一種斷路器低電壓分合閘測試裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型涉及斷路器技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種斷路器低電壓分合閘測試裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]斷路器低電壓分合閘測試是斷路器特性測試的一項重要內(nèi)容，主要用來考察斷路器線圈的靈敏性與可靠性以及整個操動機構(gòu)在非額定電壓下的動作性能。例如，對于斷路器的操動機構(gòu)，如液壓、彈性以及氣動等，在長期運行中，分合閘脫扣電磁鐵常發(fā)生變形、銹澀或臟污粘連等情況，使得電磁鐵動作不暢而導(dǎo)致斷路器拒動。
[0003]目前，在斷路器低電壓分合閘測試過程中，對于斷路器的動作測試僅進(jìn)行低電壓的測試。該測試規(guī)定的分合閘范圍較為寬泛，例如對于輕微的變形、銹澀等情況，在該測試過程中雖然滿足正常規(guī)定的范圍，但是在分合閘回路中可能已經(jīng)存在潛在的缺陷。如果操動機構(gòu)存在銹澀等問題而沒有別檢測出來，則可能引起斷路器拒動，導(dǎo)致嚴(yán)重的電力事故。
[0004]由此可見，僅通過動作電壓的高低來判斷斷路器的狀態(tài)，對于整個分合閘回路檢測的可靠性較低，并不能有效地反映出斷路器潛在的缺陷。
【實用新型內(nèi)容】
[0005]本實用新型的目的是提供一種斷路器低電壓分合閘測試裝置，用于測試斷路器的性能。
[0006]為解決上述技術(shù)問題，本實用新型提供一種斷路器低電壓分合閘測試裝置，包括:交流/直流轉(zhuǎn)換模塊和用于提供低電壓動作電源的第一直流/直流轉(zhuǎn)換模塊，所述第一直流/直流轉(zhuǎn)換模塊的輸入端與所述交流/直流轉(zhuǎn)換模塊的輸出端連接，還包括:采樣控制電路和用于選擇電壓的按鍵，所述采樣控制電路包括:
[0007]用于采集所述第一直流/直流轉(zhuǎn)換模塊輸出電流和電壓的采樣電路，所述采樣電路的輸入端與所述第一直流/直流轉(zhuǎn)換模塊的輸出端連接；
[0008]用于采樣和反饋所述第一直流/直流轉(zhuǎn)換模塊輸出電壓的第一電壓采樣控制電路，所述第一電壓采樣控制電路與所述第一直流/直流轉(zhuǎn)換模塊通信連接；
[0009]用于采樣和控制的處理器，所述處理器的輸入端與所述采樣電路的輸出端連接，所述處理器與所述第一電壓采樣控制電路通信連接；
[0010]所述按鍵與所述處理器的輸入端連接。
[0011]優(yōu)選的，還包括:
[0012]用于提供直流電源的第二直流/直流轉(zhuǎn)換模塊，所述第二直流/直流轉(zhuǎn)換模塊的輸入端與所述交流/直流轉(zhuǎn)換模塊的輸出端連接；
[0013]其中，所述采樣控制電路還包括:用于采樣和反饋所述第二直流/直流轉(zhuǎn)換模塊輸出電壓的第二電壓采樣控制電路；所述第二電壓控制采樣電路與所述第二直流/直流轉(zhuǎn)換模塊通信連接，所述第二電壓采樣控制電路與所述處理器通信連接。
[0014]優(yōu)選的，還包括:與所述處理器輸出端連接的USB通信模塊和顯示屏。
[0015]優(yōu)選的，所述交流/直流轉(zhuǎn)換模塊具體為:整流電路。
[0016]優(yōu)選的，所述交流電源輸出交流220V電壓。
[0017]優(yōu)選的，所述第一直流/直流轉(zhuǎn)換模塊的輸出電壓的范圍為:0_265V，所述第二直流/直流轉(zhuǎn)換模塊的輸出電壓為:110V或220V。
[0018]優(yōu)選的，所述第一直流/直流轉(zhuǎn)換模塊和所述第二直流/直流轉(zhuǎn)換模塊具體包括:
[0019]與所述整流電路輸出端連接的第一濾波電路；
[0020]與所述濾波電路輸出端連接的第一橋式斬波電路；
