一種ict測試夾具的制作方法
【專利摘要】本實用新型公開了一種ICT測試夾具，包括：針床，其上設置有測試針；隔離板，其上設置有針孔，以使針床上的部分測試針通過針孔與被測電路板的測試點接觸，在向測試針施加測試信號時，完成被測電路板的ICT測試。本實用新型可以實現(xiàn)一個ICT夾具測試多個被測電路板，用以降低硬件成本。
【專利說明】
一種ICT測試夾具
技術領域
[0001]本實用新型涉及電路板測試技術領域，具體地說，涉及一種ICT測試夾具。
【背景技術】
[0002]目前，鐵路機車產(chǎn)品的功能越來越多，設計也越來越復雜。越來越多的鐵路機車產(chǎn)品需要用到ICT測試，以保證產(chǎn)品的質量。ICT測試是通過對在線元器件的電性能及電氣連接進行測試，來檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標準測試手段，主要檢查在線的單個元器件以及各電路網(wǎng)絡的開、短路情況，具有操作簡單、快捷迅速、故障定位準確等特點。
[0003]但是，電路板的種類非常多，電路板的測試點位置各不一樣，造成了每種電路板均需要開發(fā)一種ICT測試夾具，成本非常高昂。
[0004]為了降低高昂的硬件成本和軟件成本，通常采用多種電路板共用一種夾具。傳統(tǒng)的方式是將多個電路板并行放置在夾具上面，但當電路板點位較多ICT測試臺無法滿足要求時，仍舊需要每種產(chǎn)品開發(fā)一種夾具。
【實用新型內容】
[0005]為解決以上問題，本實用新型提供了一種ICT測試夾具，用以降低硬件及軟件成本。
[0006]根據(jù)本實用新型的一個實施例，提供了一種ICT測試夾具，包括:
[0007]針床，其上設置有測試針；
[0008]隔離板，其上設置有針孔，以使所述針床上的部分測試針通過所述針孔與被測電路板的測試點接觸，在向所述測試針施加測試信號時，完成被測電路板的ICT測試。
[0009]根據(jù)本實用新型的一個實施例，在所述針床上設置有與不同隔離板匹配的開關針，用以檢測隔離板型號、判定隔離板與被測電路板的ICT程序的一致性。
[0010]根據(jù)本實用新型的一個實施例，所述開關針設置于所述針床上的測試針的外側，在對被測電路板進行測試時，能被對應的隔離板壓縮而高度降低。
[0011]根據(jù)本實用新型的一個實施例，在所述針床上設置有用于承載所述隔離板和被測電路板的載板，所述載板上設置有用于使所述針床上的所有測試針通過的針孔。
[0012]根據(jù)本實用新型的一個實施例，在所述針床和所述載板之間設置有真空管道。
[0013]根據(jù)本實用新型的一個實施例，在所述真空管道的邊沿密封有彈性材料，用以在所述真空管道抽真空時縮短所述載板和所述針床之間的距離。
[0014]根據(jù)本實用新型的一個實施例，在所述載板上設置有對不同的隔離板及匹配的被測電路板進行定位的定位針。
[0015]根據(jù)本實用新型的一個實施例，所述定位針設置于對應的所述開關針的外側，所述定位針及對應的所述開關針形成一組，用于控制隔離板和匹配的被測電路板。
[0016]根據(jù)本實用新型的一個實施例，所述定位針的高度小于對應的所述開關針的高度。
[0017]根據(jù)本實用新型的一個實施例，所述測試夾具還包括與所述針床連接的接口箱，用于通過所述針床上的測試針向被測電路板施加測試信號。
[0018]本實用新型的有益效果:
[0019]本實用新型通過隔離板、針床上設置的開關針和測試針，可以實現(xiàn)一個ICT夾具測試多個被測電路板，用以降低硬件成本。
