一種圓錐面上鍵槽深度的檢測(cè)方法、加工調(diào)整方法及檢具的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種用于檢測(cè)和加工調(diào)整圓錐面上鍵槽深度的方法及檢測(cè)鍵槽深度的檢具，屬于機(jī)械加工技術(shù)領(lǐng)域。
【背景技術(shù)】
[0002]鍵傳動(dòng)是動(dòng)力傳動(dòng)形式之一，鍵與傳動(dòng)零件上的鍵槽進(jìn)行裝配配合。在加工鍵槽的過(guò)程中，對(duì)于圓錐體上半圓鍵槽深度的測(cè)量比較困難。一般采取以下測(cè)量方法:
[0003]1、用高度尺測(cè)量:
[0004]在平板上將零件傾斜放置，使圓錐體側(cè)母線與平板平行(用高度尺推平)，然后，高度尺在錐體側(cè)母線處清零，下降高度尺杠桿表找到半圓鍵槽最低點(diǎn)，這時(shí)數(shù)顯表上讀數(shù)即為鍵槽深度。此測(cè)量方法可以得到具體深度數(shù)值，但零件須傾斜放置，且不同的零件工裝也有區(qū)別，結(jié)構(gòu)較復(fù)雜；
[0005]2、三坐標(biāo)檢測(cè):
[0006]三坐標(biāo)檢測(cè)是通過(guò)測(cè)頭采集數(shù)據(jù)建立坐標(biāo)系，再根據(jù)所檢測(cè)要素采集所需的數(shù)據(jù)，通過(guò)計(jì)算機(jī)分析計(jì)算給出檢測(cè)結(jié)果報(bào)告。三坐標(biāo)檢測(cè)準(zhǔn)確可靠，目前應(yīng)用廣泛。但由于三坐標(biāo)設(shè)備對(duì)使用環(huán)境要求較高，不能實(shí)現(xiàn)現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)，往往從送檢到出結(jié)果報(bào)告過(guò)程較長(zhǎng)，時(shí)效性差；
[0007]因此，研究一種簡(jiǎn)單便捷，可現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行檢測(cè)圓錐體上鍵槽深度的工裝檢具成為目前亟待解決的問(wèn)題。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0008]本發(fā)明的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)的不足并提供一種用于檢測(cè)和加工調(diào)整圓錐面上鍵槽深度的方法及檢測(cè)鍵槽深度的檢具，可在加工現(xiàn)場(chǎng)對(duì)圓錐面上鍵槽深度進(jìn)行快速、便捷、準(zhǔn)確的檢測(cè)，并且可確定鍵槽的調(diào)整量。
[0009]實(shí)現(xiàn)本發(fā)明目的所采用的技術(shù)方案為，一種圓錐面上鍵槽深度的檢測(cè)方法，包括如下步驟:
[0010](I)將錐度與圓錐面錐度相同的錐套套于待測(cè)工件的圓錐面上，錐套的上端面突出于待測(cè)工件的上端面，調(diào)整錐套位置使得錐套上端面保持水平，以錐套的水平上端面為基準(zhǔn)面，測(cè)量基準(zhǔn)面的基準(zhǔn)高度H;
[0011](2)取下錐套，將形狀與鍵槽形狀相匹配、高度為鍵槽的最小極限深度的下偏差鍵裝入鍵槽中，套上錐套并且調(diào)整錐套位置使得錐套上端面保持水平，測(cè)量基準(zhǔn)面的下偏差高度h1;