[0021]與所述第一橋式斬波電路輸出端連接的第一升壓電路；
[0022]與所述第一升壓電路輸出端連接的第一高頻整流電路；
[0023]與所述第一高頻整流電路輸出端連接的第一LC濾波電路；
[0024]與所述整流電路輸出端連接的第二濾波電路；
[0025]與所述濾波電路輸出端連接的第二橋式斬波電路；
[0026]與所述第二橋式斬波電路輸出端連接的第二升壓電路；
[0027]與所述第二升壓電路輸出端連接的第二高頻整流電路；
[0028]與所述第二高頻整流電路輸出端連接的第二 LC濾波電路；
[0029]其中，所述第一濾波電路的輸入端作為所述第一直流/直流轉(zhuǎn)換模塊的輸入端，所述第一 LC濾波電路的輸出端作為所述第一直流/直流轉(zhuǎn)換模塊的輸出端；所述第二濾波電路的輸入端作為所述第二直流/直流轉(zhuǎn)換模塊的輸入端，所述第二 LC濾波電路的輸出端作為所述第二直流/直流轉(zhuǎn)換模塊的輸出端。
[0030]優(yōu)選的，所述第一電壓采樣控制電路具體包括:
[0031]與所述第一 LC濾波電路輸出端連接的第一反饋電路；
[0032]與所述第一反饋電路輸出端連接的第一 SG3525控制芯片；
[0033]與所述第一 SG3525控制芯片輸出端連接的第一隔離變壓器；
[0034]其中，所述第一隔離變壓器的輸出端與所述第一橋式斬波電路的輸入端連接，所述第一反饋電路與所述處理器通信連接；
[0035]所述第二電壓采樣控制電路具體包括:
[0036]與所述第二 LC濾波電路輸出端連接的第二反饋電路；
[0037]與所述第二反饋電路輸出端連接的第二 SG3525控制芯片；
[0038]與所述第二 SG3525控制芯片輸出端連接的第二隔離變壓器；
[0039]其中，所述第二隔離變壓器的輸出端與所述第二橋式斬波電路的輸入端連接，所述第二反饋電路與所述處理器通信連接。
[0040]優(yōu)選的，所述采樣電路具體包括:
[0041]與所述第一 LC濾波電路輸出端連接的電流采樣電路；
[0042]與所述電流采樣電路輸出端連接的電流/電壓轉(zhuǎn)換電路；
[0043]與所述電流/電壓轉(zhuǎn)換電路輸出端連接的第一低通濾波電路；
[0044]與所述第一低通濾波電路輸出端連接的第一放大電路；
[0045]與所述第一 LC濾波電路輸出端連接的電壓采樣電路；
[0046]與所述電壓采樣電路輸出端連接的信號調(diào)理電路；
[0047]與所述信號調(diào)理電路輸出端連接的第二低通濾波電路；
[0048]與所述第二低通濾波電路輸出端連接的第二放大電路；
[0049]與所述第一放大電路的輸出端和所述第二放大電路的輸出端均連接的模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換芯片；
[0050]其中，所述模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換芯片的輸出端作為所述采樣電路的輸出端與所述處理器的輸入端連接。
[0051]優(yōu)選的，還包括:
[0052]用于連接所述斷路器低電壓分合閘測試裝置與待測試斷路器的連接線；
[0053]所述連接線設(shè)置于所述第一直流/直流轉(zhuǎn)換模塊的輸出端和所述第二直流/直流轉(zhuǎn)換模塊的輸出端。
[0054]本實用新型所提供的斷路器低電壓分合閘測試裝置，能夠通過采樣電路采集第一直流/直流轉(zhuǎn)換模塊輸出的電流值和電壓值，從而更加全面的分析斷路器的性能，進(jìn)一步提高斷路器低電壓分合閘測試裝置的準(zhǔn)確性。此外，通過按鍵能夠更加方便選取電壓值，處理器根據(jù)電壓值生成電壓控制命令并發(fā)送至第一電壓采樣控制電路，通過第一電壓采樣控制電路的控制使得第一直流/直流轉(zhuǎn)換模塊按照該命令輸出相應(yīng)的電壓值。
【附圖說明】
[0055]為了更清楚地說明本實