[0020]本實用新型的其它特征和優(yōu)點將在隨后的說明書中闡述，并且，部分地從說明書中變得顯而易見，或者通過實施本實用新型而了解。本實用新型的目的和其他優(yōu)點可通過在說明書、權利要求書以及附圖中所特別指出的結構來實現(xiàn)和獲得。
【附圖說明】
[0021]為了更清楚地說明本實用新型實施例或現(xiàn)有技術中的技術方案，下面將對實施例或現(xiàn)有技術描述中所需要的附圖做簡單的介紹:
[0022]圖1是現(xiàn)有技術中一種常規(guī)ICT夾具結構示意圖；
[0023]圖2是對應圖1的使用示意圖；
[0024]圖3是根據(jù)本實用新型的一個實施例的ICT夾具結構示意圖；
[0025]圖4是采用圖3所示的夾具測量A電路板的結構示意圖；以及
[0026]圖5是采用圖3所示的夾具測量B電路板的結構示意圖。
【具體實施方式】
[0027]以下將結合附圖及實施例來詳細說明本實用新型的實施方式，借此對本實用新型如何應用技術手段來解決技術問題，并達成技術效果的實現(xiàn)過程能充分理解并據(jù)以實施。需要說明的是，只要不構成沖突，本實用新型中的各個實施例以及各實施例中的各個特征可以相互結合，所形成的技術方案均在本實用新型的保護范圍之內。
[0028]如圖1所示為現(xiàn)有技術中一種常規(guī)ICT測試夾具結構示意圖，該夾具包括載板11、真空管道12、針床13和底部接口盒體14。其中，底部接口盒體14用于引入被測電路板的測試信號。針床13設置于底部接口盒體14上，其上的測試針可以引出由底部接口盒體14導入的測試信號。真空管道12設置于針床13上，在其與針床13和載板11的接觸邊沿位置設置有密封材料1201，在抽真空時，該真空管道12的體積減小，縱向間距也減小，可以使得針床13和載板11之間的距離減少。并且，在真空管道12上設置有針孔，可以使針床13上的全部測試針伸出。載板11設置于真空管道12上，用于承載被測電路板，其上也設置有針孔，可以使針床13上的全部測試針伸出，從而使得測試針與被測電路板上的被測點接觸。
[0029]在采用圖1所示的測試夾具測量電路板時，被測電路板按圖2所示方式放置于測試夾具上。針床13上的全部測試針與被測電路板接觸，但只有部分測試針與被測電路板上的測試點接觸。如圖2所示，針床13上的電阻Rl與測試針106和107接觸，電容Cl與測試針107和108接觸，電感LI與測試針111和112接觸，電阻R2與測試針116和117接觸，電阻R3與測試針117和118接觸，電容C2與測試針118和119接觸，電容C3與測試針119和120接觸，電阻R4與測試針123和124接觸，電阻R5與測試針124和125接觸，電容C4與測試針125和126接觸。測試過程包括如下的幾個步驟。
[0030]a)、將被測電路板A放置到圖1所示的常規(guī)ICT測試夾具上。測試針與A電路板上的測試點接觸，從而將測試信號引入測試點；
[0031]b)、打開真空管道12的閥門，將載板11和針床13之間的真空管道12抽真空，從而減小載板11和針床13之間的距離。
[0032]c)、測試針106-126伸出，并與被測電路板接觸。
[0033]d)、測試設備通過針床13上的測試針向A電路板施加測試信號，完成被測電路板的測試。
[0034]但是，圖1所示的測試夾具，每種夾具只適用于一種電路板；當存在多種被測電路板時，需要制作多個夾具；如果被測電路板存在改變時，不能改造并兼容以前的電路板，需要重新制作夾具。
[0035]因此，本實用新型提供了一種ICT測試夾具，可以支持多種電路板測試。如圖3所示為根據(jù)本實用新型的一個實施例的一種ICT測試夾具結構示意圖，以下參考圖3來對本實用新型進行詳細說明。