[0012](3)比較基準(zhǔn)高度H與下偏差高度In，若1η = Η，進(jìn)入步驟(4);若&>Η，則鍵槽深度過(guò)淺，待測(cè)工件不合格，檢測(cè)完成；
[0013](4)取下錐套和下偏差鍵，將形狀與鍵槽形狀相匹配、高度為鍵槽的最大極限深度的上偏差鍵裝入鍵槽中，套上錐套并且調(diào)整錐套位置使得錐套上端面保持水平，測(cè)量基準(zhǔn)面的上偏差高度h2;
[0014](5)比較基準(zhǔn)高度H與上偏差高度h2，若h2 >H，則鍵槽深度合適，待測(cè)工件合格，檢測(cè)完成;若h2 = H，則鍵槽深度過(guò)深，待測(cè)工件不合格，檢測(cè)完成。
[0015]步驟(I)中套錐套之前首先去除待測(cè)工件表面毛刺。
[0016]—種基于上述檢測(cè)方法的圓錐面上鍵槽深度的加工調(diào)整方法，包括如下步驟:
[0017](I)判斷In與H的大小，若1η>Η，則實(shí)際鍵槽深度小于設(shè)計(jì)深度，根據(jù)公式A1 = Iu-H計(jì)算基準(zhǔn)面的位移量A1，根據(jù)公SL1 =Θ/2)計(jì)算調(diào)整量L1，其中Θ為錐套的錐角，取下錐套和下偏差鍵，對(duì)被測(cè)鍵槽進(jìn)行返工，返工深度調(diào)整量為L(zhǎng)1，返工后將下偏差鍵裝入返工調(diào)整后的鍵槽中，套上錐套并且調(diào)整錐套位置使得錐套上端面保持水平，再次測(cè)量基準(zhǔn)面的下偏差高度，重復(fù)返工至基準(zhǔn)面的下偏差高度等于基準(zhǔn)高度，調(diào)整完成;若Iu = H,進(jìn)行步驟(2);
[0018](2)判斷hAH的大小，若h2>H，調(diào)整完成；若h2 = H，則實(shí)際鍵槽深度大于設(shè)計(jì)深度，在鍵槽里安裝調(diào)整片后再次安裝上偏差鍵，套上錐套并且調(diào)整錐套位置使得錐套上端面保持水平，改變調(diào)整片厚度至h2>H，進(jìn)行步驟(3);
[0019](3)根據(jù)公式A2 = h2—H計(jì)算基準(zhǔn)面的位移量A2，根據(jù)公式L2=A2*2sin(0/2)計(jì)算位移量L2,取下錐套和上偏差鍵，將調(diào)整片取出并測(cè)量調(diào)整片的厚度δ，根據(jù)公式Ι/=δ — UH+算基本調(diào)整量L’，沿鍵槽深度方向?qū)︽I槽加工裝置的位置或進(jìn)刀起始位置進(jìn)行調(diào)整，鍵槽加工裝置位置或進(jìn)刀起始位置的調(diào)整量為L(zhǎng)’?L’+ES，ES為鍵槽深度的上偏差，調(diào)整完成。
[0020]本發(fā)明還對(duì)應(yīng)提供了一種用于上述方法的檢具，包括套于待測(cè)工件圓錐面上的錐套和嵌于待測(cè)工件圓錐面上鍵槽中的鍵，錐套的上端面突出于待測(cè)工件的上端面，鍵的形狀與鍵槽的形狀相匹配。
[0021]所述錐套的圓錐孔的錐度與待測(cè)工件圓錐面的錐度相同，錐套上、下兩端面相對(duì)于圓錐孔中軸線的垂直度不大于0.02_。
[0022]所述鍵包括下偏差鍵和上偏差鍵，其中下偏差鍵形狀與鍵槽形狀相匹配、高度為鍵槽的最小極限深度，上偏差鍵形狀與鍵槽形狀相匹配、高度為鍵槽的最大極限深度。
