本實用新型涉及車輛工程技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種整車控制器VCU的HIL測試系統(tǒng)。

背景技術(shù)：

HIL(hardware-in-the-loop，硬件在環(huán))測試系統(tǒng)是整車控制器測試中的一種測試方法。傳統(tǒng)的整車控制系器VCU的HIL測試系統(tǒng)有以下特點(diǎn)(如圖1所示)：一般主要由1個被測整車控制系器VCU也可以稱之為被測VCU、HIL設(shè)備(內(nèi)部含硬件接口+單一運(yùn)行模型)、標(biāo)定設(shè)備、監(jiān)控設(shè)備四大部分組成；HIL設(shè)備中由硬件接口、運(yùn)行模型(對應(yīng)被測VCU的測試環(huán)境模型，包括駕駛員模型、道路模型、電池模型、電機(jī)模型等)組成；四大部分組成閉環(huán)對VCU進(jìn)行測試。

但是這種傳統(tǒng)的整車控制系器HIL測試系統(tǒng)存在以下問題：第一，如果更改被測VCU，例如將VCU1換為VCU2，則駕駛員模型、道路模型、電池模型、電機(jī)模型等環(huán)境測試模型即運(yùn)行模型都需要進(jìn)行修改；即無法同步對多個整車控制器同時測試，在多個項目同時需要進(jìn)行HIL測試時影響測試進(jìn)度；第二，由于每次只能對一個VCU進(jìn)行測試，因此無法進(jìn)行VCU1和其他VCU(VCU2、VCU3、…)測試結(jié)果的對比；第三，對同一個VCU一次只能進(jìn)行一種運(yùn)行模型下的HIL測試，無法快速切換VCU在不同的運(yùn)行模型下的測試。因此，如何提高整車控制器HIL測試系統(tǒng)測試效率，是本領(lǐng)域技術(shù)人員需要解決的技術(shù)問題。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本實用新型的目的是提供一種整車控制器VCU的HIL測試系統(tǒng)，該HIL測試系統(tǒng)能夠快速同步的對多個項目的整車控制器VCU進(jìn)行HIL測試，加快多個項目整車控制器VCU的HIL測試進(jìn)度，提高測試效率。

為解決上述技術(shù)問題，本實用新型提供一種整車控制器VCU的HIL測試系統(tǒng)，包括監(jiān)控設(shè)備，與所述監(jiān)控設(shè)備相連的標(biāo)定設(shè)備，與所述標(biāo)定設(shè)備相連的被測整車控制器VCU，還包括HIL設(shè)備；所述被測整車控制器VCU個數(shù)至少為兩個；

所述HIL設(shè)備包括預(yù)定個數(shù)的硬件接口和與各所述被測整車控制器VCU對應(yīng)的運(yùn)行模型；各所述被測整車控制器VCU分別與一個所述硬件接口連接。

可選的，所述監(jiān)控設(shè)備還包括接收各所述被測整車控制器VCU的測試標(biāo)定數(shù)據(jù)的存儲器。

可選的，所述HIL設(shè)備還包括與硬件接口相連，擴(kuò)展所述硬件接口個數(shù)的備用硬件接口擴(kuò)展接口。

可選的，該整車控制器VCU的HIL測試系統(tǒng)還包括：

與所述監(jiān)控設(shè)備相連，接收各所述被測整車控制器VCU的測試標(biāo)定數(shù)據(jù)，并進(jìn)行數(shù)據(jù)分析的數(shù)據(jù)對比分析設(shè)備。

可選的，該整車控制器VCU的HIL測試系統(tǒng)還包括：

與所述數(shù)據(jù)對比分析設(shè)備相連，輸出數(shù)據(jù)對比分析結(jié)果的輸出設(shè)備。

可選的，所述輸出設(shè)備具體為顯示器。

可選的，所述輸出設(shè)備具體為顯示器和打印機(jī)。

本實用新型所提供的一種整車控制器VCU的HIL測試系統(tǒng)，包括監(jiān)控設(shè)備，與所述監(jiān)控設(shè)備相連的標(biāo)定設(shè)備，與所述標(biāo)定設(shè)備相連的被測整車控制器VCU，還包括HIL設(shè)備；所述被測整車控制器VCU個數(shù)至少為兩個；所述HIL設(shè)備包括預(yù)定個數(shù)的硬件接口和與各所述被測整車控制器VCU對應(yīng)的運(yùn)行模塊；各所述被測整車控制器VCU分別與一個所述硬件接口連接；