[0036]該ICT測試夾具包括針床23和若干與針床23配合使用的隔離板20。其中，針床23上設置有測試針206-226。每個隔離板20上均設置有針孔，以使針床23上的部分測試針通過針孔與不同被測電路板的測試點接觸，在向測試針施加測試信號時，完成被測電路板的ICT測試。
[0037]具體的，每個被測電路板都有對應的隔離板20匹配。每個隔離板20的部分位置設置有針孔，其余位置不設置針孔。針床23上的測試針通過隔離板20上的針孔與被測電路板接觸，接觸位置為被測電路板的測試點。測試針不能通過隔離板不設置針孔的位置來與被測電路板接觸。這樣，配合不同的隔離板，該測試夾具就可以測試多種類型的電路板，尤其是多種類似型號或衍生的電路板，從而降低了硬件成本。對于類似的被測電路板，某些位置的測試針是共享的，從而可以簡化針床23的測試針排布設計，簡化隔離板設計。另外，通過隔離板20將不同被測電路板有差異的測試針隔離開，可以防止對彼此的測試造成影響。針對不同的被測電路板，以匹配的隔離板20為基準調用對應的程序檢測被測電路板，保證了檢測程序與被測電路板配套。
[0038]在本實用新型的一個實施例中，在針床23上設置有與不同隔離板20匹配的開關針，用以檢測隔離板型號、判定隔離板與被測電路板的ICT程序的一致性。具體的，如圖3所示，該針床23上設置有兩組開關針205和227，用于與不同的隔離板20匹配，可以對匹配的兩組被測電路板分別進行測試。如圖3中開關針205被按下，則可以檢測該開關針對應的與隔離板20匹配的被測電路板，而不能檢測開關針227對應的與隔離板20匹配的被測電路板。反之，如圖3中開關針227被按下，則可以檢測該開關針對應的與隔離板匹配的被測電路板，而不能檢測開關針205對應的與隔離板匹配的被測電路板。當然，該針床23上不限于設置兩組開關針，其可以設置多組開關針，配置多個隔離板，檢測多個匹配的被測電路板。
[0039]在本實用新型的一個實施例中，開關針設置于針床23上的測試針的外側，在對被測電路板進行測試時，能被對應的隔離板壓縮而高度降低。如圖3所示，由于開關針的數(shù)量一般較測試針少，將開關針205和227設置于針床23上測試針的外側，方便檢測到開關針，并通過檢測其高度判定被測電路板，從而有利于開啟被測電路板的ICT測試。
[0040]在本實用新型的一個實施例中，在針床23上設置有用于承載隔離板20和被測電路板的載板21，載板21上設置有用于使針床23上的所有測試針通過的針孔。具體的，如圖3所示，載板21可以用來承載隔離板25和被測電路板A，用以防止損壞針床23上的測試針。針床23上的所有測試針通過載板21上對應設置的針孔伸出，并與隔離板25接觸。
[0041]在本實用新型的一個實施例中，在針床23和載板21之間設置有真空管道22，如圖3所示。在采用該測試夾具測試被測電路板時，該真空管道22可以抽真空，從而減少載板21和針床23之間的距離，有利于測試針從載板21的針孔中伸出。
[0042]在本實用新型的一個實施例中，在真空管道22的邊沿密封有彈性材料2201，用以在該真空管道22抽真空時，縮短載板21和針床23之間的距離，有利于測試針從載板21的針孔中伸出。
[0043]在本實用新型的一個實施例中，在載板21上設置有對不同的隔離板20及匹配的被測電路板進行定位的定位針。如圖3所示，在載板21上設置有兩組定位針204和228，用于對多組不同的隔離板和電路板精準位置對齊。當然，該載板21上不限于設置兩組定位針，其可以設置多組，定位多個匹配的隔離板和電路板。
[0044]在本實用新型的一個實施例中，該定位針設置于對應的開關針的外側，定位針及對應的開關針形成一組，用于控制一組隔離板和匹配的被測電路板。如圖3所示，定位針204與開關針205對應形成一組，用于控制一組隔離板和匹配的電路板，定位針227與開關針228對應形成一組，用于控制另一組隔離板和匹配的電路板.
