一種電子能量損失譜數(shù)據包批處理方法
【技術領域】
[0001]本發(fā)明屬于透射電鏡及電子能量損譜領域，涉及一種電子能量損失譜數(shù)據包批處理方法。
【背景技術】
[0002]隨著科學界對材料微觀結構分析的深入，透射電子顯微鏡在科學研宄中的作用越來越顯著，透射電鏡及能損譜儀器的發(fā)展使得實驗中獲取電子能量損失譜數(shù)據包成為可能，而針對透射電鏡采集的數(shù)據進行處理也就越來越成為科研工作的重要內容之一。在透射電子顯微鏡領域，電子能量損失譜(簡稱“能損譜”)是新興的一種微觀分析技術，它可以通過精確測量電子同材料作用后損失的能量來獲得材料的種類，成分，化合價態(tài)，配位數(shù)等等信息。但是由于能損譜不僅對透射電鏡樣品制備要求很高，而且對于數(shù)據的采集，處理都需要大量的時間，精力，對于解釋圖譜也需要了解比一般分析技術更多的物理知識，因此其應用的廣泛性遠遠比不上普通透射電鏡。目前能損譜儀器的生產廠家比較少，其科研人員主要致力于改善能損譜的硬件系統(tǒng)，對于軟件的開發(fā)，數(shù)據的處理等科學領域內的研宄十分稀少。因此在國內外相關領域的科學家為了節(jié)省實驗或者數(shù)據處理的時間，開始逐漸研發(fā)一些單憑透射電鏡或者能損譜儀器無法實現(xiàn)的功能，簡單的比如刪除圖像中的噪點，復雜的可以控制電鏡部件收集各類不同信號等等，但是電子能量損失譜數(shù)據包的批量處理還處于空白狀態(tài)，傳統(tǒng)的電子能量損失譜數(shù)據包的批處理是通過手動完成的，處理速度慢，并且處理的精度不高。

【發(fā)明內容】

[0003]本發(fā)明的目的在于克服上述現(xiàn)有技術的缺點，提供了一種電子能量損失譜數(shù)據包批處理方法，該處理方法可以自動的完成對電子能量損失譜數(shù)據包的批處理，并且處理速度塊，處理精度高。
[0004]為達到上述目的，本發(fā)明所述的電子能量損失譜數(shù)據包批處理方法包括以下步驟:
[0005]1)預設電子能量損失譜數(shù)據的范圍，指定需要批處理的電子能量損失譜數(shù)據包，再從指定的電子能量損失譜數(shù)據包中依次讀取電子能量損失譜數(shù)據，然后依次對電子能量損失譜數(shù)據進行二次求導，并獲得求導后的各電子能量損失譜數(shù)據對應的譜線；
[0006]2)刪除求導后各電子能量損失譜數(shù)據對應的譜線中負值的部分，檢測求導后各電子能量損失譜數(shù)據對應的譜線中最高的兩個峰值A1及A2，然后計算求導后得到各電子能量損失譜數(shù)據對應的譜線中最高的兩個峰值A1及A2的比值A3 ；
[0007]3)按照各電子能量損失譜數(shù)據在電子能量損失譜數(shù)據包中的排列順序顯示求導后各電子能量損失譜數(shù)據對應的比值A3。
[0008]還包括按照各能量電子損失數(shù)據在電子能量損失譜數(shù)據包中的排列順序顯示求導后各電子能量損失譜數(shù)據對應譜線中最高的兩個峰值A1及A2在譜線上的位置。
[0009]所述電子能量損失譜數(shù)據包為二維電子能量損失譜數(shù)據包或三維電子能量損失譜數(shù)據包。
[0010]當所述電子能量損失譜數(shù)據包為二維電子能量損失譜數(shù)據包時，各電子能量損失譜數(shù)據在電子能量損失譜數(shù)據包中按自上到下依次排列。
[0011]當所述電子能量損失數(shù)據譜包為三維電子能量損失譜數(shù)據包時，各電子能量損失譜數(shù)據在電子能量損失譜數(shù)據包中按從左到右、自上到下依次排列。
[0012]A3 = Al/A2o
[0013]A3 = Α2/Α1ο
[0014]本發(fā)明具有以下有益效果:
[0015]本發(fā)明所述的電子能量損失譜數(shù)據包批處理方法在對電子能量損失譜數(shù)據包進行批處理時，通過對待處理的電子能量損失譜數(shù)據包中的電子能量損失譜數(shù)據依次進行二次求導，獲得求導后各電子能量損失譜數(shù)據對應的譜線，然后計算求導后各譜線上最高的兩個峰值的比值，再根據各電子能量損失譜數(shù)據在電子能量損失譜數(shù)據包中的排列順序顯示求導后各譜線上最高的兩個峰值的比值，從而實現(xiàn)對電子能量損失譜數(shù)據包的自動批處理，處理速度快，精度高，并且簡化了數(shù)據處理工作流程，減輕了科研工作者后期處理數(shù)據的工作量。
【附圖說明】
[0016]圖1為實施例一中電子能量損失譜線的示意圖；
[0017]圖2為實施例一中電子能量損失譜數(shù)據包的示意圖；
[0018]圖3為實施例一批處理結果的示意圖。
【具體實施方式】
[0019]下面結合附圖對本發(fā)明做進一步詳細描述:
[0020]本發(fā)明所述的電子能量損失譜數(shù)據包批處理方法包括以下步驟:
[0021]I)預設電子能量損失譜數(shù)據的范圍，指定需要批處理的電子能量損失譜數(shù)據包，再從指定的電子能量損失譜數(shù)據包中依次讀取電子能量損失譜數(shù)據，然后依次對電子能量損失譜數(shù)據進行二次求導，獲得求導后各電子能量損失譜數(shù)據對應的譜線；