可見，該整車控制器VCU的HIL測試系統(tǒng)通過在HIL設(shè)備上設(shè)置多個硬件接口同時與多個被測整車控制器VCU相連，且HIL設(shè)備內(nèi)部配置了多個與各個被測整車控制器VCU相對應(yīng)的運(yùn)行模型，可以同時對多個被測整車控制器VCU進(jìn)行測試；即能夠快速同步的對多個項目的整車控制器VCU進(jìn)行HIL測試，加快多個項目整車控制器VCU的HIL測試進(jìn)度，提高測試效率。

附圖說明

為了更清楚地說明本實用新型實施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本實用新型的實施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)提供的附圖獲得其他的附圖。

圖1為現(xiàn)有技術(shù)中整車控制器VCU的HIL測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)框圖；

圖2為本發(fā)明實施例提供的整車控制器VCU的HIL測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)框圖；

圖3為本發(fā)明實施例提供的另一整車控制器VCU的HIL測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)框圖；

圖4為本發(fā)明實施例提供的又一整車控制器VCU的HIL測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)框圖。

具體實施方式

本實用新型的核心是提供一種整車控制器VCU的HIL測試系統(tǒng)，該HIL測試系統(tǒng)能夠快速同步的對多個項目的整車控制器VCU進(jìn)行HIL測試，加快多個項目整車控制器VCU的HIL測試進(jìn)度，提高測試效率。

為使本實用新型實施例的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚，下面將結(jié)合本實用新型實施例中的附圖，對本實用新型實施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例是本實用新型一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本實用新型中的實施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本實用新型保護(hù)的范圍。

請參考圖2，圖2為本發(fā)明實施例提供的整車控制器VCU的HIL測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)框圖；該整車控制器VCU的HIL測試系統(tǒng)可以包括監(jiān)控設(shè)備100，與監(jiān)控設(shè)備100相連的標(biāo)定設(shè)備200，與標(biāo)定設(shè)備200相連的被測整車控制器VCU300，還包括HIL設(shè)備400；被測整車控制器VCU300個數(shù)至少為兩個；其中，監(jiān)控設(shè)備100可以是HIL監(jiān)控及標(biāo)定電腦，進(jìn)行監(jiān)控及修訂HIL參數(shù)，標(biāo)定設(shè)備200可以進(jìn)行監(jiān)控及標(biāo)定ECU參數(shù)。

HIL設(shè)備400包括預(yù)定個數(shù)的硬件接口和與各被測整車控制器VCU300對應(yīng)的運(yùn)行模塊；各被測整車控制器VCU300分別與HIL設(shè)備400中一個硬件接口連接。使得各被測整車控制器VCU300與硬件接口及運(yùn)行模塊相對應(yīng)。

具體的，本實施例為了解決現(xiàn)有技術(shù)中每次只可以對一個被測整車控制器VCU300進(jìn)行HIL測試，且每次更換被測整車控制器VCU300時都必須對HIL設(shè)備400中的運(yùn)行模型(駕駛員模型、道路模型、電池模型、電機(jī)模型等)也可以稱為被測整車控制器VCU的測試環(huán)境模型進(jìn)行參數(shù)的修改。增加了對多個被測整車控制系器VCU300進(jìn)行HIL測試的難度和繁雜程度。且如果需要同時對多個被測整車控制系器VCU300進(jìn)行HIL測試，則需要同時設(shè)置多個如圖1所示的測試系統(tǒng)，硬件花費(fèi)很大，使得測試成本變得很大。因此，本實施例通過對HIL設(shè)備400進(jìn)行改進(jìn)，增加其硬件接口，使其可以同時連接多個被測整車控制器VCU300，這里HIL設(shè)備400的硬件接口的個數(shù)可以由用戶根據(jù)實際測試規(guī)模進(jìn)行確定，例如通常都會對10個被測整車控制器VCU300進(jìn)行HIL測試，這里就可以在HIL設(shè)備400中設(shè)置10個與之相連的硬件接口，且為了進(jìn)一步提高系統(tǒng)測試冗余能力也可以設(shè)置12個與之相連的硬件接口。當(dāng)然用戶也可以長遠(yuǎn)考慮以備未來測試規(guī)模的擴(kuò)大可以在HIL設(shè)備400中設(shè)置備用硬件接口擴(kuò)展接口，可以通過該接口連接擴(kuò)展的硬件接口，使得滿足被測整車控制系器VCU300數(shù)量的變化。也可以在連接的各擴(kuò)展硬件接口中都預(yù)留一個備用硬件接口擴(kuò)展接口，使其可以實現(xiàn)同時對多個被測整車控制器VCU300進(jìn)行HIL測試。即可選的，HIL設(shè)備400還包括與硬件接口相連，擴(kuò)展所述硬件接口個數(shù)的備用硬件接口擴(kuò)展接口。

