探針壽命測試儀的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及電子設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及芯片測試探測檢測設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，具體是指一種探針壽命測試儀。
【背景技術(shù)】
[0002]在芯片測試之前，一般要先驗證彈簧測試針的使用壽命和電阻。一般的測試設(shè)備多是接觸針1000或5000次，再去單根測試針的電阻，一次只能測量一個針的電阻。這樣就浪費很多時間去測量針的電阻，驗證針性能的時間就相應(yīng)的變長，而開發(fā)出能快速測量每根針的電阻就變得很有必要。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明的目的是克服了上述現(xiàn)有技術(shù)中的缺點，提供一種能快速測量每根探針電阻，從而確定其使用壽命，且結(jié)構(gòu)簡單，成本低廉，應(yīng)用方便的探針壽命測試儀。
[0004]為了實現(xiàn)上述的目的，本發(fā)明的探針壽命測試儀具有如下構(gòu)成:
[0005]該探針壽命測試儀包括曲柄機(jī)構(gòu)、測試針固定機(jī)構(gòu)和千分表。其中所述的曲柄機(jī)構(gòu)包括:減速器、偏心調(diào)整座和基座，所述的減速器連接于該偏心調(diào)整座，所述的偏心調(diào)整座可在基座凹槽內(nèi)滑動，使該偏心調(diào)整座與所述基座中心不在一條軸線上，所述的偏心調(diào)整座與所述基座中心最大相距距離為d，且所述的偏心調(diào)整座順序通過連桿、上連接桿和上滑座連接銀塊，該銀塊可在所述的偏心調(diào)整座的驅(qū)動下隨所述的上滑座沿導(dǎo)軌上下移動，且上下移動的距離為2d，且所述的銀塊通過電阻儀測試線連接電阻儀。所述的測試針固定機(jī)構(gòu)包括:下滑座、測試頭基板和測試頭，所述的測試頭基板固定于所述的下滑座上，所述的測試頭設(shè)置于所述的測試頭基板上，所述的下滑座可沿所述的導(dǎo)軌上下移動，并通過鎖緊裝置固定所述的下滑座與導(dǎo)軌之間的位置。所述的千分表通過千分表導(dǎo)桿接觸所述的上連接桿。
[0006]該探針壽命測試儀還包括光電傳感器，所述的光電傳感器設(shè)置于靠近所述偏心調(diào)整座的位置。
[0007]該探針壽命測試儀還包括彈簧，所述的千分表通過所述的千分表導(dǎo)桿接觸所述的上連接桿的一端，該上連接桿的另一端通過上導(dǎo)桿連接于上底座，所述的彈簧套設(shè)于所述的上導(dǎo)桿外并位于所述的上連接桿與所述的上底座之間。
[0008]采用了該發(fā)明的探針壽命測試儀包括曲柄機(jī)構(gòu)、測試針固定機(jī)構(gòu)和千分表，能夠利用千分表精確測量每次彈簧探針的壓縮量，進(jìn)而能夠測量出每根探針電阻，從而快速確定其使用壽命，且本實用新型的探針壽命測試儀結(jié)構(gòu)簡單，成本低廉，應(yīng)用也相當(dāng)方便。
【附圖說明】
[0009]圖1為本發(fā)明的探針壽命測試儀的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0010]圖2為圖1中H-H截面的截面圖。
[0011]圖3為圖2中A部分的局部放大示意圖。
[0012]標(biāo)號及名稱對照表:
[0013]I安裝平板、2偏心調(diào)整座、3基座、4連桿、5上滑座、6下滑座、7測試頭基板、8銀塊、9導(dǎo)軌、10上連接桿、11上底座、12千分表底座、13下連接桿、14下底座、15調(diào)整螺桿、16上導(dǎo)桿、17導(dǎo)向塊、18千分表導(dǎo)桿、19第一軸用擋圈、20第二軸用擋圈、21光電傳感器、22減速器固定座、23軸蓋、24第三軸用擋圈、25第四軸用擋圈、26連接軸、27減速器、28鎖緊裝置、29下滑塊、30上滑塊、31千分表、32彈簧、33軸蓋、34測試頭、35電阻儀測試線、36調(diào)整螺栓、37固定環(huán)。
【具體實施方式】
[0014]為了能夠更清楚地理解本發(fā)明的技術(shù)內(nèi)容，特舉以下實施例詳細(xì)說明。
[0015]在一種實施方式中，如圖1、2、3所示，該探針壽命測試儀包括曲柄機(jī)構(gòu)、測試針固定機(jī)構(gòu)和千分表31。其中，所述的曲柄機(jī)構(gòu)包括:減速器27、偏心調(diào)整座2和基座3，所述的減速器27連接于該偏心調(diào)整座2，所述的偏心調(diào)整座2可在基座3的凹槽內(nèi)滑動，使該偏心調(diào)整座2與所述基座3中心不在一條軸線上，所述的偏心調(diào)整座2與所述基座3中心最大相距距離為d，且所述的偏心調(diào)整座2順序通過連桿4、上連接桿10和上滑座5連接銀塊8，該銀塊8可在所述的偏心調(diào)整座2的驅(qū)動下隨所述的上滑座5沿導(dǎo)軌9上下移動，且銀塊8上下移動的距離為2d，且所述的銀塊8通過電阻儀測試線35連接電阻儀。所述的測試針固定機(jī)構(gòu)包括:下滑座6、測試頭基板7和測試頭34，所述的測試頭基板7固定于所述的下滑座6上，所述的測試頭34設(shè)置于所述的測試頭基板7上，所述的下滑座6可沿所述的導(dǎo)軌9上下移動，并通過鎖緊裝置28固定所述的下滑座6與導(dǎo)軌9之間的位置。所述的千分表31通過千分表導(dǎo)桿18接觸所述的上連接桿10。
[0016]在一種優(yōu)選的實施方式中，該探針壽命測試儀還包括光電傳感器21，所述的光電傳感器21設(shè)置于靠近所述偏心調(diào)整座2的位置。
[0017]在更優(yōu)選的實施方式中，該探針壽命測試儀還包括彈簧32，所述的千分表31通過所述的千分表導(dǎo)桿18接觸所述的上連接桿10的一端，該上連接桿10的另一端通過上導(dǎo)桿16連接于上底座11，所述的彈簧32套設(shè)于所述的上導(dǎo)桿16外并位于所述的上連接桿10與所述的上底座11之間。
[0018]在實際應(yīng)用中，本發(fā)明是基于曲柄滑塊機(jī)構(gòu)演變而來，主要由偏心調(diào)整座2、基座
3、減速器固定座22、上滑座5、下滑座6和導(dǎo)軌9等組成。銀塊8的下壓距離主要靠偏心調(diào)整座2控制，通過旋動調(diào)整螺栓36，讓其偏心調(diào)整座2在基座3凹槽內(nèi)自由滑動，使其偏心調(diào)整座2與基座3中心不在一條軸線上，中心相距距離為d，則銀塊8上下移動的距離為2d。當(dāng)調(diào)整好偏心距離之后，手動旋動基座3尋找銀塊8的最低點，本發(fā)明中測試片30水平向右即是銀塊的最低位置。此時，裝上數(shù)顯千分表31，其千分表的測試導(dǎo)桿18接觸上連接桿10，上連接桿10固定在上滑座5上，將千分表31歸零，然后旋動基座3后，讓其轉(zhuǎn)過一定的角度，千分表顯示旋動基座3轉(zhuǎn)過一定角度后銀塊8向下移動的距離。然后旋動調(diào)整螺桿15，使其下滑座6在導(dǎo)軌9上向上滑動，當(dāng)裝有彈簧針的測試頭34，彈簧針尖剛剛接觸到銀塊8時，停止旋動調(diào)整螺桿15，利用鎖緊裝置28將其固定在導(dǎo)軌9上，保證測試時下滑座6不能隨意滑動。此時千分表顯示的值即是彈簧針的每次下壓壓縮距離。其次，此發(fā)明中使用光電傳感器21來記錄旋轉(zhuǎn)的圈數(shù)。采用高精度的電阻儀來測量彈簧針的電阻，并能一次讀取彈簧針的電阻值。為了減小上滑座5在導(dǎo)軌上擺動，使用彈簧32來平衡，有效地減少了滑座的晃動。