[0022]2)刪除求導后各電子能量損失譜數(shù)據對應的譜線中負值的部分，檢測求導后各電子能量損失譜數(shù)據對應的譜線中最高的兩個峰值Al及A2，然后計算得到求導后各電子能量損失譜數(shù)據對應的譜線中最高的兩個峰值Al及A2的比值A3 ；
[0023]3)按照各電子能量損失譜數(shù)據在電子能量損失譜數(shù)據包中的排列順序顯示求導后各電子能量損失譜數(shù)據對應的比值A3。
[0024]本發(fā)明還包括按照各能量電子損失數(shù)據在電子能量損失譜數(shù)據包中的排列順序顯示求導后各電子能量損失譜數(shù)據對應譜線中最高的兩個峰值Al及A2在譜線上的位置。
[0025]需要說明的是，電子能量損失譜數(shù)據包為二維電子能量損失譜數(shù)據包或三維電子能量損失譜數(shù)據包；當所述電子能量損失譜數(shù)據包為二維電子能量損失譜數(shù)據包時，各電子能量損失譜數(shù)據在電子能量損失譜數(shù)據包中按自上到下依次排列；當所述電子能量損失數(shù)據譜包為三維電子能量損失譜數(shù)據包時，各電子能量損失譜數(shù)據在電子能量損失譜數(shù)據包中按從左到右、自上到下依次排列。并且A3 = A1/A2或者A3 = A2/A1。
[0026]實施例一
[0027]打開如圖1所示的電子能量損失譜線，所述電子能量損失譜數(shù)據包如圖2所示，通過本發(fā)明所述的電子能量損失譜數(shù)據包批處理方法對圖1所示的電子能量損失譜數(shù)據包進行處理的結果如圖3所示。
[0028]本發(fā)明適用于二維電子能損譜數(shù)據包及三維電子能損譜數(shù)據包，而且電子能量損失譜數(shù)據包內的譜線含有某些元素特征的“白線”，通過本方法可以批量處理電子能量損失譜數(shù)據，得到“白線”的峰值及其二次求導譜線峰的積分比值，此數(shù)據可用于定量分析元素的化合價態(tài)或配位。
【主權項】
1.一種電子能量損失譜數(shù)據包批處理方法，其特征在于，包括以下步驟: 1)預設電子能量損失譜數(shù)據的范圍，指定需要批處理的電子能量損失譜數(shù)據包，再從指定的電子能量損失譜數(shù)據包中依次讀取電子能量損失譜數(shù)據，然后依次對電子能量損失譜數(shù)據進行二次求導，獲得求導后各電子能量損失譜數(shù)據對應的譜線； 2)刪除求導后各電子能量損失譜數(shù)據對應的譜線中負值的部分，檢測求導后各電子能量損失譜數(shù)據對應的譜線中最高的兩個峰值Al及A2，然后計算得到求導后各電子能量損失譜數(shù)據對應的譜線中最高的兩個峰值Al及A2的比值A3 ； 3)按照各電子能量損失譜數(shù)據在電子能量損失譜數(shù)據包中的排列順序顯示求導后各電子能量損失譜數(shù)據對應的比值A3。
2.根據權利要求1所述的電子能量損失譜數(shù)據包批處理方法，其特征在于，還包括按照各能量電子損失數(shù)據在電子能量損失譜數(shù)據包中的排列順序顯示求導后各電子能量損失譜數(shù)據對應譜線中最高的兩個峰值Al及A2在譜線上的位置。
3.根據權利要求1所述的電子能量損失譜數(shù)據包批處理方法，所述電子能量損失譜數(shù)據包為二維電子能量損失譜數(shù)據包或三維電子能量損失譜數(shù)據包。
4.根據權利要求3所述的電子能量損失譜數(shù)據包批處理方法，其特征在于，當所述電子能量損失譜數(shù)據包為二維電子能量損失譜數(shù)據包時，各電子能量損失譜數(shù)據在電子能量損失譜數(shù)據包中按自上到下依次排列。
5.根據權利要求3所述的電子能量損失譜數(shù)據包批處理方法，其特征在于，當所述電子能量損失數(shù)據譜包為三維電子能量損失譜數(shù)據包時，各電子能量損失譜數(shù)據在電子能量損失譜數(shù)據包中按從左到右、自上到下依次排列。
6.根據權利要求1所述的電子能量損失譜數(shù)據包批處理方法，其特征在于，A3= Al/A2o
7.根據權利要求1所述的電子能量損失譜數(shù)據包批處理方法，其特征在于，A3= A2/Al0
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種電子能量損失譜數(shù)據包批處理方法，包括以下步驟：1)指定需要批處理的電子能量損失譜數(shù)據包，再從指定的電子能量損失譜數(shù)據包中依次讀取電子能量損失譜數(shù)據，然后依次對電子能量損失譜數(shù)據進行二次求導，獲得求導后各電子能量損失譜數(shù)據對應的譜線；2)刪除求導后各電子能量損失譜數(shù)據對應的譜線中負值的部分，檢測求導后各電子能量損失譜數(shù)據對應的譜線中最高的兩個峰值，然后計算得到求導后各電子能量損失譜數(shù)據對應的譜線中最高的兩個峰值的比值；3)按照各電子能量損失譜數(shù)據在電子能量損失譜數(shù)據包中的排列順序顯示求導后各電子能量損失譜數(shù)據對應的比值。本發(fā)明可以自動的完成對電子能量損失譜數(shù)據包的批處理。
【IPC分類】G01N23-04
【公開號】CN104777177
【申請?zhí)枴緾N201510036040
【發(fā)明人】楊光, 權誠
【申請人】西安交通大學
【公開日】2015年7月15日
【申請日】2015年1月23日