Ntc熱敏芯片的測試方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種NTC熱敏芯片的測試方法，屬于電子元件制備領(lǐng)域。測試得到同一批待測產(chǎn)品中1個(gè)基準(zhǔn)產(chǎn)品和1個(gè)限度產(chǎn)品，并計(jì)算得到二者的偏差；在常溫下將基準(zhǔn)產(chǎn)品和限度產(chǎn)品接入熱敏電阻測試儀進(jìn)行測試，比較二者得出百分偏差值；在熱敏電阻測試儀中設(shè)定合格品的阻值范圍；將待測產(chǎn)品和基準(zhǔn)產(chǎn)品置于常溫環(huán)境下進(jìn)行恒溫處理，并連接熱敏電阻測試儀進(jìn)行測試，若待測產(chǎn)品阻值符合設(shè)定的范圍，則為合格品。本發(fā)明將NTC熱敏芯片的測試由油槽/水槽環(huán)境轉(zhuǎn)變成常態(tài)環(huán)境下的測試，其對測試環(huán)境要求低，測試過程無需上下夾具，直接測試，簡化了測試過程，提高了測試效率，其測試速度為油槽測試方法的8倍左右。
【專利說明】
NTC熱敏芯片的測試方法
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本發(fā)明涉及一種電子元件的測試方法，具體講是一種NTC熱敏芯片的測試方法，屬于電子元件制備領(lǐng)域。
【背景技術(shù)】
[0002]NTC熱敏芯片/電阻器(傳感器)對本身阻值精度有嚴(yán)格的要求。NTC熱敏芯片/電阻器(傳感器)阻值受溫度影響很大，測試過程通常對NTC熱敏芯片/電阻器(傳感器)環(huán)境要求較高，一般都是在恒溫水槽/油槽中測試，NTC熱敏芯片只能在不導(dǎo)電的介質(zhì)中測試;芯片都比較小，測試過程麻煩且效率低。如果在油中測試的，測試完以后還需要對芯片進(jìn)行清洗。同時(shí)，其測試結(jié)果也是通過人工讀取電阻測試儀上的阻值來判斷是否滿足NTC熱敏芯片/電阻器(傳感器)的精度要求，誤判隱患較大。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題在于克服現(xiàn)有技術(shù)缺陷，提供一種測試過程簡單，測試效率和測試精度高的NTC熱敏芯片測試方法。
[0004]為了解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明提供的NTC熱敏芯片的測試方法，包括以下步驟:
[0005]1)、通過油槽/水槽測試方法在同一批待測產(chǎn)品中尋找任一溫度下I個(gè)阻值接近產(chǎn)品規(guī)格中心值RS的產(chǎn)品，記錄阻值，作為基準(zhǔn)產(chǎn)品；并在所述同一溫度下尋找I個(gè)阻值接近產(chǎn)品規(guī)格下限或上限值的產(chǎn)品，記錄阻值為RC，作為限度產(chǎn)品；計(jì)算限度產(chǎn)品阻值RC與規(guī)格中心值產(chǎn)品RS的偏差C，C=RC/RS-1 ；
[0006]2)、在常溫下將基準(zhǔn)產(chǎn)品接入熱敏電阻測試儀的基準(zhǔn)端、限度產(chǎn)品接入熱敏電阻測試儀進(jìn)行測試，得出一百分偏差值X;
[0007]3)、如果待測產(chǎn)品精度為±Y，則在熱敏電阻測試儀中將合格品的阻值精度范圍設(shè)定為:X+(Y-C)_2Y至X+(Y-C)；
[0008]4)、將待測產(chǎn)品和基準(zhǔn)產(chǎn)品置于常溫環(huán)境下進(jìn)行恒溫處理，待測產(chǎn)品連接熱敏電阻測試儀的測試端，基準(zhǔn)產(chǎn)品連接熱敏電阻測試儀的基準(zhǔn)端進(jìn)行測試，若待測產(chǎn)品阻值符合步驟3)設(shè)定的阻值范圍，則為合格品。
[0009]本發(fā)明中，所述步驟3)恒溫處理方法為:將風(fēng)扇固定在待測產(chǎn)品的正上方，距離待測產(chǎn)品小于I OOcm，持續(xù)向待測產(chǎn)品吹風(fēng)5min以上。
[0010]本發(fā)明中，包括步驟5):將步驟4)的測試結(jié)果與油槽/水槽測試結(jié)果進(jìn)行對比，確定準(zhǔn)確后進(jìn)行批量測試。
[0011]本發(fā)明中，重量步驟I)和2)在不同溫度下測試多次，精確百分偏差值X。
