本發(fā)明屬于信號測試，具體涉及一種具有射頻天線的電子產(chǎn)品的電源噪聲測試系統(tǒng)。

背景技術：

1、電源是電子產(chǎn)品中常用的供電裝置。電源在工作過程中會產(chǎn)生噪聲，不合格的噪聲問題直接影響產(chǎn)品的emc和emi等測試要求。尤其對于路由器、集中器等具有射頻天線的電子產(chǎn)品，由于電源噪聲產(chǎn)生的輻射會直接干擾天線的收發(fā)，降低產(chǎn)品的接受靈敏度和發(fā)射功率，進而影響產(chǎn)品的通信速率和通信距離，因此電源噪聲的測試指標更為敏感。

2、傳統(tǒng)的電源噪聲測試系統(tǒng)多采用示波器配合近場探頭進行電源噪聲測試，如申請?zhí)枮?020110173784的中國發(fā)明專利申請公開的電源紋波及噪聲輔助測試系統(tǒng)。這種測試系統(tǒng)采用近場探頭對產(chǎn)品的各個部位進行噪聲探測，但產(chǎn)品內(nèi)部電路板上元器件的布局錯綜復雜，空間逼仄，采用近場探頭進行探測時有些位置近場探頭無法放置，不能精確定位到噪聲源和被干擾的工作頻段，只能大致的對電源噪聲進行探測，難以準確判斷某個具體的區(qū)域、某個具體的天線工作頻段是否受到電源噪聲輻射的干擾，導致靈敏度較低，測試精度差。而且依靠探頭和示波器使得電源噪聲測試過程不夠靈活，難以滿足集成化較高的射頻類產(chǎn)品的測試需求。

技術實現(xiàn)思路

1、本發(fā)明的目的在于提供一種可以提高探測精度和測量靈敏度的電源噪聲測試系統(tǒng)。

2、為了實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采取如下的技術解決方案：

3、一種電源噪聲測試系統(tǒng)，用于對具有射頻天線的產(chǎn)品進行電源噪聲測試，包括：第一天線，所述第一天線內(nèi)置于待測產(chǎn)品內(nèi)，集成于待測產(chǎn)品的電路板上，所述電路板上設置有射頻連接器，所述第一天線和所述射頻連接器連接；第二天線，所述第二天線位于待測產(chǎn)品的殼體外，所述第二天線通過射頻測試線和所述射頻連接器連接，所述第一天線和所述第二天線均為射頻天線；近場探頭；電源噪聲測試分析單元，所述電源噪聲測試分析單元包括依次連接的低噪聲放大器、衰減器和頻譜分析儀；所述射頻測試線和所述近場探頭通過饋線和所述低噪聲放大器連接。

4、進一步的，所述射頻連接器具有第一射頻口、第二射頻口、第三射頻口以及切換開關，所述切換開關用于切換所述第一射頻口、所述第二射頻口及所述第三射頻口之間的連通關系；所述第一射頻口為信號輸入端口，所述第二射頻口和所述第三射頻口為信號輸出端口，所述第一射頻口和所述第二射頻口默認接通，當所述射頻測試線插入所述射頻連接器時，通過所述切換開關使得所述第一射頻口和所述第二射頻口的連接斷開，所述第一射頻口和所述第三射頻口接通。

5、進一步的，所述第一天線為pcb天線或貼片天線或彈簧天線。

6、進一步的，待測產(chǎn)品的電路板上設置有射頻信號源，待測產(chǎn)品具有第一射頻工作模式和第二射頻工作模式；所述第一射頻工作模式下，所述射頻信號源和所述第一射頻口連接，所述第一天線和所述第二射頻口連接，所述第一射頻口和所述第二射頻口接通，所述第一射頻口和所述第三射頻口斷開；所述第一射頻工作模式的工作路徑為：射頻信號源→射頻連接器→第一天線；所述第二射頻工作模式下，所述射頻信號源和所述第一射頻口連接，所述第二天線通過所述射頻信號線和所述第三射頻口連接，所述第一射頻口和所述第二射頻口的連接斷開，所述第一射頻口和所述第三射頻口接通；所述第二射頻工作模式的工作路徑為：射頻信號源→射頻連接器→射頻測試線→第二天線。

7、進一步的，包括第一電源噪聲測試模式和第二電源噪聲測試模式；所述第一電源噪聲測試模式下，所述第一天線和所述第一射頻口連接，所述射頻測試線和所述第三射頻口連接，所述射頻測試線通過饋線和所述低噪聲放大器連接，所述第一射頻口和所述第二射頻口的連接斷開，所述第一射頻口和所述第三射頻口接通，所述第一電源噪聲測試模式的工作路徑為：第一天線→射頻連接器→射頻測試線→電源噪聲測試分析單元；所述第二電源噪聲測試模式下，所述第二天線和所述射頻測試線連接，所述射頻測試線通過饋線和所述低噪聲放大器連接，所述第二電源噪聲測試模式的工作路徑為：第二天線→射頻測試線→電源噪聲測試分析單元；或者，所述近場探頭通過饋線和所述低噪聲放大器連接，所述第二電源噪聲測試模式的工作路徑為：近場探頭→電源噪聲測試分析單元。

8、由以上技術方案可知，本發(fā)明利用內(nèi)置于待測產(chǎn)品內(nèi)的射頻天線以及待測產(chǎn)品外的外置天線和近場探頭，可以利用內(nèi)置天線對射頻工作頻段的電源噪聲進行探測，又可以利用外置天線或近場探頭對待測產(chǎn)品其它各干擾頻段以及全頻段的電源噪聲探測，內(nèi)置天線能夠?qū)Ξa(chǎn)品內(nèi)部電源噪聲準確定位，克服了近場探頭在狹小空間內(nèi)不便于放置、無法準確定位的問題，具有結構簡單、使用方便、價格低廉、測試精度高和測試范圍廣的優(yōu)點，可直接在批量化產(chǎn)品中進行設計和使用，具有較高的靈活性和準確性。而且內(nèi)置天線和外置天線可以靈活切換，可根據(jù)工作場合對不同信號輻射或接收的需求來任意選擇內(nèi)置天線或外置天線使用，造價便宜。

