平整度檢測裝置的制造方法
【技術領域】
[0001 ]本發(fā)明涉及一種平整度檢測裝置。
【背景技術】
[0002]近年來，隨著大數據應用的興起和云計算的快速增長，對長時間、大容量、高運算能力的服務器需求日益凸顯，從而使得服務器的集成度不斷提升，導致其重量也越來越重，進而服務器下墜的程度也越來越嚴重，如此，提高了部署在機柜內部的服務器(業(yè)界也稱為節(jié)點)的運維難度。現有技術中，通常會對服務器的下墜(Sag)程度，即平整度進行嚴格的管控，以優(yōu)化服務器結構，從而降低機柜內服務器的運維難度。
[0003]目前，服務器的平整度是通過測量其底面上的若干點相對于基準面的高度進行檢測。具體檢測時，首先將待測服務器水平懸空放置于承載臺上，之后，將所述待測服務器與承載臺之間的支點調整為零點，以形成所述基準面，隨后，通過測量設備測量所述待測服務器底面上的若干點相對于所述基準面的高度，從而以若干測量到的高度評價所述待測服務器的下墜程度。其中，平整度檢測中，尤為重要的是，保證所述零點的準確性，因此，在測量時，需要準確地將所述待測服務器與承載臺之間的支點調整為零點。
[0004]然而，發(fā)明人發(fā)現，現有的零點的調整通常是通過人為目測的方式完成，導致零點的調整精度和調整效率低。

【發(fā)明內容】

[0005]本發(fā)明的目的在于提供一種平整度檢測裝置，以解決現有技術中零點調整精度和調整效率低中的一個或者多個問題。
[0006]為解決上述技術問題，本發(fā)明提供了一種平整度檢測裝置，包括
[0007]—承載機構，用于承載一待測裝置，以限定一承載面；
[0008]—可升降支撐機構，用于支撐所述承載機構，并帶動所述承載機構作升降運動直至將所述承載面調整為一基準面；以及
[0009]—測量機構，用于測量所述待測裝置的一底面與所述基準面的一高度差，以檢測所述待測裝置的平整度。
[0010]可選的，在所述的平整度檢測裝置中，所述承載機構為一多棱柱，每個所述承載機構通過其中一個棱邊承載所述待測裝置。
[0011]可選的，在所述的平整度檢測裝置中，所述承載機構為一三棱柱。
[0012]可選的，在所述的平整度檢測裝置中，所述承載機構承載所述待測裝置的區(qū)域具有容納所述測量機構的缺口。
[0013]可選的，在所述的平整度檢測裝置中，所述承載機構之兩端具有一定位孔，所述可升降支撐機構包括:
[0014]一第一桿件組件，包括:
[0015]—第一桿件，具有一第一桿端及與所述第一桿端對應的一第二桿端；
[0016]—第一旋擰件，設置于所述第一桿端，并能夠沿所述第一桿件旋擰以調整高度；
[0017]一定位柱，設置于所述第一桿端；以及
[0018]一固定柱，剛性固設于所述第一桿件并設置于所述第二桿端一移動距離；
[0019]以及
[0020]一第二桿件組件，包括:
[0021]一第二桿件，具有一第三桿端及與所述第三桿端對應的一第四桿端，所述第三桿端具有一盲孔，所述盲孔之深度為一盲深；以及
[0022]一第二旋擰件，設置于所述第三桿端，并能夠沿所述第二桿件旋擰以調整高度，且能夠使所述第一桿件之所述第二桿端插入所述第二桿件之所述盲孔；
[0023]其中，所述移動距離大于所述盲深;所述可升降支撐機構通過所述定位柱插入所述定位孔支撐所述承載機構。
[0024]可選的，在所述的平整度檢測裝置中，所述第一旋擰件調整所述承載機構與所述可升降支撐機構之間的配合深度。
[0025]可選的，在所述的平整度檢測裝置中，所述第二旋擰件調整所述待測裝置的所述底面與所述基準面的所述高度差。
[0026]可選的，在所述的平整度檢測裝置中，所述測量機構包括:
[0027]—測量部，用于測量所述待測裝置的所述底面與所述基準面的所述高度差；以及
[0028]一支撐部，用于支撐所述測量部。
[0029]可選的，在所述的平整度檢測裝置中，所述測量部為一數顯千分表。
[0030]綜上所述，本發(fā)明的平整度檢測裝置通過設置可升降支撐機構，能夠快速將承載機構的承載面調整為一基準面，相比于現有的人工目測手動將所述承載面調整為所述基準面，提高了基準面的調整精度和調整效率；
