串行線調(diào)試橋的制作方法
【專利摘要】本申請涉及串行線調(diào)試橋。提供了具有用于與調(diào)試器對接的橋的集成電路(IC)和操作其的方法。在一種實施例中，IC包括調(diào)試控制電路和在其上實現(xiàn)的調(diào)試接口模塊(DIB)。該DIB耦接到調(diào)試控制電路。該IC還包括用于調(diào)試器的接口和多個用于外部電路的接口，每個接口耦接到調(diào)試控制電路。調(diào)試控制電路可以用作通過接口中的對應(yīng)接口將外部調(diào)試器耦接到DIB或耦接到與IC耦接的外部電路的橋。調(diào)試控制電路可以建立調(diào)試器和外部電路中的一個外部電路之間的連接。調(diào)試器和外部電路之間的通信可以在繞過DIB的同時進(jìn)行。
【專利說明】
串行線調(diào)試橋
技術(shù)領(lǐng)域
[0001 ]本公開針對集成電路，并且更具體地針對提供對集成電路的調(diào)試訪問。
【背景技術(shù)】
[0002]邊界掃描測試最初被開發(fā)，以用于在沒有其它方法探測集成電路(IC)和印刷電路板(PCB)之間的連接的情況下測試它們之間的連接。邊界掃描基于聯(lián)合測試行動組(JTAG)規(guī)范，該規(guī)范還被稱為電氣與電子工程師學(xué)會(IEEE)標(biāo)準(zhǔn)1149.1。具體地，IEEEl 149.1標(biāo)準(zhǔn)提供用于提供對IC的引腳的訪問以確定正確連接的存在的機(jī)制。
[0003]雖然IEEE1149.1標(biāo)準(zhǔn)最初被開發(fā)以用于邊界掃描，但是其用途已擴(kuò)展到其它領(lǐng)域。例如，現(xiàn)在使用JTAG端口來獲得對IC的訪問以用于在開發(fā)階段進(jìn)行調(diào)試。例如，當(dāng)在新的設(shè)計中進(jìn)行系統(tǒng)軟件的測試時，可以使用JTAG控制器來訪問IC的部分。
[0004]由于一些IC限制了可以專門用來支持測試和調(diào)試的引腳數(shù)，因此開發(fā)了串行線調(diào)試(SWD)接口。SWD接口是只利用兩個引腳但提供對內(nèi)部調(diào)試接口模塊的訪問的接口。盡管引腳數(shù)較少，但是SWD接口可以提供與較大引腳數(shù)的JTAG接口等效的功能。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]提供了具有用于與調(diào)試器對接的橋的集成電路(IC)和操作其的方法。在一種實施例中，IC包括調(diào)試控制電路和在其上實現(xiàn)的調(diào)試接口模塊(DIB)。該DIB耦接到調(diào)試控制電路。該IC還包括用于調(diào)試器的接口和多個用于外部電路的接口，每個接口耦接到調(diào)試控制電路。調(diào)試控制電路可以用作通過對應(yīng)接口中的一個接口將外部調(diào)試器耦接到DIB或耦接到與IC耦接的外部電路的橋?？梢允褂谜{(diào)試控制電路來建立調(diào)試器和外部電路中的一個外部電路之間的連接。在該連接已建立之后，后續(xù)的通信可以在繞過DIB的同時進(jìn)行。
[0006]在一種實施例中，可以使得外部調(diào)試器和經(jīng)由接口耦接到調(diào)試控制電路的外部電路之間的連接在不影響其它連接的情況下在線或者離線。例如，調(diào)試器可以連接到第一外部電路和第二外部電路并且與其通信。第一外部電路可以在不影響調(diào)試器和第二外部電路之間的連接或者任何其它連接(例如，經(jīng)由調(diào)試控制電路在調(diào)試器和DIB之間的連接)的情況下被斷電(從而切斷第一外部電路與調(diào)試器的連接)。
[0007]在一種實施例中，DIB可以處于與調(diào)試控制電路不同的電源域，其中DIB是可電源門控的(power gate-able)。調(diào)試器和一個或多個外部電路之間的連接可以通過調(diào)試控制電路來建立。此后，即使DIB被斷電，通信也可以繞過DIB。