[0045]在本實用新型的一個實施例中，定位針的高度小于對應的開關針的高度。如圖3所示，定位針204的高度小于開關針205的高度，定位針228的高度小于開關針227的高度。一般情況下，用于定位隔離板和被測電路板的定位針的位置和高度都固定，通過設置定位針的高度小于對應的開關針的高度，沒有定位針的支撐，開關針可以被壓縮，通過檢測開關針的高度可以確定隔離板及匹配的被測電路板。另外，可以在隔離板上與定位針對應的位置設置針孔，這樣既可以實現(xiàn)隔離板和被測電路板的定位，還可以將隔離板進行固定，從而有利于對被測電路板進行測試。
[0046]在本實用新型的一個實施例中，該測試夾具還包括與針床23連接的接口箱24，用于通過針床23上的測試針向被測電路板施加測試信號，如圖3所示。
[0047]以下通過一個具體的實施例來對本實用新型的使用方法進行詳細說明。在本實施例中，以該ICT測試夾具可以檢測兩個電路板A和B為例進行說明，其中，A電路板即為圖2中的被測電路板。由于A電路板和B電路板上的測試點有的相同，有的不同，各自對應的隔離板的針孔位置也有的相同，有的不同，則可將圖3中的測試針206-226劃分為三組。一組為兩個電路板共享的測試針，一組為電路板A獨享的測試針，還有一組為電路板B獨享的測試針。此處以206-208為A電路板和B電路板共用測試探針;209-210為B電路板測試針;211-212為A電路板測試探針;213-215為B電路板測試探針;216-217為A電路板測試探針;218-220為A電路板和B電路板共用測試探針;221-222為B電路板測試探針;223-226為A電路板測試探針;227為B電路板定位針;228為B電路板開關針，為例進行說明。
[0048]當采用該測試夾具對電路板進行測試時，需要針對每個電路板分別進行測試，此處以先檢測A電路板、后檢測B電路板為例進行說明。當采用本實用新型的測試夾具測試A電路板時，夾具吸合之后的狀態(tài)如圖4所示。其中，隔離板上的針孔與A電路上測試點對應，針床上的測試針通過A隔離板上的針孔與A電路上測試點接觸，針床上的其他測試針不能通過A隔離板與A電路板接觸，可以防止對測試產(chǎn)生影響。具體的測試過程如下。
[0049]a)、首先將A隔離板與A電路板定位針位置對齊；
[0050]b)、對齊之后，放下A隔離板，此時將A電路板開關針壓縮到閉合狀態(tài)；
[0051]C)、然后在A隔離板上放置A電路板；
[0052]d)、閉合ICT測試臺的真空電磁閥，打開真空電磁閥，將載板21和針床23之間抽真空；
[0053]e)、載板21和針床23距離變短，測試針206-208，211-212，216-220和223-226伸出，打在被測試電路板上;測試針209-210,213-215和221-222則打在A隔離板上，不能接觸到電路板A;
[0054]f)、調用A電路板的檢測程序，程序會首先檢測A電路板開關針壓處于閉合狀，而B電路板開關針處于斷開狀態(tài)，表示夾具上放置的是A電路板；
[0055]g)、運行ICT程序完成測試。
[0056]當測試B電路板時，夾具吸合之后狀態(tài)如圖5所示，針床23上的電阻Rl與測試針206和207接觸，電容Cl與測試針207和208接觸，電感L5與測試針209和210接觸，電阻R2與測試針213和214接觸，電阻R3與測試針214和215接觸，電容C2與測試針218和219接觸，電容C3與測試針219和220接觸，電阻R7與測試針220和221接觸，電阻R8與測試針221和222接觸，電容C5與測試針222和223接觸。具體檢測過程如下:
[0057]a)、首先將B隔離板與B電路板定位針位置對齊；
[0058]b)、對齊之后，放下B隔離板，此時將B電路板開關針壓縮到閉合狀態(tài)；
[0059]C)、然后在B隔離板上放置B電路板；
[0060]d)、閉合ICT測試臺的真空電磁閥，打開真空電磁閥，將載板21和針床23之間抽真空；
[0061 ] e)、載板21和針床23距離變短，206-210，213-215，218-222測試針伸出，打在被測試電路板上;211-212，216-217，223-226測試探針則打在B隔離板上，不能接觸到B電路板；
[0062]f)、調用B電路板的程序，程序會首先檢測B電路板開關針壓處于閉合狀，A電路板開關針處于斷開狀態(tài)，表示夾具上放置的是B電路板；
[0063]g)、運行ICT程序完成測試。
[0064]本實用新型通過隔離板、針床上設置的開關針和測試針，實現(xiàn)了一個ICT夾具測量多個類似的電路板，用以降低硬件成本。
[0065]雖然本實用新型所公開的實施方式如上，但所述的內容只是為了便于理解本實用新型而采用的實施方式，并非用以限定本實用新型。任何本實用新型所屬技術領域內的技術人員，在不脫離本實用新型所公開的精神和范圍的前提下，可以在實施的形式上及細節(jié)上作任何的修改與變化，但本實用新型的專利保護范圍，仍須以所附的權利要求書所界定的范圍為準。
【主權項】
1.一種ICT測試夾具，包括: 針床，其上設置有測試針； 隔離板，其上設置有針孔，以使所述針床上的部分測試針通過所述針孔與被測電路板的測試點接觸，在向所述測試針施加測試信號時，完成被測電路板的ICT測試。2.根據(jù)權利要求1所述的ICT測試夾具，其特征在于，在所述針床上設置有與不同隔離板匹配的開關針，用以檢測隔離板型號、判定隔離板與被測電路板的ICT程序的一致性。3.根據(jù)權利要求2所述的ICT測試夾具，其特征在于，所述開關針設置于所述針床上的測試針的外側，在對被測電路板進行測試時，能被對應的隔離板壓縮而高度降低。4.根據(jù)權利要求3所述的ICT測試夾具，其特征在于，在所述針床上設置有用于承載所述隔離板和被測電路板的載板，所述載板上設置有用于使所述針床上的所有測試針通過的針孔。5.根據(jù)權利要求4所述的ICT測試夾具，其特征在于，在所述針床和所述載板之間設置有真空管道。6.根據(jù)權利要求5所述的ICT測試夾具，其特征在于，在所述真空管道的邊沿密封有彈性材料，用以在所述真空管道抽真空時縮短所述載板和所述針床之間的距離。7.根據(jù)權利要求5或6所述的ICT測試夾具，其特征在于，在所述載板上設置有對不同的隔離板及匹配的被測電路板進行定位的定位針。8.根據(jù)權利要求7所述的ICT測試夾具，其特征在于，所述定位針設置于對應的所述開關針的外側，所述定位針及對應的所述開關針形成一組，用于控制隔離板和匹配的被測電路板。9.根據(jù)權利要求8所述的ICT測試夾具，其特征在于，所述定位針的高度小于對應的所述開關針的尚度。10.根據(jù)權利要求9所述的ICT測試夾具，其特征在于，所述測試夾具還包括與所述針床連接的接口箱，用于通過所述針床上的測試針向被測電路板施加測試信號。
【文檔編號】G01R1/04GK205450037SQ201620013498
【公開日】2016年8月10日
【申請日】2016年1月7日
【發(fā)明人】高峰, 武松劍, 陳志漫, 耶小方, 汪旭, 謝明明, 屈宏濤
【申請人】株洲南車時代電氣股份有限公司