一種塑料顆粒用分析天平的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種天平，尤其涉及一種塑料顆粒用分析天平。
【背景技術(shù)】
[0002]分析天平主要用于測(cè)量產(chǎn)品的質(zhì)量以觀察其物理屬性。然而由于塑料顆粒其本身的因素，使得使用分析天平在進(jìn)行測(cè)量塑料顆粒時(shí)，使用不方便，且難以進(jìn)行準(zhǔn)確測(cè)量。
[0003]因此，有必要提供一種新的技術(shù)方案以克服上述缺陷。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明的目的在于提供一種結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單且測(cè)量方便的塑料顆粒用分析天平。
[0005]為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用如下技術(shù)方案:一種塑料顆粒用分析天平，所述塑料顆粒用分析天平包括框體、位于所述框體下方的支撐腳、位于所述支撐腳之間的收集箱、位于所述框體右側(cè)的手持塊、與手持快固定連接的連接桿、設(shè)置于所述連接桿上的電機(jī)、與電機(jī)連接的卡勾、設(shè)置于所述框體上表面的固定柱、固定柱所支撐的漏斗、設(shè)置于所述漏斗內(nèi)的緩沖片、設(shè)置于所述框體內(nèi)的支撐柱、托盤、與托盤固定連接的托桿、位于所述支撐柱一側(cè)的收容柱、位于所述支撐柱右側(cè)的固定架及延伸臂，所述位于所述支撐柱左側(cè)的托桿下方設(shè)有一通槽。
[0006]所述框體呈長(zhǎng)方體。
[0007]所述支撐腳的上表面與所述框體的下表面固定連接。
[0008]所述收容柱的上端向左傾斜，所述收容柱與所述支撐柱之間形成一開口。
[0009]所述延伸臂位于所述固定架的下方，所述延伸臂呈L型。
[0010]所述手持塊呈長(zhǎng)方體且位于所述框體外。
[0011]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明具有如下有益效果:本發(fā)明塑料顆粒用分析天平由于結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，使用方便，提高了工作效率，滿足了用戶的需求。
【附圖說明】
[0012]圖1為本發(fā)明塑料顆粒用分析天平的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0013]如圖1所示，本發(fā)明塑料顆粒用分析天平主要包括框體1、位于所述框體I下方的支撐腳2、位于所述支撐腳2之間的收集箱3、位于所述框體I右側(cè)的手持塊5、與手持快5固定連接的連接桿6、設(shè)置于所述連接桿6上的電機(jī)7、與電機(jī)7連接的卡勾8、設(shè)置于所述框體I上表面的固定柱16、固定柱16所支撐的漏斗4、設(shè)置于所述漏斗4內(nèi)的緩沖片15、設(shè)置于所述框體I內(nèi)的支撐柱13、托盤10、與托盤10固定連接的托桿11、位于所述支撐柱13一側(cè)的收容柱17、位于所述支撐柱13右側(cè)的固定架19及延伸臂21。
[0014]如圖1所示，所述框體I呈長(zhǎng)方體。所述支撐腳2的上表面與所述框體I的下表面固定連接。所述收集箱3上表面向下凹陷形成一凹槽。所述支撐柱13的下表面與所述框體I的下內(nèi)壁固定連接，所述支撐柱13的上表面固定連接有儀表盤14，用于顯示質(zhì)量。所述托盤10位于所述支撐柱13的兩側(cè)，且其上表面的兩端設(shè)有呈傾斜的擋板。所述托盤10的下表面設(shè)有托桿11。所述托桿11及托盤10可以轉(zhuǎn)動(dòng)。所述位于所述支撐柱13左側(cè)的托桿11下方設(shè)有一通槽12，其與所述托盤10的上表面相通。所述托桿11的另一端設(shè)有開口。所述支撐柱13的左側(cè)還設(shè)有一收容柱17，所述收容柱17的上端向左傾斜。所述收容柱17與所述支撐柱13之間形成一開口 20，使得測(cè)試完的塑料顆粒從此流出。所述支撐柱13右側(cè)設(shè)有一固定架19，所述固定架19的一端與所述框體I的下內(nèi)壁固定連接，所述固定架19與所述框體I的左內(nèi)壁之間形成一通道，使得測(cè)試完成后砝碼落至所述延伸臂21上。所述延伸臂21位于所述固定架19的下方，所述延伸臂21呈L型。所述手持塊5呈長(zhǎng)方體且位于所述框體I外。所述連接桿6 —端與所述手持塊5的左表面固定連接，另一端穿過所述框體I的右壁延伸至所述框體I內(nèi)與所述電機(jī)7固定連接，所述電機(jī)7與所述卡勾8連接使得所述卡勾8可以上下移動(dòng)，從而將延伸臂21上的砝碼勾住然后送至右側(cè)的托盤上。所述固持柱為成分那個(gè)題，所述漏斗15上部分等腰梯形，下部分為圓柱體。所述圓柱體部分內(nèi)側(cè)設(shè)有緩沖片，以使得塑料顆粒緩慢落至所述左側(cè)的托盤上。