【附圖說明】
[0008]以下詳細(xì)描述參考附圖，現(xiàn)在簡要描述附圖。
[0009]圖1是具有被配置為耦接到外部調(diào)試器的SoC的系統(tǒng)的一種實施例的框圖。
[0010]圖2是可以在圖1的系統(tǒng)中實現(xiàn)的SoC的一種實施例的框圖。
[0011]圖3是示出用于操作被配置為提供調(diào)試器和多個外部電路之間的橋接功能的電路的方法的一種實施例的流程圖。
[0012]圖4是示例性系統(tǒng)的一種實施例的框圖。
[0013]雖然所公開的主題易于具有各種修改和替代形式，但是其具體實施例在附圖中以示例的方式被示出并且將在本文中被詳細(xì)描述。但是應(yīng)當(dāng)理解的是，附圖以及對其的詳細(xì)描述不意圖將主題限定到所公開的特定形式，而與此相反，本發(fā)明要涵蓋落入由所附權(quán)利要求限定的所公開主題的精神和范圍內(nèi)的所有修改、等效物和替代方案。本文所使用的標(biāo)題僅用于組織目的，并且不意味著用來限制本描述的范圍。如貫穿本申請所使用的那樣，詞“可以”以許可的意義(即，意味著有可能)而不是以強制的意義(即，意味著必須)被使用。類似地，詞“包括”及其各種形式意味著包括但不限于。
[0014]各種單元、電路或其它組件可以被描述為“被配置為”執(zhí)行一個或多個任務(wù)。在這樣的上下文中，“被配置為”是通常意味著“具有”在操作期間執(zhí)行一個或多個任務(wù)的“電路系統(tǒng)”的結(jié)構(gòu)的廣義闡述。因此，即使在單元/電路/組件當(dāng)前沒有接通時，單元/電路/組件也可以被配置為執(zhí)行任務(wù)。一般而言，構(gòu)成對應(yīng)于“被配置為”的結(jié)構(gòu)的電路系統(tǒng)可以包括硬件電路和/或存儲用于實現(xiàn)操作的可執(zhí)行的程序指令的存儲器。存儲器可以包括諸如靜態(tài)或動態(tài)隨機(jī)存取存儲器之類的易失性存儲器和/或諸如光學(xué)盤存儲裝置或磁性盤存儲裝置、閃速存儲器、可編程只讀存儲器等之類的非易失性存儲器。類似地，為了描述的方便，各種單元/電路/組件可以被描述為執(zhí)行一個或多個任務(wù)。這樣描述應(yīng)當(dāng)被解釋為包括短語“被配置為”。對被配置為執(zhí)行一個或多個任務(wù)的單元/電路/組件的闡述明確地不意圖對那個單元/電路/組件援引35U.S.C.§112段(f)的解釋。
【具體實施方式】
[0015]圖1是示出具有配置為耦接到外部調(diào)試器的SoC的系統(tǒng)的一種實施例的框圖。在示出的實施例中，系統(tǒng)5包括IC 10，它是SoC。系統(tǒng)5還包括多個外部電路，其中包括無線電芯片22、音頻芯片24、NAND芯片28和至少一個其它芯片26。無線電芯片22可以是被配置為既發(fā)送又接收無線電通信的無線電收發(fā)器。NAND芯片28可以包括NAND閃速存儲器和支持對其讀取訪問和寫入訪問的各種電路系統(tǒng)。其它芯片26可以是任何其它類型的外圍芯片，諸如顯示支持芯片、或者用于支持特定類型的總線接口(例如，通用串行總線或USB)的芯片。
[0016]在示出的實施例中的IC10包括始終接通處理器(A0P)15和調(diào)試接口模塊(DIB)HoAOP 15和DIB 14在不同的電源域中實現(xiàn)。AOP 15可以在IC 10自身接收電力的所有時間都保持通電的電源域中實現(xiàn)。相反，其中實現(xiàn)DIB 14的電源域是可以被電源門控的IClO上的一個或多個電源域中的一個，即，即使IC 10以其它方式接收電力，電源域的電源也可以被切斷。這可以允許DIB 14(以及電源門控域中的其它電路系統(tǒng))被置于睡眠模式。如將在下面解釋的那樣，調(diào)試器11和上述各種外部電路中的任何一個外部電路之間的通信一旦被建立，就可以繞過DIB 14，包括DIB 14斷電的那些時間。
