降齒條架、3-12升降齒條、3-13定位卡勾、3_15限位凸起、3_18脊型凸起、3-21脫離缺齒、4-1艙門、4-2艙門板、4-3艙門柱、4-4艙門卡槽、4-5端擋板、5-2壓瓣、5-3復位簧、5-4從動齒輪、5-5豎直滑軌、5-9托盤、9_3導向弧板。
【具體實施方式】
[0033]下面結合附圖1~13和【具體實施方式】對本發(fā)明作進一步詳細的描述。
[0034]本實施例中的托架3-2可與中國專利名稱為“一種一體化定量采樣加試劑裝置”(專利號為:201010539091.8)記載的裝置配合使用。
[0035]—體式定量采樣加試劑裝置檢測儀的多光路試劑檢測裝置，其包括檢測接收電路板6、用于放置一體式定量采樣加試劑裝置12的托架3-2、驅動裝置、二維碼掃描器7、發(fā)射光源4、與發(fā)射光源4相匹配的透鏡通道5和光電轉換器Dl ;所述驅動裝置包括混勻電機2 ;所述發(fā)射光源4的數量大于或等于2個，所述透鏡通道5的數量和發(fā)射光源4的數量相同；所述混勻電機2的輸出軸3固定連接所述托架3-2，所述混勻電機2的輸出軸3方向與發(fā)射光源4的光線方向一致；所述托架3-2位于發(fā)射光源4和透鏡通道5之間，所述發(fā)射光源4的光線經透鏡通道5傳至光電轉換器Dl的輸入端，所述光電轉換器Dl的輸出端接對應檢測接收電路板6的輸入端；所述一體式定量采樣加試劑裝置12上貼有用于唯一標識被測液體的二維碼，所述二維碼掃描器7與一體式定量采樣加試劑裝置12上二維碼位置相對應。
[0036]如附圖4所示，所述托架3-2為側面設有條形豎直開口 11的上、下不封口管狀腔體，所述管狀腔體上設有貫通腔體的透光孔8 ;所述透光孔8的位置與發(fā)射光源4和透鏡通道5在同一水平線上，且所述透光孔8的方向與發(fā)射光源4的光線相對應。
[0037]所述二維碼掃描器7的掃描鏡頭前設置有透鏡。
[0038]所述發(fā)射光源4為全波長光源20和/或激光管，所述全波長光源20對應的檢測接收電路板6為光柵接收傳感器22，所述激光管對應的檢測接收電路板6為可調增益光強信號接收放大電路；
所述檢測接收電路板6為可調增益光強信號接收放大電路，作為現有技術。
[0039]如圖5所示，所述可調增益光強信號接收放大電路包括運算放大芯片IC1、數字電位器芯片IC2、反饋電阻R1~R2、電容C1~C6 ;所述光電轉換器Dl接在運算放大芯片ICl的2腳和地之間；所述電阻Rl和電容C3并聯后接在運算放大芯片ICl的2腳和數字電位器芯片IC2的6腳之間；所述電容Cl和C2并聯后接在運算放大芯片ICl的4腳和地之間；所述運算放大芯片ICl的6腳和7腳分別對應接數字電位器芯片IC2的7腳和電源VDD ;所述電容C4和C5并聯后接在運算放大芯片ICl的7腳和地之間；所述電容C6并聯在數字電位器芯片IC2的8腳與地之間，所述數字電位器芯片IC2的8腳接電源VCC ;所述數字電位器芯片IC2的5腳經電阻R2接地；所述數字電位器芯片IC2的1、2、3腳分別接MCU控制腳；所述運算放大芯片ICl的型號為OTA121，所述數字電位器芯片IC2的型號為MCT41050。
[0040]進一步的，所述全波長光源20可以為燈泡。
[0041]作為本發(fā)明的進一步改進，還包括用于確定托架3-2擺動到位的磁體13，所述磁體13安裝于托架3-2上，用于識別磁體13位置的磁感應器安裝在擺動到位處，所述用于識別磁體13位置的磁感應器為霍爾傳感器。
[0042]作為本發(fā)明的進一步改進，機架9包括用于固定發(fā)射光源4的發(fā)射光源支架、用于固定驅動裝置的驅動裝置支架和/或用于固定透鏡通道5的透鏡通道支架。這三者可以都有，也可以選擇性安裝，主要為了將光路調整在一條直線上。
[0043]作為本發(fā)明的進一步改進，所述機架9為高度可調的支架。