[0015]如圖1所示，本發(fā)明塑料顆粒用分析天平工作時(shí)，首先將塑料顆粒放置漏斗15上，待塑料顆粒全部落至左側(cè)托盤10后，加至砝碼使得兩托盤平行，待測(cè)量完畢后，使用卡勾8繼續(xù)勾住砝碼放置右側(cè)的托盤10，直至右側(cè)托盤頂靠在所述固定架19上。然后左側(cè)托盤10內(nèi)的塑料顆粒通過通槽12落至所述收集箱4內(nèi)，同時(shí)砝碼不斷的同所述右側(cè)托盤10上滑落，通過所述固定架19落至所述延伸臂21上，至此本分析天平的工作過程結(jié)束。
[0016]顯然，上述實(shí)施例僅僅是為了清楚地說明所作的舉例，而并非對(duì)實(shí)施方式的限定。對(duì)于所屬領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在上述說明的基礎(chǔ)上還可以做出其他不同形式的變化或者變動(dòng)。這里無需也無法對(duì)所有實(shí)施方式予以窮舉。而由此所引申出的顯而易見的變化或者變動(dòng)仍處于本發(fā)明創(chuàng)造的保護(hù)范圍之中。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種塑料顆粒用分析天平，其特征在于:所述塑料顆粒用分析天平包括框體、位于所述框體下方的支撐腳、位于所述支撐腳之間的收集箱、位于所述框體右側(cè)的手持塊、與手持快固定連接的連接桿、設(shè)置于所述連接桿上的電機(jī)、與電機(jī)連接的卡勾、設(shè)置于所述框體上表面的固定柱、固定柱所支撐的漏斗、設(shè)置于所述漏斗內(nèi)的緩沖片、設(shè)置于所述框體內(nèi)的支撐柱、托盤、與托盤固定連接的托桿、位于所述支撐柱一側(cè)的收容柱、位于所述支撐柱右側(cè)的固定架及延伸臂，所述位于所述支撐柱左側(cè)的托桿下方設(shè)有一通槽。2.如權(quán)利要求1所述之塑料顆粒用分析天平，其特征在于:所述框體呈長(zhǎng)方體。3.如權(quán)利要求2所述之塑料顆粒用分析天平，其特征在于:所述支撐腳的上表面與所述框體的下表面固定連接。4.如權(quán)利要求3所述之塑料顆粒用分析天平，其特征在于:所述收容柱的上端向左傾斜，所述收容柱與所述支撐柱之間形成一開口。5.如權(quán)利要求4所述之塑料顆粒用分析天平，其特征在于:所述延伸臂位于所述固定架的下方，所述延伸臂呈L型。6.如權(quán)利要求5所述之塑料顆粒用分析天平，其特征在于:所述手持塊呈長(zhǎng)方體且位于所述框體外。
【專利摘要】一種塑料顆粒用分析天平，包括框體、位于所述框體下方的支撐腳、位于所述支撐腳之間的收集箱、位于所述框體右側(cè)的手持塊、與手持快固定連接的連接桿、設(shè)置于所述連接桿上的電機(jī)、與電機(jī)連接的卡勾、設(shè)置于所述框體上表面的固定柱、固定柱所支撐的漏斗、設(shè)置于所述漏斗內(nèi)的緩沖片、設(shè)置于所述框體內(nèi)的支撐柱、托盤、與托盤固定連接的托桿、位于所述支撐柱一側(cè)的收容柱、位于所述支撐柱右側(cè)的固定架及延伸臂，所述位于所述支撐柱左側(cè)的托桿下方設(shè)有一通槽。本發(fā)明塑料顆粒用分析天平由于結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，使用方便，提高了工作效率，滿足了用戶的需求。
【IPC分類】G01N5/00
【公開號(hào)】CN105588775
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201410565822
【發(fā)明人】李玉生
【申請(qǐng)人】天津思邁德高分子科技有限公司
【公開日】2016年5月18日
【申請(qǐng)日】2014年10月22日