[0017]在示出的實施例中的AOP15包括調(diào)試控制電路20。在由調(diào)試控制電路20提供的功能中包括控制與調(diào)試有關(guān)的各種操作。調(diào)試可以在硬件設(shè)計階段執(zhí)行，以測試IC 10的硬件功能以及定位可能存在的任何錯誤。還可以執(zhí)行調(diào)試來確保軟件在系統(tǒng)上正確地執(zhí)行并且找到可能存在的任何軟件故障(bug)。
[0018]可以由調(diào)試控制電路20執(zhí)行的另一個功能是充當(dāng)外部調(diào)試器11和DIB 14之間的橋，并且還充當(dāng)在調(diào)試器11和在圖中示出的各種外部電路(芯片)之間的橋。通過充當(dāng)橋，調(diào)試控制電路20可以允許調(diào)試器11和各種外部電路之間的通信在它們初始建立之后繞過DIB14。
[0019]在示出的實施例中的調(diào)試控制電路20可以經(jīng)由調(diào)試接口33耦接到外部調(diào)試器11。調(diào)試器11可以用于將測試激勵輸入到如這里所示的系統(tǒng)5的各個組件中，以及用于接收數(shù)據(jù)以供分析。通過調(diào)試控制電路20和DIB 14，調(diào)試器11可以獲得對IC 10內(nèi)的其它功能性電路的訪問。調(diào)試器11還可以經(jīng)由調(diào)試控制電路20，經(jīng)由外部接口 34獲得對其它外部電路內(nèi)的功能單元的訪問。
[0020]可以使用各種類型的接口協(xié)議來實現(xiàn)調(diào)試器接口33和外部接口 34。在一種實施例中，這些接口可以被實現(xiàn)為雙線接口(2WI)。如其名字所表示的那樣，2WI接口只利用兩個引腳。第一引腳用來傳送測試模式選擇(2WI10)信號，而第二引腳用來傳送測試時鐘(2WICLK)信號。調(diào)試控制電路20可以將公共的2WICLK信號傳送到DIB 14和在圖中示出的每個外部電路。此外，調(diào)試控制電路20可以促進(jìn)經(jīng)由單獨和獨立版本的2WI10信號(例如，2WI101，2WI102等)的往返DIB 14以及各種外部電路的通信。
[0021]當(dāng)要在調(diào)試器11和另一設(shè)備(DIB14或任何外部電路，諸如無線電芯片22)之間建立通信時，連接的初始配置可以由調(diào)試控制電路20執(zhí)行。在調(diào)試器11和一個外部電路之間的通信期間，DIB 14可以被繞過。因此，與其中DIB涉及調(diào)試器和其它設(shè)備(芯片內(nèi)部的和外部的設(shè)備)之間的所有通信的現(xiàn)有技術(shù)實施例相比，這里給出的、操作為橋的調(diào)試控制電路20使得在不需要涉及DIB 14的情況下在調(diào)試器11和其它設(shè)備之間能夠進(jìn)行通信。
[0022]如上所示，DIB 14和調(diào)試控制電路20在分離的電源域中實現(xiàn)。同樣如上所示，即使DIB 14斷電，調(diào)試控制電路20仍然可以充當(dāng)調(diào)試器11和每個外部電路(例如，無線電芯片22、音頻芯片24等)之間的橋。即，除了在DIB 14通電時在調(diào)試器11和外部電路之間的通信期間能夠繞過DIB 14之外，一旦被建立，通信還可以在DIB 14被斷電的情況下繼續(xù)。通常而言，任何設(shè)備(DIB或外部電路)的電源狀態(tài)可以在操作期間改變，而不影響調(diào)試器和任何其它設(shè)備之間的通信。例如，在調(diào)試器11和任何外部電路之間建立的通信可以在繞過DIB 14的同時進(jìn)行并且即使DIB 14隨后斷電，該通信還可以繼續(xù)。