[0019]相較于現(xiàn)有的探針壽命測試設(shè)備，本發(fā)明的有益之處在于:結(jié)構(gòu)簡單，使用方便，測試時間短，測量精度較高，且能滿足絕大多數(shù)彈簧針的壓縮量。
[0020]采用了該發(fā)明的探針壽命測試儀包括曲柄機(jī)構(gòu)、測試針固定機(jī)構(gòu)和千分表，能夠利用千分表精確測量每次彈簧探針的壓縮量，進(jìn)而能夠測量出每根探針電阻，從而快速確定其使用壽命，且本實用新型的探針壽命測試儀結(jié)構(gòu)簡單，成本低廉，應(yīng)用也相當(dāng)方便。
[0021]在此說明書中，本發(fā)明已參照其特定的實施例作了描述。但是，很顯然仍可以作出各種修改和變換而不背離本發(fā)明的精神和范圍。因此，說明書和附圖應(yīng)被認(rèn)為是說明性的而非限制性的。
【主權(quán)項】
1.一種探針壽命測試儀，其特征在于，包括曲柄機(jī)構(gòu)、測試針固定機(jī)構(gòu)和千分表；其中， 所述的曲柄機(jī)構(gòu)包括:減速器、偏心調(diào)整座和基座，所述的減速器連接于該偏心調(diào)整座，所述的偏心調(diào)整座可在基座凹槽內(nèi)滑動，使該偏心調(diào)整座與所述基座中心不在一條軸線上，所述的偏心調(diào)整座與所述基座中心最大相距距離為d，且所述的偏心調(diào)整座順序通過連桿、上連接桿和上滑座連接銀塊，該銀塊可在所述的偏心調(diào)整座的驅(qū)動下隨所述的上滑座沿導(dǎo)軌上下移動，且上下移動的距離為2d，且所述的銀塊通過電阻儀測試線連接電阻儀； 所述的測試針固定機(jī)構(gòu)包括:下滑座、測試頭基板和測試頭，所述的測試頭基板固定于所述的下滑座上，所述的測試頭設(shè)置于所述的測試頭基板上，所述的下滑座可沿所述的導(dǎo)軌上下移動，并通過鎖緊裝置固定所述的下滑座與導(dǎo)軌之間的位置； 所述的千分表通過千分表導(dǎo)桿接觸所述的上連接桿。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的探針壽命測試儀，其特征在于，還包括光電傳感器，所述的光電傳感器設(shè)置于靠近所述偏心調(diào)整座的位置。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的探針壽命測試儀，其特征在于，還包括彈簧，所述的千分表通過所述的千分表導(dǎo)桿接觸所述的上連接桿的一端，該上連接桿的另一端通過上導(dǎo)桿連接于上底座，所述的彈簧套設(shè)于所述的上導(dǎo)桿外并位于所述的上連接桿與所述的上底座之間。
【專利摘要】本實用新型涉及一種探針壽命測試儀，屬于電子設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域。該結(jié)構(gòu)的探針壽命測試儀包括曲柄機(jī)構(gòu)、測試針固定機(jī)構(gòu)和千分表，能夠利用千分表精確測量每次彈簧探針的壓縮量，進(jìn)而能夠測量出每根探針電阻，從而快速確定其使用壽命，且本實用新型的探針壽命測試儀結(jié)構(gòu)簡單，成本低廉，應(yīng)用也相當(dāng)方便。
【IPC分類】G01R27-02, G01R35-00
【公開號】CN204302386
【申請?zhí)枴緾N201420745124
【發(fā)明人】劉凱, 郭靖, 高凱, 殷嵐勇
【申請人】上海韜盛電子科技有限公司
【公開日】2015年4月29日
【申請日】2014年12月2日