其次，當(dāng)實現(xiàn)HIL設(shè)備400與多個被測整車控制系器VCU300的硬件連接之后，還需要使HIL設(shè)備400滿足多個被測整車控制系器VCU300的運(yùn)行模型配置，因此需要將各個與HIL設(shè)備400相連的被測整車控制系器VCU300的運(yùn)行模型導(dǎo)入到HIL設(shè)備400中如圖2所示。使得每個被測整車控制系器VCU300都有與之對應(yīng)的運(yùn)行模型?？梢岳帽O(jiān)控設(shè)備100對HIL設(shè)備400中的各個運(yùn)行模型進(jìn)行參數(shù)修改以及與被測整車控制系器VCU300的對應(yīng)關(guān)系的修改?？梢詫崿F(xiàn)被測整車控制系器VCU300可以在多種測試模型環(huán)境即運(yùn)行模型下進(jìn)行多種情況測試，滿足多種覆蓋下的測試。例如參考圖2運(yùn)行模型1與被測整車控制系器VCU(1)對應(yīng)，運(yùn)行模型2與被測整車控制系器VCU(2)對應(yīng)，運(yùn)行模型3與被測整車控制系器VCU(3)對應(yīng)，可以通過修改運(yùn)行模型與被測整車控制系器VCU300的對應(yīng)關(guān)系，如使得運(yùn)行模型1與被測整車控制系器VCU(2)對應(yīng)，運(yùn)行模型2與被測整車控制系器VCU(3)對應(yīng)，運(yùn)行模型3與被測整車控制系器VCU(1)對應(yīng)。這樣通過一次運(yùn)行模型的設(shè)置可以使得每一個被測整車控制系器VCU300進(jìn)行3次HIL測試，大大提升了整車控制器VCU進(jìn)行HIL測試的效率即提高了運(yùn)行模型的使用效率。還可以對運(yùn)行模型進(jìn)行更加復(fù)雜的控制，例如將各個運(yùn)行模型中的內(nèi)容進(jìn)行組合(如下述例子中所述過程)，再結(jié)合對各個運(yùn)行模型參數(shù)的修改可以滿足多種覆蓋下的測試。且在短時間內(nèi)滿足所有被測整車控制系器VCU300的多種覆蓋下的測試。

請參考圖2，以N個被測整車控制系器VCU300為例說明上述整車控制器VCU的HIL測試系統(tǒng)的工作過程；具體過程如下：確定被測整車控制系器VCU300個數(shù)，建立各被測整車控制系器VCU300的運(yùn)行模型(包括駕駛員模型、道路模型、電池模型、電機(jī)模型等環(huán)境測試模型)并將全部運(yùn)行模型導(dǎo)入到具有多個硬件接口的HIL設(shè)備400中將各被測整車控制系器VCU300按照圖2方式與HIL設(shè)備400連接，開始進(jìn)行HIL測試；運(yùn)行HIL設(shè)備400，被測整車控制系器VCU(1)到被測整車控制系器VCU(N)首先在對應(yīng)的運(yùn)行模型1(含駕駛員模型1+道路模型1+車輛模型1+電池模型1+BMS模型1+電機(jī)模型1+MCU模型1)到運(yùn)行模型N(含駕駛員模型N+道路模型N+車輛模型N+電池模型N+BMS模型N+電機(jī)模型N+MCU模型N)；完成上面基本測試后，控制HIL設(shè)備400快速切換不同被測整車控制系器VCU(1)到被測整車控制系器VCU(N)在不同的運(yùn)行模型(如駕駛員模型、道路模型、電池模型、電機(jī)模型)下的測試。(例如：被測整車控制系器VCU(1)在駕駛員模型1+道路模型2+車輛模型2+電池模型3+BMS模型3+電機(jī)模型4+MCU模型4或者在駕駛員模型1+道路模型1+車輛模型1+電池模型2+BMS模型2+電機(jī)模型3+MCU模型3或者在駕駛員模型1+道路模型1+車輛模型1+電池模型1+BMS模型1+電機(jī)模型2+MCU模型2等等條件下的自動化測試，圖2中帶標(biāo)記的線條對應(yīng)的組合只是示例沒有全部畫出各個模型下的組合)。被測整車控制器VCU300在各個運(yùn)行模型下可以自動執(zhí)行，得到測試結(jié)果。