[0023]此外，一些外部電路還可以在調(diào)試器11和其它外部電路之間的通信期間被斷電。例如，即使DIB 14和每個其余外部電路(例如，音頻芯片24等)被斷電，調(diào)試控制電路20可以促進(jìn)調(diào)試器11和無線電芯片22之間的通信。這與在其中所有調(diào)試器通信通過DIB進(jìn)行路由和/或其中所有設(shè)備都需要通電的現(xiàn)有技術(shù)實施例形成對比。此外，各種外部電路可以在建立通信之后被斷電，而不會影響其它連接。例如，考慮其中調(diào)試器11通過建立的連接與無線電芯片22和音頻芯片24通信的情形。在通信已經(jīng)開始之后的某個時間，音頻芯片24可以斷電。但是，調(diào)試器11和無線電芯片22的連接可以繼續(xù)操作，而不受音頻芯片24的狀態(tài)的變化的影響，其中通信在繞過DIB 14的同時通過調(diào)試控制電路20繼續(xù)進(jìn)行。這與其中對一個連接的電源狀態(tài)的改變不能在不影響其它連接的情況下進(jìn)行的現(xiàn)有技術(shù)實施例形成對比。在這樣的現(xiàn)有技術(shù)實施例中，這種狀態(tài)的改變將需要重新建立每個其余的連接。因此，調(diào)試控制電路20的存在提供了現(xiàn)有技術(shù)實施例中沒有的靈活性。
[0024]圖2是可以在圖1的系統(tǒng)中實現(xiàn)的SoC的一種實施例的框圖。在示出的實施例中，IC10包括四個不同的電源域。電源域#1包括DIB 14和功能單元16。電源域#2包括AOP 15，具有在其中實現(xiàn)的調(diào)試控制電路20和電源管理電路25。電源域#2是在這個IC 10的實施例中唯一不是可電源門控的電源域，并且因此其中的電路系統(tǒng)在IC 1經(jīng)由Vdd2接收電力的任何時間保持通電。電源域#3包括功能單元17，而電源域#4包括功能單元18。這些功能單元可以包括執(zhí)行IC 10的操作的各種電路系統(tǒng)。這些單元可以包括但不限于處理器核、圖形處理器、I/O電路等等。
[0025]如上所示，電源管理電路25被包括作為AOP 15的一部分。在由電源管理電路25執(zhí)行的功能中包括控制是否給電源域#1、#3和#4中的電路提供電力。在一些實施例中，電源管理電路25可以監(jiān)視在這些其它電源域中的功能單元以獲得空閑或一般的活動水平的指示。其中從這些電源域內(nèi)的電路系統(tǒng)向電源管理電路25提供指示的實施例也是可能和可預(yù)期的。如果電源管理電路25或者通過接收到的指示或者根據(jù)其自己的監(jiān)視確定電源域內(nèi)的電路系統(tǒng)是空閑的，則它可以停用相應(yīng)的電源開關(guān)，以切斷電路系統(tǒng)的電源(即，將電路系統(tǒng)置于“睡眠模式”)。每個電源域包括可以被停用以切斷那個域內(nèi)的電路系統(tǒng)的電源的至少一個電源開關(guān)(例如，在電源域#1中的SI)。
[0026]不考慮與其它電源域的當(dāng)前電源狀態(tài)(活動或睡眠模式)，調(diào)試控制電路20可以繼續(xù)支持與外部調(diào)試器11以及與諸如在圖1中示出的外部芯片之類的外部電路的通信。這在調(diào)試器11和外部電路之間已經(jīng)建立通信鏈路或連接之后適用，并且即使DIB 14在建立連接之后被斷電，這也可以保持適用。
[0027]圖3是示出用于操作被配置為提供調(diào)試器和多個外部電路之間的橋接功能的電路的方法的一種實施例的流程圖。圖3所示出的方法300可以利用以上參考圖1和2所討論的硬件的各種實施例來執(zhí)行。也可能和可以預(yù)期的是，方法300可以由本文中沒有明確討論的硬件實施例執(zhí)行。