9、本發(fā)明還提供了一種雙射頻天線產(chǎn)品的電源噪聲測試系統(tǒng)，所述雙射頻天線產(chǎn)品包括殼體、第一天線、第二天線、射頻連接器、射頻信號源及電路板，所述電路板設置于所述殼體內(nèi)，所述射頻連接器和所述射頻信號源設置于所述電路板上，所述第一天線為集成于所述電路板上的內(nèi)置天線，所述第二天線為外置天線；所述第一天線通過電路板內(nèi)部電路和所述射頻連接器連接，所述第二天線通過射頻測試線和所述射頻連接器連接；所述電源噪聲測試系統(tǒng)包括所述第一天線、所述第二天線、近場探頭及電源噪聲測試分析單元，所述電源噪聲測試分析單元包括依次連接的低噪聲放大器、衰減器和頻譜分析儀；所述射頻測試線和所述近場探頭通過饋線和所述低噪聲放大器連接。

10、如上所述的電源噪聲測試系統(tǒng)，進一步的，所述射頻連接器具有第一射頻口、第二射頻口、第三射頻口以及切換開關，所述切換開關用于切換所述第一射頻口、所述第二射頻口及所述第三射頻口之間的連通關系。具體的，所述第一射頻口為信號輸入端口，所述第二射頻口和所述第三射頻口為信號輸出端口，所述第一射頻口和所述第二射頻口默認接通，當所述射頻測試線插入所述射頻連接器時，通過所述切換開關使得所述第一射頻口和所述第二射頻口的連接斷開，所述第一射頻口和所述第三射頻口接通。

11、由以上技術方案可知，本發(fā)明針對雙射頻天線產(chǎn)品的電源噪聲測試，對雙射頻天線產(chǎn)品的天線切換結構做了改進設計，使用便于切換接通關系的射頻連接器和內(nèi)置及外置天線連接，可根據(jù)需求便捷地切換內(nèi)置天線和外置天線，提高了射頻天線產(chǎn)品的場景應用能力，不需要提前決定安裝那種天線后才能進行生產(chǎn)，而是可以生產(chǎn)后根據(jù)信號強弱的場合隨意切換。而且在實現(xiàn)產(chǎn)品雙射頻工作路徑功能的基礎上，還可以通過射頻連接器利用內(nèi)置天線對射頻工作頻段的電源噪聲進行探測，又可以利用外置天線或近場探頭對待測產(chǎn)品其它各干擾頻段以及全頻段的電源噪聲探測，內(nèi)置天線能夠?qū)Ξa(chǎn)品內(nèi)部電源噪聲準確定位，克服了近場探頭在狹小空間內(nèi)不便于放置、無法準確定位的問題，具有結構簡單、使用方便、價格低廉、測試精度高和測試范圍廣的優(yōu)點。本發(fā)明的內(nèi)外天線的切換結構，可直接在批量化產(chǎn)品中進行設計和使用，具有較高的靈活性和準確性，可根據(jù)工作場合對不同信號輻射或接收的需求來任意選擇內(nèi)置天線或外置天線使用，造價便宜，既便于產(chǎn)品生產(chǎn)測試時噪聲數(shù)據(jù)采集，又方便產(chǎn)品在射頻工作場景下內(nèi)外天線的切換。

12、如上所述的電源噪聲測試系統(tǒng)，進一步的，所述第一天線為pcb天線或貼片天線或彈簧天線。

13、如上所述的電源噪聲測試系統(tǒng)，進一步的，所述雙射頻天線產(chǎn)品具有第一射頻工作模式和第二射頻工作模式；所述第一射頻工作模式下，所述射頻信號源和所述第一射頻口連接，所述第一天線和所述第二射頻口連接，所述第一射頻口和所述第二射頻口接通，所述第一射頻口和所述第三射頻口斷開；所述第一射頻工作模式的工作路徑為：射頻信號源→射頻連接器→第一天線；所述第二射頻工作模式下，所述射頻信號源和所述第一射頻口連接，所述第二天線通過所述射頻信號線和所述第三射頻口連接，所述第一射頻口和所述第二射頻口的連接斷開，所述第一射頻口和所述第三射頻口接通；所述第二射頻工作模式的工作路徑為：射頻信號源→射頻連接器→射頻測試線→第二天線。

14、如上所述的電源噪聲測試系統(tǒng)，進一步的，包括第一電源噪聲測試模式和第二電源噪聲測試模式；所述第一電源噪聲測試模式下，所述第一天線和所述第一射頻口連接，所述射頻測試線和所述第三射頻口連接，所述射頻測試線通過饋線和所述低噪聲放大器連接，所述第一射頻口和所述第二射頻口的連接斷開，所述第一射頻口和所述第三射頻口接通，所述第一電源噪聲測試模式的工作路徑為：第一天線→射頻連接器→射頻測試線→電源噪聲測試分析單元；所述第二電源噪聲測試模式下，所述第二天線和所述射頻測試線連接，所述射頻測試線通過饋線和所述低噪聲放大器連接，所述第二電源噪聲測試模式的工作路徑為：第二天線→射頻測試線→電源噪聲測試分析單元；或者，所述近場探頭通過饋線和所述低噪聲放大器連接，所述第二電源噪聲測試模式的工作路徑為：近場探頭→電源噪聲測試分析單元。