[0012]本發(fā)明的有益效果在于:(1)、本發(fā)明將NTC熱敏芯片的測試由油槽/水槽環(huán)境轉(zhuǎn)變成常態(tài)環(huán)境下的測試，其對測試環(huán)境要求低，測試過程無需上下夾具，直接測試，簡化了測試過程，提高了測試效率，其測試速度為油槽測試方法的8倍左右；(2)、測完的產(chǎn)品可以直接流轉(zhuǎn)進(jìn)入后續(xù)工序，無需再進(jìn)行清洗后流轉(zhuǎn)，避免污染產(chǎn)品，簡化了工序；(3)、通過調(diào)整測試儀器發(fā)出蜂鳴聲自動(dòng)判定待測試產(chǎn)品是否滿足阻值精度要求，避免了人工誤判。
【附圖說明】
[0013]圖1為本發(fā)明測試環(huán)境設(shè)置示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0014]下面結(jié)合附圖對本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)說明。
[0015]本發(fā)明的NTC熱敏芯片測試方法，具體步驟如下:
[0016]1、采用現(xiàn)有技術(shù)中常用的油槽測試方法，在同批待測產(chǎn)產(chǎn)品中尋找I個(gè)阻值接近該批產(chǎn)品規(guī)格中心值RS的產(chǎn)品，記錄阻值，作為基準(zhǔn)產(chǎn)品；在同一環(huán)境下尋找I個(gè)阻值接近該批產(chǎn)品規(guī)格下限或上限的產(chǎn)品，記錄阻值為RC，作為限度產(chǎn)品。計(jì)算限度產(chǎn)品阻值與規(guī)格中心值RS的偏差C，C=RC/RS-1。
[0017]2、將基準(zhǔn)產(chǎn)品接入熱敏電阻測試儀的基準(zhǔn)端、限度產(chǎn)品接入HG2515熱敏電阻測試儀的測試端，選擇比較模式、百分顯示方式分選，得出基準(zhǔn)產(chǎn)品與限度產(chǎn)品之間的百分偏差值X。本發(fā)明中熱敏電阻測試儀的型號為HG2515型，生產(chǎn)商為深圳市藍(lán)科儀器有限公司。
[0018]3、如果待測產(chǎn)品的精度為± Y，則在熱敏電阻測試儀中將合格品的阻值精度范圍設(shè)定為:X+(Y-C)-2Y 至 X+(Y-C)。
[0019]4、在熱敏電阻測試儀2的前上方、待測產(chǎn)品4的正上方固定安裝風(fēng)扇I，風(fēng)扇I距離待測產(chǎn)品4距離在10m以內(nèi)，風(fēng)扇I的風(fēng)向向下，如圖1所示；
[0020]5、將待測產(chǎn)品4連接熱敏電阻測試儀2的測試端3，基準(zhǔn)產(chǎn)品連接熱敏電阻測試儀的基準(zhǔn)端5，然后啟動(dòng)風(fēng)扇I向下吹風(fēng)5min以上，確保待測產(chǎn)品4和基準(zhǔn)產(chǎn)品的溫度與環(huán)境溫度保持一致，如圖1所示；
[0021]6、啟動(dòng)熱敏電阻測試儀進(jìn)行測試，若待測產(chǎn)品阻值符合熱敏電阻測試儀范圍的設(shè)定，則熱敏電阻測試儀發(fā)出蜂鳴聲，提示待測產(chǎn)品阻值合格。
[0022]7、重復(fù)執(zhí)行步驟I至6進(jìn)行多批次產(chǎn)品測試，并將測試產(chǎn)品再進(jìn)行油槽測試，然后進(jìn)行對比確定正確后，進(jìn)行批量測試。
[0023]以具體實(shí)施例進(jìn)行說明:
[0024]1、用油槽方法(油槽溫度設(shè)為25°C)實(shí)測同批次中I個(gè)接近該批產(chǎn)品規(guī)格中心值RS(中心值為1k Ω )的NTC熱敏芯片的電阻，其阻值為9.98k Ω，作為標(biāo)準(zhǔn)電阻，即基準(zhǔn)產(chǎn)品；設(shè)該批產(chǎn)品的實(shí)際要求測試范圍為R25:1OkQ ±10%;然后，在油槽中測得接近一個(gè)該批產(chǎn)品規(guī)格下限的NTC熱敏芯片電阻RC，其阻值為9.83k Ω，作為限度產(chǎn)品；
[0025]2、計(jì)算限度產(chǎn)品阻值與規(guī)格中心值RS的偏差C，C = RC/RS-1 = 9.83/10-1 =-0.017ο
[0026]3、將標(biāo)準(zhǔn)電阻接入熱敏電阻測試儀的基準(zhǔn)端、限度產(chǎn)品接熱敏電阻測試儀的測試端，選擇比較模式、百分顯示方式分選，比較得出基準(zhǔn)產(chǎn)品與限度產(chǎn)品之間的百分偏差值X，X:-0.015(百分顯示為-1.5%) O