[0028]方法300開始于進(jìn)行調(diào)試控制電路和IC的DIB以及IC外部的一個或多個電路之間的通信(方框305)。調(diào)試控制電路可以充當(dāng)外部調(diào)試器和DIB之間的橋，并且因此促進(jìn)它們之間的通信。在操作期間的某些點處，DIB可以是不活動的，并且因此不涉及與調(diào)試控制電路的任何通信。在這些情況下，DIB可以被繞過(方框315，是)。在繞過DIB的操作期間，仍然可以在DIB和IC外部的電路之間進(jìn)行通信(方框315)。外部電路可以是其它的1C，諸如無線電芯片、音頻芯片、或耦接到其中實現(xiàn)DIB和調(diào)試控制電路的IC的任何其它芯片。當(dāng)不活動時，DIB可以被置于睡眠模式中(例如，時鐘門控，并且在一些情況下也是電源門控)。
[0029]如果DIB沒有被繞過(方框310，否)，則與調(diào)試控制電路的通信可以繼續(xù)(方框305)。外部電路和調(diào)試控制電路之間的通信還可以與調(diào)試控制電路和DIB之間的通信同時進(jìn)行。
[0030]如果DIB當(dāng)前被繞過但是要恢復(fù)通信(方框320，是)，則該方法可以返回到方框305。這可以包括如果DIB已經(jīng)是電源門控和/或時鐘門控的，則使DIB從睡眠狀態(tài)醒來。否貝1J，如果DIB可以繼續(xù)被繞過(方框320，否)，則該方法可以返回到方框315，其中調(diào)試控制電路和外部電路中的一個或多個外部電路之間的通信繼續(xù)。
[0031]上述方法和裝置的各種實施例可以提供與先前實施例相比的某些優(yōu)點。例如，在利用具有SWD接口的調(diào)試訪問端口(DAP)的先前實施例中，包括DAP的所有設(shè)備必須保持通電。因此，在這樣的實施例中，當(dāng)DAP處于睡眠模式時，與外部設(shè)備的通信是不可能的。作為對比，參考圖1-3所討論的各種方法和裝置實施例可以允許在即使DIB本身斷電或以其它方式不活動的情況下具有調(diào)試控制電路的IC和DIB之間的通信。此外，調(diào)試器不需要單獨地連接每個外部電路，而是可以通過調(diào)試控制電路連接到每個外部電路。第三，外部設(shè)備可以在操作期間的任何時間被通電和/或斷電，而不考慮DIB的狀態(tài)。
[0032]下面轉(zhuǎn)到圖4，示出了系統(tǒng)150的一種實施例的框圖。在示出的實施例中，系統(tǒng)150包括耦接到外部存儲器158的集成電路10的至少一個實例。集成電路10耦接到一個或多個外圍設(shè)備154和外部存儲器158。還提供了供電電源156，它向集成電路10提供供電電壓以及向存儲器158和/或外圍設(shè)備154提供一個或多個供電電壓。在一些實施例中，可以包括集成電路10的多于一個的實例(還可以包括多于一個的外部存儲器158)。
[0033]依賴于系統(tǒng)150的類型，外圍設(shè)備154可以包括任何期望的電路系統(tǒng)。例如，在一種實施例中，系統(tǒng)150可以是移動設(shè)備(例如，個人數(shù)字助理(PDA)、智能電話等)并且外圍設(shè)備154可以包括用于各種類型的無線通信(諸如WiF1、藍(lán)牙、蜂窩、全球定位系統(tǒng)等)的設(shè)備。夕卜圍設(shè)備154還可以包括附加的存儲裝置，包括RAM存儲裝置、固態(tài)存儲裝置或盤存儲裝置。夕卜圍設(shè)備154可以包括用戶接口設(shè)備，諸如包括觸摸顯示屏或多點觸摸顯示屏的顯示屏、鍵盤或其它輸入設(shè)備、麥克風(fēng)、揚聲器等。在其它實施例中，系統(tǒng)150可以是任何類型的計算系統(tǒng)(例如，臺式個人計算機(jī)、膝上型計算機(jī)、工作站、平板等)。
[0034]外部存儲器158可以包括任何類型的存儲器。例如，外部存儲器158可以是SRAM、諸如同步 DRAM(SDRAM)之類的動態(tài) RAM(DRAM)、雙倍數(shù)據(jù)速率(DDR、DDR2、DDR3、LPDDR1、LPDDR2等)SDRAM、RAMBUS DRAM等。外部存儲器158可以包括存儲器設(shè)備安裝到其的一個或多個存儲器模塊，諸如單列直插存儲器模塊(SIMM)，雙列直插存儲器模塊(DIMM)等。
