本發(fā)明屬于type-c母端電測，具體涉及一種type-c母端的導(dǎo)通性能測試裝置。

背景技術(shù)：

1、type-c母端生產(chǎn)過程，產(chǎn)品必須進(jìn)行導(dǎo)通性能測試，以確認(rèn)產(chǎn)品是否合格?，F(xiàn)有的測試機(jī)構(gòu)多為單滑軌模組上的探針直接接觸產(chǎn)品進(jìn)行測試，而單滑軌結(jié)構(gòu)不夠穩(wěn)定，容易導(dǎo)致探針與產(chǎn)品之間接觸不良而造成誤判，機(jī)臺的稼動率降低。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、有鑒于此，為了克服現(xiàn)有技術(shù)的缺陷，本發(fā)明的目的是提供一種type-c母端的導(dǎo)通性能測試裝置，能夠提高產(chǎn)品的測試穩(wěn)定性，提升產(chǎn)品檢測的正確率與設(shè)備稼動率。

2、為了達(dá)到上述目的，本發(fā)明采用以下的技術(shù)方案：

3、一種type-c母端的導(dǎo)通性能測試裝置，包括固定架及設(shè)置在固定架上的第一固定塊、第二固定塊、第一測試機(jī)構(gòu)、第二測試機(jī)構(gòu)、第一驅(qū)動機(jī)構(gòu)和第二驅(qū)動機(jī)構(gòu)，所述第一測試機(jī)構(gòu)位于第二測試機(jī)構(gòu)的上方，所述第一測試機(jī)構(gòu)與第一固定塊固定連接，所述第二測試機(jī)構(gòu)與第二固定塊固定連接，所述第一固定塊與第二固定塊之間設(shè)置有多個導(dǎo)柱，所述第一固定塊及第二固定塊均與所述導(dǎo)柱滑動連接，所述第一驅(qū)動機(jī)構(gòu)用于帶動第一固定塊沿所述導(dǎo)柱的長度方向上下移動，所述第二驅(qū)動機(jī)構(gòu)用于帶動第二固定塊沿所述導(dǎo)柱的長度方向上下移動，所述type-c母端位于所述第一測試機(jī)構(gòu)與第二測試機(jī)構(gòu)之間；所述固定架包括平行于所述導(dǎo)柱的立板以及垂直于所述立板設(shè)置的插板，所述插板的一端位于所述第一固定塊與第二固定塊之間，測試時，所述第一固定塊的底面及第二固定塊的頂面分別與所述插板的頂面及底面貼合。

4、根據(jù)本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方面，所述第一測試機(jī)構(gòu)包括第一連接板、第二連接板、固定設(shè)置在第一連接板一側(cè)的第一插塊以及固定設(shè)置在第二連接板一側(cè)的第一探針組件，所述第一連接板的一側(cè)及第二連接板的一側(cè)均與第一固定塊的一側(cè)固定連接，所述第一連接板位于第二連接板的上方。

5、根據(jù)本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方面，所述第一測試機(jī)構(gòu)還包括第一連接塊、第一定位組件及第二定位組件，所述第一連接塊的一側(cè)與所述第一連接板及第二連接板遠(yuǎn)離所述立板的一側(cè)固定連接，所述第一連接塊的底面與所述第二連接板的底面齊平；所述第一連接塊的另一側(cè)固定設(shè)置有第三連接板，所述第三連接板靠近第一連接塊的一側(cè)固定設(shè)置有第二插塊。

6、根據(jù)本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方面，所述第一定位組件包括兩個對稱設(shè)置的第一定位塊以及與第一定位塊的一端通過彈性件連接的第一定位針，所述第一定位塊與所述第一連接塊的頂端固定連接，兩個所述第一定位針均貫穿所述第一連接塊的高度方向；所述第二定位組件包括第二連接塊以及與第二連接塊固定連接的兩個第二定位針，所述第二連接塊與所述第一連接塊遠(yuǎn)離第一連接板的一側(cè)固定連接，兩個所述第二定位針均貫穿第二連接塊的高度方向，所述第三連接板位于所述第二連接塊的上方。

7、根據(jù)本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方面，所述第一探針組件包括多個貫穿所述第一插塊高度方向的第一探針，所述第一探針平行于所述第一定位針，所述第一定位針及第二定位針均平行于所述導(dǎo)柱。