[0031]此外，本發(fā)明的可升降支撐機構通過桿件和旋擰件的螺紋配合實現升降，運行安全可靠，使用成本低，而且由于螺紋的間距可以得到精確的控制，因而，通過螺紋來調整所述可升降支撐機構的移動量，調整精度高。
【附圖說明】
[0032]圖1為根據本發(fā)明優(yōu)選實施例的平整度檢測裝置的示意圖；
[0033]圖2為根據本發(fā)明優(yōu)選實施例的承載機構的示意圖；
[0034]圖3為根據本發(fā)明優(yōu)選實施例的可升降支撐機構的示意圖；
[0035]圖4為圖3所示的可升降支撐機構的縱向剖視圖。
[0036]圖中的附圖標記說明如下:
[0037]10-承載機構;20-可升降支撐機構;30-測量機構;40-待測裝置；101-缺口 ； 210-第一桿件組件；211-第一桿件；212-第一旋擰件；213-定位柱；214-固定柱；220-第二桿件組件;221-第二桿件;222-第二旋擰件;311-支撐部;31 Ia-底座;31 Ib-支架;312-測量部。
【具體實施方式】
[0038]為使本發(fā)明的目的、優(yōu)點和特征更加清楚，以下結合附圖1至4對本發(fā)明提出的平整度檢測裝置作進一步詳細說明。需說明的是，附圖均采用非常簡化的形式且均使用非精準的比例，僅用以方便、明晰地輔助說明本發(fā)明實施例的目的。
[0039]圖1為本發(fā)明優(yōu)選實施例的平整度檢測裝置的示意圖。如圖1所示，所述平整度檢測裝置包括承載機構10、可升降支撐機構20和測量機構30，其中，所述承載機構10用于承載一待測裝置40，以限定一承載面，所述可升降支撐機構20用于支撐承載機構10，并帶動承載機構10作升降運動直至將所述承載面調整為一基準面，所述測量機構30用于測量待測裝置40的底面與所述基準面的高度差，以檢測待測裝置40的平整度。
[0040]本實施例的平整度檢測裝置通過設置可升降支撐機構20，使得上述承載面能夠快速地調整為所述基準面，相比于采用人工目測且手動調整的方式，提高了所述基準面的調整精度和調整效率。
[0041]本實施例中，所述待測裝置40例如為一服務器，以通過平整度檢測裝置對所述服務器的下墜度(即平整度)進行檢測，從而優(yōu)化服務器結構，增強服務器的結構強度，進而確保服務器的正常運行，同時也可降低布置于機柜內的服務器的運維難度。在此，將以服務器為例，對上述平整度檢測裝置作更進一步的詳細說明。然而，所述待測裝置40包括但不局限于所述服務器，凡需進行平整度檢測的其他裝置也可適用，具體本發(fā)明并不限定。
[0042]繼續(xù)參閱圖1，所述承載機構10的數量為兩個，且兩個承載機構10水平排列，從而承載待測裝置40。圖2為本發(fā)明優(yōu)選實施例的承載機構的示意圖。如圖2所示，所述承載機構10為一多棱柱，每個承載機構10通過其中一個棱邊承載待測裝置40。本實施例的承載機構10通過線接觸方式承載待測裝置40，可以避免機構干涉，從而確保測量機構30能夠順利測量。優(yōu)選所述承載機構10為一三棱柱，這樣，在滿足承載強度的情況下，結構最為簡單，加工成本低。
[0043]繼續(xù)參閱圖2，優(yōu)選所述承載機構10承載待測裝置40的區(qū)域具有容納測量機構30的缺口 101。此處，所述缺口 101用于起避位作用，以使測量機構30能夠測量到待測裝置40底面上各處的數據，確保平整度檢測的準確度。并且，采用切料讓位的方式形成避位空間，結構簡單，加工方便。具體地說，若所述承載機構10為三棱柱，所述缺口 101由通過三棱柱的一個用于承載待測裝置10的棱邊切料形成。
[0044]接著，圖3為本發(fā)明優(yōu)選實施例的可升降支撐機構的示意圖，圖4為圖3所示的可升降支撐機構的縱向剖視圖。如圖3?4所示，并結合參閱圖1?2，所述承載機構10具有相對的兩端，每一端具有一定位孔(圖1和圖2中均未示出)，所述可升降支撐機構20的數量為四個，且所述可升降支撐機構20包括第一桿件組件210和第二