[0035]一旦以上公開內(nèi)容被完全理解，對本領(lǐng)域技術(shù)人員來說各種變體和修改就將變得顯而易見。以下權(quán)利要求旨在被解釋為涵蓋所有這樣的變體和修改。
【主權(quán)項】
1.一種集成電路1C，包括: 調(diào)試控制電路； 調(diào)試接口模塊DIB; 調(diào)試器接口，被配置為將所述調(diào)試控制電路耦接到外部調(diào)試器；以及 多個外部接口，每個外部接口被配置為將所述調(diào)試控制電路耦接到多個外部電路中對應(yīng)的一個外部電路，其中所述調(diào)試控制電路被配置為建立所述外部調(diào)試器和所述多個外部電路中的至少一個外部電路之間的連接，并且其中在所述調(diào)試控制電路建立所述連接之后，所述調(diào)試控制電路被配置為在繞過DIB的同時促進(jìn)所述多個外部電路中的所述至少一個外部電路和所述調(diào)試器之間的通信。2.如權(quán)利要求1所述的集成電路，其中DIB處于第一電源域并且其中所述調(diào)試器接口和所述調(diào)試控制電路處于第二電源域，并且其中IC還包括電源管理電路，其中所述電源管理電路在所述第二電源域中實現(xiàn)，并且其中所述電源管理電路被配置為使包括DIB的所述第一電源域中的電路系統(tǒng)斷電。3.如權(quán)利要求2所述的集成電路，其中所述電源管理電路被配置為執(zhí)行所述第一電源域的電源門控，并且其中所述第二電源域被配置為在集成電路的操作期間保持電力，并且其中所述調(diào)試控制電路被配置為在DIB斷電之后促進(jìn)外部電路和所述調(diào)試器之間的通信。4.如權(quán)利要求2所述的集成電路，其中所述調(diào)試控制電路繼續(xù)促進(jìn)所述調(diào)試器和所述多個外部電路中所選擇的一個外部電路之間的通信，而不考慮DIB或所述多個外部電路中的一個或多個附加外部電路的電源狀態(tài)的變化。5.如權(quán)利要求1所述的集成電路，其中所述調(diào)試控制電路和所述調(diào)試器接口在始終接通處理器(always-on processor，A0P)中實現(xiàn)，其中AOP被配置為在集成電路的操作期間保持通電。6.如權(quán)利要求1所述的集成電路，其中所述調(diào)試控制電路被配置為接收來自所述外部調(diào)試器的第一測試模式選擇信號和測試時鐘信號。7.如權(quán)利要求6所述的集成電路，其中所述調(diào)試控制電路被耦接為通過所述多個外部接口中的每個外部接口將測試時鐘信號傳送到DIB，并且其中所述調(diào)試控制電路還被耦接為通過外部接口中的每個外部接口獨立地傳送測試模式選擇信號的各獨立實例。8.如權(quán)利要求1所述的集成電路，其中集成電路包括具有第一電源域和第二電源域的多個電源域，其中除所述第二電源域之外的每個電源域是可電源門控的，并且其中所述調(diào)試控制電路被配置為通過與它耦接的外部接口中的每個外部接口進(jìn)行通信，而不考慮除所述第二電源域之外的其它電源域是否正在接收電力。9.一種方法，包括: 實現(xiàn)在集成電路IC的第一電源域中的調(diào)試控制電路與實現(xiàn)在IC的第二電源域中的調(diào)試接口模塊DIB進(jìn)行通信； 所述調(diào)試控制電路建立與IC外部的一個或多個電路的連接，其中建立與IC外部的所述一個或多個電路的連接與所述調(diào)試控制電路和DIB之間的通信同時進(jìn)行；以及 在建立與IC外部的所述一個或多個電路的通信之后，所述外部調(diào)試器與IC外部的所述一個或多個電路通信，其中外部調(diào)試器和IC外部的所述一個或多個電路之間的通信在繞過DIB的同時進(jìn)行。10.如權(quán)利要求9所述的方法，還包括:所述調(diào)試控制電路將公共的測試時鐘信號傳送到每個外部電路并且將測試模式選擇信號的各個實例傳送到每個外部電路。