8、根據(jù)本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方面，所述第一測試機(jī)構(gòu)還包括第二探針組件，所述第二探針組件包括多個貫穿所述第二插塊高度方向的第二探針，所述第二探針平行于所述第一探針。

9、根據(jù)本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方面，所述第一探針的長度大于第二探針的長度，所述第一探針及第二探針的底端均由所述第一連接塊的底面向下延伸。第一探針用于與type-c母端的端子接觸，第二探針用于與type-c母端的smt焊腳接觸。

10、根據(jù)本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方面，所述第二測試機(jī)構(gòu)包括第四連接板、第三插塊及所述第一探針組件，所述第四連接板的一側(cè)與所述第二固定塊的一側(cè)固定連接，所述第四連接板的另一側(cè)與第三插塊及第一探針組件固定連接，所述第一探針貫穿所述第三插塊的高度方向。

11、根據(jù)本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方面，所述第二測試機(jī)構(gòu)的多個第一探針與所述第一測試機(jī)構(gòu)的多個第一探針一一對應(yīng)設(shè)置，所述第二測試機(jī)構(gòu)的一個第一探針與位于同一豎直方向上的所述第一測試機(jī)構(gòu)的一個第一探針對稱設(shè)置。

12、根據(jù)本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方面，所述第一驅(qū)動機(jī)構(gòu)位于所述第一固定塊的上方，所述第二驅(qū)動機(jī)構(gòu)位于所述第二固定塊的下方。

13、與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的有益之處在于：本發(fā)明的一種type-c母端的導(dǎo)通性能測試裝置，通過設(shè)置第一固定塊、第二固定塊、第一測試機(jī)構(gòu)、第二測試機(jī)構(gòu)及多個導(dǎo)柱并結(jié)合各個部件之間的相互配合，將第一測試機(jī)構(gòu)固定在第一固定塊上，將第二測試機(jī)構(gòu)固定在第二固定塊上，并在第一固定塊與第二固定塊之間設(shè)置多個導(dǎo)柱，代替單滑軌滑塊模組，還在第一固定塊與第二固定塊之間設(shè)置插板，有利于提升第一測試機(jī)構(gòu)與第二測試機(jī)構(gòu)測試的穩(wěn)定性，從而提升產(chǎn)品檢測的正確率與設(shè)備稼動率。

技術(shù)特征：

1.一種type-c母端的導(dǎo)通性能測試裝置，其特征在于：包括固定架及設(shè)置在固定架上的第一固定塊、第二固定塊、第一測試機(jī)構(gòu)、第二測試機(jī)構(gòu)、第一驅(qū)動機(jī)構(gòu)和第二驅(qū)動機(jī)構(gòu)，所述第一測試機(jī)構(gòu)位于第二測試機(jī)構(gòu)的上方，所述第一測試機(jī)構(gòu)與第一固定塊固定連接，所述第二測試機(jī)構(gòu)與第二固定塊固定連接，所述第一固定塊與第二固定塊之間設(shè)置有多個導(dǎo)柱，所述第一固定塊及第二固定塊均與所述導(dǎo)柱滑動連接，所述第一驅(qū)動機(jī)構(gòu)用于帶動第一固定塊沿所述導(dǎo)柱的長度方向上下移動，所述第二驅(qū)動機(jī)構(gòu)用于帶動第二固定塊沿所述導(dǎo)柱的長度方向上下移動，所述type-c母端位于所述第一測試機(jī)構(gòu)與第二測試機(jī)構(gòu)之間；所述固定架包括平行于所述導(dǎo)柱的立板以及垂直于所述立板設(shè)置的插板，所述插板的一端位于所述第一固定塊與第二固定塊之間，測試時，所述第一固定塊的底面及第二固定塊的頂面分別與所述插板的頂面及底面貼合。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的導(dǎo)通性能測試裝置，其特征在于：所述第一測試機(jī)構(gòu)包括第一連接板、第二連接板、固定設(shè)置在第一連接板一側(cè)的第一插塊以及固定設(shè)置在第二連接板一側(cè)的第一探針組件，所述第一連接板的一側(cè)及第二連接板的一側(cè)均與第一固定塊的一側(cè)固定連接，所述第一連接板位于第二連接板的上方。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的導(dǎo)通性能測試裝置，其特征在于：所述第一測試機(jī)構(gòu)還包括第一連接塊、第一定位組件及第二定位組件，所述第一連接塊的一側(cè)與所述第一連接板及第二連接板遠(yuǎn)離所述立板的一側(cè)固定連接，所述第一連接塊的底面與所述第二連接板的底面齊平；所述第一連接塊的另一側(cè)固定設(shè)置有第三連接板，所述第三連接板靠近第一連接塊的一側(cè)固定設(shè)置有第二插塊。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的導(dǎo)通性能測試裝置，其特征在于：所述第一定位組件包括兩個對稱設(shè)置的第一定位塊以及與第一定位塊的一端通過彈性件連接的第一定位針，所述第一定位塊與所述第一連接塊的頂端固定連接，兩個所述第一定位針均貫穿所述第一連接塊的高度方向；所述第二定位組件包括第二連接塊以及與第二連接塊固定連接的兩個第二定位針，所述第二連接塊與所述第一連接塊遠(yuǎn)離第一連接板的一側(cè)固定連接，兩個所述第二定位針均貫穿第二連接塊的高度方向，所述第三連接板位于所述第二連接塊的上方。