[0027]4、如果待測產(chǎn)品的精度為±2%，則在熱敏電阻測試儀中將合格品的阻值精度范圍設(shè)定為:父+(丫-(:)-2￥至父+(￥-0，即:-0.015+(0.02+0.017)-2*0.02至-0.015+(0.02+0.017)，最終范圍為-0.18%至+2.2%。
[0028]5、待測產(chǎn)品連接熱敏電阻測試儀的測試端，基準(zhǔn)產(chǎn)品連接熱敏電阻測試儀的基準(zhǔn)端，然后啟動(dòng)風(fēng)扇向下吹風(fēng)5min，啟動(dòng)熱敏電阻測試儀進(jìn)行測試，若待測產(chǎn)品阻值符設(shè)定的范圍-0.18 %至+2.2 %，則熱敏電阻測試儀發(fā)出蜂鳴聲，提示待測產(chǎn)品阻值合格。
[0029]在實(shí)際測試過程中，基準(zhǔn)產(chǎn)品與限度產(chǎn)品之間的百分偏差值X隨環(huán)境溫度變化發(fā)生波動(dòng)，因此在測試過程中可進(jìn)行多次測度，確定基準(zhǔn)產(chǎn)品與限度產(chǎn)品之間的百分偏差值X，以修正熱敏電阻測試儀中合格品的阻值范圍。
[0030]作為本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)知道，本發(fā)明技術(shù)方案中的油槽測試方法也可以采用水槽測試方法進(jìn)行替代。
[0031]以上所述僅是本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式，應(yīng)當(dāng)指出，對于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本發(fā)明技術(shù)原理的前提下，還可以做出若干改進(jìn)和變型，這些改進(jìn)和變型也應(yīng)視為本發(fā)明的保護(hù)范圍。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種NTC熱敏芯片的測試方法，其特征在于包括以下步驟: 1)、通過油槽/水槽測試方法在同一批待測產(chǎn)品中尋找任一溫度下I個(gè)阻值接近產(chǎn)品規(guī)格中心值RS的產(chǎn)品，記錄阻值，作為基準(zhǔn)產(chǎn)品；并在所述同一溫度下尋找I個(gè)阻值接近產(chǎn)品規(guī)格下限或上限值的產(chǎn)品，記錄阻值為RC，作為限度產(chǎn)品；計(jì)算限度產(chǎn)品阻值RC與規(guī)格中心值產(chǎn)品RS的偏差C，C=RC/RS-1 ； 2)、在常溫下將基準(zhǔn)產(chǎn)品接入熱敏電阻測試儀的基準(zhǔn)端、限度產(chǎn)品接入熱敏電阻測試儀進(jìn)行測試，得出一百分偏差值X; 3)、如果待測產(chǎn)品精度為±Y，則在熱敏電阻測試儀中將合格品的阻值精度范圍設(shè)定為:X+(Y-C)-2Y至X+(Y-C); 4)、將待測產(chǎn)品和基準(zhǔn)產(chǎn)品置于常溫環(huán)境下進(jìn)行恒溫處理，待測產(chǎn)品連接熱敏電阻測試儀的測試端，基準(zhǔn)產(chǎn)品連接熱敏電阻測試儀的基準(zhǔn)端進(jìn)行測試，若待測產(chǎn)品阻值符合步驟3)設(shè)定的阻值范圍，則為合格品。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的NTC熱敏芯片的測試方法，其特征在于所述步驟3)恒溫處理方法為:將風(fēng)扇固定在待測產(chǎn)品的正上方，距離待測產(chǎn)品小于100cm，持續(xù)向待測產(chǎn)品吹風(fēng)5min以上。3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的NTC熱敏芯片的測試方法，其特征在于包括步驟5):將步驟4)的測試結(jié)果與油槽/水槽測試結(jié)果進(jìn)行對比，確定準(zhǔn)確后進(jìn)行批量測試。4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的NTC熱敏芯片的測試方法，其特征在于:重量步驟I)和2)在不同溫度下測試多次，精確百分偏差值X。
【文檔編號】G01K15/00GK105841846SQ201610362528
【公開日】2016年8月10日
【申請日】2016年5月26日
【發(fā)明人】湯成平, 劉剛, 王梅鳳, 高進(jìn), 薛云峰, 唐敏
【申請人】句容市博遠(yuǎn)電子有限公司