11.如權(quán)利要求10所述的方法，還包括:所述調(diào)試控制電路向DIB傳送公共的測試時鐘信號和測試模式信號的各個實例。12.如權(quán)利要求9所述的方法，還包括: 所述第一電源域在IC的操作期間保持通電； 在所述第一電源域中的電源管理電路選擇性地切斷所述第二電源域的電源和向所述第二電源域提供電力，所述第二電源域包括DIB;以及 繼續(xù)調(diào)試器和IC外部的所述一個或多個電路之間的通信，而不考慮DIB是否通電。13.如權(quán)利要求9所述的方法，還包括:繼續(xù)調(diào)試器和IC外部的電路中的第一個電路之間的通信，而不考慮IC外部的電路中的第二個電路的電源狀態(tài)的變化。14.一種系統(tǒng)，包括: 芯片上系統(tǒng)SoC，具有在第一電源域中的調(diào)試接口模塊DIB和在第二電源域中的始終接通處理器AOP，其中AOP包括耦接為與DIB通信的調(diào)試控制電路； 在所述第二電源域中的調(diào)試器接口，被配置為將所述調(diào)試控制電路耦接到外部調(diào)試器；以及 多個外部電路，每個外部電路經(jīng)由在SoC上實現(xiàn)的多個外部調(diào)試接口中的對應(yīng)外部調(diào)試接口耦接到所述調(diào)試控制電路； 其中所述調(diào)試控制電路被配置為響應(yīng)于一個或多個對應(yīng)的請求，建立所述外部調(diào)試器和所述多個外部電路中的一個或多個外部電路之間的連接，并且其中在建立所述連接之后，所述調(diào)試控制電路被配置為在繞過DIB的同時促進(jìn)調(diào)試器和所述多個外部電路中的所述一個或多個外部電路之間的通信。15.如權(quán)利要求14所述的系統(tǒng)，還包括在所述第二電源域中實現(xiàn)的電源管理電路，其中所述電源管理電路被配置為切斷包括DIB的所述第一電源域的電源。16.如權(quán)利要求15所述的系統(tǒng)，其中在包括AOP的所述第二電源域中的電路系統(tǒng)被配置為在IC的操作期間保持通電。17.如權(quán)利要求14所述的系統(tǒng)，其中在建立外部調(diào)試器和所述多個外部電路中選擇的一個外部電路之間的連接之后，所述調(diào)試控制電路繼續(xù)促進(jìn)調(diào)試器和所述多個外部電路中所選擇的一個外部電路之間的通信，而不考慮DIB或所述多個外部電路中的一個或多個其他外部電路的電源狀態(tài)的變化。18.如權(quán)利要求14所述的系統(tǒng)，其中所述調(diào)試控制電路被配置為接收來自外部調(diào)試器的第一測試模式選擇信號和測試時鐘信號。19.如權(quán)利要求18所述的系統(tǒng)，其中所述調(diào)試控制電路被耦接為通過所述多個外部接口中的每個外部接口將測試時鐘信號傳送到所述多個外部電路中對應(yīng)的每個外部電路，并且其中所述調(diào)試控制電路還被耦接為通過所述多個外部調(diào)試接口中的每個外部調(diào)試接口將測試模式選擇信號的各獨立實例獨立地傳送到所述多個外部電路中對應(yīng)的每個外部電路。20.如權(quán)利要求19所述的系統(tǒng)，其中所述調(diào)試控制電路被耦接為在所述第一電源域正在接收電力時將測試時鐘信號和測試模式選擇信號的各個實例傳送到DIB。
【文檔編號】G01R31/28GK106066453SQ201610250250
【公開日】2016年11月2日
【申請日】2016年4月21日 公開號201610250250.X, CN 106066453 A, CN 106066453A, CN 201610250250, CN-A-106066453, CN106066453 A, CN106066453A, CN201610250250, CN201610250250.X
【發(fā)明人】J·D·拉米薩亞, M·古拉蒂, M·P·小利徹滕伯格
【申請人】蘋果公司