5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的導(dǎo)通性能測試裝置，其特征在于：所述第一探針組件包括多個貫穿所述第一插塊高度方向的第一探針，所述第一探針平行于所述第一定位針，所述第一定位針及第二定位針均平行于所述導(dǎo)柱。

6.根據(jù)權(quán)利要求3所述的導(dǎo)通性能測試裝置，其特征在于：所述第一測試機(jī)構(gòu)還包括第二探針組件，所述第二探針組件包括多個貫穿所述第二插塊高度方向的第二探針，所述第二探針平行于所述第一探針。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的導(dǎo)通性能測試裝置，其特征在于：所述第一探針的長度大于第二探針的長度，所述第一探針及第二探針的底端均由所述第一連接塊的底面向下延伸。

8.根據(jù)權(quán)利要求5所述的導(dǎo)通性能測試裝置，其特征在于：所述第二測試機(jī)構(gòu)包括第四連接板、第三插塊及所述第一探針組件，所述第四連接板的一側(cè)與所述第二固定塊的一側(cè)固定連接，所述第四連接板的另一側(cè)與第三插塊及第一探針組件固定連接，所述第一探針貫穿所述第三插塊的高度方向。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的導(dǎo)通性能測試裝置，其特征在于：所述第二測試機(jī)構(gòu)的多個第一探針與所述第一測試機(jī)構(gòu)的多個第一探針一一對應(yīng)設(shè)置，所述第二測試機(jī)構(gòu)的一個第一探針與位于同一豎直方向上的所述第一測試機(jī)構(gòu)的一個第一探針對稱設(shè)置。

10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的導(dǎo)通性能測試裝置，其特征在于：所述第一驅(qū)動機(jī)構(gòu)位于所述第一固定塊的上方，所述第二驅(qū)動機(jī)構(gòu)位于所述第二固定塊的下方。

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開了一種Type?C母端的導(dǎo)通性能測試裝置，包括固定架及設(shè)置在固定架上的第一固定塊、第二固定塊、第一測試機(jī)構(gòu)、第二測試機(jī)構(gòu)、第一驅(qū)動機(jī)構(gòu)和第二驅(qū)動機(jī)構(gòu)，第一測試機(jī)構(gòu)與第一固定塊固定連接，第二測試機(jī)構(gòu)與第二固定塊固定連接，第一固定塊與第二固定塊之間設(shè)置多個導(dǎo)柱，第一固定塊及第二固定塊均與導(dǎo)柱滑動連接，Type?C母端位于第一測試機(jī)構(gòu)與第二測試機(jī)構(gòu)之間；固定架包括平行于導(dǎo)柱的立板以及垂直于立板設(shè)置的插板，插板的一端位于第一固定塊與第二固定塊之間，測試時，第一固定塊的底面及第二固定塊的頂面分別與插板的頂面及底面貼合。本發(fā)明的導(dǎo)通性能測試裝置，有利于提升測試的穩(wěn)定性，從而提升產(chǎn)品檢測的正確率與設(shè)備稼動率。

技術(shù)研發(fā)人員：張華平,李玄,邵鵬博
受保護(hù)的技術(shù)使用者：蘇州敏之匠智能科技有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2025/1/9