先權(quán)日2004年6月11日
發(fā)明者李玉玫 申請人:李玉玫