[0023]由上述技術(shù)方案可知，本發(fā)明提供的圓錐面上鍵槽深度的檢測(cè)方法，根據(jù)圓錐面為傾斜的圓弧面、外設(shè)深度檢測(cè)裝置難以固定的特點(diǎn)，通過(guò)錐套和兩個(gè)形狀與鍵槽形狀相同的鍵將位于圓錐面上的鍵槽的深度測(cè)量轉(zhuǎn)化為錐套上端面的高度測(cè)量，錐套套于待測(cè)工件的圓錐面上，鍵嵌于鍵槽中，鍵槽和圓錐面的錐度分別對(duì)鍵和錐套起固定和限位作用，合理利用的待測(cè)工件自身的結(jié)構(gòu);兩個(gè)鍵的高度分別為鍵槽的兩個(gè)極限尺寸，當(dāng)安裝鍵槽后，待測(cè)工件圓錐面的鍵槽處直徑改變，直徑的改變量通過(guò)圓錐面結(jié)構(gòu)轉(zhuǎn)化為容易測(cè)量的高度變化，通過(guò)現(xiàn)有高度測(cè)量裝置即可完成鍵槽深度的檢測(cè)，并依此判斷鍵槽深度是否合格，操作過(guò)程及其簡(jiǎn)單，檢測(cè)結(jié)果準(zhǔn)確。
[0024]本發(fā)明提供的鍵槽深度調(diào)整方法，利用直徑的改變量通過(guò)圓錐面結(jié)構(gòu)可轉(zhuǎn)化為容易測(cè)量的高度變化，即利用直徑改變量與高度變化量之間的線性關(guān)系確定鍵槽的調(diào)整量，通過(guò)返工調(diào)整鍵槽深度，并通過(guò)上述極限尺寸檢測(cè)方法重新檢測(cè)鍵槽深度是否合格，操作過(guò)程及其簡(jiǎn)單，調(diào)整質(zhì)量高；對(duì)于鍵槽深度過(guò)大的零件，無(wú)法通過(guò)返工調(diào)整鍵槽深度，可沿鍵槽深度方向?qū)︽I槽加工裝置的位置或進(jìn)刀起始位置進(jìn)行調(diào)整，保證后續(xù)加工的鍵槽深度符合要求，鍵槽加工裝置的位置調(diào)整量為L(zhǎng)’?L’+ES(鍵槽深度的上偏差)，可避免后續(xù)加工的廣品因鍵槽鐵深至廢。
[0025]上述方法使用的檢具包括錐套和兩個(gè)嵌于待測(cè)工件圓錐面上鍵槽中的鍵，錐套的圓錐孔的錐度與待測(cè)工件圓錐面的錐度相同，使得錐套與待測(cè)工件圓錐面完全貼合，錐套上、下兩端面相對(duì)于圓錐孔中軸線的垂直度不大于0.02mm，兩個(gè)鍵均鍵槽形狀相同，使得鍵與鍵槽完全接觸，上述結(jié)構(gòu)可保證該檢具精度檢測(cè)精度達(dá)到0.05mm;該檢具尤其適用于批量加工的零件。
【附圖說(shuō)明】
[0026]圖1為未安裝鍵的檢測(cè)、調(diào)整實(shí)施圖。
[0027]圖2為合格工件安裝下偏差鍵的檢測(cè)、調(diào)整實(shí)施圖。
[0028]圖3為合格工件安裝上偏差鍵的檢測(cè)、調(diào)整實(shí)施圖。
[0029]圖4為不合格工件安裝下偏差鍵的檢測(cè)、調(diào)整實(shí)施圖。
[0030]圖5為不合格工件安裝上偏差鍵的檢測(cè)、調(diào)整實(shí)施圖。
[0031 ]其中，1-錐套，2-下偏差鍵，3-上偏差鍵，4-基準(zhǔn)面，5-待測(cè)工件，6_鍵槽。
【具體實(shí)施方式】
[0032]下面結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行詳細(xì)具體說(shuō)明，本發(fā)明的內(nèi)容不局限于以下實(shí)施例。
[0033]本發(fā)明提供的一種圓錐面上鍵槽深度的檢測(cè)方法，包括如下步驟:
[0034](I)去除待測(cè)工件5表面毛刺，將錐度與圓錐面錐度相同的錐套