[0044]如圖3所示，當所述透鏡通道5為三個，其中一個需要對應激光管，另外兩個需要對應全波長光源20時，發(fā)射光源4為一個激光管和一個全波長光源20，兩個透鏡通道5共用一個全波長光源20，其中全波長光源20放置在燈罩21中，通過連接在燈罩21上的光纖19傳導光線至發(fā)光處。如圖1~3和圖13所示為混勻電機2的輸出軸3帶動托架3-2轉動到相應透鏡通道5位置處的示意圖，本實施例中設計了三個發(fā)射光源4和對應的三個透鏡通道5，三個透鏡通道5分別是吸光度檢測通道、散射比濁通道和免疫熒光通道；吸光度檢測通道采用光纖導光技術將光強傳導至光柵模塊；散射比濁通道，光通過三個透鏡被光電轉換器Dl接收；免疫熒光通道，光經濾光片過濾后，被光電轉換器Dl接收。所述檢測接收電路板6為可調增益光強信號接收放大電路；所述檢測接收電路板6根據對應發(fā)射光源4的不同，可以使電流放大電路或積分放大電路或其他對應的具有同類功能的電路，屬于本領域技術人員通用的電路，此處不再盡述。
[0045]本實施例中，所述吸光度檢測通道和散射比濁通道后均經光電轉換器Dl接電流放大電路，如附圖5所示，所述電流放大電路為可調增益光強信號接收放大電路，即包括運算放大芯片IC1、數字電位器芯片IC2、反饋電阻R1~R2、電容C1~C6 ;所述光電轉換器Dl接在運算放大芯片ICl的2腳和地之間；所述電阻Rl和電容C3并聯后接在運算放大芯片ICl的2腳和數字電位器芯片IC2的6腳之間；所述電容Cl和C2并聯后接在運算放大芯片ICl的4腳和地之間；所述運算放大芯片ICl的6腳和7腳分別對應接數字電位器芯片IC2的7腳和電源VDD ;所述電容C4和C5并聯后接在運算放大芯片ICl的7腳和地之間；所述電容C6并聯在數字電位器芯片IC2的8腳與地之間，所述數字電位器芯片IC2的8腳接電源VCC ;所述數字電位器芯片IC2的5腳經電阻R2接地；所述數字電位器芯片IC2的1、2、3腳分別接MCU控制腳；所述運算放大芯片ICl的型號為0TA121，所述數字電位器芯片IC2的型號為MCT41050。所述免疫焚光通道后經光電轉換器Dl接積分放大電路，所述積分放大電路在專利號為ZL200820077266.6的專利中已經公布。
[0046]本發(fā)明的工作過程如下:
首先，將裝有采樣試劑的一體式定量采樣加試劑裝置12放入托架3-2，根據一體式定量采樣加試劑裝置12內盛放的不同的被測試劑，人為控制驅動電機17轉動，從而帶動托架
3-2中的一體式定量采樣加試劑裝置12擺動到相應的透鏡通道5處，選擇相應的光信號接收檢測裝置，本實施例中即選擇是吸光度檢測通道、散射比濁通道還是免疫熒光通道，確定通道后，自動啟動混勻電機2，混勻電機2的輸出軸3旋轉帶動托架3-2旋轉一定角度，使得發(fā)射光源4對準托架3-2上的透光孔8，在每個發(fā)射光源4處或其對面都安裝有磁感應器，當感應到托架3-2上的磁體13已經到位時，由于每個透鏡通道5都有對應的發(fā)射光源4，就會啟動發(fā)射光源4的發(fā)射光線穿透一體式定量采樣加試劑裝置12中的采樣試劑，其光線經過采樣試劑與對應的透鏡通道5同軸貫穿，經光電轉換器Dl將接收到光強信號轉換成電信號，將該電信號發(fā)送給檢測接收電路板6，根據光強信號的大小產生對應的電流，電流經由運算放大芯片IC1、R1、C3、數字電位器芯片IC2、R2組成的放大電路放大并轉換為電壓信號通過ICl的6腳輸出，所述數字電位器芯片IC2為可調數字電位器，其作用在放大電路的反饋電路中，通過MCU控制信號調整數字電位器芯片IC2的抽頭位置改變電路的放大倍數以達到調整增益的功能，處理后得到檢測結果，工作過程簡單方便，準確度高。
[0047]當本裝置的一體式定量采樣加試劑裝置12上貼有二維碼標簽時，在本裝置內需要設置二維碼掃描器7，二維碼掃描器7對準所述二維碼標簽，經二維碼掃描器7掃描后，讀取所帶信息，據此確定要選擇的透鏡通道5類型，后續(xù)過程同上。
[0048]本檢測儀內還設有控溫裝置，所述控溫裝置包括散熱塊和設置在散熱塊上的散熱風扇、加熱片15和溫度傳感器，所述散熱風扇設置在散熱塊一側，所述加熱片15與散熱塊相接觸，所述溫度傳感器設置于散熱塊上或檢測儀殼體內。所述散熱塊上還設置有送風管14，所述送風管14套接在散熱塊上。
[0049]如附圖1~13所示，整體檢測儀的