進(jìn)一步，為了滿足用戶對得到的測試結(jié)果即全部被測整車控制器VCU300的測試標(biāo)定數(shù)據(jù)的查看，分析可以將這些數(shù)據(jù)進(jìn)行存儲，通?？梢灾苯釉诒O(jiān)控設(shè)備100種設(shè)備存儲器，也可以隨著測試規(guī)模的擴(kuò)大滿足對海量數(shù)據(jù)的存儲可以外接大的存儲設(shè)備，使其與監(jiān)控設(shè)備100連接。因此可選的，監(jiān)控設(shè)備100還包括接收各所述被測整車控制器VCU的測試標(biāo)定數(shù)據(jù)的存儲器。這里存儲器的大小和類型可以由用戶根據(jù)實際需求進(jìn)行確定還可以隨著時間增長進(jìn)行更換。

基于上述技術(shù)方案，本發(fā)明實施例提的整車控制器VCU的HIL測試系統(tǒng)，通過在HIL設(shè)備上設(shè)置多個硬件接口同時與多個被測整車控制器VCU相連，且HIL設(shè)備內(nèi)部配置了多個與各個被測整車控制器VCU相對應(yīng)的運(yùn)行模型，可以同時對多個被測整車控制器VCU進(jìn)行測試；即能夠快速同步的對多個項目的整車控制器VCU進(jìn)行HIL測試，加快多個項目整車控制器VCU的HIL測試進(jìn)度，提高測試效率且通過監(jiān)控設(shè)備100對HIL設(shè)備400中運(yùn)行模型的控制可以滿足所有被測整車控制系器VCU300的測試覆蓋率。

基于上述實施例，請參考圖3，整車控制器VCU的HIL測試系統(tǒng)還可以包括：

與監(jiān)控設(shè)備100相連，接收各被測整車控制器VCU300的測試標(biāo)定數(shù)據(jù)，并進(jìn)行數(shù)據(jù)分析的數(shù)據(jù)對比分析設(shè)備500。

具體的，該數(shù)據(jù)對比分析設(shè)備500能夠分析根據(jù)現(xiàn)有分析方法對多個被測整車控制器數(shù)據(jù)進(jìn)行的同步測試數(shù)據(jù)分析，更加宏觀的發(fā)現(xiàn)單一被測整車控制器VCU300的測試結(jié)果所不能發(fā)現(xiàn)的問題，提高測試數(shù)據(jù)的利用率，提高測試效果。

進(jìn)一步，請參考圖4，為了使得用戶能夠進(jìn)一步對對比分析的結(jié)果進(jìn)行觀察，該整車控制器VCU的HIL測試系統(tǒng)還可以包括：

與所述數(shù)據(jù)對比分析設(shè)備500相連，輸出數(shù)據(jù)對比分析結(jié)果的輸出設(shè)備600?？梢灾庇^顯示對比及測試結(jié)果。方便用戶(如測試人員及參觀人員)對測試結(jié)果的獲取。

具體的，這里的輸出設(shè)備600可以為任意形式的輸出，可以有用戶進(jìn)行確定，本實施例并不限定輸出設(shè)備600的具體內(nèi)容?？蛇x的，輸出設(shè)備600具體為顯示器，可以將對比結(jié)果通過顯示器進(jìn)行顯示。可選的，輸出設(shè)備600具體為打印機(jī)，可以將對比結(jié)果進(jìn)行打印顯示?？蛇x的，輸出設(shè)備600具體為顯示器和打印機(jī)。

基于上述技術(shù)方案，本發(fā)明實施例提的整車控制器VCU的HIL測試系統(tǒng)，通過在HIL設(shè)備上設(shè)置多個硬件接口同時與多個被測整車控制器VCU相連，且HIL設(shè)備內(nèi)部配置了多個與各個被測整車控制器VCU相對應(yīng)的運(yùn)行模型，可以同時對多個被測整車控制器VCU進(jìn)行測試，并可以通過數(shù)據(jù)對比分析設(shè)備500對測試結(jié)果進(jìn)行分析；即能夠快速同步的對多個項目的整車控制器VCU進(jìn)行HIL測試，最終將測試結(jié)果進(jìn)行相關(guān)類比分析和對比研究，加快多個項目整車控制器VCU的HIL測試進(jìn)度，提高測試效率且通過監(jiān)控設(shè)備100對HIL設(shè)備400中運(yùn)行模型的控制可以滿足所有被測整車控制系器VCU300的測試覆蓋率。

以上對本實用新型所提供的整車控制器VCU的HIL測試系統(tǒng)進(jìn)行了詳細(xì)介紹。本文中應(yīng)用了具體個例對本實用新型的原理及實施方式進(jìn)行了闡述，以上實施例的說明只是用于幫助理解本實用新型的方法及其核心思想。應(yīng)當(dāng)指出，對于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本實用新型原理的前提下，還可以對本實用新型進(jìn)行若干改進(jìn)和修飾，這些改進(jìn)和修飾也落入本實用新型權(quán)利要求的保護(hù)范圍內(nèi)。